JPS5891409A - 合焦検出方法 - Google Patents
合焦検出方法Info
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- JPS5891409A JPS5891409A JP18924081A JP18924081A JPS5891409A JP S5891409 A JPS5891409 A JP S5891409A JP 18924081 A JP18924081 A JP 18924081A JP 18924081 A JP18924081 A JP 18924081A JP S5891409 A JPS5891409 A JP S5891409A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
- G02B7/38—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals measured at different points on the optical axis, e.g. focussing on two or more planes and comparing image data
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はスチールカメラ、シネカメラ、顕微＠＃１４ｍ
ｇ３ｋＭｗ１等における合焦検出方法に関するものであ
る。
ｇ３ｋＭｗ１等における合焦検出方法に関するものであ
る。
例えは、−眼レフカメラの合焦検出方法として家のボケ
緻を算出する評価関数を用いたいわゆるボケ像検出方法
が従来多数提案されている。その−例を第１図および第
２図を参照して説明する。
緻を算出する評価関数を用いたいわゆるボケ像検出方法
が従来多数提案されている。その−例を第１図および第
２図を参照して説明する。
第１図においては、撮影光学系ｌとフィルムλとの闇の
光路中に配置されるクイックリターンミラー３の中央部
を八−７之ツー参とし、この八−フミラーダで反射され
る撮影光束をピント板ｊ１ペンタプリスム≦を具える観
察光学系に導く一方、ハーフミラーダを透過する光束を
、クイックリターンミラー３の裏面に設けた反射ミラー
７で下方に導くようにし、この下方に導かれた光束を半
透鏡ｒを透過して一方の受光菓子列タムに入射させ、半
透鏡ｊで反射された光束を全反射鏡ｌσを経て他方の受
光素子列９Ｂに入射させるようにｍ成されている。受光
素子列９ム、９Ｂは、フィルムλと光学的に共役な平面
の前後等しい位置に配置してあり、これら受光素子列９
ム、９Ｂには被写体の同一部位の酸が投影され、各受光
素子列の光電変侵出力を所定の評価関数に基いて演算処
理して＊。
光路中に配置されるクイックリターンミラー３の中央部
を八−７之ツー参とし、この八−フミラーダで反射され
る撮影光束をピント板ｊ１ペンタプリスム≦を具える観
察光学系に導く一方、ハーフミラーダを透過する光束を
、クイックリターンミラー３の裏面に設けた反射ミラー
７で下方に導くようにし、この下方に導かれた光束を半
透鏡ｒを透過して一方の受光菓子列タムに入射させ、半
透鏡ｊで反射された光束を全反射鏡ｌσを経て他方の受
光素子列９Ｂに入射させるようにｍ成されている。受光
素子列９ム、９Ｂは、フィルムλと光学的に共役な平面
の前後等しい位置に配置してあり、これら受光素子列９
ム、９Ｂには被写体の同一部位の酸が投影され、各受光
素子列の光電変侵出力を所定の評価関数に基いて演算処
理して＊。
のボケ菫を表わす評価値をそれぞれ求めることにより、
これら評価値に基いて前ピン、合焦、後ピンの各状態を
判定している０絆価関数としては、受光素子列のｔａ目
の菓子の出力をＸｉとすると、例えば’ Ｘｉ −Ｘｉ
−０’の最大ｍＷ、（−＋ｘｉ−ｘ １ｍａＸ）と
その次に大きなｍＭ２（−１Ｘ、−−１ −Ｘｌ−０ｌ ｓｕｏｍａｘ ）との和等が使用される
。
これら評価値に基いて前ピン、合焦、後ピンの各状態を
判定している０絆価関数としては、受光素子列のｔａ目
の菓子の出力をＸｉとすると、例えば’ Ｘｉ −Ｘｉ
−０’の最大ｍＷ、（−＋ｘｉ−ｘ １ｍａＸ）と
その次に大きなｍＭ２（−１Ｘ、−−１ −Ｘｌ−０ｌ ｓｕｏｍａｘ ）との和等が使用される
。
第２図は受光素子列９ムおよび９Ｂの出力を評価関数に
城いて演算して得られるそれぞれの評価前とレンズ位置
との関係を示し、曲１１Ｆよけ受光素子列９ムに対応し
、曲１１Ｆ２は受光素子列９Ｂに対応する。受光素子列
９ムおよび９Ｂのそれぞれの評価値Ｆ およびＦ２は、
各受光菓子列上にピントが合ったときにそれぞれ竣人と
なり、フィルム而λにピントが合ったときは両受光菓子
列のｅ価蛎か等しくなる。したがって、撮影光学系Ｉの
任意の位置でそれぞれの評価＠Ｆ１．Ｉｉ’、を求め、
これらを比較することにより、Ｆ工〉Ｆ２のときは前ピ
ン状態、ＦニーＦ２のときは合焦状態、Ｆよくこの判定
結果に基いて手動的にまたは自動的に合焦制御すること
ができる。
城いて演算して得られるそれぞれの評価前とレンズ位置
との関係を示し、曲１１Ｆよけ受光素子列９ムに対応し
、曲１１Ｆ２は受光素子列９Ｂに対応する。受光素子列
９ムおよび９Ｂのそれぞれの評価値Ｆ およびＦ２は、
各受光菓子列上にピントが合ったときにそれぞれ竣人と
なり、フィルム而λにピントが合ったときは両受光菓子
列のｅ価蛎か等しくなる。したがって、撮影光学系Ｉの
任意の位置でそれぞれの評価＠Ｆ１．Ｉｉ’、を求め、
これらを比較することにより、Ｆ工〉Ｆ２のときは前ピ
ン状態、ＦニーＦ２のときは合焦状態、Ｆよくこの判定
結果に基いて手動的にまたは自動的に合焦制御すること
ができる。
上述した従来の合焦検出方法は、合焦ｍ度が＾いこと、
光学系の構成が簡単であること、レンズ交換が容易なこ
と等の長所を有するが、以下に説明するような菖大な欠
点がある。
光学系の構成が簡単であること、レンズ交換が容易なこ
と等の長所を有するが、以下に説明するような菖大な欠
点がある。
例えば、第３図ａに示すようにフォーカッシンゲスクリ
ーン／２の焦点検出視野／ｌ内に距離の違う膜数の被写
体、ここでは手前の人物／ダと後方の建＠／３とがある
場合には、撮影光学系ｌの移動によって受光素子列９ム
および９Ｂにそれぞれ形成される皺の評価値Ｆ工、Ｆ、
は第３図すに示すように蛮化し、本来の被写体の合焦位
置ｆ およびｆ。の池にｆｂの位置でもＦニーＦ２にな
り、この位置でも合焦と判定されて誤った合焦判断がな
される場合かある〇 本発明の目的は上述した欠点を解消し、Ｎに適正な合焦
検出ができる合焦検出方法を提供しようとするものであ
る。
ーン／２の焦点検出視野／ｌ内に距離の違う膜数の被写
体、ここでは手前の人物／ダと後方の建＠／３とがある
場合には、撮影光学系ｌの移動によって受光素子列９ム
および９Ｂにそれぞれ形成される皺の評価値Ｆ工、Ｆ、
は第３図すに示すように蛮化し、本来の被写体の合焦位
置ｆ およびｆ。の池にｆｂの位置でもＦニーＦ２にな
り、この位置でも合焦と判定されて誤った合焦判断がな
される場合かある〇 本発明の目的は上述した欠点を解消し、Ｎに適正な合焦
検出ができる合焦検出方法を提供しようとするものであ
る。
本発明の合焦構出方法は、光学系により予定焦平面に形
成される物体皺の少く共一部を、前記予定焦平面または
それと共役な面の前後に配置した第１および第２の受光
素子列でそれぞれ受光すると共に、前記予定焦平面また
はそれと共役な面に配置した第３の受光素子列で受光し
、これら第１゜第一および第３の受光菓子列の出力をそ
れぞれ所定の評価関数に従って演算して＃！ｌ、第２お
よび第３の評価値を求め、前記第３の受光菓子列に対す
る第３の評１Ｉｌｂ瞳と前記第１および第２の受光素子
列に対する第７および第一の評価値とが所定の大小関係
で、かつ第２および第一の評価値がほぼ等しいときに合
焦と判定することを特徴とするものである。
成される物体皺の少く共一部を、前記予定焦平面または
それと共役な面の前後に配置した第１および第２の受光
素子列でそれぞれ受光すると共に、前記予定焦平面また
はそれと共役な面に配置した第３の受光素子列で受光し
、これら第１゜第一および第３の受光菓子列の出力をそ
れぞれ所定の評価関数に従って演算して＃！ｌ、第２お
よび第３の評価値を求め、前記第３の受光菓子列に対す
る第３の評１Ｉｌｂ瞳と前記第１および第２の受光素子
列に対する第７および第一の評価値とが所定の大小関係
で、かつ第２および第一の評価値がほぼ等しいときに合
焦と判定することを特徴とするものである。
以下図面を餘照して本発明の詳細な説明する。
第４１図は本発明方法を実施する合焦検出装置の光学系
の一例の構成を示す線図である。本例では半透鏡ｊと全
反射ｉｌｌ １０との間の光路中にこれら牛＆鏡ｌおよ
び全反射鏡１０と平行に牛ａ鏡１を配置し、この半６慮
ｕで反射された光束を受光素子列デム、９Ｂと′同−鱗
板〃上でフィルムコと光学的に共役な面に配置した受光
菓子列９Ｇに入射させるようにした点のみが第１１ｉｌ
ｌに示すものと異なるものであり、第１図に示す符号と
同一符号は同一作用を成る部材を衷わす。
の一例の構成を示す線図である。本例では半透鏡ｊと全
反射ｉｌｌ １０との間の光路中にこれら牛＆鏡ｌおよ
び全反射鏡１０と平行に牛ａ鏡１を配置し、この半６慮
ｕで反射された光束を受光素子列デム、９Ｂと′同−鱗
板〃上でフィルムコと光学的に共役な面に配置した受光
菓子列９Ｇに入射させるようにした点のみが第１１ｉｌ
ｌに示すものと異なるものであり、第１図に示す符号と
同一符号は同一作用を成る部材を衷わす。
本例では、３つの受光素子列ｔム、９Ｂおよび９Ｃの出
力をそれぞれ同一の評価ＩＩＩＩ［、例えばＦ−ｌ Ｘ
ｌ−Ｘｉ−１ｌ ｗａｘ ＋ ｌ Ｘｌ−ｘｌ−１１ｓ
ｕｂｍａｘに基いて演算してそれぞれ評価値を求める。
力をそれぞれ同一の評価ＩＩＩＩ［、例えばＦ−ｌ Ｘ
ｌ−Ｘｉ−１ｌ ｗａｘ ＋ ｌ Ｘｌ−ｘｌ−１１ｓ
ｕｂｍａｘに基いて演算してそれぞれ評価値を求める。
ここで、第３図ａに示した被写体について同様の合焦検
出を行なうと、撮影光学系ｌの位置に対応して受光素子
列９ム＃ ９ Ｂ ｉよびｆＯから慢られるそれぞれの
評価値は第ｊｖｔＪに曲騙Ｆ□ｅＦ２およびＦ３で示す
ようになる。第Ｓ図から明らかなように受光素子列デム
、９Ｂおよびｔａに対する評価値Ｆ 、Ｆ および
ｒ、の関係は本来の被写体 ２ の合焦位＊ｆ およびｆ０付近では、Ｆ３＞ Ｆ工。
出を行なうと、撮影光学系ｌの位置に対応して受光素子
列９ム＃ ９ Ｂ ｉよびｆＯから慢られるそれぞれの
評価値は第ｊｖｔＪに曲騙Ｆ□ｅＦ２およびＦ３で示す
ようになる。第Ｓ図から明らかなように受光素子列デム
、９Ｂおよびｔａに対する評価値Ｆ 、Ｆ および
ｒ、の関係は本来の被写体 ２ の合焦位＊ｆ およびｆ０付近では、Ｆ３＞ Ｆ工。
Ｆ ＞Ｆ となり、ｆ およびｆ以外でＦニーＦ２と
３２ ａ Ｏな
るレンズ位置ｆｂ付近では？、＜Ｆｌ、 Ｆ３＜Ｆ２と
なる。
３２ ａ Ｏな
るレンズ位置ｆｂ付近では？、＜Ｆｌ、 Ｆ３＜Ｆ２と
なる。
本発明の一婁圃例においては以上の絆価蝮Ｆ工。
Ｆ２． Ｆ３ノ大小１１ｆｆｉヲ利用Ｌ、Ｆ３＞Ｆ□、
Ｆ２となるレンズ位Ｎ１（おいて合焦構出を行なうこ
とにより、４！ｌ￥体の本来の合焦位置においてのみ合
焦と判定するものである。
Ｆ２となるレンズ位Ｎ１（おいて合焦構出を行なうこ
とにより、４！ｌ￥体の本来の合焦位置においてのみ合
焦と判定するものである。
第を図は本発明方法を実施する合焦検出装置の一例の回
ｍｓ成を示すブロック図である。受光素子列９ム、９Ｂ
および９Ｃ上には第ダ図に示した光字系によりほぼ同一
の壕が形成される。本例では各受光案子列の出力を対応
する演算回路Ｊ／Ａ。
ｍｓ成を示すブロック図である。受光素子列９ム、９Ｂ
および９Ｃ上には第ダ図に示した光字系によりほぼ同一
の壕が形成される。本例では各受光案子列の出力を対応
する演算回路Ｊ／Ａ。
Ｊ／ ＢおよびＪ／ Ｏにそれぞれ供給して所定の同一
の評価関数に基いて演算して各評価値Ｆ１ ＃ Ｉ’２
およびＦ３を求める。演算回路３１ムから得られる評価
１自Ｆよは、差動増幅器３２の非反転入力端子、コンパ
レータ３３の非反転入力端子、コンパレータ３参の反転
入力端子およびコンパレータ３Ｓの非反転入力端子にそ
れぞれ供給し、演算１ｇｌ路３１ Ｂから得られる評価
ｗｉＦ２は差動増幅器３２の反転入力端子、フンパレー
タ３３の反転入力端子、コンパレータ３６の反転入力−
子およびコンパレータｎの非反転入力端子にそれぞれ供
給し、演算回ｌ１８３Ｉ Ｏから得られる評価ｆｌＦ３
はコンパレータ！−および３６のそれぞれの非反転入力
端子に供給する。また、コンパレータ３Ｓおよびｎの反
転入力端子には直流１１ｇから所定の基準値ｖＤを供給
する０ 差動増幅器３２の出力ＦニーＦ２は、フンパレータｎ、
ｔｍおよびムＮＤ回路＃ｌから成る合焦判定のためのウ
ィンドフンパレータに供給して、Ｖ工≦Ｆよ−Ｆ２≦ｖ
２のときのみムＨＤ回路−７の出力をＨレベルとし、こ
のＡＮＤ回路＃Ｉの出力をムＮＤ回路ｐの一方・の入力
端子に供給する。ここで、基準値Ｖ工、ｖ２は第７図ａ
に示すように合焦の判定範囲を決めるものである。
の評価関数に基いて演算して各評価値Ｆ１ ＃ Ｉ’２
およびＦ３を求める。演算回路３１ムから得られる評価
１自Ｆよは、差動増幅器３２の非反転入力端子、コンパ
レータ３３の非反転入力端子、コンパレータ３参の反転
入力端子およびコンパレータ３Ｓの非反転入力端子にそ
れぞれ供給し、演算１ｇｌ路３１ Ｂから得られる評価
ｗｉＦ２は差動増幅器３２の反転入力端子、フンパレー
タ３３の反転入力端子、コンパレータ３６の反転入力−
子およびコンパレータｎの非反転入力端子にそれぞれ供
給し、演算回ｌ１８３Ｉ Ｏから得られる評価ｆｌＦ３
はコンパレータ！−および３６のそれぞれの非反転入力
端子に供給する。また、コンパレータ３Ｓおよびｎの反
転入力端子には直流１１ｇから所定の基準値ｖＤを供給
する０ 差動増幅器３２の出力ＦニーＦ２は、フンパレータｎ、
ｔｍおよびムＮＤ回路＃ｌから成る合焦判定のためのウ
ィンドフンパレータに供給して、Ｖ工≦Ｆよ−Ｆ２≦ｖ
２のときのみムＨＤ回路−７の出力をＨレベルとし、こ
のＡＮＤ回路＃Ｉの出力をムＮＤ回路ｐの一方・の入力
端子に供給する。ここで、基準値Ｖ工、ｖ２は第７図ａ
に示すように合焦の判定範囲を決めるものである。
フンパレータ３３の出力ＦニーＦ２はＮＡＮＤ回路ｌｊ
の一方の入力端子に供給すると共に、インバータ件を経
てＮＡＮＤ １ｇ１ｈ ａｓの一方の入力端子に供給す
る。このコンパレータ３３は前ピンか後ビンかを判定す
るもので、ＦニーＦ２〉０のときすなわち前ピン状態の
ときはその出力は■レベルとなり、ＦニーＦ ＜０の
ときすなわち後ビン状態のときはＬレベルとなる。
の一方の入力端子に供給すると共に、インバータ件を経
てＮＡＮＤ １ｇ１ｈ ａｓの一方の入力端子に供給す
る。このコンパレータ３３は前ピンか後ビンかを判定す
るもので、ＦニーＦ２〉０のときすなわち前ピン状態の
ときはその出力は■レベルとなり、ＦニーＦ ＜０の
ときすなわち後ビン状態のときはＬレベルとなる。
コンパレータ３参の出力Ｆ３− Ｆｌｇ 、１１．びコ
ンパレータ３６の出力Ｆ３− Ｆ２はそれぞれＡＮＤ回
路らに供ＭＬ、コノＡＮＤ １ｇ１ｖ１４！４ｆ） ａ
ｉ力ヲＡＮＤ １ｍ路ｆ、？＋７）池方の入力端子に供
給する。コンパレータ３亭の出力はＦ３＞ Ｆ工のトキ
のみ、またフンパレータ３６の出力はＦ３〉Ｆ２のとき
のみそれぞれＨレベルとなるから、ＡＮＤ回路らの出力
は！、〉ｙ工および？、 ＞ Ｆ２ときの−ｊＨレベル
となる。したが力て、ＡＮＤ回路Ｎ（７）ＩＩＩＧＪ
Ｆ３＞ Ｆｌ、 Ｆ３＞ Ｆ、 Ｔ Ｖよ≦Ｆ、 −Ｆ
。
ンパレータ３６の出力Ｆ３− Ｆ２はそれぞれＡＮＤ回
路らに供ＭＬ、コノＡＮＤ １ｇ１ｖ１４！４ｆ） ａ
ｉ力ヲＡＮＤ １ｍ路ｆ、？＋７）池方の入力端子に供
給する。コンパレータ３亭の出力はＦ３＞ Ｆ工のトキ
のみ、またフンパレータ３６の出力はＦ３〉Ｆ２のとき
のみそれぞれＨレベルとなるから、ＡＮＤ回路らの出力
は！、〉ｙ工および？、 ＞ Ｆ２ときの−ｊＨレベル
となる。したが力て、ＡＮＤ回路Ｎ（７）ＩＩＩＧＪ
Ｆ３＞ Ｆｌ、 Ｆ３＞ Ｆ、 Ｔ Ｖよ≦Ｆ、 −Ｆ
。
≦■２のとき、すなわち撮影光学系が第３図のｆａある
いはｆ。の付近に位置するときのみＨレベルとなり、ｆ
、付近に位置するときはＬレベルとなる。このＡＮＤ回
路々の出力はＨＡＮＤ回路ｐの一方の入力端子に供給す
る。
いはｆ。の付近に位置するときのみＨレベルとなり、ｆ
、付近に位置するときはＬレベルとなる。このＡＮＤ回
路々の出力はＨＡＮＤ回路ｐの一方の入力端子に供給す
る。
フンパレータ３Ｓの出力ｙニーｖＤおよびフンパレータ
１の出力Ｆ２− ＶＤはそれぞれＡＮＤ回路ｑに供給し
、このＡＮＤ回路ｑの出力をＮＡＮＤ回路４１ｊ、 ｌ
’ｊおよび〃のそれぞれの池方の入力端子に供給する。
１の出力Ｆ２− ＶＤはそれぞれＡＮＤ回路ｑに供給し
、このＡＮＤ回路ｑの出力をＮＡＮＤ回路４１ｊ、 ｌ
’ｊおよび〃のそれぞれの池方の入力端子に供給する。
ここで、Ｍ ’＄ ｌ１ｆｉ Ｖｐは第７図すに示すよ
うに合焦検出可能範囲を決めるもので、撮影光学系が合
焦位置から光分離れた位置において雑音等によりｙｌ＝
Ｆ２となったときに合焦と判定するのを防止し、Ｆ□
＞ ＶｐおよびＦ２〉ＶＤノドき＆： ＡＮＤ １ｇ回
路ｑの出力をＨレベルとする。
うに合焦検出可能範囲を決めるもので、撮影光学系が合
焦位置から光分離れた位置において雑音等によりｙｌ＝
Ｆ２となったときに合焦と判定するのを防止し、Ｆ□
＞ ＶｐおよびＦ２〉ＶＤノドき＆： ＡＮＤ １ｇ回
路ｑの出力をＨレベルとする。
ＮＡＮＤ回餡ａ３． ａｓおよび〃のそれぞれの出力端
子と直流電源Ｖ。。との間には発光素子〃、ｓ０および
１／を並列に接続し、各Ｎ五ＭＤ回路の出力がＬレベル
になったとき対応する発光素子を発光させるよう構成す
る。
子と直流電源Ｖ。。との間には発光素子〃、ｓ０および
１／を並列に接続し、各Ｎ五ＭＤ回路の出力がＬレベル
になったとき対応する発光素子を発光させるよう構成す
る。
第３図に示す合焦検出装置によれば、Ｆ□、Ｆ２＞ＶＤ
、 Ｖ、≦Ｆ、−Ｆｇ≦Ｖ、ｒかツＦ、＞Ｆ、、Ｆ２の
とき、すなわち撮影光学系が第３図においてｆａあるい
はｆ。付近に位置するときにＮムＮＤ回路ｐの出力がＬ
レベルとなって発光素子３／が発光し、これにより合焦
状態を表示することができ、またＦｌ ｅ Ｆ２ ＞
ＶＤ テか”：） Ｆ、 ＞ Ｆ、 （Ｆ）ときハＮＡ
ＮＤ １ｇｌ＃！Ｉ侵の出力がＬレベルとなって発光素
子岬が発光し、これにより前ピン状態を表示することが
でき、またＦｌ、 Ｆ２＞ＶＤＴカ）ＩＩＦ□＜Ｆｊ！
＋７１トきハＮＡＮＤ 回Ｍ ａｓの出力がＬレベルと
なって発光素子舅が発光し、これにより後ビン状態を表
示することができる。
、 Ｖ、≦Ｆ、−Ｆｇ≦Ｖ、ｒかツＦ、＞Ｆ、、Ｆ２の
とき、すなわち撮影光学系が第３図においてｆａあるい
はｆ。付近に位置するときにＮムＮＤ回路ｐの出力がＬ
レベルとなって発光素子３／が発光し、これにより合焦
状態を表示することができ、またＦｌ ｅ Ｆ２ ＞
ＶＤ テか”：） Ｆ、 ＞ Ｆ、 （Ｆ）ときハＮＡ
ＮＤ １ｇｌ＃！Ｉ侵の出力がＬレベルとなって発光素
子岬が発光し、これにより前ピン状態を表示することが
でき、またＦｌ、 Ｆ２＞ＶＤＴカ）ＩＩＦ□＜Ｆｊ！
＋７１トきハＮＡＮＤ 回Ｍ ａｓの出力がＬレベルと
なって発光素子舅が発光し、これにより後ビン状態を表
示することができる。
なお、本発明は上述した例にのみ限定されるものではな
く、焼多の変更または、変形が可能である。
く、焼多の変更または、変形が可能である。
例えば受光菓子列９ム〜９０は必ずしも同一基板ｎ上に
設ける必要はなく、受光素子列９ムおよび９Ｂはフィル
ムコと光学的に共役な任意の面の前後で同一基板上にあ
るいは互いに分離して配置することができると共に、受
光素子列９Ｃもフィルムコと光学的に共役な任意の面、
例えばピント板ｊ上に配置すること１できる。また、上
述した例ではフィルムλと光学的に共役な面の前後にそ
れぞれ／ １１！の受光菓子列を配置したが、それぞれ
複Ｒｔ個の受光菓子列を光軸方向にずらして配置し、例
えば合焦構出開始時は共役な面の前後で該面から岐も離
れた一対の受光素子列を選択し、合焦位置に近づいたら
共役な面に１＆も近い＃後の受光素子列を選択して合焦
検出を行なうこともできる。
設ける必要はなく、受光素子列９ムおよび９Ｂはフィル
ムコと光学的に共役な任意の面の前後で同一基板上にあ
るいは互いに分離して配置することができると共に、受
光素子列９Ｃもフィルムコと光学的に共役な任意の面、
例えばピント板ｊ上に配置すること１できる。また、上
述した例ではフィルムλと光学的に共役な面の前後にそ
れぞれ／ １１！の受光菓子列を配置したが、それぞれ
複Ｒｔ個の受光菓子列を光軸方向にずらして配置し、例
えば合焦構出開始時は共役な面の前後で該面から岐も離
れた一対の受光素子列を選択し、合焦位置に近づいたら
共役な面に１＆も近い＃後の受光素子列を選択して合焦
検出を行なうこともできる。
以上述べたように本発明においては、予定焦平面と光学
的に共役な面の前後にそれぞれ配置した第１および第２
の受光素子列に対する第１および第λの評価値と、予定
焦平面と光学的に共役な面に配置した第３の受光素子列
に対する第３の評価値とが所定の大小関係にあり、かつ
第７および第２の評価値がほぼ等しいときにのみ合焦と
判定するようにしたから、常に適正な合焦位置を検出す
ることができる。
的に共役な面の前後にそれぞれ配置した第１および第２
の受光素子列に対する第１および第λの評価値と、予定
焦平面と光学的に共役な面に配置した第３の受光素子列
に対する第３の評価値とが所定の大小関係にあり、かつ
第７および第２の評価値がほぼ等しいときにのみ合焦と
判定するようにしたから、常に適正な合焦位置を検出す
ることができる。
第１図は従来の合焦検出装置の光学系の構成を示すＩＭ
ｌｙＪ１第２図は＃Ｉ１図の一個の受光素子列から得ら
れる評価値とレンズ位置との関係を示す線図、第３図ａ
およびｂは第１図の合焦検出装置における不具合を説明
するための線図、第４図は本発明方法を実施する合焦検
出装置の光学系の一例の構成を示す線図、第５図は第参
図に示す３つの受光素子列から得られる評価値とレンズ
位置と □の１１係を示す４１図、＃Ｉ６図は本発明
方法を実施する合焦検出装置の回路構成の一例を示すブ
ロック図、第７図ａおよびｂは第を図の動作を説明する
ための線図である。 ｌ・・・撮影光学系、コ・・・フィルム、３・・・クイ
ックリターンミラー、ダ・・・ハーフミラ−１！・・・
ピント板、６・・・ペンタプリズム、７・・・反射ミラ
ー、ｒ ａｌ・・・半ａ−１？ Ａ 、 ９ Ｂ 、
？ Ｏ・・・受光菓子列、ＩＯ・・・反射鏡、刀・・・
基板、Ｊ／ Ａ 、 ３ｔ Ｂ 、 Ｊ／ Ｏ・・・演
算回路、３ノ・・・差動増ａＭ器、３３〜ｎ、ｎ、ｍ・
・・フンパレータ、３ｇ・・・直流電源、グ／ 、 ４
１２ 、％、４＃・・・ムＮＤ回路、グＪ、グｓ、４ｆ
７・・・ＮＡＮＤ回路、件・・・インバータ、押。 ５Ｑ 、 ３／・・・発光素子。 待肝出願人 オリンパス元学工檗株式会社第１図 第２図 第４図 第５図
ｌｙＪ１第２図は＃Ｉ１図の一個の受光素子列から得ら
れる評価値とレンズ位置との関係を示す線図、第３図ａ
およびｂは第１図の合焦検出装置における不具合を説明
するための線図、第４図は本発明方法を実施する合焦検
出装置の光学系の一例の構成を示す線図、第５図は第参
図に示す３つの受光素子列から得られる評価値とレンズ
位置と □の１１係を示す４１図、＃Ｉ６図は本発明
方法を実施する合焦検出装置の回路構成の一例を示すブ
ロック図、第７図ａおよびｂは第を図の動作を説明する
ための線図である。 ｌ・・・撮影光学系、コ・・・フィルム、３・・・クイ
ックリターンミラー、ダ・・・ハーフミラ−１！・・・
ピント板、６・・・ペンタプリズム、７・・・反射ミラ
ー、ｒ ａｌ・・・半ａ−１？ Ａ 、 ９ Ｂ 、
？ Ｏ・・・受光菓子列、ＩＯ・・・反射鏡、刀・・・
基板、Ｊ／ Ａ 、 ３ｔ Ｂ 、 Ｊ／ Ｏ・・・演
算回路、３ノ・・・差動増ａＭ器、３３〜ｎ、ｎ、ｍ・
・・フンパレータ、３ｇ・・・直流電源、グ／ 、 ４
１２ 、％、４＃・・・ムＮＤ回路、グＪ、グｓ、４ｆ
７・・・ＮＡＮＤ回路、件・・・インバータ、押。 ５Ｑ 、 ３／・・・発光素子。 待肝出願人 オリンパス元学工檗株式会社第１図 第２図 第４図 第５図
Claims (1)
- １、 光学系により予定焦平面に形成される物体砿のり
く共一部を、前記予定焦平面またはそれと共役な面の前
後に配置した第１および第２の受光菓子列でそれぞれ受
光すると共に、前記予定焦平面またはそれと共役な面に
配置した第３の受光素子列で受光し、これら第１゜第一
δよび第３の受光素子列の出力をそれぞれ所定の評価関
数に従って演算して第１．第一および１ｌｉＪの評価値
を求め、前記第３の受光素子列に対する８１！７の評価
値と前記＠／および第一の受光素子列に対する第１およ
び第一の評価値とか所定の大小関係で、かつ第７および
第２の評価値がはは等しいとき゛に合焦と利足すること
を特徴とする合焦検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18924081A JPS5891409A (ja) | 1981-11-27 | 1981-11-27 | 合焦検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18924081A JPS5891409A (ja) | 1981-11-27 | 1981-11-27 | 合焦検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5891409A true JPS5891409A (ja) | 1983-05-31 |
Family
ID=16237954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18924081A Pending JPS5891409A (ja) | 1981-11-27 | 1981-11-27 | 合焦検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5891409A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61235808A (ja) * | 1985-04-12 | 1986-10-21 | Hitachi Ltd | 自動焦点合せ方法及び装置 |
| JP2006520900A (ja) * | 2003-03-11 | 2006-09-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 励起システム及び焦点モニタリングシステムを備える分光分析装置及び方法 |
| JP2022071162A (ja) * | 2018-03-14 | 2022-05-13 | ナノトロニクス イメージング インコーポレイテッド | 顕微鏡自動焦点のシステム、装置、および方法 |
-
1981
- 1981-11-27 JP JP18924081A patent/JPS5891409A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61235808A (ja) * | 1985-04-12 | 1986-10-21 | Hitachi Ltd | 自動焦点合せ方法及び装置 |
| JP2006520900A (ja) * | 2003-03-11 | 2006-09-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 励起システム及び焦点モニタリングシステムを備える分光分析装置及び方法 |
| JP2022071162A (ja) * | 2018-03-14 | 2022-05-13 | ナノトロニクス イメージング インコーポレイテッド | 顕微鏡自動焦点のシステム、装置、および方法 |
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