CN100425965C - 测量镜片偏芯距离的量测治具 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种量测治具，用以测量镜片的偏芯距离，该量测治具包含有转动构件与固定底座。欲量测偏芯的镜片可放置在转动构件上的凹槽。转动构件可置放在固定底座上，并可与固定底座上的支撑部相接触，通过转动构件与固定底座的支撑部接触，可使得转动构件定位在固定底座上。光线可穿透转动构件的第一中空轴心以及固定底座的第二中空轴心。使用者可旋转转动构件，以量测位在转动构件上的镜片。

Description

测量镜片偏芯距离的量测治具

技术领域

本发明是有关于一种量测治具，尤其是有关于一种可用以测量镜片的偏芯距离的量测治具。

背景技术

所谓镜片偏芯距离的量测，是指将镜片(lens)放在治具上通过电子显微镜(以下简称显微镜)观看。显微镜会有一记号，旋转镜片时，可将镜片对准记号，即可得知镜片的偏芯距离(单位通常是秒)。

现代的电子产品应用镜片的情形十分普遍，尤其是微小化的电子产品(例如照相手机)，其所需的镜片就相对地更小。传统一般镜片偏芯距离的量测都是使用者以手去旋转镜片。通常，镜片偏芯的距离单位是秒，也就是镜片旋转一周为360度，一度60分，一分60秒。然而，用手旋转镜片容易造成镜片的跳动，而且镜片旋转的距离较大(往往大于数度)，所以传统偏芯距离的量测并不精准。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种测量镜片偏芯距离的量测治具。

由本发明的实施可以使得量测镜片的偏芯距离更为精确，进而可顺利地进行下一个制程对焦的投解动作，也就是经由镜片看影像是否清晰。

为实现上述目的，本发明提供的测量镜片偏芯距离的量测治具，该量测治具包含：

一转动构件，具有一凹槽与一第一中空轴心，该凹槽可供置放该镜片；以及

一固定底座，具有一支撑部与一第二中空轴心，该支撑部可供该转动构件置放在该固定底座上，以使得该转动构件定位在该固定底座上；

其中，当该转动构件定位在该固定底座上时，该第一中空轴心与该第二中空轴心连成一光轴线，该第一中空轴心与该凹槽紧邻，可使得光线沿着该光轴线穿出该凹槽，且该转动构件可稳定地沿着该光轴线旋转，以达成测量该镜片的偏芯距离。

其中该转动构件实质略成圆柱体，且该凹槽位在该转动构件的上表面。

其中该支撑部具有两延伸壁，且该两延伸壁实质略成V形，每个延伸壁分别与该转动构件相接触，并可使该转动构件定位在该固定底座上。

其中该支撑部包括两个支撑柱，每个支撑柱分别与该转动构件相接触，并可使该转动构件定位在该固定底座上。

其中该支撑部由一固定件固定在该固定底座。

其中该支撑部与该固定底部一体成形。

其中该转动构件进一步包含至少一沟槽，该沟槽自该凹槽向外延伸。

其中该量测治具设置在一显微镜上，该显微镜具有一导光装置与一平台，其中该导光装置上具有一记号，该量测治具放置在该平台上，由旋转调整该转动构件可使得该导光装置的该记号对准该镜片。

其中该平台与一水平面具有一特定夹角，该转动构件可由该特定夹角的倾斜产生下滑力，以接触该支撑部，并使得该转动构件定位在该固定底座上。

附图说明

图1为本发明的立体分解示意图。

图2为依据图1组合后，显示其上视图。

图3为本发明的另一实施例的上视图。

图4为将图2组合后的量测治具放置到显微镜，显示其侧视图。

具体实施方式

为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举出较佳实施例，并配合附图，作详细说明。

请参考图1，本发明提供的量测治具1可用以量测镜片10的偏芯距离，该量测治具1包含有转动构件20与固定底座30。固定底座30具有支撑部31与第二中空轴心32。转动构件20则是包含有凹槽21与第一中空轴心22。欲量测偏芯的镜片10则是被置放在凹槽21中。针对不同尺寸的镜片10，凹槽21的尺寸亦可随之变化，一般说来，镜片10的尺寸可从1φ到10φ，较常使用的是8φ。

本发明的实施例中，转动构件20实质略成圆柱体，凹槽21定位在转动构件20的上表面20a。欲量测镜片10时，使用者可先将镜片10放到转动构件20的凹槽21，再将该转动构件20置放在固定底座30上，使转动构件20的圆柱表面20b与支撑部31的周缘相接触。转动构件20与固定底座30的支撑部31的接触，可使得该转动构件20定位在固定底座30上。

当转动构件20被定位在固定底座30上时，固定底座30的支撑部31支撑着转动构件20，并可使转动构件20加以定位。此时第一中空轴心22与第二中空轴心32连成一光轴线L，第一中空轴心22与凹槽21紧邻，因此可使得光线沿着光轴线L穿通过该凹槽21。由使用者旋转转动构件20(如图2所示的箭头方向旋转)，可使转动构件20稳定地沿着此光轴线L旋转，以达成测量位在凹槽21上的测量镜片10的偏芯距离。由于转动构件20与固定底座30要相对地旋转，因此其材质要能耐摩擦，本较佳实施例的转动构件20与固定底座30的材质硬度实质约略58度的铜材(例如达到SKD-61的硬度)。

本发明的支撑部31是用以支撑转动构件20并加以定位的，在较佳实施例中，该支撑部31的一实施态样具有实质略成V形的两延伸壁311、312，如图2所示，转动构件20分别与两延伸壁311、312接触，以达成支撑转动构件20，并使转动构件20定位在固定底座30上。

本发明的量测治具1’的另一实施例，请参考图3，该支撑部31’的另一实施态样包括两个支撑柱313、314，每个支撑柱313或314分别与转动构件20相接触，以达成支撑转动构件20，并使转动构件20定位在固定底座30上。

在本较佳实拖例中，该支撑部31或31’可由固定件固定在固定底座30上，例如利用螺丝50作为固定件；须注意的，本发明的固定件并不限于螺丝50，亦可以利用像是焊锡连接或甚至黏胶等将支撑部31固定在固定底部30。或者，该支撑部31亦可与固定底座30一体成形。

典型的镜片10是塑胶镜片，因此在制作过程是需要将数个相连的镜片裁剪成一个一个的镜片10。然而，经过裁剪的镜片10容易会产生毛边11；因此，在较佳实施例中，转动构件20进一步包含至少一沟槽23，且沟槽自凹槽21向外延伸。该沟槽23的作用就是在于减少镜片10的毛边11所产生的干涉。

请参考图4，本发明的量测治具1或1’可应用在一显微镜4上，通过显微镜4放大测量镜片10的偏芯距离。典型的显微镜4具有导光装置41与平台42，举例来说，该导光装置41可以是位在平台42内的折射镜。此外，在本较佳实施例中，这个显微镜的平台42与水平面略呈一特定夹角θ，因此转动构件20可由该特定夹角θ的倾斜产生下滑力，以接触支撑部31或31’，并使得转动构件20定位在固定底座30上。

如图4所示，显微镜4的平台42的一端会设有光源I，光线(如图4的虚线箭头方向)从平台42内的导光装置41穿通过量测治具1或1’的第一中空轴心21与第二中空轴心32。为了测量镜片10，使用者可在导光装置41上作一记号(未图示)，例如十字形的记号。将量测治具1或1’放置在平台42上，由旋转调整转动构件20(如图2或图3所示)，可使导光装置41的记号对准该镜片10，以此达成测量镜片10的偏芯距离。

因此，由本发明所提供的量测治具1或1’测量镜片10的偏芯距离，可固定地旋转转动构件20，因此镜片10可稳固地在显微镜2上旋转。因此，可以使得量测镜片10的偏芯距离更为精确，进而可顺利地进行下一个工艺对焦的投解动作。

虽然本发明已以较佳实施例描述如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技术人士，在不脱离本发明精神和范围内，当可作些许更动与润饰，因此本发明的保护范围当视申请的专利范围所界定的为准。

Claims (9)

1、 一种测量镜片偏芯距离的量测治具，该量测治具包含：

一转动构件，具有一凹槽与一第一中空轴心，该凹槽可供置放该镜片；以及

一固定底座，具有一支撑部与一第二中空轴心，该支撑部可供该转动构件置放在该固定底座上，以使得该转动构件定位在该固定底座上；

其中，当该转动构件定位在该固定底座上时，该第一中空轴心与该第二中空轴心连成一光轴线，该第一中空轴心与该凹槽紧邻，可使得光线沿着该光轴线穿出该凹槽，且该转动构件可稳定地沿着该光轴线旋转，以达成测量该镜片的偏芯距离。

2、 如权利要求1所述的量测治具，其中该转动构件实质略成圆柱体，且该凹槽定位在该转动构件的上表面。

3、 如权利要求1所述的量测治具，其中该支撑部具有两延伸壁，且该两延伸壁实质略成V形，每个延伸壁分别与该转动构件相接触，并可使该转动构件定位在该固定底座上。

4、 如权利要求1所述的量测治具，其中该支撑部包括两个支撑柱，每个支撑柱分别与该转动构件相接触，并可使该转动构件定位在该固定底座上。

5、 如权利要求1所述的量测治具，其中该支撑部由一固定件固定在该固定底座。

6、 如权利要求1所述的量测治具，其中该支撑部与该固定底座一体成形。

7、 如权利要求1所述的量测治具，其中该转动构件进一步包含至少一沟槽，该沟槽自该凹槽向外延伸。

8、 如权利要求1所述的量测治具，其中该量测治具设置在一显微镜上，该显微镜具有一导光装置与一平台，其中该导光装置上具有一记号，该量测治具放置在该平台上，由旋转调整该转动构件可使得该导光装置的该记号对准该镜片。

9、 如权利要求8所述的量测治具，其中该平台与一水平面具有一特定夹角，该转动构件可由该平台的倾斜产生下滑力，以接触该支撑部，并使得该转动构件定位在该固定底座上。

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