JPS587535A - ハウジングに取付けた軸受の容量性インピ−ダンスの測定システム - Google Patents

ハウジングに取付けた軸受の容量性インピ−ダンスの測定システム

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JPS587535A
JPS587535A JP57110934A JP11093482A JPS587535A JP S587535 A JPS587535 A JP S587535A JP 57110934 A JP57110934 A JP 57110934A JP 11093482 A JP11093482 A JP 11093482A JP S587535 A JPS587535 A JP S587535A
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JP
Japan
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bearing
ring
measuring ring
measuring
layer
Prior art date
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Application number
JP57110934A
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English (en)
Inventor
フルメイレン・カ−レル・ナタリス
ドルフスマ・ヘンドリツク
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SKF Industrial Trading and Development Co BV
Original Assignee
SKF Industrial Trading and Development Co BV
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16C—SHAFTS; FLEXIBLE SHAFTS; ELEMENTS OR CRANKSHAFT MECHANISMS; ROTARY BODIES OTHER THAN GEARING ELEMENTS; BEARINGS
    • F16C19/00—Bearings with rolling contact, for exclusively rotary movement
    • F16C19/52—Bearings with rolling contact, for exclusively rotary movement with devices affected by abnormal or undesired conditions
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/08—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means
    • G01B7/085—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means for measuring thickness of coating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M13/00—Testing of machine parts
    • G01M13/04—Bearings

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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Rolling Contact Bearings (AREA)
  • Support Of The Bearing (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明灯ハウジング内に据付けた例えば、ころが夛軸
受またはすペシ軸受のような軸受の容量インピーダンス
の変化を測定するための測定システムと、軸受、並びに
そのような測定システムまたは軸受において使用するた
めに企図し九測定リングとに関するものである。
軸受の潤滑状態は、軸受の容量性インピーダンスを測定
することによって知ることができること、周知である。
この種類の周知の測定システムにおいては、例えば玉軸
受にをける測定システムは、玉軸受の内輪および外輪に
連結しである。しかしながら、ここでは、内部に玉軸受
が据付けであるハウジングと、その軸受によって支えら
れて−る軸との間に空間を設けて両者間のキャパシタン
スを減らさねばならない。というのは、このキャパシタ
ンスは、軸受０容量性インピーダンスに対し並列になる
からである。
情況次第によっては、と０キヤパシタンスの影響が大き
くて、軸受の容量性インピーダンスの信頼し得る測定が
できない場合もある。
この発明の目的は、簡単であるにもかかわらず効果的な
方法で、こ０不利点を除去で舞る胃ＩＮＫ記載した種類
の測定システムを得るヒとでおる。
この目的のために、この発明による：ａ定フシステム捻
、軸受の外側をびったりと取巻いている金属製測定リン
グがあることを特徴として−るが、このリングは、少く
とも、ハウジング内の軸受と接触している面の部分が絶
縁層で被覆しである一方、前記軸受と接触して−る絶縁
層の部分は、前記絶縁層の残余部分よシ％搗かに薄くし
である。
このようにすると、上記した問題となるキャパシタンス
に対し、直列に比較的小さなキャパシタンスが入るため
、当諌間■となるハウジングと軸との間のキャパシタン
スの影響がほとんど除去される。但し、比較的大きな中
ヤパシタンスが、軸受の容量性インピーダンスと直列に
連結されるが、この価が大きいということは測定量に対
しての悪影響がないことを意味する。
既存手法で設計されて良い測定システムの電気回路をこ
こで金員ｌ１１ｍ定リングと、軸受によシ支持されてい
る軸とに連給すれば測定が可能となる。
この発明Ｏ付加的な一つの目的には、上記の測定システ
ムに簡単な方法で組込まれる例えばころがシ軸受ま九は
すベシ軸受のような軸受を得ること％ある。
この目的のために、この発明による軸受け、軸受の外側
をびったシと取巻いていて絶縁層で被覆しである金属製
の測定リング管持つことを特徴としてお夛、前記軸受と
接触している前記紗縁屡の部分が、前記絶縁層の袢余部
分より掻かに薄くされている。
最後に、この発明の目的は、との発明による測定システ
ムまたは軸受で用いるために測定法用の測定リングを得
ることである。
こＯ発明によれば、ζＯ爛定リングは、絶縁層で被覆し
であることが特徴となっており、内１１ｍ上に位！する
前記絶縁層の部分はその絶縁層の残余部分よシもはるか
に薄くしである。
以下、この発明を図示の実施例を参照して説明する。
第１図は玉軸受−のキャパシタンス０を測定するための
本発明の一実施例の測定システム／を示す。部分的に示
したハウジング３内に玉軸受−を取付けて軸受装置の１
つを珍廓し、部分的に示した軸ダを支持する。
測定システム／は周知の方法で設計された測定装置Ｉを
含む。玉軸受二の外輪７は、絶縁被覆１０を持つ金属製
の測定リング＆の内周にピッタリと嵌合しである。この
実施例では１瀾定リング４は軸方向の一端に半径方向に
内向きに張出し丸環状の鍔ざを有し、外輪グは１１４ｔ
の手前の大径な内用部に嵌合し、一端′Ｉｋ鍔ｔに当接
している。
測定リング６の絶縁被覆乃至絶縁層１０は、測定装置！
に向いた他端向にある連結部９を除いて全面に設けてあ
シ、この絶縁層の厚さは外端７と接触している内用部分
ｌ／が残余部分／コに比して邊かに薄い。必要ならば測
定リング６上の絶縁層唸外＃Ｉ７以外にハウジング３と
も接触するように設ける。測定リング６を用いると、第
２図の等価回路でそれぞれＣｍｂとＣａｂとして示した
２つのキャパシタンスがでする。キャパシタンスＣａｂ
は１定リング６と外輪７との間に現ワれるキャパシタン
ス、キャパ／　タンＸ　０ｍ％は、測定リングふとハウ
ジング３との間に現われるキャパシタンスである。
両者の容量拡、 よシ各求められるが、誘電率社則じであるから、キャパ
シタンスＣｍｂは、キャパシタンスＣｍｈより擢かに大
きなものとなる。絶縁層の内用部分ｌ／の厚さは例えば
、７〜１５μｍであってよく・従って、測定リング番の
寸法、および絶縁層１０の相対的誘電率ｅｒ次第では、
キャパシタンスＣｍｂに対し、１００−５０００　ｐＦ
のキャパシタンス値が得られる。対して、絶縁層部分／
コの厚さを例えば４ないし１０倍の大きさに選べば、キ
ャパシタンスＣｍｋの数値は約１０−２０９Ｆ　　とな
るＯ 従って、ハウジング３と緒との間に現われ、測定リング
６を用いない時に従来、玉軸受−のキャパシタンスＣｂ
Ｋ並列となっていたキャパシタンスＣｐの影響は無視し
得るほどに小さくできるので、キャパシタンスｃｂの価
は、測定装置５ｏａｔｓ回路１３内に現われる電流の変
化から非常に精密に求められる。
第５図は本発明のより実際的な測定装置〇　−例を示す
もので、測定９ングデの他端面からは軸方向にピン／４
ｔを突出させ、このビンに電気的に絶囃してブラシホル
ダｌ！ｒを取付け、プツシホルダに社軸亭に設けた集電
リング／りと接触するカーボンブラシ１６を保持させる
。そして、回路ｌＪで測定装置！とカーボンブラシ１６
を＠線し、回路／１で測定＠装置とビン／ダを結線する
のである。これによシ実施に適した装置となる。
尚、どの様に実施するＫせよ絶縁層１０は構造の剛性に
不利な影響を与えない噂化アルにラムで形成するのが好
ましい。必要ならば酸化アル建ニウムＫ例えばテフクン
のような合成樹脂層を付加して用いてもよい。
この発明祉上記の実施例に限定されるものではなく、発
明の範囲内において種々の方法で修正し得るものである
◎
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の測定システムの一冥施例の説明図、第
２図は本発明による測定原理を示す等価回路の回路図、
第３図は本発明の他の一実施例の説明図で、図中、コＦ
ｉ、？ｌｌ定すべ書軸受、Ｊはハウジング、轟は測定リ
ング、１０は絶縁層、／／は絶縁層の薄肉部分、／コは
Ｐ縁層のｌｌ以外の部分を示す。 特許出願人 工スケ一二フ　インダストリアル　トレイディングアン
ド　デベロップメント　カンパエイ　ビーヴイ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）ハウジング内に据付は丸軸受の容量性インピーダ
    ンスの変化ｔｍ定する測定システムであって、前記軸受
    の外側をびり九υと取巻いて金具製測定リングを設け、
    前記ハウジング内で前記軸受と接触している少くとも前
    記リングの１Ｉｉｔ絶縁層で被覆すると共に、前記軸受
    と接触している前記絶縁層の部分を、前記絶縁層の残余
    部分よシも操かに薄くしたことを特徴とする測定方法。
  2. （２）　　軸受の外側に余興製の測定リングがあυ、こ
    のりングには絶縁被覆が施してあ〕、前記軸受と接する
    骸絶縁被覆の層部分は、残余の層部分より十分薄いこと
    を特徴とする軸受。
  3. （３）特許請求の範囲の第１項ｔたは第２項による濶定
    システム寸たは軸受で使用するために企図した測定リン
    グであって、前記リングが絶縁層で被着してあわ、内ｆ
    ｓ面に位置する前記絶縁層の部分が、前記絶縁層の残余
    部分よりも瘉かに薄くしであることを特徴とする噸定リ
    ング。
  4. （４）　　特許請求の範囲第３項にょる測定リングであ
    って、前記測定リング０軸方向の一端に一半径方向に内
    側に向いたツッンジ付１！橡部を備えていることを特徴
    とする測定リング。
  5. （５）特許請求のｖｒｔｖｓｓｓ項管えは第４項による
    測定リングで６って、前記ＰＧＭが酸化アル建エクムよ
    シ成ることを特徴とする測定りング０
  6. （６）特許請求の範囲第５項による測定リングであって
    −例えば、テフ鴛ン０ような合成ｇｉｌｔ層が、前記暖
    化アル（＝ラム層上に配曾してあゐヒとを特徴とする測
    定リング。
  7. （７）　　特許請求の範囲１１１項に１費の測定システ
    ムであって、リングからは導電性のビンが伸び、このピ
    ンに絶縁的にブラシホルダが取付けられ、該ホルダの保
    持するブラシは軸に電気的、物理的に半径方向外方から
    接触し、もってビンとブラシ間から容量信号を取シ出す
    ことを特徴とするシステム◎
JP57110934A 1981-06-30 1982-06-29 ハウジングに取付けた軸受の容量性インピ−ダンスの測定システム Pending JPS587535A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8103161 1981-06-30
NL8103161A NL8103161A (nl) 1981-06-30 1981-06-30 Meetsysteem voor het meten van de variatie van de capacitieve impedantie van een in een huis gemonteerd lager .

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Publication Number Publication Date
JPS587535A true JPS587535A (ja) 1983-01-17

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JP57110934A Pending JPS587535A (ja) 1981-06-30 1982-06-29 ハウジングに取付けた軸受の容量性インピ−ダンスの測定システム

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US (1) US4511837A (ja)
EP (1) EP0068568B1 (ja)
JP (1) JPS587535A (ja)
CA (1) CA1201506A (ja)
DE (1) DE3268647D1 (ja)
ES (1) ES8308424A1 (ja)
NL (1) NL8103161A (ja)

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