JPS589480A - イメ−ジセンサを用いる撮像装置 - Google Patents
イメ−ジセンサを用いる撮像装置Info
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- JPS589480A JPS589480A JP56107482A JP10748281A JPS589480A JP S589480 A JPS589480 A JP S589480A JP 56107482 A JP56107482 A JP 56107482A JP 10748281 A JP10748281 A JP 10748281A JP S589480 A JPS589480 A JP S589480A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/80—Camera processing pipelines; Components thereof
- H04N23/84—Camera processing pipelines; Components thereof for processing colour signals
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はイメージセンサを用いる撮像装置に関するもの
である。
である。
最近、入力インピーダンスが高く電圧駆動形の特長を保
ちながら、出力電流が電圧の増加と共に次第に増加し、
三極管と同様に不飽和形の電流電圧特性を示すと共に、
大出力、低歪、低雑音特性を有する静電誘導トランジス
タ(5tatic InductionTranSIS
jOr i以下頭文字をとってSITと称する)を用い
たSITイメージセンサが開発されている。
ちながら、出力電流が電圧の増加と共に次第に増加し、
三極管と同様に不飽和形の電流電圧特性を示すと共に、
大出力、低歪、低雑音特性を有する静電誘導トランジス
タ(5tatic InductionTranSIS
jOr i以下頭文字をとってSITと称する)を用い
たSITイメージセンサが開発されている。
第1図AおよびBはSITイメージセンサの7つのエレ
メントの一例の構成を示す断面図およびその等価回路図
を示すものである。このエレメントは読み出し用MOS
形SIT /とホトトランジスタ2とから成り、増幅機
能を有する表面照射形で、浮遊領域により形成されたn
+p接合を含むものである。MO8形SI’[’ /お
よびホトトランジスターは分離用絶縁領域3で囲まれた
p形」′導体基体lに形成され、ホトトランジスターは
表面透明電極s1計層t1p−領域7、p浮遊領域gお
よび耐浮遊領域9を有するフローティングエミッタ構造
となッテいる。n浮遊領域9はホトトランジスターのエ
ミッタであると同時に読み出し川[08形SIT/のド
レイン電極l/に接続されている。このドレイン電極l
/上には絶縁層/2を介して導電層/3が被着され、こ
れらドレイン電極l/、絶縁層/2および導電層/3に
より蓄積容量OSを構成している。MO8形SIT /
のゲート領域(pチャンネル)/グはn+浮遊領域9に
接合して形成され、このゲート領域/lIの上方にはゲ
ート酸化膜/jを介してゲート電極/4が設けられてい
る。また、n″−のソース領域17はpチャンネルのゲ
ート領域/ダに接合して形成され、このソース領域17
にソース電極/Ifが接続されている。なお、ドレイン
電極//、導電層/3、ゲート電極/6およびソース電
極/Ifは絶縁層19により互いに絶縁されていると共
に、SIT /のドレイン電極l/、導電層/3および
ホトトランジスターは絶縁層〃により絶縁されている。
メントの一例の構成を示す断面図およびその等価回路図
を示すものである。このエレメントは読み出し用MOS
形SIT /とホトトランジスタ2とから成り、増幅機
能を有する表面照射形で、浮遊領域により形成されたn
+p接合を含むものである。MO8形SI’[’ /お
よびホトトランジスターは分離用絶縁領域3で囲まれた
p形」′導体基体lに形成され、ホトトランジスターは
表面透明電極s1計層t1p−領域7、p浮遊領域gお
よび耐浮遊領域9を有するフローティングエミッタ構造
となッテいる。n浮遊領域9はホトトランジスターのエ
ミッタであると同時に読み出し川[08形SIT/のド
レイン電極l/に接続されている。このドレイン電極l
/上には絶縁層/2を介して導電層/3が被着され、こ
れらドレイン電極l/、絶縁層/2および導電層/3に
より蓄積容量OSを構成している。MO8形SIT /
のゲート領域(pチャンネル)/グはn+浮遊領域9に
接合して形成され、このゲート領域/lIの上方にはゲ
ート酸化膜/jを介してゲート電極/4が設けられてい
る。また、n″−のソース領域17はpチャンネルのゲ
ート領域/ダに接合して形成され、このソース領域17
にソース電極/Ifが接続されている。なお、ドレイン
電極//、導電層/3、ゲート電極/6およびソース電
極/Ifは絶縁層19により互いに絶縁されていると共
に、SIT /のドレイン電極l/、導電層/3および
ホトトランジスターは絶縁層〃により絶縁されている。
ホトトランジスターの表面透明m極sにはp−領域7が
空乏化するに十分な正のバイアス電圧■8(+)が印加
される。また、MO8形SIT /のゲート電極llに
はホトトランジスタ2を介して蓄積容量OSに記憶され
た電圧を読み出すための信号を供給するワードライン2
ノが接続され、ソース電極/lには読み出された電圧を
出力する読み出し用ビットラインnが接続される。
空乏化するに十分な正のバイアス電圧■8(+)が印加
される。また、MO8形SIT /のゲート電極llに
はホトトランジスタ2を介して蓄積容量OSに記憶され
た電圧を読み出すための信号を供給するワードライン2
ノが接続され、ソース電極/lには読み出された電圧を
出力する読み出し用ビットラインnが接続される。
以下、動作を説明する。ホトトランジスターの表面透明
電極Sにp−領域7が空乏化するに十分な正のバイアス
電圧■s(+)を印加した状態で、該表面透明電極Sに
入射光hνが入射すると、これにより励起された電子−
ホール対のうち、電子は表面のn+層tに直ちに吸収さ
れ、ホールはp−領域7に加わっている強電界により加
速されてp浮遊領域ざに流れ込み、このp浮遊領域tを
正に帯電する。p浮遊領域rが正に帯電すると、n+浮
遊領域9との間が順方向にバイアスされることになる。
電極Sにp−領域7が空乏化するに十分な正のバイアス
電圧■s(+)を印加した状態で、該表面透明電極Sに
入射光hνが入射すると、これにより励起された電子−
ホール対のうち、電子は表面のn+層tに直ちに吸収さ
れ、ホールはp−領域7に加わっている強電界により加
速されてp浮遊領域ざに流れ込み、このp浮遊領域tを
正に帯電する。p浮遊領域rが正に帯電すると、n+浮
遊領域9との間が順方向にバイアスされることになる。
すなわち、n浮遊領域ワから電子がp浮遊領域rに注入
され、注入された電子はこのp浮遊領域tを通過し、高
抵抗のp−領域7をドリフト走行して表面のn+Mtに
吸収される。このようにn+浮遊領域9から電子が流出
すると、この領域りも電子が不足して正に帯電されるこ
とになる。
され、注入された電子はこのp浮遊領域tを通過し、高
抵抗のp−領域7をドリフト走行して表面のn+Mtに
吸収される。このようにn+浮遊領域9から電子が流出
すると、この領域りも電子が不足して正に帯電されるこ
とになる。
このn+浮遊領域りのm位vn(りは、p浮遊領域rが
極めて薄い場合は、 となる。たくし、Cfはp浮遊領域rの容量、qは単位
電荷、8は光子密度、Cは光速を表わす。上式から明ら
かなように、電位vn(t)は入射光量および露光時間
tに比例し、Ofに反比例する。したがって、p浮遊領
域tの容kICfは小さい程、僅かなホールの流入で大
きな電圧変化を得ることができ、感度を向上させること
ができる。なお、n+浮遊領域9に接続された蓄積容量
C6は、フック構造の増幅作用によりC8にあまり依存
せずに浮遊n+p接合が所定の順方向バイアスになるま
でn+浮遊領域9から電子が流れ出すから、この領域り
の電圧値にあまり影響を与えない。
極めて薄い場合は、 となる。たくし、Cfはp浮遊領域rの容量、qは単位
電荷、8は光子密度、Cは光速を表わす。上式から明ら
かなように、電位vn(t)は入射光量および露光時間
tに比例し、Ofに反比例する。したがって、p浮遊領
域tの容kICfは小さい程、僅かなホールの流入で大
きな電圧変化を得ることができ、感度を向上させること
ができる。なお、n+浮遊領域9に接続された蓄積容量
C6は、フック構造の増幅作用によりC8にあまり依存
せずに浮遊n+p接合が所定の順方向バイアスになるま
でn+浮遊領域9から電子が流れ出すから、この領域り
の電圧値にあまり影響を与えない。
読み出しは破壊読み出しにも、非破壊読み出しにもでき
る。非破壊読み出しを行なう場合には、パルス電圧をワ
ードライン2/を介してMO8形SIT/のゲートに加
えて導通させる。MO8形SI’I’ /が導通ずると
、ソース領域/7からpチャンネルのゲート領域/グを
介して電子がn+浮遊領域ワに流れ込んでn+浮遊領域
9の正電圧■n(t)を低下させるが、このときにはp
浮遊領域tの電位が増加して浮遊n+p接合の順方向バ
イアスが深くなるから流れ込んだ電子は直ちに高抵抗の
p−領域7に注入される。したがって、ビットライン刀
の寄生容量OBに殆んどよらない読み出し電圧V。ut
を得ることができると共に、n+浮遊領域9の電位は7
回読み出しが行なわれて一旦低下しても、しばらく時間
が経過するとそれ以前とは(同じように増加し続ける。
る。非破壊読み出しを行なう場合には、パルス電圧をワ
ードライン2/を介してMO8形SIT/のゲートに加
えて導通させる。MO8形SI’I’ /が導通ずると
、ソース領域/7からpチャンネルのゲート領域/グを
介して電子がn+浮遊領域ワに流れ込んでn+浮遊領域
9の正電圧■n(t)を低下させるが、このときにはp
浮遊領域tの電位が増加して浮遊n+p接合の順方向バ
イアスが深くなるから流れ込んだ電子は直ちに高抵抗の
p−領域7に注入される。したがって、ビットライン刀
の寄生容量OBに殆んどよらない読み出し電圧V。ut
を得ることができると共に、n+浮遊領域9の電位は7
回読み出しが行なわれて一旦低下しても、しばらく時間
が経過するとそれ以前とは(同じように増加し続ける。
このエレメントのリフレッシュは第、2図に示すように
、読み出し用MO8i SIT /とホトランジスタ2
との他にリフレッシュ用の5ITnを設け、このSIT
、2Jのソースまたはドレイン領域をp浮遊領域ざに
接合して形成し、ドレインまたはソース電極をアースに
接続して、ゲート電極にリフレッシュライン2グを介し
て所要のリフレッシュ電圧を印加して5IT23を導通
さぜることにより、蓄積容■C8および容JjtCfの
’rtj荷を放電してリフレッシュすることができる。
、読み出し用MO8i SIT /とホトランジスタ2
との他にリフレッシュ用の5ITnを設け、このSIT
、2Jのソースまたはドレイン領域をp浮遊領域ざに
接合して形成し、ドレインまたはソース電極をアースに
接続して、ゲート電極にリフレッシュライン2グを介し
て所要のリフレッシュ電圧を印加して5IT23を導通
さぜることにより、蓄積容■C8および容JjtCfの
’rtj荷を放電してリフレッシュすることができる。
SITイメージセンサは第7図に示したエレメントを例
えば同一半導体基体にマ) IJツタス状に多数配列し
て構成することができる。第3図はその一例の構成を示
す斜視図である。このSITイメージセンサ3/は単一
の半導体基体32に第1図に示すエレメントをマトリッ
クス状に多数配列して受光部33を形成し、この受光部
3?の近傍に各エレメントに所要の信号を供給するため
の電極3グを設けたものである。このように構成したS
ITイメージセンサは以下のような特長を有する。
えば同一半導体基体にマ) IJツタス状に多数配列し
て構成することができる。第3図はその一例の構成を示
す斜視図である。このSITイメージセンサ3/は単一
の半導体基体32に第1図に示すエレメントをマトリッ
クス状に多数配列して受光部33を形成し、この受光部
3?の近傍に各エレメントに所要の信号を供給するため
の電極3グを設けたものである。このように構成したS
ITイメージセンサは以下のような特長を有する。
(t) S I Tが直線性の良い不飽和形の電流電
圧特性を有することから、蓄積容量OSにアナログ的に
書き込まれた電圧に対し読み出し電圧を相当広い範囲に
亘って直線的に変化させることができ、したがってダイ
ナミックレンジを極めて広くすることができる。
圧特性を有することから、蓄積容量OSにアナログ的に
書き込まれた電圧に対し読み出し電圧を相当広い範囲に
亘って直線的に変化させることができ、したがってダイ
ナミックレンジを極めて広くすることができる。
(2)集積度が高いので個々のエレメントの表面積を極
めて小さくでき、高解像度を得ることができる。
めて小さくでき、高解像度を得ることができる。
(B) 破壊読み出し、非破壊読み出しのいずれも可
能である。
能である。
(4) 増幅率が大きいから、光検出感度が高く、入
射光量が少なくても大きな信号が得られる。
射光量が少なくても大きな信号が得られる。
(5)個々のエレメントを独立に駆動できるのでランダ
ムな読み出しが可能であると共に、個々のエレメントの
感度を調整することもできる。
ムな読み出しが可能であると共に、個々のエレメントの
感度を調整することもできる。
(6) チャンネル中の電子の移動度が大きいことか
ら、書き込み/読み出しを高速度で行なうことができる
。
ら、書き込み/読み出しを高速度で行なうことができる
。
(7) リフレッシュ用のSITを同一基体に形成し
このリフレッシュ用SITを選択的に駆動することによ
り容易にリフレッシュすることができる。
このリフレッシュ用SITを選択的に駆動することによ
り容易にリフレッシュすることができる。
以上のようにSITイメージセンサにおいては、従来の
OCDイメージセンサやMOSイメージセンサにない優
れた特長を有する。しかしながら、第1図にSITイメ
ージセンサ3/の受光部33を拡大して示すように、受
光部33を構成する各エレメント3には第1図からも明
らかなようにホトトランジスタ部分の受光領域nと、そ
の動作を制御するSIT部分の不感領域3gとから成り
、これら受光領域Iおよび不感領域3rはは〈等しい面
積を有する。このため、集積度によって解像度が制限さ
れ、所望の解像度が得られない場合がある。
OCDイメージセンサやMOSイメージセンサにない優
れた特長を有する。しかしながら、第1図にSITイメ
ージセンサ3/の受光部33を拡大して示すように、受
光部33を構成する各エレメント3には第1図からも明
らかなようにホトトランジスタ部分の受光領域nと、そ
の動作を制御するSIT部分の不感領域3gとから成り
、これら受光領域Iおよび不感領域3rはは〈等しい面
積を有する。このため、集積度によって解像度が制限さ
れ、所望の解像度が得られない場合がある。
本発明の目的は上述した不具合を解決し、高解像度の画
像情報が得られるよう適切に構成したイメージセンサを
用いる撮像装置を提供しようとするものである。
像情報が得られるよう適切に構成したイメージセンサを
用いる撮像装置を提供しようとするものである。
本発明の撮像装置は、各々が受光領域および不感領域を
有する多数の光電変換エレメントを配列した複数個のイ
メージセンサと、これらイメージセンサ上に同一の被写
体像を投影する手段とを具え、前記複数個のイメージセ
ンサをその各々の受光領域が他のイメージセンサの不感
領域を補完し合う位置に配置して、これら複数個のイメ
ージセンサを選択的に読み出すことにより高解像度の画
像情報を得るよう構成したことを特徴とするものである
。
有する多数の光電変換エレメントを配列した複数個のイ
メージセンサと、これらイメージセンサ上に同一の被写
体像を投影する手段とを具え、前記複数個のイメージセ
ンサをその各々の受光領域が他のイメージセンサの不感
領域を補完し合う位置に配置して、これら複数個のイメ
ージセンサを選択的に読み出すことにより高解像度の画
像情報を得るよう構成したことを特徴とするものである
。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第5図は本発明の撮像装置の−・例の構成を示す線図で
ある。本例では被写体F/の同一像をレンズグ2および
ハーフミラーグ3を介して2個のS工Tイメージセンサ
、?/Aおよび3/ Bに結像ζせる。SITイメージ
センサJ/Aおよび3/ B・は第6図に示すようにそ
れぞれ第3図と同様に同一半導体基体32人。
ある。本例では被写体F/の同一像をレンズグ2および
ハーフミラーグ3を介して2個のS工Tイメージセンサ
、?/Aおよび3/ Bに結像ζせる。SITイメージ
センサJ/Aおよび3/ B・は第6図に示すようにそ
れぞれ第3図と同様に同一半導体基体32人。
32 Bにリフレッシュ機能を有するエレメントをマト
リックス状に多数配列して受光部、?、?A、37Bを
形成すると共に、受光部33に、33Bの近傍に各エレ
メントに所要の信号を供給するだめの電極31に、31
1Bを形成して構成するが、これらBITイメージセン
サ、?/Aおよび37Bは、第7図に拡大して示すよう
に一方のSITイメージセンサ3/A(3/B)の多数
のニレメン) JgA(3gB )のライン方向に並ぶ
受光領域ffA (37B )が他方のSITイメージ
センサ3/B(J/A)の多数のニレメン) 3tB(
JgA )のライン方向に並ぶ不感領域3fB(3fA
)を補完し合う位置関係に配置する。
リックス状に多数配列して受光部、?、?A、37Bを
形成すると共に、受光部33に、33Bの近傍に各エレ
メントに所要の信号を供給するだめの電極31に、31
1Bを形成して構成するが、これらBITイメージセン
サ、?/Aおよび37Bは、第7図に拡大して示すよう
に一方のSITイメージセンサ3/A(3/B)の多数
のニレメン) JgA(3gB )のライン方向に並ぶ
受光領域ffA (37B )が他方のSITイメージ
センサ3/B(J/A)の多数のニレメン) 3tB(
JgA )のライン方向に並ぶ不感領域3fB(3fA
)を補完し合う位置関係に配置する。
このように、2個のSITイメージセンサ3/A。
J/Bをその各々の受光領域が他のSITイメージセン
サの不感領域を補完する位置関係に配置すれば、これら
21固のSITイメージセンサ、?/Aおよび、?/
Bを選択的に読み出してその画像情報を合成することに
より解像度の高い画像情報を得ることができる。
サの不感領域を補完する位置関係に配置すれば、これら
21固のSITイメージセンサ、?/Aおよび、?/
Bを選択的に読み出してその画像情報を合成することに
より解像度の高い画像情報を得ることができる。
第r図は本発明の撮像装置の他の例の構成を示す線図で
ある。本例では2個のSITイメージセンサ3/ Aお
よび3/ Bを第9図に平面図をも示すように同一半導
体基体32の同一面に形成し、これらSITイメージセ
ンサ3/A、、?/B上に被写体4(/の同一像を結像
させるようにしたものである。このため、レンズグ2か
らの撮像光束をハーフミラーグ3に導き、ハーフミラー
グ3を透過した光束を反射ミラー件およびグ5を介して
一方のSITイメージセンサ、?/A上に結像させ、ハ
ーフミラーグ3で反射された光束を反射ミラー化を介し
て他方のSITイメージセンサ3/ B上に結像させる
よう構成する。勿論、この場合もSITイメージセンサ
3/A、3/Bは上述した実施例と同様に第9図に示す
ように各々のライン方向の受光領域37A(ffB)が
他のSITイメージセンサのライン方向の不感領域3g
B(、?LA)を補完する位置関係に形成する。
ある。本例では2個のSITイメージセンサ3/ Aお
よび3/ Bを第9図に平面図をも示すように同一半導
体基体32の同一面に形成し、これらSITイメージセ
ンサ3/A、、?/B上に被写体4(/の同一像を結像
させるようにしたものである。このため、レンズグ2か
らの撮像光束をハーフミラーグ3に導き、ハーフミラー
グ3を透過した光束を反射ミラー件およびグ5を介して
一方のSITイメージセンサ、?/A上に結像させ、ハ
ーフミラーグ3で反射された光束を反射ミラー化を介し
て他方のSITイメージセンサ3/ B上に結像させる
よう構成する。勿論、この場合もSITイメージセンサ
3/A、3/Bは上述した実施例と同様に第9図に示す
ように各々のライン方向の受光領域37A(ffB)が
他のSITイメージセンサのライン方向の不感領域3g
B(、?LA)を補完する位置関係に形成する。
このように2個のSITイメージセンサ3/ Aおよび
3/ Bを同一半導体基体32上に形成したものを用い
れば、レンズグツ等の光学系に対する位置出しが容易に
できると共に、S工Tイメージセンサ3/Aおよび3/
Bを含む光学系全体をコンパクトに構成することがで
き、またSITイメージセンサの量産性も向上すること
ができる等のメリットがある。
3/ Bを同一半導体基体32上に形成したものを用い
れば、レンズグツ等の光学系に対する位置出しが容易に
できると共に、S工Tイメージセンサ3/Aおよび3/
Bを含む光学系全体をコンパクトに構成することがで
き、またSITイメージセンサの量産性も向上すること
ができる等のメリットがある。
第1θ図および第1/図A、Bは上述した2個のSIT
イメージセンサ3/ Aおよび3/ Bから画像情報を
読み出す走査の一例を説明するための線図である。本例
ではSITイメージセンサ、?/Aおよヒ3/ Bに第
1I図AおよびBにそれぞれ示すような交互に繰り返す
垂直走査信号を供給することにより、一方のSITイメ
ージセンサ31Aを最上列から最下列まで順次走査して
一画面の走査が終了した後、他方のSITイメージセン
サ、?/Bを同様に最上列から最下列まで一画面走査し
、以後これらSITイメージセンサ3/ Aおよび3/
Bの一画面の走査を交互に繰り返し行なう。このよう
にすれば、一方のSITイメージセンサ3/ Aを一回
一面走査したときには不感領域があるため、像の信号と
しては水平方向に一行おきに信号を取り込むことになる
が、次に他方のSITイメージセンサ3/Bを一回一面
走査することにより前のSITイメージセンサ、?/A
の走査で得られなかった像の部分の信号を取り込むこと
ができる。すなわち、S工TイメージセンサJ/Aおよ
び3/ Bを一画面交互に走査することにより、互いの
不感領域を補完し合ったいわゆるインターレース走査を
行なうことになるから、完全に像を取り込むことができ
、したがって解像度の高い画像情報を得ることができる
と共に、これをモニタする場合にちらつきを少なくする
ことができる。
イメージセンサ3/ Aおよび3/ Bから画像情報を
読み出す走査の一例を説明するための線図である。本例
ではSITイメージセンサ、?/Aおよヒ3/ Bに第
1I図AおよびBにそれぞれ示すような交互に繰り返す
垂直走査信号を供給することにより、一方のSITイメ
ージセンサ31Aを最上列から最下列まで順次走査して
一画面の走査が終了した後、他方のSITイメージセン
サ、?/Bを同様に最上列から最下列まで一画面走査し
、以後これらSITイメージセンサ3/ Aおよび3/
Bの一画面の走査を交互に繰り返し行なう。このよう
にすれば、一方のSITイメージセンサ3/ Aを一回
一面走査したときには不感領域があるため、像の信号と
しては水平方向に一行おきに信号を取り込むことになる
が、次に他方のSITイメージセンサ3/Bを一回一面
走査することにより前のSITイメージセンサ、?/A
の走査で得られなかった像の部分の信号を取り込むこと
ができる。すなわち、S工TイメージセンサJ/Aおよ
び3/ Bを一画面交互に走査することにより、互いの
不感領域を補完し合ったいわゆるインターレース走査を
行なうことになるから、完全に像を取り込むことができ
、したがって解像度の高い画像情報を得ることができる
と共に、これをモニタする場合にちらつきを少なくする
ことができる。
以上のように、2個の、S工TイメージセンサJ/Aお
よびj/Bの各画面を交互に走査することにより、高解
像度の画像情報を得ることができる。
よびj/Bの各画面を交互に走査することにより、高解
像度の画像情報を得ることができる。
しかしながら、各SITイメージセンサにおいて二次元
的に配列したエレメントの数が多くなると、SITイメ
ージセンサはリフレッシュ時間が100μs程度と長い
ために、このリフレッシュ時間により各ラインの信号読
み出しのタイミングが制限されるという問題がある。例
えば、1つのSI’I’イメージセンザの順次のライン
がそれぞれ500個のエレメントで構成され、各エレメ
ントをioo nsのビットパルスで順次に読み出し、
lラインの読み出し終了に同期して当該ラインを同時に
リフレッシュしようとすると、lラインの読み出しが5
opsであるのに対し、リフレッシュが700μsと長
くかかるため、常に複数のラインがリフレッシュ状態と
なり、消費電力の増加およびこれに伴なう発熱等の点で
好ましくない。これを避けるためには、順次のラインの
読み出しを、あるラインのりフレッシュ終了後、次のラ
インの読み111シを開始するようにして順次のライン
においてリフレッシュ状態が重ならないようにすればよ
いが、このようにすると7画面の走査に長時間を要する
不具合がある。
的に配列したエレメントの数が多くなると、SITイメ
ージセンサはリフレッシュ時間が100μs程度と長い
ために、このリフレッシュ時間により各ラインの信号読
み出しのタイミングが制限されるという問題がある。例
えば、1つのSI’I’イメージセンザの順次のライン
がそれぞれ500個のエレメントで構成され、各エレメ
ントをioo nsのビットパルスで順次に読み出し、
lラインの読み出し終了に同期して当該ラインを同時に
リフレッシュしようとすると、lラインの読み出しが5
opsであるのに対し、リフレッシュが700μsと長
くかかるため、常に複数のラインがリフレッシュ状態と
なり、消費電力の増加およびこれに伴なう発熱等の点で
好ましくない。これを避けるためには、順次のラインの
読み出しを、あるラインのりフレッシュ終了後、次のラ
インの読み111シを開始するようにして順次のライン
においてリフレッシュ状態が重ならないようにすればよ
いが、このようにすると7画面の走査に長時間を要する
不具合がある。
以下、このような不具合を解決し、リフレッシュ時間に
影響きれることなく各エレメントを順次て説明する。
影響きれることなく各エレメントを順次て説明する。
第72図は1つのSITイメージセンサの等価回路の一
例を示すものである。第12図において、各エレメント
3tは読み出し用5IT5/およびリフレッシュ用5I
T32を接合形で構成した点以外は第2図と同様である
ので第2図と同一部分は同一符号を付して表わす。各エ
レメント3乙のワードラインおよびリフレッシュライン
はlライン毎に共通のワードラインφWおよびリフレッ
シュラインφRにそれぞれ接続する。この場合VCは、
ワードラインφ7を高レベルにした状態でlラインのエ
レメントのビットラインφB工〜φBnを順次低レベル
にすることによりlラインの各エレメント3乙の画素情
報を順次読み出すことができ、またリフレッシュライン
φRを低レベルにすることにより、lラインの各エレメ
ント3≦を同時にリフレッシュすることができる。
例を示すものである。第12図において、各エレメント
3tは読み出し用5IT5/およびリフレッシュ用5I
T32を接合形で構成した点以外は第2図と同様である
ので第2図と同一部分は同一符号を付して表わす。各エ
レメント3乙のワードラインおよびリフレッシュライン
はlライン毎に共通のワードラインφWおよびリフレッ
シュラインφRにそれぞれ接続する。この場合VCは、
ワードラインφ7を高レベルにした状態でlラインのエ
レメントのビットラインφB工〜φBnを順次低レベル
にすることによりlラインの各エレメント3乙の画素情
報を順次読み出すことができ、またリフレッシュライン
φRを低レベルにすることにより、lラインの各エレメ
ント3≦を同時にリフレッシュすることができる。
第73図は2つのSITイメージセンサ3/Aおよび3
/ Bの具体的な結線を簡略化して示すものであり、一
方のSITイメージセンサ3/ AにおけるφWa−’
l l−ドラインφWに相当し、S工Tイメージセンサ
J/Aに2けるφBa−1’φB’a−2’・・・、φ
Ba−nおよびSI’I’イメージセンサ3/ Bにお
けるφBb−11φBb−2’・・・。
/ Bの具体的な結線を簡略化して示すものであり、一
方のSITイメージセンサ3/ AにおけるφWa−’
l l−ドラインφWに相当し、S工Tイメージセンサ
J/Aに2けるφBa−1’φB’a−2’・・・、φ
Ba−nおよびSI’I’イメージセンサ3/ Bにお
けるφBb−11φBb−2’・・・。
φBb−nは第72図のビットラインφBvLc、−1
またSITイメージセンサ3/ AにおけるφRa−1
’φRa−2’・・・。
またSITイメージセンサ3/ AにおけるφRa−1
’φRa−2’・・・。
φRa−nおよびSI’I’イメージセンザ3/ Bに
おけるφFjb−1’φRb−2’・・・、φRb−n
は第12図のリフレッシュライン軸にそれぞれ相当する
。
おけるφFjb−1’φRb−2’・・・、φRb−n
は第12図のリフレッシュライン軸にそれぞれ相当する
。
第1グ図は第73図に示したS工TイメージセンサJ/
Aおよび3/Bの駆動回路の構成を示すブロック図でア
ル。SITイメージセンサ31Aおよび3/Bの各ヒツ
トライン(第13図においてφ 〜φ13a−113
a−n I φBb−0〜φBb−n )にはビットラインパルス発
生器6/から所要のパルスを供給し、その画素情報は読
み出し回路g2に供給する。また各センサJ/Aおよび
3/Bのワードライン(第13図においてφWa−0〜
φWa−n + 9’Wb−0〜φwb−yl )には
ワードラインパルス発生器≦3からワードラインゲート
6IIおよび4jを介して所要のパルスを供給し、リフ
レツX シュライン(第13図においてφRa−1〜φ
Ra−n 。
Aおよび3/Bの駆動回路の構成を示すブロック図でア
ル。SITイメージセンサ31Aおよび3/Bの各ヒツ
トライン(第13図においてφ 〜φ13a−113
a−n I φBb−0〜φBb−n )にはビットラインパルス発
生器6/から所要のパルスを供給し、その画素情報は読
み出し回路g2に供給する。また各センサJ/Aおよび
3/Bのワードライン(第13図においてφWa−0〜
φWa−n + 9’Wb−0〜φwb−yl )には
ワードラインパルス発生器≦3からワードラインゲート
6IIおよび4jを介して所要のパルスを供給し、リフ
レツX シュライン(第13図においてφRa−1〜φ
Ra−n 。
φRb−1〜φRb−n )にはりフレッシュラインパ
ルス発生器≦6からりフレッシュラインゲート67およ
び6tを介して所要のパルスを供給する。なお、リフレ
ッシュラインゲートt7およびtrはそれぞれワードラ
インゲート6qおよび討により駆動制御する。
ルス発生器≦6からりフレッシュラインゲート67およ
び6tを介して所要のパルスを供給する。なお、リフレ
ッシュラインゲートt7およびtrはそれぞれワードラ
インゲート6qおよび討により駆動制御する。
次に第141図に示す駆動回路の動作を第13図および
第B図A、B、O,Dに示すタイミングチャートを参照
しながら説明する。なお、以下の説明では、各SITイ
メージセンサJ/A 、 3/Bのlラインの読み出し
時間がSθμB、IJフレッシュ時間が100μsとす
ると共に、ビットラインについては従来のイメージセン
サと変わらないので説明を省略する。先ずSI’I’イ
メージセンサ、?/Aの順次のワードラインφWa−1
〜φwa−nにワードラインパルス発生器t3からワー
ドラインゲート6ケを介して、第1j図Aに示すように
あるラインの読み出し終了と次のラインの読み出し開始
とが同期するようにパルスI1%I sθμsのワード
パルスを順次供給し、これにより一画面の画像情報を読
み出し回路≦2で読み出す。SITイメージセンサJ/
Aの最初の7ラインの読み出しの終了に同期して、ワー
ドラインゲートtlIからリフレッシュラインゲート6
7に所要の信号を供給し、これによりリフレッシュライ
ンパルス発生器A4からリフレッシュラインゲート乙7
を介してリフレッシュラインφRa−1〜φRa−n
ニtA /!;図Cに示すように第1ラインから最終ラ
インに向けて第1j図Aに示すワードパルスとは無関係
に前フレッシュの開始とが同期するようにパルス幅10
0μsのリフレッシュパルスを順次供M t ル。
第B図A、B、O,Dに示すタイミングチャートを参照
しながら説明する。なお、以下の説明では、各SITイ
メージセンサJ/A 、 3/Bのlラインの読み出し
時間がSθμB、IJフレッシュ時間が100μsとす
ると共に、ビットラインについては従来のイメージセン
サと変わらないので説明を省略する。先ずSI’I’イ
メージセンサ、?/Aの順次のワードラインφWa−1
〜φwa−nにワードラインパルス発生器t3からワー
ドラインゲート6ケを介して、第1j図Aに示すように
あるラインの読み出し終了と次のラインの読み出し開始
とが同期するようにパルスI1%I sθμsのワード
パルスを順次供給し、これにより一画面の画像情報を読
み出し回路≦2で読み出す。SITイメージセンサJ/
Aの最初の7ラインの読み出しの終了に同期して、ワー
ドラインゲートtlIからリフレッシュラインゲート6
7に所要の信号を供給し、これによりリフレッシュライ
ンパルス発生器A4からリフレッシュラインゲート乙7
を介してリフレッシュラインφRa−1〜φRa−n
ニtA /!;図Cに示すように第1ラインから最終ラ
インに向けて第1j図Aに示すワードパルスとは無関係
に前フレッシュの開始とが同期するようにパルス幅10
0μsのリフレッシュパルスを順次供M t ル。
SITイメージセンザ3/Aの最終ラインの読み出しの
終了、すなわち第is図Aに示すワードラインφ へ
のワードパルスの立下りに同期して、ワa−n −ドラインパルス発生器名3からワードラインゲー−)
43を介してSITイメージセンサ3/Bのワードライ
ンφwb−0〜φwb−□に第13図Bに示すように第
1S図Aの場合と同様に5θμsのワードパルスを順次
供給してSITイメージセンサ3/Bの一画面の画像情
報を読み出し回路62により読み出す。このSITイメ
ージセンサ3/Bのリフレッシュは、第1jlJ。
終了、すなわち第is図Aに示すワードラインφ へ
のワードパルスの立下りに同期して、ワa−n −ドラインパルス発生器名3からワードラインゲー−)
43を介してSITイメージセンサ3/Bのワードライ
ンφwb−0〜φwb−□に第13図Bに示すように第
1S図Aの場合と同様に5θμsのワードパルスを順次
供給してSITイメージセンサ3/Bの一画面の画像情
報を読み出し回路62により読み出す。このSITイメ
ージセンサ3/Bのリフレッシュは、第1jlJ。
に示したSITイメージセンサnAの場合と同様に、S
ITイメージセンサ3/Bの最初のlラインの読み出し
の終了に同期して、ワードラインゲート6jからリフレ
ッシュラインゲートtrに所要の信号を供給し、これに
よりリフレッシュラインパルス発生器6gからリフレッ
シュラインゲートttを介してリフレッシュラインφR
b−1〜φRb−nに第1j図りに示すように、第1ラ
インから最終ラインに向けて第1j図Bに示すワードパ
ルスとは無関係に前のラインのリフレッシュの終了と次
のラインのりフレッシュの開始とが同期するようにパル
ス幅100μsのリフレッシュパルスを順次供給して行
なう。
ITイメージセンサ3/Bの最初のlラインの読み出し
の終了に同期して、ワードラインゲート6jからリフレ
ッシュラインゲートtrに所要の信号を供給し、これに
よりリフレッシュラインパルス発生器6gからリフレッ
シュラインゲートttを介してリフレッシュラインφR
b−1〜φRb−nに第1j図りに示すように、第1ラ
インから最終ラインに向けて第1j図Bに示すワードパ
ルスとは無関係に前のラインのリフレッシュの終了と次
のラインのりフレッシュの開始とが同期するようにパル
ス幅100μsのリフレッシュパルスを順次供給して行
なう。
SITイメージセンサ3/Bの一画面の読み出しが終了
した後は、その終了に同期してSITイメージセンサ、
?/Aの読み出しを開始し、以後上述した動作を繰り返
し行なう。
した後は、その終了に同期してSITイメージセンサ、
?/Aの読み出しを開始し、以後上述した動作を繰り返
し行なう。
上述したところから明らかなように、本実施例によれば
lラインの読み出し時間に比してリフレッシュ時間が長
い場合でも、一方のSITイメージセンサが鋤いている
間に他方のSITイメージサンサのリフレッシュを完了
させることにより、S工Tイメージセンサ−画面の読み
出し時間に何ら遅れを出すことなしに、しかもlライン
のリフレッシュヲ同−S工Tイメージセンサの他のフィ
ンと重複してリフレッシュすることなく順次リフレッシ
ュすることができる。
lラインの読み出し時間に比してリフレッシュ時間が長
い場合でも、一方のSITイメージセンサが鋤いている
間に他方のSITイメージサンサのリフレッシュを完了
させることにより、S工Tイメージセンサ−画面の読み
出し時間に何ら遅れを出すことなしに、しかもlライン
のリフレッシュヲ同−S工Tイメージセンサの他のフィ
ンと重複してリフレッシュすることなく順次リフレッシ
ュすることができる。
なお、本発明は」二連した例にのみ限定されるものでは
なく、幾多の変形または変更が可能である。
なく、幾多の変形または変更が可能である。
例えば、上述した実施例では2個のSITイメージセン
サを用いたが、各エレメントにおいて受光領域よりも不
感領域の面積が大きいときには更に多くのSITイメー
ジセンサを用いてそれぞれの不感領域を他のSITイメ
ージセンサの受光領域で補完するようにすることもでき
る。また、上述した例でハイわゆるインターレース走査
により画像情報を読み出すようにしたが、−個のSIT
イメージセンサをライン毎交互に読み出すいわゆる順次
走査により画像情報を得ることもできる。更に、各SI
Tイメージセンサにおける受光領域および不感領域は必
ずしもラインに沿って配列する必要はない。
サを用いたが、各エレメントにおいて受光領域よりも不
感領域の面積が大きいときには更に多くのSITイメー
ジセンサを用いてそれぞれの不感領域を他のSITイメ
ージセンサの受光領域で補完するようにすることもでき
る。また、上述した例でハイわゆるインターレース走査
により画像情報を読み出すようにしたが、−個のSIT
イメージセンサをライン毎交互に読み出すいわゆる順次
走査により画像情報を得ることもできる。更に、各SI
Tイメージセンサにおける受光領域および不感領域は必
ずしもラインに沿って配列する必要はない。
更にまた、本発明はSITイメージセンサのみならず、
OCDイメージセンサやMOSイメージセンサ等を用い
ることもできる。
OCDイメージセンサやMOSイメージセンサ等を用い
ることもできる。
以上述べたように本発明によれば複数個のイメージセン
サを用い、その各々の不感領域を他のイメージセンサの
受光領域で補完するようにして、これら複数個のイメー
ジセンサを選択的に読み出すようにしたから高解像度の
画像情報を得ることができると共に、特に上述した実施
例のように2個のイメージセンサを交互にインターレー
ス走査して画像を映出する場合にはちらつきを少くする
ことができる。
サを用い、その各々の不感領域を他のイメージセンサの
受光領域で補完するようにして、これら複数個のイメー
ジセンサを選択的に読み出すようにしたから高解像度の
画像情報を得ることができると共に、特に上述した実施
例のように2個のイメージセンサを交互にインターレー
ス走査して画像を映出する場合にはちらつきを少くする
ことができる。
また、イメージセンサの7ラインの読み出し時間に比し
てリフレッシュ時間が長い場合でも、複数個のイメージ
センサを用いることによりあるイメージセンサが榊いて
いる間に他のイメージセンサのリフレッシュを完了させ
ることができるから、読み出し時間に何ら遅れを出すこ
となしに、しかも/ラインのリフレッシュを同一イメー
ジセンサの他のラインと重複してリフレッシュすること
なく、順次リフレッシュすることができる。
てリフレッシュ時間が長い場合でも、複数個のイメージ
センサを用いることによりあるイメージセンサが榊いて
いる間に他のイメージセンサのリフレッシュを完了させ
ることができるから、読み出し時間に何ら遅れを出すこ
となしに、しかも/ラインのリフレッシュを同一イメー
ジセンサの他のラインと重複してリフレッシュすること
なく、順次リフレッシュすることができる。
第1図AおよびBはSI’I’イメージセンサの7個の
エレメントの一例の構成を示す断面図およびその等価回
路図、 第2図はリフレッシュ機能を有するSITイメ−第3図
はSITイメージセンサの外観斜視図、第1図は第3図
に示すSITイメージセンサの受光部の一部を拡大して
示す図、 第3図は本発明の撮像装置の一例の構成を示す線図、 第を図は第3図に示す撮像装置に用いる2個のSITイ
メージセンサの外観斜視図、 第7図は第を図に示す2個のSITイメージセンサのそ
れぞれの受光部の一部を拡大して示す図、第r図は本発
明の撮像装置の他の例の構成を示す線図、 第9図は第に図に示す2個のSITイメージセンサの構
成を示す平面図、 第1θ図および第1/図A、Bは第S図および第を図と
おいて2個のSITイメージセンサから画像情報を読み
出す走査の一例を説明するための線図、第72図はSI
Tイメージセンサの等価回路図、第73図は2個のSI
Tイメージセンサの配線状態を簡略化して示す線図、 第1グ図は第73図に示す2個のSITイメージセンサ
の駆動回路の一例の構成を示すブロック図、第1j図A
、B 、OおよびDはその動作を説1νJするための信
号波形図である。 /・・・読み出し用SIT、、2・・・ホトトランジス
タ、〃・・・ワードライン、n・・・ビットライン、n
・・・リフレッシュ用SIT 、 xq・・・リフレッ
シュライン、31゜、?/A 、 3/B・・・SIT
イメージセンサ、32 、 、?、2A 、 32B・
・・半導体基体、33 、33A、 33B・・・受光
部、3グ、3グA3’lB−・・電極、36. 、?、
<A 、 JOB ・・・、I L、メント、n。 、?7A 、 J7B・・・受光領域、3g 、 3g
k 、 jgB・・・不感領域、lIl…被写体、グ2
・・・レンズ、グ3・・・ハーフミラ−1件。 aS 、 U・・・反射ミラー、3/・・・読み出し用
SIT 、 見・・・リフレッシュ用SIT、4/・・
・ビットラインパルス発生器、62・・・読み出し回路
、63・・・ワードラインパルス発生器、44(、t!
…ワードラインゲート、z6・・・リフレッシュライン
パルスJIJ[、に7.乙に・・・リフレッシュライン
ゲート。 第1図 rA> (B) 第5図 第6図 ゴd
エレメントの一例の構成を示す断面図およびその等価回
路図、 第2図はリフレッシュ機能を有するSITイメ−第3図
はSITイメージセンサの外観斜視図、第1図は第3図
に示すSITイメージセンサの受光部の一部を拡大して
示す図、 第3図は本発明の撮像装置の一例の構成を示す線図、 第を図は第3図に示す撮像装置に用いる2個のSITイ
メージセンサの外観斜視図、 第7図は第を図に示す2個のSITイメージセンサのそ
れぞれの受光部の一部を拡大して示す図、第r図は本発
明の撮像装置の他の例の構成を示す線図、 第9図は第に図に示す2個のSITイメージセンサの構
成を示す平面図、 第1θ図および第1/図A、Bは第S図および第を図と
おいて2個のSITイメージセンサから画像情報を読み
出す走査の一例を説明するための線図、第72図はSI
Tイメージセンサの等価回路図、第73図は2個のSI
Tイメージセンサの配線状態を簡略化して示す線図、 第1グ図は第73図に示す2個のSITイメージセンサ
の駆動回路の一例の構成を示すブロック図、第1j図A
、B 、OおよびDはその動作を説1νJするための信
号波形図である。 /・・・読み出し用SIT、、2・・・ホトトランジス
タ、〃・・・ワードライン、n・・・ビットライン、n
・・・リフレッシュ用SIT 、 xq・・・リフレッ
シュライン、31゜、?/A 、 3/B・・・SIT
イメージセンサ、32 、 、?、2A 、 32B・
・・半導体基体、33 、33A、 33B・・・受光
部、3グ、3グA3’lB−・・電極、36. 、?、
<A 、 JOB ・・・、I L、メント、n。 、?7A 、 J7B・・・受光領域、3g 、 3g
k 、 jgB・・・不感領域、lIl…被写体、グ2
・・・レンズ、グ3・・・ハーフミラ−1件。 aS 、 U・・・反射ミラー、3/・・・読み出し用
SIT 、 見・・・リフレッシュ用SIT、4/・・
・ビットラインパルス発生器、62・・・読み出し回路
、63・・・ワードラインパルス発生器、44(、t!
…ワードラインゲート、z6・・・リフレッシュライン
パルスJIJ[、に7.乙に・・・リフレッシュライン
ゲート。 第1図 rA> (B) 第5図 第6図 ゴd
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 L 各々が受光領域および不感領域を有する多数の光電
変換エレメントを配列した複数個のイメージセンサと、
これらイメージセンサ上に同一の被写体像を投影する手
段とを具え、前記複数個のイメージセンサをその各々の
受光領域が他のイメージセンサの不感領域を補完し合う
位置に配置して、これら複数個のイメージセンサを選択
的に読み出すことにより高解像度の画像情報を得るよう
構成したことを特徴とするイメージセンサを用いる撮像
装置。 & 前記複数個のイメージセンサの各々を、各イメージ
センサの複数の画素列を所定の画素列から順次読み出す
手段と、前記所定の画素列の読み出し終了に同期して当
該所定の画素列から順次の画素列を互いに重複しないよ
うに画素列毎にリフレッシュする手段とを設けたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のイメージセンサ
を用いる撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56107482A JPS589480A (ja) | 1981-07-09 | 1981-07-09 | イメ−ジセンサを用いる撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56107482A JPS589480A (ja) | 1981-07-09 | 1981-07-09 | イメ−ジセンサを用いる撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS589480A true JPS589480A (ja) | 1983-01-19 |
Family
ID=14460330
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56107482A Pending JPS589480A (ja) | 1981-07-09 | 1981-07-09 | イメ−ジセンサを用いる撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS589480A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6022879A (ja) * | 1983-07-19 | 1985-02-05 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 固体撮像装置感度制御方式 |
EP0519719A2 (en) * | 1991-06-20 | 1992-12-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Arrangement of a plurality of image sensors in a video camera |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5013052A (ja) * | 1973-06-04 | 1975-02-10 |
-
1981
- 1981-07-09 JP JP56107482A patent/JPS589480A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5013052A (ja) * | 1973-06-04 | 1975-02-10 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6022879A (ja) * | 1983-07-19 | 1985-02-05 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 固体撮像装置感度制御方式 |
EP0519719A2 (en) * | 1991-06-20 | 1992-12-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Arrangement of a plurality of image sensors in a video camera |
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