JPS5880856A - リ−ドピン矯正装置 - Google Patents

リ−ドピン矯正装置

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Publication number
JPS5880856A
JPS5880856A JP56179986A JP17998681A JPS5880856A JP S5880856 A JPS5880856 A JP S5880856A JP 56179986 A JP56179986 A JP 56179986A JP 17998681 A JP17998681 A JP 17998681A JP S5880856 A JPS5880856 A JP S5880856A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
semiconductor device
lead pin
rails
response
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56179986A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Miura
三浦 斉
Muneji Kuwabara
桑原 宗二
Hisao Goto
久夫 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP56179986A priority Critical patent/JPS5880856A/ja
Publication of JPS5880856A publication Critical patent/JPS5880856A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326

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  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、半導体装置のり−ドビンの形状の不揃いを
矯正するリードピン矯正装置に関する〇 一般に半導体集積回路は、素子の形成後外部端子である
リードビンが接続されてノ譬、ケージングされる。そし
て、通常パツケージングされた、例えばDIP (De
al−■n11n@Package ) Wの半導体集
積回路′(以下半導体装置と称する)は、出荷前に各種
の電気的特性テストが行なわれる〇近年、このような半
導体装置に対するテストは、自動化されておシ、例えば
オートフィーダ等から半導体装置がレール等を介して連
続的に送られ、一度マガジン等に収納される。さらにこ
のマガジン等から半導体装置が取シ上けられ、半導体装
置のリードビンを介して測定器と測定信号の交換がなさ
れて上記のような電気的特性テストが行なわれる。この
ようにして自動的にテストを行なう場合、例えばDIP
型の半導体装置のリードビンの状態が正常でない場合、
すなわち本来各リードビンが例えば半導体装置の基板に
対して1直方向に突出し、相互に平行である状態に対し
て各リードビンの中で一部のリードビンが折れ曲がるな
ど不揃いの状態の場合には、マガジン等から半導体装置
を取シ出す際および測定器からり−ドfンに測定信号を
送信する際の動作が確実に行なわれないなどの悪影響が
生する。また、出荷時にケース等に半導体装置を収納す
る場合にも、リードピンの状態が正常でないと作業効率
を低下させる欠点もある。
この発明は上記の事情を鑑みて表された%0で、ノ母ツ
ケージされた半導体装置のり−ドーンの状態が不揃いな
どの如く正常でない鳩舎、蓼−ドビンの状態を正常に矯
正することを自動化が容易でしかも簡単な構成で実現で
きるリードピン矯正装置を提供することを目的とする。
以下図面を参照してこの発明の一実施例について説明す
る。第1図拡この発明の一実施例に係るリードピン矯正
装置の構成を示すもので、例えばオートフィーダ(図示
せず)等からΔVケージされた半導体装置11を転送す
る金属等(Qly−k12が設け′られる◎こOL/−
hzlを挾んで対向する一対のシリンダ818a、11
bが設けられ、このシリンダ部11m、11ha例えば
エア圧力調整弁14*e14bを備ええエアシリンダで
、このエアシリンダに電磁弁(ソレノイドエアーバルブ
)19m、11btH接続されている。この電磁弁19
m、111bの各ソレノイドに直流電圧V 1  + 
V 1が供給されると、シリンダ部18g、1:Ibの
各可動鉄心11m、Jlbが直線的に移動する。この可
動鉄心15 a e j j kの各先端には、金属等
の矯正板16m、1i%がそれぞれ設けられる・さらに
、この矯正板1#亀、16bがシリンダ部13 a p
 I J bの可動鉄心15m、11bの動作に応じて
レール12の方向に圧力を印加する場合、この矯正[I
 If a e 1 fj bがレール12に対して平
行状態を維持するために、矯正板161.111bとわ
ずかのギヤ、)をもった金属等の矯正板ガイド板11が
設けられる・このように構成されるリードピン矯正装置
において、例えばオートフィーダ等からレール12を介
して連続、的にDIP fil等にノヤッケージされた
半導体装置11を順次転送する場合、例えば所定の位置
でレール12を―直にする@したがって、半導体装置1
1は落下のt態でリードピン矯正装置のシリンダ部I 
J a s 13 bの位置まで転送される。このとき
、例えばレール12上の所定の位置で半導体装置11を
検出して、仁の検出信号に応じてシリンダ部13a t
13bに接続した電磁弁19h、19bに直流電圧等の
電気信号v1.v、を供iする。この場合、オートフィ
ーダ勢の動作と同時に電気信号vl、v、を電磁弁1#
a、19bに供給してもよい。そして、シリンダ部13
畠、13bの各可動鉄心15 a * J l kを電
気信号v1 。
V、に応じて例えば交互に動作させる。したがりて、矯
正板16 a m 16 b%交互に動作して、矯正板
16 a e 16 kと対応する位置(第1図のA)
に半導体装置11が転送した場合、この半導体装置11
のリードピン11に対してレール1.2の方向(第1 
riAOBの矢印)に矯正板11f a * J 6 
bを介した圧力が加えられる。この場合、リード孕ン1
1の一部が折れ曲がりている状態であれ絆、矯正板16
m、16bの動作による圧力欠ノ、半導体装置110基
板に対して垂直になる如く矯、正される。また、第2図
(断面図で必要な部分のみを示す)に示すように、レー
ル12の厚さが、半導体装置11のリードピン1#が正
常の状態、すなわち半導体装置11の基板に対して垂直
の状態のときのり一ドピン18の長さ以上の場合であれ
ば、矯正板16m、1gIHの圧力によりて折れ曲がっ
たり一ドビン1aの一部が矯正される際、矯正されるリ
ードピン18および正常状態のり一ドピン18が半導体
装置11の基板の下側の方向に曲げられるのをレール1
2の厚さによって比較的容易に防ぐことができる。
このようにして、オートフィーダ等から転送される半導
体装置11のリードピン11が不揃いなどの正常な状態
でない場合、リードピン18の状態を半導体装置11の
基板に対して垂直になる如く均一に矯正できる。したが
うて10例えば半導体装置11の電気的特性等の測定管
自動的に行なう場合、リードピン18の状態が全て均一
な半導体装置11をマガジン等に収納できる・そしてこ
のマガジン等から半導体装置11t−JtJ D出して
測定器勢からリードピン11を介して測定信号を供6す
る際などの動作が確実に行なわれる。
なお、上記実施例において、矯正される際リードビン1
8が半導体装置11の基板の下側O方向に曲げられるの
を防ぐには、レール1h。
厚さによる防止手段に限ることなく、例えばVリンダ部
13J、13bの各エア圧力調整弁14m、14bを操
作して矯正板J Ii a 、 19を介して加える圧
力を調整してもよい。
以上詳述したようにこの発明によれば、Δツケージされ
た半導体装置のリードビンの状態が不揃いなどの場合、
全てのリードビンを正常で均一に矯正すること全自動化
でき、しかも簡単な構成で実現できる。し九がりて、半
導体装置の゛−気的特性の測定および出荷時のケース等
の収納作業を自動化した場合、測定装置および収納装置
等の動作を確実に行なうことができ、一定および収納等
の作業効率を大幅に向上できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図および!2図はこの発明の一実施例に係るリード
ピン矯正装置の概略的構成図である。 Jl・・・半導体装置、JJ−・・レール、J j &
 *13b・・・シリンダ部、15ael!sb・・・
可動鉄心、16 a * 16 b・・・矯正板、18
・・・リードビン、19 a e 19 b ”・電磁
弁。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数のリードビンを備えた半導体装置を連続的に順次転
    送するレールと、この半導体装置0転送タイミングに同
    期して供給される電気信号に応じて可動鉄心が動作し上
    記レールを挾んで対向する一対のシリンダ部と、このシ
    リンダ部の可動鉄心に接続して上記半導体装置のリード
    ビンに可動鉄心の動作に応じた圧力を伝える矯正板とか
    らなることを特徴とするリードビン矯正装置。
JP56179986A 1981-11-10 1981-11-10 リ−ドピン矯正装置 Pending JPS5880856A (ja)

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JPS5880856A true JPS5880856A (ja) 1983-05-16

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103909175A (zh) * 2014-03-28 2014-07-09 青岛云路新能源科技有限公司 电感线圈导线针脚自动捋直器
CN111874313A (zh) * 2020-07-27 2020-11-03 林瑞 一种电子元器件生产流水线

Cited By (3)

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CN103909175A (zh) * 2014-03-28 2014-07-09 青岛云路新能源科技有限公司 电感线圈导线针脚自动捋直器
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