JPS5817542U - 試料の光学特性測定装置 - Google Patents

試料の光学特性測定装置

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JPS5817542U
JPS5817542U JP11244081U JP11244081U JPS5817542U JP S5817542 U JPS5817542 U JP S5817542U JP 11244081 U JP11244081 U JP 11244081U JP 11244081 U JP11244081 U JP 11244081U JP S5817542 U JPS5817542 U JP S5817542U
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JP
Japan
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sample
measuring device
optical property
integrating sphere
property measuring
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JP11244081U
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JPS6212994Y2 (ja
Inventor
修 秋山
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株式会社島津製作所
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は夫々異る従来例の平面図、第3図及
び第4図は夫々本考案の異る実施例の平面図である。 SC・・・・・・試料室(透過用)、■・・・・・・積
分球、RC・・・・・・反射試料室、D・・・・・・光
検出器、S・・・・・・試料光束、R・・・・・・対照
光束、Ws・・・・・・反射測定試料、Wr・・・・・
・反射対照試料。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料室と積分球とを相接して配置し、試料側光束が試料
    室を通過して積分球に入射するようにし、対照光束が上
    記試料室を迂回して試料側光束とは直角の方向から積分
    球に入射するようにし、積分球の試料室とは反対側の壁
    に測定試料設置窓を、また積分球の対照光束入射窓と反
    対側の壁に対照試料設置窓を設けた試料の光学特性測定
    装置。
JP11244081U 1981-07-28 1981-07-28 試料の光学特性測定装置 Granted JPS5817542U (ja)

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JP11244081U JPS5817542U (ja) 1981-07-28 1981-07-28 試料の光学特性測定装置

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JPS5817542U true JPS5817542U (ja) 1983-02-03
JPS6212994Y2 JPS6212994Y2 (ja) 1987-04-03

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6212994Y2 (ja) 1987-04-03

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