JPS5872654U - フイルムパトロ−ネの周面検査装置 - Google Patents

フイルムパトロ−ネの周面検査装置

Info

Publication number
JPS5872654U
JPS5872654U JP16721181U JP16721181U JPS5872654U JP S5872654 U JPS5872654 U JP S5872654U JP 16721181 U JP16721181 U JP 16721181U JP 16721181 U JP16721181 U JP 16721181U JP S5872654 U JPS5872654 U JP S5872654U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film cartridge
circumferential surface
inspection device
peripheral surface
surface inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16721181U
Other languages
English (en)
Inventor
高橋　徳治
毅 小林
前田　元治
西　茂男
Original Assignee
コニカ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by コニカ株式会社 filed Critical コニカ株式会社
Priority to JP16721181U priority Critical patent/JPS5872654U/ja
Publication of JPS5872654U publication Critical patent/JPS5872654U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は一部を破断して示す本考案による周面検査装置
の側面図、第２図は回周面検査装置の原理を示した斜視
図、第３図は同原理の平面図、第４図イ９口は正反射光
束パターンの説明図、第５図はパトローネ周面と出力信
号との関係を示すグラフである。 Ｘ・・・フィルムパトローネ、２，３・・・チャック、
４・・・保持器、２０・・・光学系、２１・・・光電変
換素子、α・・・スリット光、ａ・・・正反射光路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. フィルムパトローネを長さ方向の軸を中心として回動さ
    せる保持器と、前記フィルムパトローネの周面に正対し
    ない位置からフィルムパトローネの長さ方向に細長いス
    リット光を照射する光学系と、前記周面からの正反射光
    の光路から僅かに偏位した位置に受光面を位置される少
    なくともひとつの光電変換素子とを備えるフィルムパト
    ローネの周面検査装置。
JP16721181U 1981-11-10 1981-11-10 フイルムパトロ−ネの周面検査装置 Pending JPS5872654U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16721181U JPS5872654U (ja) 1981-11-10 1981-11-10 フイルムパトロ−ネの周面検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16721181U JPS5872654U (ja) 1981-11-10 1981-11-10 フイルムパトロ−ネの周面検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5872654U true JPS5872654U (ja) 1983-05-17

Family

ID=29959315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16721181U Pending JPS5872654U (ja) 1981-11-10 1981-11-10 フイルムパトロ−ネの周面検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5872654U (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53149381A (en) * 1977-06-02 1978-12-26 Toshiba Corp Defect inspecting apparatus
JPS551748B2 (ja) * 1973-11-08 1980-01-16

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS551748B2 (ja) * 1973-11-08 1980-01-16
JPS53149381A (en) * 1977-06-02 1978-12-26 Toshiba Corp Defect inspecting apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5872654U (ja) フイルムパトロ−ネの周面検査装置
JPS6027347U (ja) 線条体の外観試験装置
JPS5817542U (ja) 試料の光学特性測定装置
JPS60166813U (ja) 磁気ヘツドの形状・姿勢測定装置
JPS6124138U (ja) タレツト旋盤における自動計測装置
JPS5997456U (ja) 反射率測定器
JPS5974354U (ja) ライン状光学ヘツド
JPS60165855U (ja) 円筒物体の表面検査装置
JPS60176553U (ja) 電子部品のリ−ド線検査装置
JPS60181660U (ja) 角度可変型液体識別センサ
JPS6079110U (ja) 距離測定装置
JPS594406U (ja) 透明なシ−ト状物質の厚さ測定装置
JPS58148612U (ja) 非接触形状測定器
JPS6082208U (ja) 被測定面の位置測定装置
JPS60165848U (ja) 光学水分計の校正装置
JPS59109904U (ja) 触針式形状測定機の測定位置検知装置
JPS5837509U (ja) レンズの表面形状測定器
JPS60170723U (ja) 記録紙終端検出装置
JPS5821809U (ja) 平面度観測装置
JPS6167512U (ja)
JPS5888113U (ja) 光学式変位測定装置
JPS5872655U (ja) フイルムパトロ−ネのフランジ部検査装置
JPS584014U (ja) 長さ測定装置
JPH0279661U (ja)
JPS58138008U (ja) 寸法測定装置