JPS586596A - メモリ寿命検出方式 - Google Patents
メモリ寿命検出方式Info
- Publication number
- JPS586596A JPS586596A JP56103575A JP10357581A JPS586596A JP S586596 A JPS586596 A JP S586596A JP 56103575 A JP56103575 A JP 56103575A JP 10357581 A JP10357581 A JP 10357581A JP S586596 A JPS586596 A JP S586596A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- life
- write
- rom
- lifespan
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電気的に消去可能なリードオンリーメモリの寿
命を検出するメモリ寿命検出方式に関する。
命を検出するメモリ寿命検出方式に関する。
従来、データ。ｔ−電気的に書、込み、かつその書込み
データを紫外＠ｒｃｘｎ消、去ｊＡｉ！Ｐ−ＲＯＭが多
く使用されている。しかし、このメモリは、紫外線を特
徴とする特殊性からそのは良が望まれていた。
データを紫外＠ｒｃｘｎ消、去ｊＡｉ！Ｐ−ＲＯＭが多
く使用されている。しかし、このメモリは、紫外線を特
徴とする特殊性からそのは良が望まれていた。
ところで、近年、実験研究を積み重ねてＩＰ・ＲＯＭの
不具合を教養したリードオンリーメ毫り （ＢＩ Ｐ
−ＲＯＭｗｌｔｌｃｃｔ ｒ １ｃａｌｌｙ
１ｒａｓａｂｌ＊ａｎｊ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ
・ＲＯＭ）が開発されてきている。このＩ！ｉ’Ｐ−Ｒ
ＯＭは、データを電警的に書込めることは勿論のこと、
その書換±データをも電気的に消去しつるもので−ある
。４このたゆ、がＰ−ＲＱＭは印刷配−基板の電気回路
上で簡単にデータを消去できる九め１１ｉＰ−１０Ｍｇ
比、１１％段に有用なものと考えられている。
不具合を教養したリードオンリーメ毫り （ＢＩ Ｐ
−ＲＯＭｗｌｔｌｃｃｔ ｒ １ｃａｌｌｙ
１ｒａｓａｂｌ＊ａｎｊ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ
・ＲＯＭ）が開発されてきている。このＩ！ｉ’Ｐ−Ｒ
ＯＭは、データを電警的に書込めることは勿論のこと、
その書換±データをも電気的に消去しつるもので−ある
。４このたゆ、がＰ−ＲＱＭは印刷配−基板の電気回路
上で簡単にデータを消去できる九め１１ｉＰ−１０Ｍｇ
比、１１％段に有用なものと考えられている。
しかし、このｌ”Ｐ−ＲＯＭ、は、製造技術上の間、−
からデータの書換え回数、に制約があり、ある書換え回
数を越えゐと寿命を逸して破壊する不具合がある。この
ため、従来、Ｂ” ｉ”４０Ｍ の破壊を知らずにデー
タ、を匿々書換木ること！１あり、データ処轡のトラブ
ルを起！、信頼性の点で間靭があった。
からデータの書換え回数、に制約があり、ある書換え回
数を越えゐと寿命を逸して破壊する不具合がある。この
ため、従来、Ｂ” ｉ”４０Ｍ の破壊を知らずにデー
タ、を匿々書換木ること！１あり、データ処轡のトラブ
ルを起！、信頼性の点で間靭があった。
本発明は上起寮情にかんがみてなされえもので、その目
的とするところは、外部装置を必要とせずにデータ書換
え不能となる前に予めＩ”Ｐ−ＲＯＭ（Ｄｊｌ命を検出
Ｌ、ｅｔＬＫ！６１”Ｐ−ＲＯＭの書換え回数制限によ
う１生ずるトラプ′ルを未然に回避するメモリ寿命検出
方式を提供することにある。
的とするところは、外部装置を必要とせずにデータ書換
え不能となる前に予めＩ”Ｐ−ＲＯＭ（Ｄｊｌ命を検出
Ｌ、ｅｔＬＫ！６１”Ｐ−ＲＯＭの書換え回数制限によ
う１生ずるトラプ′ルを未然に回避するメモリ寿命検出
方式を提供することにある。
以下、本発明の実施例について図面を参照して親明する
。先ず％第１図はチップ消去のみをＷＪａとし九ｌ”Ｐ
−ＲＯＭに適用した実施例であって、１は書込みデータ
を示し、同データ１は電気的に消去可能なｌ”Ｐ−ＲＯ
Ｍｊへ書込まれる。
。先ず％第１図はチップ消去のみをＷＪａとし九ｌ”Ｐ
−ＲＯＭに適用した実施例であって、１は書込みデータ
を示し、同データ１は電気的に消去可能なｌ”Ｐ−ＲＯ
Ｍｊへ書込まれる。
このｉ！！”ｆ’−ＲＯＭｊは、多数のアドレスのうち
あるアドレスをデータ書換え回数用領域２畠と定め、デ
ータの書込みがあると寿命判断回路Ｉはデータ書換え回
数用領ＪｉｆＪａのアドレスデータを読取って予め定め
た寿命同数と比較する。そして、寿命判断回路１におい
て非寿命と判断したとき、その旨の信号をｌ”Ｐ−ＲＯ
ＭＪへ送シ。
あるアドレスをデータ書換え回数用領域２畠と定め、デ
ータの書込みがあると寿命判断回路Ｉはデータ書換え回
数用領ＪｉｆＪａのアドレスデータを読取って予め定め
た寿命同数と比較する。そして、寿命判断回路１におい
て非寿命と判断したとき、その旨の信号をｌ”Ｐ−ＲＯ
ＭＪへ送シ。
１インクメントして書込み・データ１と同時にそのデー
タ書換え回数をカウントアツプさせて領域ｊｌへ書込ま
せる。ｔた、寿命と判断したとき１図示しないＯＰＵな
どへ書込み回数オーバ・信号を２イン４を介して送出す
る。
タ書換え回数をカウントアツプさせて領域ｊｌへ書込ま
せる。ｔた、寿命と判断したとき１図示しないＯＰＵな
どへ書込み回数オーバ・信号を２イン４を介して送出す
る。
従って、以上のような寿命検出方式をとれば。
きる、まえ、データの書換え回数だけのチェックならば
、計算機の電源をし中断しても内容の残るメそす、例え
ば磁気テープ、磁気ドラム。
、計算機の電源をし中断しても内容の残るメそす、例え
ば磁気テープ、磁気ドラム。
磁気パルプなどに回数を配憶させておけばよいが、外部
記憶装置にそれなりの機能を備えられない小形システム
（マイクーコンビ二−タ応用機器岬）がある、かかるシ
ステムの場合に非常に有効なものである。
記憶装置にそれなりの機能を備えられない小形システム
（マイクーコンビ二−タ応用機器岬）がある、かかるシ
ステムの場合に非常に有効なものである。
次に％第２図はバイト消去可能なｌ”Ｐ−ＲＯＭに適用
した実施例である０通常、データ書換え回数は１０’ｌ
ｌ［となるので、回数をチェックするのにデータ用１”
Ｐ−ＲＯＭでは無理な場合がある。この場合、＃Ｉ２図
に示すようにデータ書込み用１”Ｐ−ＲＯＭＪの外に、
データ書込み用１ｉｔ”Ｐ・ＲＯＭＪの１バイトにつき
、２バイト（ｚｊ＠−・ＲＯ”Ｍｌｆｍ、＃ｂを用意し
、１つのデータ書換え回数用ｌ”Ｐ−ＲＯＭＪＭが満杯
になったとき他の１つのデータ書換え回数用１１ｉ”Ｐ
−ＲＯＭｊｂ 側に切換えて書換″えデニメの回数を記
録させるようにしえ４のである゛、この第２図に示す実
施例にあっては、第１図のものと同様にデータ書込み時
に寿命判断回路１がデータ書換え回数用Ｂ”Ｐ・ＲＯＭ
６ｍ、＃ｂのデータと寿命回数とを比較し、非寿命と判
断したとき＃ＩＣｌインクリメントしてｌ！″Ｐ−ＲＯ
Ｍ１ｍ又はｔｔｂ にアドレスを移して書換′えデー
タを−込みと同時に書込みデータをＥ”Ｐ−凰０ＢＪＪ
ｊへ書込ませ、寿命と判断したときにライン′４を介し
て外部のＯＰＵなどへ知らせる方式である。
した実施例である０通常、データ書換え回数は１０’ｌ
ｌ［となるので、回数をチェックするのにデータ用１”
Ｐ−ＲＯＭでは無理な場合がある。この場合、＃Ｉ２図
に示すようにデータ書込み用１”Ｐ−ＲＯＭＪの外に、
データ書込み用１ｉｔ”Ｐ・ＲＯＭＪの１バイトにつき
、２バイト（ｚｊ＠−・ＲＯ”Ｍｌｆｍ、＃ｂを用意し
、１つのデータ書換え回数用ｌ”Ｐ−ＲＯＭＪＭが満杯
になったとき他の１つのデータ書換え回数用１１ｉ”Ｐ
−ＲＯＭｊｂ 側に切換えて書換″えデニメの回数を記
録させるようにしえ４のである゛、この第２図に示す実
施例にあっては、第１図のものと同様にデータ書込み時
に寿命判断回路１がデータ書換え回数用Ｂ”Ｐ・ＲＯＭ
６ｍ、＃ｂのデータと寿命回数とを比較し、非寿命と判
断したとき＃ＩＣｌインクリメントしてｌ！″Ｐ−ＲＯ
Ｍ１ｍ又はｔｔｂ にアドレスを移して書換′えデー
タを−込みと同時に書込みデータをＥ”Ｐ−凰０ＢＪＪ
ｊへ書込ませ、寿命と判断したときにライン′４を介し
て外部のＯＰＵなどへ知らせる方式である。
逼お、本発明は上記実施例に限定されるものではない１
例えばデータ書換え回数を記憶せずに％アクセスするご
とにあるチェツタアドレスのデータをライドリードして
正常か否かをチェックし、このチェックアドレスが正常
であれば１”Ｐ−ＲＯＭｊ 、ｊが寿命に達していない
と判断する方式でもよい、この方式は館１ｆＩＡおよび
第゛２図の何れにも適用できる。ｔた、第２図に示すも
のは％１個のデータ書込み用がＰ−ＲＯＭＪに対゛し２
個のデータ書換え回数用１！”Ｐ−ＲＯＭｉｓ、ｔｕｂ
が必要とし非常に不経済である。そこで、データ書込み
用がＰ＠ＲＯＭｊと２個のｖＰ・ＲＯ）ｄ６ｍ、＃ｂと
を一諸にした１個のデータ書込み用ＩＣ”Ｐ−ＲＯＭで
書込みデータとデータ書換え回数とを記録させることが
考えられるが、第２図の方式をとる限シバイトすべてに
データ書換え回＊を記憶させるとデータ書込み用のメモ
リ容量が１／３となってしまう、そこで、この不具合を
なくするために、データ書込み用Ｅ”Ｐ・ＲＯＭ ｔ４
ｓ゛えば第３図のように使用すると、その不具合を解消
できる。つ壕り、４Ｘ２−８バイト分をデータ書換え回
数用格納領域２−１ｆｉ〜１−４ｍとし、残＃）を４等
分して各々のアドレス領域をデータ書込み用領域２−１
〜２−４ とする。
例えばデータ書換え回数を記憶せずに％アクセスするご
とにあるチェツタアドレスのデータをライドリードして
正常か否かをチェックし、このチェックアドレスが正常
であれば１”Ｐ−ＲＯＭｊ 、ｊが寿命に達していない
と判断する方式でもよい、この方式は館１ｆＩＡおよび
第゛２図の何れにも適用できる。ｔた、第２図に示すも
のは％１個のデータ書込み用がＰ−ＲＯＭＪに対゛し２
個のデータ書換え回数用１！”Ｐ−ＲＯＭｉｓ、ｔｕｂ
が必要とし非常に不経済である。そこで、データ書込み
用がＰ＠ＲＯＭｊと２個のｖＰ・ＲＯ）ｄ６ｍ、＃ｂと
を一諸にした１個のデータ書込み用ＩＣ”Ｐ−ＲＯＭで
書込みデータとデータ書換え回数とを記録させることが
考えられるが、第２図の方式をとる限シバイトすべてに
データ書換え回＊を記憶させるとデータ書込み用のメモ
リ容量が１／３となってしまう、そこで、この不具合を
なくするために、データ書込み用Ｅ”Ｐ・ＲＯＭ ｔ４
ｓ゛えば第３図のように使用すると、その不具合を解消
できる。つ壕り、４Ｘ２−８バイト分をデータ書換え回
数用格納領域２−１ｆｉ〜１−４ｍとし、残＃）を４等
分して各々のアドレス領域をデータ書込み用領域２−１
〜２−４ とする。
そして、これらのデータ書込み用領域２−１〜２−４
をデータ書換え回数用格納領域２−１鳳〜２−４ｍに対
応させて各領域２−１〜２−４ の寿命をチェツタ−す
る方式でもよい。この場合、データ書込み用領Ｊｍ２−
Ｊ〜２−４ のアクセス回数などを考慮して寿命回数を
領域２−１ａ〜２−４１にセットしておけば、バイト消
去可能なｌ”Ｐ・ＲＯＭＪ自身で寿命のチェックをする
ことができる。その他１本楯明はその要旨を逸脱しない
範囲でＳ＾縦形して寮施できる。
をデータ書換え回数用格納領域２−１鳳〜２−４ｍに対
応させて各領域２−１〜２−４ の寿命をチェツタ−す
る方式でもよい。この場合、データ書込み用領Ｊｍ２−
Ｊ〜２−４ のアクセス回数などを考慮して寿命回数を
領域２−１ａ〜２−４１にセットしておけば、バイト消
去可能なｌ”Ｐ・ＲＯＭＪ自身で寿命のチェックをする
ことができる。その他１本楯明はその要旨を逸脱しない
範囲でＳ＾縦形して寮施できる。
以上詳記したように本発明によれば、ｌ！ｌＩＰ・）Ｌ
ＯＭ 自体にデータ書換え回数を書込み、次のデータ
書換え時にｌ”Ｐ４０Ｍのデータ書換え回数と予め定め
た寿命回数とを比軟し、寿命に達していないときデータ
の書込みを行ない、寿命と判断したとき外部ｆＩ皺に知
らせるようにしたので、外部記憶媒体を用いずにｇ”Ｐ
−ＲＯＭの寿命を予め知シ得、さらに寿命に達し九ｌ”
Ｐ・ＲＵＭ Ｋ誤まってデータを書込むことがなくなシ
、データ処理の無駄を省けるとともに、との種適用シス
テムの信頼性を向上しうるメモリ寿命検出方式を提供で
きる。
ＯＭ 自体にデータ書換え回数を書込み、次のデータ
書換え時にｌ”Ｐ４０Ｍのデータ書換え回数と予め定め
た寿命回数とを比軟し、寿命に達していないときデータ
の書込みを行ない、寿命と判断したとき外部ｆＩ皺に知
らせるようにしたので、外部記憶媒体を用いずにｇ”Ｐ
−ＲＯＭの寿命を予め知シ得、さらに寿命に達し九ｌ”
Ｐ・ＲＵＭ Ｋ誤まってデータを書込むことがなくなシ
、データ処理の無駄を省けるとともに、との種適用シス
テムの信頼性を向上しうるメモリ寿命検出方式を提供で
きる。
第１図は本発明に係るメモリ寿命検出方式の一実施例を
説明する概略構成図、第２図は本発明方式の他の例を説
明する概略構成図、第３図はデータ書込み用Ｉ”Ｐ−Ｒ
ＯＭの他の例を示す図である。 ｘ・＊込みｆ’−ｐ、ｚ・ ｗ”ｐ＞ｏｙｌｘ−ｘ、〜
２−−−・・・データ書込用領域％ｊａ、！−１烏。 〜２−４ｍ・・・データ書換え回数用領域、３・・・寿
命判断回路、５・・・データ書込み用Ｆｉ”？４０Ｍ。 ６ｍ、６ｂ・・・データ書換え回数用１”Ｐ−ＲＯＭ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 ｉ！１１１１ １３ｍ！
説明する概略構成図、第２図は本発明方式の他の例を説
明する概略構成図、第３図はデータ書込み用Ｉ”Ｐ−Ｒ
ＯＭの他の例を示す図である。 ｘ・＊込みｆ’−ｐ、ｚ・ ｗ”ｐ＞ｏｙｌｘ−ｘ、〜
２−−−・・・データ書込用領域％ｊａ、！−１烏。 〜２−４ｍ・・・データ書換え回数用領域、３・・・寿
命判断回路、５・・・データ書込み用Ｆｉ”？４０Ｍ。 ６ｍ、６ｂ・・・データ書換え回数用１”Ｐ−ＲＯＭ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 ｉ！１１１１ １３ｍ！
Claims (1)
- １”１４０Ｍの寿命検出方式において、前記データ書込
み用Ｒ”Ｐ−ＲＯＭへのデータ書込み時、仁のデータ書
込み用１”Ｐ−ＲＯＭ 又は専用のデータ書換え回数
用１”Ｐ−ＲＯＭの特定アドレス領域に記鍮するデータ
書換え回数と予め定めた寿命回数とを比駅し、非寿命と
判断したとき前記データ書込み用１ｔ”Ｐ−ＲＯＭへデ
ータを書込むとと４にデータ書換え回数を更新せしめ、
寿命と判断したとき寿命である旨の１号を出力すること
を特徴とするメモリ寿命検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56103575A JPS586596A (ja) | 1981-07-02 | 1981-07-02 | メモリ寿命検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56103575A JPS586596A (ja) | 1981-07-02 | 1981-07-02 | メモリ寿命検出方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS586596A true JPS586596A (ja) | 1983-01-14 |
Family
ID=14357582
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56103575A Pending JPS586596A (ja) | 1981-07-02 | 1981-07-02 | メモリ寿命検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS586596A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59102275U (ja) * | 1982-12-24 | 1984-07-10 | エヌオーケー株式会社 | 抵抗溶接装置 |
| JPS60167128A (ja) * | 1984-02-10 | 1985-08-30 | Fujitsu Ltd | 光デイスク装置の消去回数管理方式 |
| JPS618798A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-16 | Nec Corp | 不揮発性記憶装置 |
| JPS62135984A (ja) * | 1985-12-09 | 1987-06-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｉｃカ−ド |
| JPS62148090A (ja) * | 1985-12-21 | 1987-07-02 | Ohara Kinzoku Kogyo Kk | 軸給電式抵抗溶接機器 |
| JPH02242437A (ja) * | 1989-03-16 | 1990-09-26 | Hitachi Ltd | エミュレータ |
| JP2008050103A (ja) * | 2006-08-24 | 2008-03-06 | Toshiba Elevator Co Ltd | エレベータの乗りかご内映像記録装置 |
| US7492660B2 (en) | 1989-04-13 | 2009-02-17 | Sandisk Corporation | Flash EEprom system |
-
1981
- 1981-07-02 JP JP56103575A patent/JPS586596A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59102275U (ja) * | 1982-12-24 | 1984-07-10 | エヌオーケー株式会社 | 抵抗溶接装置 |
| JPS6325025Y2 (ja) * | 1982-12-24 | 1988-07-08 | ||
| JPS60167128A (ja) * | 1984-02-10 | 1985-08-30 | Fujitsu Ltd | 光デイスク装置の消去回数管理方式 |
| JPS618798A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-16 | Nec Corp | 不揮発性記憶装置 |
| JPH0411957B2 (ja) * | 1984-06-21 | 1992-03-03 | Nippon Electric Co | |
| JPS62135984A (ja) * | 1985-12-09 | 1987-06-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｉｃカ−ド |
| JPS62148090A (ja) * | 1985-12-21 | 1987-07-02 | Ohara Kinzoku Kogyo Kk | 軸給電式抵抗溶接機器 |
| JPH0445274B2 (ja) * | 1985-12-21 | 1992-07-24 | Ohara Kk | |
| JPH02242437A (ja) * | 1989-03-16 | 1990-09-26 | Hitachi Ltd | エミュレータ |
| US7492660B2 (en) | 1989-04-13 | 2009-02-17 | Sandisk Corporation | Flash EEprom system |
| JP2008050103A (ja) * | 2006-08-24 | 2008-03-06 | Toshiba Elevator Co Ltd | エレベータの乗りかご内映像記録装置 |
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