JPS5865559A - 鋳片の自動厚み測定装置 - Google Patents
鋳片の自動厚み測定装置Info
- Publication number
- JPS5865559A JPS5865559A JP16365081A JP16365081A JPS5865559A JP S5865559 A JPS5865559 A JP S5865559A JP 16365081 A JP16365081 A JP 16365081A JP 16365081 A JP16365081 A JP 16365081A JP S5865559 A JPS5865559 A JP S5865559A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ingot
- slab
- piece
- magnetic material
- measuring device
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- Pending
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22D—CASTING OF METALS; CASTING OF OTHER SUBSTANCES BY THE SAME PROCESSES OR DEVICES
- B22D11/00—Continuous casting of metals, i.e. casting in indefinite lengths
- B22D11/16—Controlling or regulating processes or operations
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Continuous Casting (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発９１は連続鋳造設備４１において、鋳片の厚みを電
磁誘導作用を利用して自助的且つ連続的に測定できる工
うに；＆Ｌ、た鋳片の自動厚み−ｊ定装置に関するもの
である・ 一般に連続鋳造設備にあっては、連続した軟論の鋳片が
、豊水されている鋳片単体の重量に遍する長さになり、
切断可能になり几時に連続した状態から上記長さの位置
で切断して、これを単体としている。鋳造されている鋳
片のｌｉｔが請求されている一片単体の重量ＷＫ達する
長さ！であるかどうかは、 ｌ＝□ ・・・・・ （１） Ｗ 壽 ｈ ・ ｋ （１）式により求めることが可能である。しかしながら
、ここにおいてＷｓｖｔｈｆｌ予じめわかつているが、
ｈは変動する−のであり、英−にはビンチロール通２１
１後の位置で測定作業員が、外パス等の測定機器を用い
て直接測定している。しかも、この＃ｌ疋は間歇的な測
定であって、連続的な−のではなかつ皮。この友め、鋳
片の高さｈ ｎ ｓその変動があるに％両らず上妃幽定
値を基準にして一差分等ｔ−見込んだ一定のものとして
上記（１）弐に導入される＾め、夫際の鋳片単体の重量
１１に目標とする鋳片単体の重量Ｗとの閲に誤差（１１
＞Ｗ）を生じ。
磁誘導作用を利用して自助的且つ連続的に測定できる工
うに；＆Ｌ、た鋳片の自動厚み−ｊ定装置に関するもの
である・ 一般に連続鋳造設備にあっては、連続した軟論の鋳片が
、豊水されている鋳片単体の重量に遍する長さになり、
切断可能になり几時に連続した状態から上記長さの位置
で切断して、これを単体としている。鋳造されている鋳
片のｌｉｔが請求されている一片単体の重量ＷＫ達する
長さ！であるかどうかは、 ｌ＝□ ・・・・・ （１） Ｗ 壽 ｈ ・ ｋ （１）式により求めることが可能である。しかしながら
、ここにおいてＷｓｖｔｈｆｌ予じめわかつているが、
ｈは変動する−のであり、英−にはビンチロール通２１
１後の位置で測定作業員が、外パス等の測定機器を用い
て直接測定している。しかも、この＃ｌ疋は間歇的な測
定であって、連続的な−のではなかつ皮。この友め、鋳
片の高さｈ ｎ ｓその変動があるに％両らず上妃幽定
値を基準にして一差分等ｔ−見込んだ一定のものとして
上記（１）弐に導入される＾め、夫際の鋳片単体の重量
１１に目標とする鋳片単体の重量Ｗとの閲に誤差（１１
＞Ｗ）を生じ。
歩留りの低下を米たしていた。・また間歇的な測定では
、設備の異常個所の発見が遅れる原因になったり、戚い
は冷却水のスプレー状況の把握が遅れる等の原因になっ
ていた。更に、上記測定位置の鋳片はまだ高温の状態で
あ）、危険を伴うので作業環境としても好しいものでは
なく、改良の余地があった。更にま几、作業員に工つて
測定値に個人差があり、ｆ［］Ｉｌｉ性に欠ける問題％
あった。
、設備の異常個所の発見が遅れる原因になったり、戚い
は冷却水のスプレー状況の把握が遅れる等の原因になっ
ていた。更に、上記測定位置の鋳片はまだ高温の状態で
あ）、危険を伴うので作業環境としても好しいものでは
なく、改良の余地があった。更にま几、作業員に工つて
測定値に個人差があり、ｆ［］Ｉｌｉ性に欠ける問題％
あった。
本発明は従来の上記欠点に鑑みてこれｔ改良除去し７ｊ
％のであって、可動側ピンチＩ−ルの上下１１／ＪＫ追
従する磁性体片に近接して固定設置され、電源側に襞絖
されてなる電磁誘導素子のインピーダンスを測定するこ
とＫＬす、鋳片の厚みを自動的且つ連続的ＫＩａｌｌ定
し得る装置を提供せんとするものである。
％のであって、可動側ピンチＩ−ルの上下１１／ＪＫ追
従する磁性体片に近接して固定設置され、電源側に襞絖
されてなる電磁誘導素子のインピーダンスを測定するこ
とＫＬす、鋳片の厚みを自動的且つ連続的ＫＩａｌｌ定
し得る装置を提供せんとするものである。
以下に本発明の構成を図′ＦｔＪに示す実施例に基づい
て説明すると次の通りである。
て説明すると次の通りである。
第１図ｕ本発明装置の第１の＊１例を示す全体システム
図である。Ｍ図において、ｌは同定慟ビンチロール、２
ｒｒ可動側ピンチロール、３はこれらのビンチロールｌ
及び２に工り引き抜かれる鋳片である。可動側ビンチロ
ール２の軸端には、該ロール２の上下＃ＩＫ追従妨作す
る磁性体片（強磁性体片）４が任意の手段で取り付けで
ある。そして、この磁性体片４Ｋ）ｌｉ像して、交流電
源５に接続されたコイル等の電磁誘導素子６が固定配置
されているｅ７ｔｌ！ＩｌＫ磁誘導素子６のインピーダ
ンスＺｔ＃Ｊ定する測定器である。ＣｆＪ測定器７の測
定値ａｒｔ、増幅器８で増幅され、増幅された信号ａ′
が演算ｇ９に入力される。演算Ｉ！ｓは、上記信号ａ′
の平均値を逐次演算し、この値を鋳片３の高さ信号とし
て前述の＋１）式に導入して鋳片３の長さ！。
図である。Ｍ図において、ｌは同定慟ビンチロール、２
ｒｒ可動側ピンチロール、３はこれらのビンチロールｌ
及び２に工り引き抜かれる鋳片である。可動側ビンチロ
ール２の軸端には、該ロール２の上下＃ＩＫ追従妨作す
る磁性体片（強磁性体片）４が任意の手段で取り付けで
ある。そして、この磁性体片４Ｋ）ｌｉ像して、交流電
源５に接続されたコイル等の電磁誘導素子６が固定配置
されているｅ７ｔｌ！ＩｌＫ磁誘導素子６のインピーダ
ンスＺｔ＃Ｊ定する測定器である。ＣｆＪ測定器７の測
定値ａｒｔ、増幅器８で増幅され、増幅された信号ａ′
が演算ｇ９に入力される。演算Ｉ！ｓは、上記信号ａ′
の平均値を逐次演算し、この値を鋳片３の高さ信号とし
て前述の＋１）式に導入して鋳片３の長さ！。
すなわち、鋳片３の切断位置を決定する。そして。
ｇ！ｉ号すでもって鋳片−３の長さｌを表示器ｌＯＫ表
示させると共に１切断位置信号ｃＫぶり切断機１１に鋳
片３の切−指令管フイードフォワードする。
示させると共に１切断位置信号ｃＫぶり切断機１１に鋳
片３の切−指令管フイードフォワードする。
今、１／Ｌｔ１Ｍ酵導本子６に交流電流工□が流れてい
るとすると、この電磁−導電子４ｉＫは磁束φ１が発生
し、磁性体片４Ｋｒｉ上記磁束＾を打消す方向の磁束へ
か誘起される。そして、Ｃの磁束１％に、にり磁性体片
４！Ｉｃ＠Ｒ−が発生し、仁の電源−１１ＣＬり電磁誘
導素子６のインピーダンス２が変化を受ける。
るとすると、この電磁−導電子４ｉＫは磁束φ１が発生
し、磁性体片４Ｋｒｉ上記磁束＾を打消す方向の磁束へ
か誘起される。そして、Ｃの磁束１％に、にり磁性体片
４！Ｉｃ＠Ｒ−が発生し、仁の電源−１１ＣＬり電磁誘
導素子６のインピーダンス２が変化を受ける。
電磁誘導素子６のインピーダンス２の変化量も磁性体片
４と電磁誘導素子６間の距離に＠関関係がある。従って
、電磁誘導素子６のインピーダンスｚｆ：ｌｌｌ１定す
ることに↓す、磁性体片４と電磁誘導素子６閏の距離、
すなわち、鋳片３の高さｈｔ−測定することが可能であ
る０本発明はこの原理を応用したものである。
４と電磁誘導素子６間の距離に＠関関係がある。従って
、電磁誘導素子６のインピーダンスｚｆ：ｌｌｌ１定す
ることに↓す、磁性体片４と電磁誘導素子６閏の距離、
すなわち、鋳片３の高さｈｔ−測定することが可能であ
る０本発明はこの原理を応用したものである。
次に上記構ｌ１Ｌｉ＆置の動作賛領を説明する。
先づ、可動側ピンチロール２が、鋳片３の＾さｈｆ）変
動に基づいて上下動すると、この上下動に追従して磁性
体片４が上下動する。このため、磁性体片４と電磁誘導
素子６間の距−が変動し、電磁誘導素子６のインピーダ
ンス２が可動側ピンチ四−ル２の変化量に応じて、すな
わち、鋳片３の高さｈｆ）涙化量に応じて変化する。測
定＠７Ｈ上記インピーダンス２會＃１足して、これを増
Ｓ＠ａを介して演算１）９に出力する。演算＠９Ｈ１前
述した費慎で増幅された信号ａ′の平均値を逐次演算し
、Ｃれを鋳片３の高さｈの平均１ｋＫ換算゛して、［１
０述のｔｌ）式に導入し、実際の鋳片重量−が要求され
た鋳片単体の重ｆｉＷＫなった時の鋳片３の兼さｌを求
め、これを表示器１０に出力して表示させると共に１切
断機１１に鋳片３の上記長さｌの位置での切１１′ｒを
指令する。このため、本実施例装置で得られ名夷線の鋳
片重量Ｗ、ハ鋳片３の高さｈの涙＃を自動計量ｔｔｃエ
リ、當−監視してこれを一１Ｉｊ［した上でのものとな
り、要求され几鋳片単体の重ｌｖとの誤差が非常に少な
く、歩留の向上が著しい・ 第２図は一片３を外バス◆で＊欄した場合と、本実施例
装置で測定した場合瀝を比較したものである。この図か
ら１本実施例装置の測定がいかに正確なものであるかが
明らかである。尚、゛この図において、本発明の一合は
鋳片゛３の高さｈが３９６■のところを基準点“Ｏ”と
して、これ工りｈが増え几場合を＋、減少した一合を−
としで表し几ものである。
動に基づいて上下動すると、この上下動に追従して磁性
体片４が上下動する。このため、磁性体片４と電磁誘導
素子６間の距−が変動し、電磁誘導素子６のインピーダ
ンス２が可動側ピンチ四−ル２の変化量に応じて、すな
わち、鋳片３の高さｈｆ）涙化量に応じて変化する。測
定＠７Ｈ上記インピーダンス２會＃１足して、これを増
Ｓ＠ａを介して演算１）９に出力する。演算＠９Ｈ１前
述した費慎で増幅された信号ａ′の平均値を逐次演算し
、Ｃれを鋳片３の高さｈの平均１ｋＫ換算゛して、［１
０述のｔｌ）式に導入し、実際の鋳片重量−が要求され
た鋳片単体の重ｆｉＷＫなった時の鋳片３の兼さｌを求
め、これを表示器１０に出力して表示させると共に１切
断機１１に鋳片３の上記長さｌの位置での切１１′ｒを
指令する。このため、本実施例装置で得られ名夷線の鋳
片重量Ｗ、ハ鋳片３の高さｈの涙＃を自動計量ｔｔｃエ
リ、當−監視してこれを一１Ｉｊ［した上でのものとな
り、要求され几鋳片単体の重ｌｖとの誤差が非常に少な
く、歩留の向上が著しい・ 第２図は一片３を外バス◆で＊欄した場合と、本実施例
装置で測定した場合瀝を比較したものである。この図か
ら１本実施例装置の測定がいかに正確なものであるかが
明らかである。尚、゛この図において、本発明の一合は
鋳片゛３の高さｈが３９６■のところを基準点“Ｏ”と
して、これ工りｈが増え几場合を＋、減少した一合を−
としで表し几ものである。
１ｇ３図は本発明の１８２の実施例を示すものである。
この実施例は可動側ビンチロール２の軸端に１該ロール
２の上下動に追従動作する磁性体片としての鉄心１２を
設け、鋏鉄心１２會亀磁誘導素子としてのソレノイド１
３丙で出し入れさせ、ソレノイド１３のインダクタンス
−を測定器７で測定することに工り、鋳片３の高さｈを
自動的且り連続的Ｋ１１１足する工うにした−のである
。その他の構ＩＩＬ蓋びに作用効果は前記第１の実施例
と同じであるため、こＣでの説明は省略する。
２の上下動に追従動作する磁性体片としての鉄心１２を
設け、鋏鉄心１２會亀磁誘導素子としてのソレノイド１
３丙で出し入れさせ、ソレノイド１３のインダクタンス
−を測定器７で測定することに工り、鋳片３の高さｈを
自動的且り連続的Ｋ１１１足する工うにした−のである
。その他の構ＩＩＬ蓋びに作用効果は前記第１の実施例
と同じであるため、こＣでの説明は省略する。
第４図は本発明の第３０＊ｈ例を示す−のである。この
実施例は可動側ピンチロール２の上下前に追従動作する
ように適宜の手段で連結した磁性体片１４とコア１５と
で磁気回路（＠中の鎖線参照）を形成する工うＫＬ、磁
性体片１４の上下動ＫＬって磁気回路内の磁気抵抗が変
化してコア１５に巻イー１ｔニーコイル１６のインダク
タンスＬが変化スルｆ）Ｔ：、該コイル１６のインダク
タンスＬを測定器７で測定することに工り、鋳片３の為
さｈを自動的且つ遍ａｗｊｅｃ綱定する工うにしたｔの
である。
実施例は可動側ピンチロール２の上下前に追従動作する
ように適宜の手段で連結した磁性体片１４とコア１５と
で磁気回路（＠中の鎖線参照）を形成する工うＫＬ、磁
性体片１４の上下動ＫＬって磁気回路内の磁気抵抗が変
化してコア１５に巻イー１ｔニーコイル１６のインダク
タンスＬが変化スルｆ）Ｔ：、該コイル１６のインダク
タンスＬを測定器７で測定することに工り、鋳片３の為
さｈを自動的且つ遍ａｗｊｅｃ綱定する工うにしたｔの
である。
七の他の構成並びに作用効果は前記第１及び第２の＊廊
例と同じである。
例と同じである。
尚、以上の４！ｒ＊施例にあって、コイル、ソレノイド
等の電磁誘導素子のインピーダンス２及びインダクタン
スＬの測定値を地理する方式は、上述し几ものに＠定さ
れるものではなく、適宜変更可ｉ七であること框菖うま
でもない。また鋳片３の温度を複数個所で測定して温度
変化ｔｆｃＬる鋳片の体積変化を袖慣する工うにすれば
、ｊ！に正確な鋳片ｘｉｉの設定が可能である。
等の電磁誘導素子のインピーダンス２及びインダクタン
スＬの測定値を地理する方式は、上述し几ものに＠定さ
れるものではなく、適宜変更可ｉ七であること框菖うま
でもない。また鋳片３の温度を複数個所で測定して温度
変化ｔｆｃＬる鋳片の体積変化を袖慣する工うにすれば
、ｊ！に正確な鋳片ｘｉｉの設定が可能である。
以上説明し比重うに本発ｖｊ４は、−片を搬送する皮め
の一定側と可ｔｌＪ＠エリなる１対のピンチロールのう
ち、可動側ピンチロールの上下動に追従する磁性体片と
、ｄ磁性体片に近接して同定設置され電ＩＩ ＠に振秋
された電磁誘導素子と、該電磁誘導素子のインピーダン
スを測定する測定器とエフ敗り、鋳片の厚みを嶌磁鋳、
導素子のインピーダンス値Ｋｆ侠して測定する工うにし
友から、鋳片の厚みを目前的且つ連続的に測定すること
ができ、−片単体の電１設定が非常に正確なものとなＩ
。
の一定側と可ｔｌＪ＠エリなる１対のピンチロールのう
ち、可動側ピンチロールの上下動に追従する磁性体片と
、ｄ磁性体片に近接して同定設置され電ＩＩ ＠に振秋
された電磁誘導素子と、該電磁誘導素子のインピーダン
スを測定する測定器とエフ敗り、鋳片の厚みを嶌磁鋳、
導素子のインピーダンス値Ｋｆ侠して測定する工うにし
友から、鋳片の厚みを目前的且つ連続的に測定すること
ができ、−片単体の電１設定が非常に正確なものとなＩ
。
歩留の向上が著しい。また調定作業員がピンチローラ後
で鋳片の厚みを測定する必をがなくなり。
で鋳片の厚みを測定する必をがなくなり。
作業環境の悪い所ての作業から開放される。更に操作員
は操作室内で鋳片の厚みを連続的に監視することで、鋳
造設備の故障や冷却水スプレー状況の変化等を迅速に知
ることができ、対応性に優れ、品質管理上において一便
利である。
は操作室内で鋳片の厚みを連続的に監視することで、鋳
造設備の故障や冷却水スプレー状況の変化等を迅速に知
ることができ、対応性に優れ、品質管理上において一便
利である。
第１図は本発明の第１の実施例を示す全体システム図、
第２図は鋳片厚みの＊綱データと第ｔｍに示す装置によ
る測定値とを示す図面、第３図及 １び第４図ね本発
明の第２及び第３の実施例を示す セ全体システム図
である。 ３・・・鋳片 ｌ・・・固定側ピンチロール ２・・・
可動側ビンチロール ４，１２，１４・・・磁性体片５
・・・電源６．１３．１６・・・電磁誘導素子 ７・・
・測定器特許出願人 住哀金属工業株式会社 代理人弁理士円田敏彦
第２図は鋳片厚みの＊綱データと第ｔｍに示す装置によ
る測定値とを示す図面、第３図及 １び第４図ね本発
明の第２及び第３の実施例を示す セ全体システム図
である。 ３・・・鋳片 ｌ・・・固定側ピンチロール ２・・・
可動側ビンチロール ４，１２，１４・・・磁性体片５
・・・電源６．１３．１６・・・電磁誘導素子 ７・・
・測定器特許出願人 住哀金属工業株式会社 代理人弁理士円田敏彦
Claims (1)
- １鋳片倉搬送する几めの固定側と可動側エリなる１対の
ビンチロールのうち、可動側ビンチロールの上下ｗＪＫ
追従する磁性体片と、該磁性体片に近接して固定設置さ
れ電源＠に輩叔され友電磁銹導木子と、ｗＬ電磁誘導素
子のインビーダン×を測定する測定器とエリ敗り、鋳片
の厚みを電硫鱒導素子のインピーダンス値に変換して測
定する工うＫＬ７’？ことを特徴とする鋳片の自動厚み
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16365081A JPS5865559A (ja) | 1981-10-13 | 1981-10-13 | 鋳片の自動厚み測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16365081A JPS5865559A (ja) | 1981-10-13 | 1981-10-13 | 鋳片の自動厚み測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5865559A true JPS5865559A (ja) | 1983-04-19 |
Family
ID=15777964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16365081A Pending JPS5865559A (ja) | 1981-10-13 | 1981-10-13 | 鋳片の自動厚み測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5865559A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011164110A (ja) * | 1999-12-23 | 2011-08-25 | Kla-Tencor Corp | 渦電流測定あるいは光学測定を利用して、メタライゼーション処理を実状態で監視する方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5211285A (en) * | 1975-07-10 | 1977-01-28 | Hitachi Chem Co Ltd | Decorative melamine metal laminates |
| JPS5465133A (en) * | 1977-11-02 | 1979-05-25 | Nippon Steel Corp | Cutting of casted segment in continuous casting |
-
1981
- 1981-10-13 JP JP16365081A patent/JPS5865559A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5211285A (en) * | 1975-07-10 | 1977-01-28 | Hitachi Chem Co Ltd | Decorative melamine metal laminates |
| JPS5465133A (en) * | 1977-11-02 | 1979-05-25 | Nippon Steel Corp | Cutting of casted segment in continuous casting |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011164110A (ja) * | 1999-12-23 | 2011-08-25 | Kla-Tencor Corp | 渦電流測定あるいは光学測定を利用して、メタライゼーション処理を実状態で監視する方法 |
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