JPS5864064U - 電子光学像の評価装置 - Google Patents
電子光学像の評価装置Info
- Publication number
- JPS5864064U JPS5864064U JP1982024272U JP2427282U JPS5864064U JP S5864064 U JPS5864064 U JP S5864064U JP 1982024272 U JP1982024272 U JP 1982024272U JP 2427282 U JP2427282 U JP 2427282U JP S5864064 U JPS5864064 U JP S5864064U
- Authority
- JP
- Japan
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- image
- vacuum
- optical image
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/22—Optical or photographic arrangements associated with the tube
- H01J37/224—Luminescent screens or photographic plates for imaging ; Apparatus specially adapted therefor, e.g. cameras, TV-cameras, photographic equipment, exposure control; Optical subsystems specially adapted therefor, e.g. microscopes for observing image on luminescent screen
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は電子顕微鏡といっしょにした本考案の装置の側
面図、第2図は装置内の光路を示す断面図、第3a図お
よび第3b図は製図装置の2方向からの側面図である。 11・・・電子顕微鏡、12・・・カラム、13・・・
窓、14・・・像面、15・・・ケーシング、21・・
・螢光スクリン、22・・・電子光学レンズ、23.2
5・・・ミラー、31・・・製図ブロック、33・・・
製図ペン。
面図、第2図は装置内の光路を示す断面図、第3a図お
よび第3b図は製図装置の2方向からの側面図である。 11・・・電子顕微鏡、12・・・カラム、13・・・
窓、14・・・像面、15・・・ケーシング、21・・
・螢光スクリン、22・・・電子光学レンズ、23.2
5・・・ミラー、31・・・製図ブロック、33・・・
製図ペン。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 電子光学像および光光学像の同時的観察によって電
子光学像を評価する装置において、電子顕微鏡の近くに
配置された光光学像の像面14および電子顕微鏡の側面
に配置されたケーシング15を有し、このケーシング内
に電子顕微鏡の最終像螢光スクリン21へ像面14を結
像するため、真空中の反射ミラー25、対物レンズ24
およびもう1つの反射ミラー23が配置されていること
を特徴とする電子光学像の評価装置。 22つの反射ミラー23.25が屋根形ミラーである実
用新案登録請求の範囲第1項記載の装置。 3 電子光学的結像が反射ミラー25を通して行われ、
このミラーがそのために孔を備えている実用新案登録請
求の範囲第1項または第2項記載の装置。 4 ケーシング15の1部が真空気密に形成され、ケー
シング15の内部に真空気密の窓が配置されている実用
新案登録請求の範囲第1項〜第3項の1つに記載の装置
。 5 鏡筒を有する対物レンズ24または対物レンズ24
の1つのレンズが真空気密の窓として形成されている実
用新案登録請求の範囲第5項記載の装置。 6 像面14上で製図ペン33を有する製図装置31が
摺動可能であり、この装置が平らな支持−面32を有1
、照明点35が製図ペン33の製図先端34の垂直上方
に配置されている実用新案登録請求め範囲第1項〜第5
項の1つに記載の装置。 7 像面14上を直径を変化しうる照明された測−定絞
りが摺動可能であり、どの絞りが評価装置と係合してい
る実用新案登録請求の範囲第1項〜第5項の1つに記載
の装置。 8 像面14にデジタル化装置が配置され、その表示板
上を光点を備えるカーソルが摺動可能であり、表示板お
よばカーソルが評価装置と結合している実用新案登録請
求の範囲第1項〜第5項の1つに記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19818105611U DE8105611U1 (de) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Auswertevorrichtung fuer elektronenoptische bilder |
DE81056117 | 1981-02-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5864064U true JPS5864064U (ja) | 1983-04-30 |
Family
ID=6725138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1982024272U Pending JPS5864064U (ja) | 1981-02-27 | 1982-02-24 | 電子光学像の評価装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4523094A (ja) |
JP (1) | JPS5864064U (ja) |
DE (1) | DE8105611U1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3538857A1 (de) * | 1985-11-02 | 1987-05-07 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Einrichtung fuer die eingabe eines sollwerts fuer den auftreffpunkt eines elektronenstrahls auf ein medium |
US5024512A (en) * | 1986-07-18 | 1991-06-18 | American Photo Systems, Inc. | Microfilm reader with microfilm and reticle images provided to each of two binocular eyepieces |
JPH0245734A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-15 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 自動組織解析処理装置 |
USD381031S (en) * | 1995-07-03 | 1997-07-15 | Hitachi, Ltd. | Electron microscope |
EP1069593A3 (en) * | 1995-09-14 | 2001-01-31 | Hitachi, Ltd. | Electron microscope |
JP2007071803A (ja) * | 2005-09-09 | 2007-03-22 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥観察方法及びその装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5017323U (ja) * | 1973-06-11 | 1975-02-25 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2233286A (en) * | 1939-01-27 | 1941-02-25 | Rca Corp | Electronic and light microscope |
US3614410A (en) * | 1969-06-12 | 1971-10-19 | Knight V Bailey | Image rectifier |
JPS5243095B2 (ja) * | 1973-08-03 | 1977-10-28 | ||
JPS5477060A (en) * | 1977-12-01 | 1979-06-20 | Hitachi Ltd | Electron microscope |
-
1981
- 1981-02-27 DE DE19818105611U patent/DE8105611U1/de not_active Expired
-
1982
- 1982-02-24 JP JP1982024272U patent/JPS5864064U/ja active Pending
-
1984
- 1984-02-08 US US06/578,126 patent/US4523094A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5017323U (ja) * | 1973-06-11 | 1975-02-25 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE8105611U1 (de) | 1981-11-19 |
US4523094A (en) | 1985-06-11 |
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