JPS5895270A - Ｍｏｌ自動測定装置 - Google Patents
Ｍｏｌ自動測定装置Info
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- JPS5895270A JPS5895270A JP56194246A JP19424681A JPS5895270A JP S5895270 A JPS5895270 A JP S5895270A JP 56194246 A JP56194246 A JP 56194246A JP 19424681 A JP19424681 A JP 19424681A JP S5895270 A JPS5895270 A JP S5895270A
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- Japan
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- mol
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＭＯＬ自動測定装置に係り、複数の異なる周波
数のテスト用信号をレベルを間欠的に変化させて記録、
再生して最大再生レベルをＡ口変換し、記録信号の再生
信号への漏洩少なく、かつ、信号処理し易いＭＯＬ自動
測定装置を提供することを目的とする。
数のテスト用信号をレベルを間欠的に変化させて記録、
再生して最大再生レベルをＡ口変換し、記録信号の再生
信号への漏洩少なく、かつ、信号処理し易いＭＯＬ自動
測定装置を提供することを目的とする。
第１図は本発明になるＭＯＬ 自動測定装置の一実施
例を設けられたテープレコーダの概略ブロック系統図を
示す。同図において、一般的な記録及び再生動作を説明
するに、入力端子１に入来したオーティオ信号はライン
アンプ２、切換回路３を介して予めその夫々の特性を設
定された感度調整器４及び周波数特性調整器５に供給さ
れて録音感度調整及び周波数特性を調整され、予め録音
バイアス電流を設定されたバイアス発振器６からのバイ
アス電流に重畳されて記録ヘッドＴに供給され、磁気テ
ープ８に記録される。感度調整器４、周波数帯域毎・５
器５、バイアス発振器６は夫々中央処理制御装置（ｃＰ
Ｕ） ９からの制御信号によ−り制御されており、・
記録されるべき信号はこれらの回路による調整により夫
々最適の状態を似て記録される。
例を設けられたテープレコーダの概略ブロック系統図を
示す。同図において、一般的な記録及び再生動作を説明
するに、入力端子１に入来したオーティオ信号はライン
アンプ２、切換回路３を介して予めその夫々の特性を設
定された感度調整器４及び周波数特性調整器５に供給さ
れて録音感度調整及び周波数特性を調整され、予め録音
バイアス電流を設定されたバイアス発振器６からのバイ
アス電流に重畳されて記録ヘッドＴに供給され、磁気テ
ープ８に記録される。感度調整器４、周波数帯域毎・５
器５、バイアス発振器６は夫々中央処理制御装置（ｃＰ
Ｕ） ９からの制御信号によ−り制御されており、・
記録されるべき信号はこれらの回路による調整により夫
々最適の状態を似て記録される。
再生時、再生ヘッド１０にてテープ８より再生された信
号は再生アンプ１１、ラインアンプ１２を介して出力端
子１３よりとり出される。
号は再生アンプ１１、ラインアンプ１２を介して出力端
子１３よりとり出される。
ところで、テープにはメタルテープ、クロムテープ、フ
ェリクロムテープ、ノーマルチーブ等があり、各テープ
毎夫々磁気特性が異なる。そこで使用テープに最適の録
音をするには各テープ毎にテスト用信号を用いて実用最
大出力レベル（マキシマム・アウトプット・レベル。以
下ＭＯＬという）を測定し、入力信号の各周波数帯域毎
このＭＯＬｌに：超えないようにレヘル調整して記録す
る必要がある。いま、第１図を用いて説明し、た記録作
業の前には必ずこのようにＭＯＬ ’ｆｒ：測定してレ
ベル調整する。
ェリクロムテープ、ノーマルチーブ等があり、各テープ
毎夫々磁気特性が異なる。そこで使用テープに最適の録
音をするには各テープ毎にテスト用信号を用いて実用最
大出力レベル（マキシマム・アウトプット・レベル。以
下ＭＯＬという）を測定し、入力信号の各周波数帯域毎
このＭＯＬｌに：超えないようにレヘル調整して記録す
る必要がある。いま、第１図を用いて説明し、た記録作
業の前には必ずこのようにＭＯＬ ’ｆｒ：測定してレ
ベル調整する。
本発明はこのようなＭＯＬ ’ｉ自動測定する装置に関
するものであり、以下本発明Ω実施例を説明する。
するものであり、以下本発明Ω実施例を説明する。
第２図は本発明装置の第１実施例を説明するためのフロ
ーチャートを示し、以下、第１実施例管第１図及び第６
図を用いて説明する。スタートスイッチ１４を操作する
と、ａｐｔｙｓからの制御信号によりバイアス発振器６
が作動し、使用テープに最適のバイアス電流が出力され
る。次に、ＣＰＵ ９からの制御信号によりテスト用信
号発生器１５から周波数６ ｋＨ２の第１テスト用信号
ｆ１がとり出され、ＣＰＵ ９からの制御信号により作
動されるレベルコントロール回路１６に供給されて例え
ば、第３図に示す如く、＋２０（ＬＢから次第にレベル
減少する信号とされる。信号ｆ１は実際には第４図（４
）に示す如く、間欠的にレベル減少する信号である。信
号ｆ１ｉｊ切換回路３、感度調整器４、周波数特性調整
器（録音イコライザともいう）５を介して例えばＲチャ
ンネルの記録ヘッドＴにてテープ８のＲチャンネルに記
録され、Ｒチャンネルの再生ヘッド１０にて第４図ω）
に示す如く再生され、アンプ１１、Ｒ／Ｌチャンネル切
換回路１Ｔ、′／Ｉ）変換器（ｉ形）２４を介してＣＰ
Ｕ ９に供給される。
ーチャートを示し、以下、第１実施例管第１図及び第６
図を用いて説明する。スタートスイッチ１４を操作する
と、ａｐｔｙｓからの制御信号によりバイアス発振器６
が作動し、使用テープに最適のバイアス電流が出力され
る。次に、ＣＰＵ ９からの制御信号によりテスト用信
号発生器１５から周波数６ ｋＨ２の第１テスト用信号
ｆ１がとり出され、ＣＰＵ ９からの制御信号により作
動されるレベルコントロール回路１６に供給されて例え
ば、第３図に示す如く、＋２０（ＬＢから次第にレベル
減少する信号とされる。信号ｆ１は実際には第４図（４
）に示す如く、間欠的にレベル減少する信号である。信
号ｆ１ｉｊ切換回路３、感度調整器４、周波数特性調整
器（録音イコライザともいう）５を介して例えばＲチャ
ンネルの記録ヘッドＴにてテープ８のＲチャンネルに記
録され、Ｒチャンネルの再生ヘッド１０にて第４図ω）
に示す如く再生され、アンプ１１、Ｒ／Ｌチャンネル切
換回路１Ｔ、′／Ｉ）変換器（ｉ形）２４を介してＣＰ
Ｕ ９に供給される。
Ａ／Ｄ変換器２４は第５図に示す如き構成とされており
、端子２４ａに入来した第４図い）に不す再生信号すは
整流回路３３にて整流され、ＣＰＵ ９からの制御信号
により再生信号すの存在期間は端子■、その他の期間は
端子■に接続されるスイッチＳＷ、、及びアンプ３４を
介してコンデンサＣ１に充電される。このコンデンサＣ
１により信号すのより大なるレベル（例えば信号ｂ１）
がホールドされ、第４図（Ｃ）に示す信号Ｃとされてコ
ンパレータ３５のθ入力端子に供給される。ここで、再
生信号すがテスト終了時の所足レベル以下になることに
より１ｍ！ＰＵ ９から制御信号がとり出されて第４図
（Ｆ）に示す如くスイッチＳＷ２が閉成され、これによ
り、コンデンサＣ１は放電されて第４図（Ｃ）に示す如
（゛その端子電圧はレベル上昇する。上記コンパレータ
３５にて信号Ｃと閾値レベルＣ８とがレベル比較され、
第４図Φ）に示す如き信号ｄがとり出されてＣＰＵ ９
に供給される。ｃｐａ ｓにおいて、スイッチＢｗ２の
閉成時から信号ｄのＬレベル下降時点呼での時間がカウ
ントされ、再生信号す、 （テスト信号で１の再生最大
レベル）のレベルＬ１に応じたデジタル係号が得られる
。
、端子２４ａに入来した第４図い）に不す再生信号すは
整流回路３３にて整流され、ＣＰＵ ９からの制御信号
により再生信号すの存在期間は端子■、その他の期間は
端子■に接続されるスイッチＳＷ、、及びアンプ３４を
介してコンデンサＣ１に充電される。このコンデンサＣ
１により信号すのより大なるレベル（例えば信号ｂ１）
がホールドされ、第４図（Ｃ）に示す信号Ｃとされてコ
ンパレータ３５のθ入力端子に供給される。ここで、再
生信号すがテスト終了時の所足レベル以下になることに
より１ｍ！ＰＵ ９から制御信号がとり出されて第４図
（Ｆ）に示す如くスイッチＳＷ２が閉成され、これによ
り、コンデンサＣ１は放電されて第４図（Ｃ）に示す如
（゛その端子電圧はレベル上昇する。上記コンパレータ
３５にて信号Ｃと閾値レベルＣ８とがレベル比較され、
第４図Φ）に示す如き信号ｄがとり出されてＣＰＵ ９
に供給される。ｃｐａ ｓにおいて、スイッチＢｗ２の
閉成時から信号ｄのＬレベル下降時点呼での時間がカウ
ントされ、再生信号す、 （テスト信号で１の再生最大
レベル）のレベルＬ１に応じたデジタル係号が得られる
。
このようにしてテスト用信号ｆ１の再生出力の最大レベ
ル（第３図中、○印）が検出され、以下、これと同様に
して、テスト用信号ｆ２ （１０ｋＨ２）、ｆ３（１５
ｋＨｚ ）、ｆ４（２１ｋＨｚ ）の各Ｐ＋−波数のテ
スト用信号の馬主出力最大レベルＬ２〜Ｌ４が夫々検出
される。
ル（第３図中、○印）が検出され、以下、これと同様に
して、テスト用信号ｆ２ （１０ｋＨ２）、ｆ３（１５
ｋＨｚ ）、ｆ４（２１ｋＨｚ ）の各Ｐ＋−波数のテ
スト用信号の馬主出力最大レベルＬ２〜Ｌ４が夫々検出
される。
この場合、テスト用信号のレベルを十分な１ｎ囲にわた
って変化させることにより、使用テープの種類によらず
、正確なＭＯＬ を自動測定できる。
って変化させることにより、使用テープの種類によらず
、正確なＭＯＬ を自動測定できる。
Ｃ！ＰＵ ９からは上記レベルＬ１〜Ｌ４に夫々対応し
たＭＯＬ曲線表示用信号が選択され、ランダム・アクセ
ス・メモリ（ＲＡＭ）２５に供給されてメモリされる。
たＭＯＬ曲線表示用信号が選択され、ランダム・アクセ
ス・メモリ（ＲＡＭ）２５に供給されてメモリされる。
ＲＡＭ ２５からの信号はビデオ・ディスプレイ・ジェ
ネレータ（ＶＤＧ）２ Ｂに供給される。
ネレータ（ＶＤＧ）２ Ｂに供給される。
ＶＤＧ２６にはＭＯＬ曲線表示用キャラクタ及び文字（
数字）表示用キャラクタが予め設定されており、ＶＤＧ
２６からはＲＡＭ２５からのレベルＬ１〜Ｌ７に応じた
信号により映像信号の同期信号に同期してＭＯＬ曲線表
示用信号がとり出されて内蔵のテレビジョン受像機２１
に供給される。これにより、第６図に示す如く、レベル
と各周波数とか対応した位置にＭＯＬ曲線３０が表示さ
れる。なお、２１ｋＨ２以下のＭＯＬ曲線は本実施例と
は別の方法にて測定表示するが、本願とは直接関係ない
のでその説明を省略する。
数字）表示用キャラクタが予め設定されており、ＶＤＧ
２６からはＲＡＭ２５からのレベルＬ１〜Ｌ７に応じた
信号により映像信号の同期信号に同期してＭＯＬ曲線表
示用信号がとり出されて内蔵のテレビジョン受像機２１
に供給される。これにより、第６図に示す如く、レベル
と各周波数とか対応した位置にＭＯＬ曲線３０が表示さ
れる。なお、２１ｋＨ２以下のＭＯＬ曲線は本実施例と
は別の方法にて測定表示するが、本願とは直接関係ない
のでその説明を省略する。
本実施例においてに、このように再生出力レベルをアナ
ログ値からＡ口変換してデータ化しているので、表示の
ための信号処理が容易となる。
ログ値からＡ口変換してデータ化しているので、表示の
ための信号処理が容易となる。
第１図は本発明装置の第２実施例を説明するためのフロ
ーチャートを示す。以下、第８図と共にこの第２実施例
を説明する。このものは、ある周波数のテスト用信号（
ｆ１〜ｆ４）を第８図（Ａ）に示す如く、時間Ｔ。発振
させた後時間Ｔ１停止させる動作を２回繰返し、これを
間欠的にレベルを減少させて記録、再生するものである
。同図（Ｂ） Ｉｒｉ再生信号であり、第５図に示すＡ
／Ｄ変換器２４のコンパレータ３５のθλ力端子に同図
（Ｃ）に示す最大レベルをホールドされた信号ｃ１が供
給され、第４図（７）〜Φ）に示す実施例と同様にコン
パレータ３５より同図Φ）に示す信号ｄ°がとり出され
てＡ／Ｄ変換される。その他の動作は第４図（４）〜ω
〕に示す実施例のものと同様で第３図の○印で示す再生
出力耐大レベルＬ１〜Ｌ４が夫々検出される。
ーチャートを示す。以下、第８図と共にこの第２実施例
を説明する。このものは、ある周波数のテスト用信号（
ｆ１〜ｆ４）を第８図（Ａ）に示す如く、時間Ｔ。発振
させた後時間Ｔ１停止させる動作を２回繰返し、これを
間欠的にレベルを減少させて記録、再生するものである
。同図（Ｂ） Ｉｒｉ再生信号であり、第５図に示すＡ
／Ｄ変換器２４のコンパレータ３５のθλ力端子に同図
（Ｃ）に示す最大レベルをホールドされた信号ｃ１が供
給され、第４図（７）〜Φ）に示す実施例と同様にコン
パレータ３５より同図Φ）に示す信号ｄ°がとり出され
てＡ／Ｄ変換される。その他の動作は第４図（４）〜ω
〕に示す実施例のものと同様で第３図の○印で示す再生
出力耐大レベルＬ１〜Ｌ４が夫々検出される。
このものは、記録ヘッドＴと再生ヘッド１０とのテープ
走行方向上の間隔が１．９セ等と一般のもの（例えば３
．８１１１１）に比して狭いヘッドに適用され、上記の
ように同じレベルを２回ずつ発生させることにより、レ
ベル検出が可能となる。即ち、１回ずつではレベル変動
のため検出不可能である。
走行方向上の間隔が１．９セ等と一般のもの（例えば３
．８１１１１）に比して狭いヘッドに適用され、上記の
ように同じレベルを２回ずつ発生させることにより、レ
ベル検出が可能となる。即ち、１回ずつではレベル変動
のため検出不可能である。
第９図は本発明装置の第３実施例を説明するためのフロ
ーチャートを示す。以下第１０図と共に第３実施例を説
明する。このものは第噛０図（ト）に不す如くテスト用
信号の発生時間Ｔ。を停止時間Ｔに比して小に設定し、
同図色）に示す再生信号の再生終了と次のテスト用信号
の分生との間においてその都度Ａ／Ｄ変換するものであ
る。即ち、第５図に示すスイッチＳＷ１とＳＷ２とを夫
々第１０図（ト）。
ーチャートを示す。以下第１０図と共に第３実施例を説
明する。このものは第噛０図（ト）に不す如くテスト用
信号の発生時間Ｔ。を停止時間Ｔに比して小に設定し、
同図色）に示す再生信号の再生終了と次のテスト用信号
の分生との間においてその都度Ａ／Ｄ変換するものであ
る。即ち、第５図に示すスイッチＳＷ１とＳＷ２とを夫
々第１０図（ト）。
伊〕に示す様に動作させ、第５図中コンパレータ３５の
θ端子に第１０図（ｄに示す電圧を発生させて出力端子
２４１）より同図ｂ）に示す電圧ａｌ ｉ発生させ、Ｃ
ＰＵ ９にてスイッチＳＷ２のオン時からコンパレータ
３５の出力信号ｄｌのＬレベル下降時までの時間■、＠
、○、・・・を夫々カウントする。０ＰＵ９では時間■
、＠ 、 ｏ、・・・を夫々カウントし、その中のより
大きなカウント数に更新する構成とされている。このよ
うに、その都度Ａ／Ｄ変換するため、ホールドし７てい
る時間ＵＴ。時間分短縮され、外来ノイズなどの影響を
受けにくく、検出精度が向上する。
θ端子に第１０図（ｄに示す電圧を発生させて出力端子
２４１）より同図ｂ）に示す電圧ａｌ ｉ発生させ、Ｃ
ＰＵ ９にてスイッチＳＷ２のオン時からコンパレータ
３５の出力信号ｄｌのＬレベル下降時までの時間■、＠
、○、・・・を夫々カウントする。０ＰＵ９では時間■
、＠ 、 ｏ、・・・を夫々カウントし、その中のより
大きなカウント数に更新する構成とされている。このよ
うに、その都度Ａ／Ｄ変換するため、ホールドし７てい
る時間ＵＴ。時間分短縮され、外来ノイズなどの影響を
受けにくく、検出精度が向上する。
父、長時間にわたる検出時間中も、各再生出力レベルを
アナログ値からＶ。変換してデータ化し・でいるので、
減衰等の誤検出要因がなく、ＣＰＵで正確に記憶でき、
との面からも長時間にわたって細かいレベルステップで
テストを行なわせる場合は検出精度が向上する。
アナログ値からＶ。変換してデータ化し・でいるので、
減衰等の誤検出要因がなく、ＣＰＵで正確に記憶でき、
との面からも長時間にわたって細かいレベルステップで
テストを行なわせる場合は検出精度が向上する。
なお、上記実施例においてはスペクトル表示用信号発生
器２８にてスペクトル表示用信号を得、加算器３１にて
ＶＤ０２ｇからのＭＯＬ曲線表示用信号と加算し、受儂
機２７にこれらを合成して表示するようにしてもよい。
器２８にてスペクトル表示用信号を得、加算器３１にて
ＶＤ０２ｇからのＭＯＬ曲線表示用信号と加算し、受儂
機２７にこれらを合成して表示するようにしてもよい。
又、これら表示用信号を出力端子３２よりとり出し、て
ビデオプリンタ等に供給し、記録紙に記録して保存する
ようにしてもよい。
ビデオプリンタ等に供給し、記録紙に記録して保存する
ようにしてもよい。
又、第１図においてはＰチャンネルについてのみ示した
が、切換回路１１の操作によりＬチャンネルについても
同様にＭＯＩ、測定し得る。
が、切換回路１１の操作によりＬチャンネルについても
同様にＭＯＩ、測定し得る。
又、テスト用信号のレベル可変の方法としては、レベル
小からレベル大に可変するようにしてもよく、或いは、
レベル小からレベル大に到った後、又、レベル小に可変
するように往復するようにしてもよい。
小からレベル大に可変するようにしてもよく、或いは、
レベル小からレベル大に到った後、又、レベル小に可変
するように往復するようにしてもよい。
又、ろ変換器は線型のものに限ることは々く、対数型の
ものでもよいことは勿論である。
ものでもよいことは勿論である。
上述の如く、本発明になるＭＯＬ自動測定装置は、異な
る周波数の複数のテスト用信号を個々にそのレベルを間
欠的に変化させて発生するテスト用信号発生手段と、該
手段からの複数のテスト用信号を磁気記録媒体に記録し
、かつ、再生する記録再生手段と、該記録再生手段から
の該複数のテスト用信号の再生レベルが夫々のテスト用
信号について最大レベルに達したことを夫々検出するレ
ベル検出手段と、レベル検出手段からの最大レベル出力
を夫々Ｖつ変換してデータ化する手段とよりなるため、
テスト用信号を間欠的に発生させることにより、特に、
コンビネーシ！ン型ヘッドにて記録しながら再生する装
置に適用した場合、記録と再生とを交互にできるので記
録信号の再生信号への漏洩によるレベル変動等の誤検出
要因を減少し得、又、再生出力レベルをアナログ値から
Ａ／Ｄ変換してデータ化しているのでコンピュータ等に
て信号処理し易い等の特長を有する。
る周波数の複数のテスト用信号を個々にそのレベルを間
欠的に変化させて発生するテスト用信号発生手段と、該
手段からの複数のテスト用信号を磁気記録媒体に記録し
、かつ、再生する記録再生手段と、該記録再生手段から
の該複数のテスト用信号の再生レベルが夫々のテスト用
信号について最大レベルに達したことを夫々検出するレ
ベル検出手段と、レベル検出手段からの最大レベル出力
を夫々Ｖつ変換してデータ化する手段とよりなるため、
テスト用信号を間欠的に発生させることにより、特に、
コンビネーシ！ン型ヘッドにて記録しながら再生する装
置に適用した場合、記録と再生とを交互にできるので記
録信号の再生信号への漏洩によるレベル変動等の誤検出
要因を減少し得、又、再生出力レベルをアナログ値から
Ａ／Ｄ変換してデータ化しているのでコンピュータ等に
て信号処理し易い等の特長を有する。
第１図は本発明装置の一実施例をテープレコーダに適用
したブロック系統図、第２図は本発明装置第１実施例の
動作説明用フローチャート、第３図は本発明装置におけ
るテスト用信号の入力レベル対出力レベル特性図、第４
図（Ａ）〜（ｐ）は本発明装置第１実施例の動作説明用
信号波形図、第５図は第１図示の装置のＡ／Ｄ変換器の
一実施例の回路図、第６図は本発明装置によるＭＯＬ曲
線”の表示態様の一実施例を説明するための図、第７図
及び第８図■〜（獅は夫々本発明装置第２実施例の動作
説明用フローチャート及びその動作説明用信号波形図、
第９図及び第１０図ω〜（Ｆ）は夫々本発明装置第３実
施例の動作説明用フローチャート及びその動作説明用信
号波形図である。 １・・・オーディオ信号入力端子、７・・・記録ヘッド
、８・・・磁気テープ、９・・・中央処理制御装置、１
０・・・再生ヘッド、１３・・・出力端子、１４・・・
スタートスイッチ、１５・・・テスト用信号発生器、１
６・・・レベルコントロール回路、２−４・・・Ａ／Ｄ
変換器、２５・・・ランダム・アクセス・メモリ、２６
・・・ビデオ・ディスプレイ・ジェネレータ、２７・・
・テレビジョン受儂機、２８・・・スペクトル表示用信
号発生器、３０・・・ＭｏＬ曲線、３３・・・整流器、
３５・・・コンパレータ、ＥＩＷｌ、 ＳＷ２・・・ス
イッチ、Ｃ・・・コンデンサ。 第２図 第：（図 ＡｊＪ、、屓ｄｓ） −一÷
したブロック系統図、第２図は本発明装置第１実施例の
動作説明用フローチャート、第３図は本発明装置におけ
るテスト用信号の入力レベル対出力レベル特性図、第４
図（Ａ）〜（ｐ）は本発明装置第１実施例の動作説明用
信号波形図、第５図は第１図示の装置のＡ／Ｄ変換器の
一実施例の回路図、第６図は本発明装置によるＭＯＬ曲
線”の表示態様の一実施例を説明するための図、第７図
及び第８図■〜（獅は夫々本発明装置第２実施例の動作
説明用フローチャート及びその動作説明用信号波形図、
第９図及び第１０図ω〜（Ｆ）は夫々本発明装置第３実
施例の動作説明用フローチャート及びその動作説明用信
号波形図である。 １・・・オーディオ信号入力端子、７・・・記録ヘッド
、８・・・磁気テープ、９・・・中央処理制御装置、１
０・・・再生ヘッド、１３・・・出力端子、１４・・・
スタートスイッチ、１５・・・テスト用信号発生器、１
６・・・レベルコントロール回路、２−４・・・Ａ／Ｄ
変換器、２５・・・ランダム・アクセス・メモリ、２６
・・・ビデオ・ディスプレイ・ジェネレータ、２７・・
・テレビジョン受儂機、２８・・・スペクトル表示用信
号発生器、３０・・・ＭｏＬ曲線、３３・・・整流器、
３５・・・コンパレータ、ＥＩＷｌ、 ＳＷ２・・・ス
イッチ、Ｃ・・・コンデンサ。 第２図 第：（図 ＡｊＪ、、屓ｄｓ） −一÷
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ＋１１ 異なる周波数の複数のテスト用信号を個々に
そのレベルを間欠的に変化させて発生するテスト用信号
発生手段と、該手段からの複数のテスト用信号を磁気記
録媒体に記録し、かつ、再生する記録再生手段と、°該
記録再生手段からの該複数のテスト用信号の再生レベル
が夫々のテスト用信号について最大し只ルに達したこと
を夫々検出するレベル検出手段と、該レベル検出手段か
らの最大レベル出力を夫々Ａ／Ｄ変換してデータ化する
手段とよりなることを特徴とするＭＯＬ自動測定装置。 （２） 該テスト用信号発生手段は、該記録再生手段
にてテスト用信号を再生している期間テスト用信号の発
生を中断する手段であり、該レベル検出手段は、該テス
ト用信号の発生期間中再生信号のアナログ出力をホール
ドする手段であることを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載のＭＯＬ自動測定装置。 （３） 該テスト用信号発生手段は、該記録再生手段
にてテスト用信号を再生している期間テスト用信号の発
生を中断する手段であり、該Ａ／Ｄ変換手段は、該テス
ト用信号の再生毎に再生信号ヲＡ／Ｄ変換する手段であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項又は第２項記
載のＭＯＬ自動測定装置。 （４） 該複数のテスト用信号は、６ ｋＨｚ以下の
周波数の信号であることを特徴とする特許請求の範囲第
１項又は第２項又は第３項記載のＭＯＬ自動測定装置。 （５） 異なる周波数の複数のテスト用信号を個々に
そのレベルを間欠的に変化させて発生するテスト用信号
発生手段と、複数チャンネルのオーディオ信号及び該手
段からの複数のテスト用信号を磁気記録媒体に記録し、
かつ、再生する記録再生手段と、該記録再生手段からの
該複数のテスト用信号の再生レベルが夫々のテスト用信
号について最大レベルに達したことを複数チャンネルに
ついて夫々検出するレベル検出手段と、該レベル検出手
段からの信号により周波数軸及びレベル軸をもつ表示画
面にＭＯＬ曲線を該複数のチャンネルについて表示する
表示手段とよりなることを特電とするＭＯＬ自動測定装
置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56194246A JPS5895270A (ja) | 1981-12-02 | 1981-12-02 | Ｍｏｌ自動測定装置 |
| DE3237937A DE3237937C2 (de) | 1981-10-15 | 1982-10-13 | Selbsttätige Maximalausgangsamplituden-Meßvorrichtung in einem magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabesystem |
| US06/434,102 US4489353A (en) | 1981-10-15 | 1982-10-13 | Maximum output level automatic measuring apparatus |
| GB08229408A GB2110387B (en) | 1981-10-15 | 1982-10-14 | Maximum output level automatic measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56194246A JPS5895270A (ja) | 1981-12-02 | 1981-12-02 | Ｍｏｌ自動測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5895270A true JPS5895270A (ja) | 1983-06-06 |
Family
ID=16321410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56194246A Pending JPS5895270A (ja) | 1981-10-15 | 1981-12-02 | Ｍｏｌ自動測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5895270A (ja) |
-
1981
- 1981-12-02 JP JP56194246A patent/JPS5895270A/ja active Pending
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