JPS589004A - タツチ信号プロ−ブ - Google Patents

タツチ信号プロ−ブ

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JPS589004A
JPS589004A JP10793781A JP10793781A JPS589004A JP S589004 A JPS589004 A JP S589004A JP 10793781 A JP10793781 A JP 10793781A JP 10793781 A JP10793781 A JP 10793781A JP S589004 A JPS589004 A JP S589004A
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JP
Japan
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contact
movable body
measured
casing
touch signal
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JP10793781A
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English (en)
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JPS6344162B2 (ja
Inventor
Tsuyoshi Kawasaki
川崎 剛志
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Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS589004A publication Critical patent/JPS589004A/ja
Publication of JPS6344162B2 publication Critical patent/JPS6344162B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/002Constructional details of contacts for gauges actuating one or more contacts

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、タッチ信号プローブに係り、特に。
3次元測定機或いは位置測定機に用いるに好適な。
被測定物との接触による接触子の3次元的な変位をとら
えて、接触子と被測定物との゛接触を検知するタッチ信
号プローブの改良に関する。
−殻に、減定基盤上に@置された被測定物の大きさ及び
形状を測定する3次元測定機或いは、工作機械の刃物台
と被加工物との相対的な位“置を測定する位置測定機が
知られており、これらの測定機においては、被測定物に
対して任意の方向・に移動可能な移動台に、被測定物と
の接触による接触子の3次元的な変位をとらえて、接触
子と被測定物との接触を検知するタッチ信号プローブを
装着し、このタッチ償号プp−プにより被−建物との接
触が検知され、た時の位置信号を測定値とすることによ
り、定確な測定flit得るようにされている。
このタッチ信号プローブは、被測定物と交互に保合及び
離脱させながら1つの測定点から次の測定点へと迅速に
移動させ得るようになっているが、・通常、接触子と被
測定物どが係合した瞬間に直ちにプローブの動きを停止
することができないの、で、プローブが限られた量だけ
係1合点からオーツ(−ランし得るように、接触子を機
構学的位置決め装置によって基部に取付け、接触子が基
部に対して相対°的に限られ九範囲で移動するのを許容
し得るように’&つている。又、プローブが被測定物か
ら離汎た時に%接触子を、その初期位置、即ち静止位置
へと復帰するための復元機構が設けられており、前記め
オーバーランはこの復元機構の作用に抗して起ζるよう
にされている。
このようなタッチ信号プローブにおいては、!1触子と
被測定物との接触を正確に検出できると共に、被測定物
に当接する接触子が損傷を受けることのない構造とする
ことが必要であり、(1)接触子が被測定物と接触して
いない状態においては、接触子とプローブ本体及び移動
台との相対位置関係が常に一定となる仁と、(2)比較
的慣性の大き一移動台に装着される場合や、移動台が高
速で移行運転される場合には、接触時に接触子がプロー
ブ本体に対して傾き或いは゛移動して、タッチ信号プロ
ーブのオーバーラン時における接触子に加わる過大な負
荷を吸収できるよう、位置決め装置により許容される接
触子の変位量が大きいこと、(3)接触子が被測定物に
係合した瞬間に発生する接触信号の応答性が優れている
こと、(4)被測定物に保合した時に接触子に働く力が
十分に小さいこと、(5)プローブ移動台がプローブを
加速又は減速する際に接触子又はプローブの他の構成部
材に作用する慣性力により、疑似信号が発生し危いこと
、等が要求される。
前記のような目的を達成するタッチ信号プローブとして
、例えば 特開昭49−94370号に示される如く、
2個の球軸受を接近配置してV溝を形成し、このVat
−円周上に120度間隔で3個配設し、各V@C1中央
部が接触子の非接触側端部に固定された円盤状の部材か
ら放射状に延長された軸をそれぞれ収容させるようにし
て、前記各球軸受と各軸との保合の有無から接触子と被
測定物の接触を感知す慝ようにした測定探子が提案され
ている。しかしながら、この測定探子は、構造が複雑で
あり、■溝を形成するに際し、それぞれのV溝が同一形
状とな゛るよう球軸受を精密に固定しなければならず、
又、ケーシングに対し各V溝の高さ方向を正確に位置決
めしな叶わばならず。
更に、各球軸受の加工積置も高度のものが要求される等
の製造上の欠点を有するだけでなく、外部から侵入し九
塵埃や構成部品の摩耗により発生した塵が、前記V溝内
に堆積すると積置が低下し。
又、保守点検も容易ではないという使用上の欠点を有し
ていえ。更に、接触子が球軸受の半径に対応する角度を
越えて回動してしまつ九場合には、円盤状の部材から延
長され丸軸が元のV溝内に戻ることができず、測定に大
きな支障をきたす恐れもあつ九、又、構造が複雑で、各
構成要素の加工積置、組立時の誤差が直ちに精fllK
影響を与えるため、特に、数μ罵オーダーの精変を要求
される3次元測定機等KFi不適であった。
本発明は、前記従来の欠点を解消するべくなされ友もの
で、簡単な構造により接触子と被測定物との接触状態−
確実に検知することができ、従って、実用性の高いタッ
チ信号プローブを提供することt目的とする。
本発明は、被測定物との接触による接触子の3次元的な
変位をとらえて、接触子と被測定物との接触を検知する
タッチ信号プローブにおいて、頂部が前記接触子の非接
触側端部に固着されえ、略3角錐状の外面形状を有する
可動体と、該可動体を収容する、該可動体との対向面の
1面は3点で、他の1面は2点で、残りの1面は1点で
、前記可動体の対向面と接触するようにされ丸、略裁*
a角錨状の内面形状を有するケーシングと、前記可動体
を前記ケーシングと接触する方向に付勢して、接触子が
被測定物KWc触していない時は、前記6点の接触箇所
のすべてが接触した状態を維持する付勢手段と、前記6
点の接触箇所の少なくとも1点が非接触状態となったこ
とを検知して、前記接触子と被測定物との接触を検出す
る検出手段と。
を備えることにより、前記目的を達成したものである。
又、前記可動体とケーシングとの接触箇所の、少なくと
もいずれか一方を、略半球形状の凸部よしたものである
或いは、前記可動体とケーシングとの接触箇所が、電気
接点を構成するようにし、前記検出手段が、該電気接点
のオンオフ状態から、前記接触子と被測定物との接触を
検出するようにしたものである。
又、前記検出手段を、前記可動体の底面に配設され九電
う−を有し、可動体の移動に伴なうオラーによる反射光
の位置の変化から、前記接触子と被測定物との接触を検
出するものとしたものである。
或いは、前記付勢手段を、前記可動体の底面に配設され
た屈曲可能な巻きばねとしたものである。
以下本発明の詳細な説明する。一般に、第1図に示す如
く、XY%Yz%zX 平面で囲まれた3壁に立方体″
lOを位置づける場合には、#立方体10の3個の面が
対応する壁に3箇所(10m、40b、10c)、2゛
7箇所(10d、10s)。
1箇所(10f)の計6箇所で接触するようにすれば、
その位置は一義的に定まる。本発明は、このような原理
に基づいてなされたものである。
以下図面を参照して1本発明の実施例を詳細に説明する
本実施例は、82図に示す如く、被測定物との接触によ
る接触子1203次元的な変位をとらえて、接触子12
と被測定物との接触を検知するタッチ信号プローブにお
いて、頂部14dが前記接触子12の非接触側端部に固
着され、各面14m、14b、14cにそれぞれ3個、
2個、1個の略半球形状の凸部14e、14f、14j
r、14h、141.14jが形成された略3角錐状の
外面形状を有する可動体14と、該可動体14を収容す
る。皺胃動体14との対向面の1面16aは3点で、他
の1面16 bt!2点で、残りの1面16cは1点で
、前記可動体14の対向面14a〜14Cと接触するよ
うにされた、略1/R頭3角錐状の内面形状を有するケ
ーシング16と、前記可動体14の底面14にと受蓋1
7間に挿入され、前記可動体14を前記ケーシング16
と接触する方向に付勢して、接触子12が被測定物に接
触して゛いない時は、前記6点の接触箇所のすべてが接
触した状態を維持する、屈曲可能な巻きばね18からな
る付勢手段と、前記6点の接触箇所の少なくとも1点が
非接触状態となったことを検知して、前記接触子12と
被測定物との接触を検出する検出回路20とを備ええも
゛のである。
前記可動体14とケーシング16との接触箇所は、電気
接点を構成するようにされており、前記検出回路20は
、前記電気接点の少なくとも1mがオフ状態になったこ
とから、接触子12と被−宝物との接触を検出するよう
にされている。具体的には、例えば第3図に示す如く、
絶縁体製の可動体14上に導電体製の凸部14e〜14
jを配設し、各凸部14e〜14jと検出回路20をそ
れぞれ並列接続すると共に、ケーシング16も導電体製
として検出回路20と接続し、各凸部140〜14jと
ケーシング16との接触に伴なう各凸部の電位変化から
可動体14とケーシング16との接触の有無を検出した
り、或いは、第4図に示す如く、絶縁体製の可動体14
上に、それ自体で電気接点化されている凸部14e=1
4jを配設し、各電気接点を可動体14上で互いに直列
接続して、その端末端子のみを検出回路20と接続し、
各凸部14e〜14jとケーシング16との接触に伴な
う端末端子間の導通変化から可動体14とケーシング1
6との接触の有無を検出したりするようにされている。
以下作用を説明する。まず接触子12が被測定物と接触
していない定常状態においては1巻きばね18により可
動体14がケーシング16と接触する方向に付勢されて
おり、6点の接触箇所のすべてが接触した状態となって
いるため、接触子12は、2方向及びXY方向に同時に
位置決めされている。プローブ移動台等の移動に伴なっ
てプローブが移動され、接触子12の先端が被測定物に
当接すると、巻きばね18に抗して接触子12及び可動
体14が3次元方向[9位し、前記6点の接触箇所の少
なくとも1点が非接触状態となる。
すると、この非接触状態が検出回路20により検出され
、被測定物と接触子の接触が検出されるtこの際におい
て、巻きばね18は、2方向に縮むだけでなく、X、Y
方向にも容易に撓むため、可動体14、即ち、接触子1
2の3次元方向の移動が妨げられることはない。
本実施例においては、可動体14とケーシング16との
接触箇所が、電気接点を構成するようにされ、前記検出
回路20が、該電気接点のオンオフ状態から、前記接触
子12と被測定物との接触を検出するようにされていた
ため、構造が特に単純である。
尚、前記実施例においては、可動体14の外面形状が、
頂点を有する3角錐状とされていたが、該可動体14の
外面形状はこれに限定されず、截頭3角錐状であっても
勿論構わない。
又、前記実施例においては、可動体14とケーシング1
6と、の接触箇所を構成する略半球形状の凸部が可動体
14側にのみ設けられていたが、接触箇所の構成はこれ
に限定されず、ケーシング16側に略半球形状の凸部を
設けたり、歳いは、可動体14とケーシング16の両者
に、互いに対向する。略半球形状の凸部を設けることも
勿論可能である。又、凸部の形状も生球形状に限定され
ガい。尚、ケーシング16111+IC凸部16e−1
63を設ける場合には、接触子と被測定物との接触の検
出は、例えば第5図に示す如く、絶縁体製のケーシング
16上に導電体製の凸部160〜16jを配設し、各凸
部16e〜16jと検出回路20をそれぞれ並列接続す
ると共に、可動体14も導電体製として検出回路20と
接続し、各凸部16e〜16jと可動体14との接触に
伴なう各凸部の電位変化から可動体14とケーシング1
6との接触の有無を検出したり、或いは、第6図に示す
如く、絶種体製のケーシング16上に、それ自体で電気
接点化されている凸部16e〜16jを配設し、各電気
接点をケーシング16上で互いに直列接続して、その端
末端子のみを検出回路20と接続17、各凸部16e〜
16jと可動体14との接触に伴かう端末端子間の導通
変化から可動体14とケーシング16との接触の有無を
検出したりするよう圧される。
尚、検出手段の構成はこれに限定されず、可動体の底面
tlctラーを配設し、可動体の移動に伴なうミラーに
よる反射光の位置の変化から、前記接触子と被測定物と
の接触を検出するようにし九り。
或いは、他の磁気的手段、或いは応力検知手段等を用い
て可動体の移動を検出したりすることも勿論可能である
前記実施例においては、接触子12が鉛直方向に配置さ
れていたが、接触子12の配置方向はこれに限定されず
1巻きばね18の圧力によっては。
水平方向に配置しても使用できる。
以上説明し−た通り、本発明によれば、極めて簡単な構
造により、被測定物と接触子との接触を確実に検知する
ことができる。又、組立が容易であり、塵埃堆積による
精度低下がない。更に、接触子が回転しそしまうことが
なく、原位置復帰が確実であり、実用性が高い。又、清
浄も容易であり。
保守点検が容易であるだけでなく、完全シールも可能、
である。更に、動作トルクも小さい等の優れた効果を有
する。
発明者が、第7図に示す如く、可動体14を立方体lO
の1つの頂点14dを残して切断した3角錐とし、これ
に対応するケーシングを設け、とのケーシング内面にも
対応する凸部を設け、教導Vの電圧を印加して実験し九
ところ、いずれの方向の変位も1μ馬の高精虻で検知で
き、又、再現性も良好であることが確認できた。
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明に係るタッチ信号グローブの位置決め
の原理を示す斜視図、第2図は、本発明に係るタッチ信
号グローブの実施例の構成を示す斜視図、第3図及びt
i114図は、前記実施例における検出回路及びその変
形例を示すブロック線図、@5因及び第6図は1本発明
に係るタッチ信号プローブの他の実施例における検出回
路及びその変形例を示すブロック線図、第7図は1発明
者が実験に用いたタッチ信号プローブの可動体の形状を
示す斜視図である。 12・・・接触子、14・・・可動体、14d・・・頂
部。 14・〜14j・・・凸部、14k・・・底面゛、16
・・・す−シンク、16eS−16j・・・凸部、17
・・・受蓋18・・・巻きばね、20・・・検出回路。 代理人  高 矢   論 (ほか1名) 嘱 第3 図       第4 図 第5 園 第 O図 16ノ 第り図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 0) 被測定物との接触による接触子の3次元的な変位
    をとらえて、接触子と被測定物との接触を検知するタッ
    チ信号プローブにおいて、頂部が前記接触子の非接触側
    端部に固着された。略3角錐状の外面9形状を有する可
    動体と、該可動体を収容する。該可動体との対向面の1
    iiii!3点で、他の1面は2点で、残りの1面は1
    点で、前記可動体の対向面と接触するようにされた、略
    裁113角錐状の内面形状を有するケーシングと、前記
    可動体を前記ケーシングと接触する方向に付勢して、接
    触子が被測定物に接触していない時は、前記6点の接触
    箇所のすべてが接触した状態を維持する付勢手段と、前
    記6点の接触箇所の少なくとも1点が非接触状態となっ
    たことを検知して、前記接触子と被測定物との接触を検
    出する検出手段と、を備えたことを特徴とするタッチ信
    号プローブ。、。 (2)前記可動体とケーシングとの接触箇所の、少なく
    ともいずれか一方が、略牛球形状の凸部とされている特
    許請求の範囲第1項に記載のタッチ信号プローブ。 (3)  前記可動体とケーシングとの接触箇所力t。 電気接点を構成するようにされ、前記検出手段が該電気
    接点のオンオフ状態から、前記接触子と被測定物との接
    触を検出するようにされている特許請求の範囲第1項又
    は第2項に記載のタッチ信号プ駿−プ。 (4)前記検出手段が、前記可動体の底面に配設され九
    ミラーを有し、可動体の移動に伴なうミラーによる反射
    光の位置の変化から、前記接触子と被測定物との接触を
    検出するようにされている特許請求の範囲第1項に記載
    のタッチ信号プローブ。 (5)前記付勢手段が、前記可動体の底面に配設された
    、屈曲可能な巻きばねである特許請求の範囲第1)JK
    記載のタッチ信号プー−プ。
JP10793781A 1981-07-10 1981-07-10 タツチ信号プロ−ブ Granted JPS589004A (ja)

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JPS6344162B2 JPS6344162B2 (ja) 1988-09-02

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0351714A2 (de) * 1988-07-20 1990-01-24 Firma Carl Zeiss Lagerung für Tastköpfe

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0351714A2 (de) * 1988-07-20 1990-01-24 Firma Carl Zeiss Lagerung für Tastköpfe
EP0351714A3 (de) * 1988-07-20 1991-02-27 Firma Carl Zeiss Lagerung für Tastköpfe

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