JPS586404A - 物体の物理的位置および方位を検出するための装置 - Google Patents
物体の物理的位置および方位を検出するための装置Info
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- JPS586404A JPS586404A JP57110068A JP11006882A JPS586404A JP S586404 A JPS586404 A JP S586404A JP 57110068 A JP57110068 A JP 57110068A JP 11006882 A JP11006882 A JP 11006882A JP S586404 A JPS586404 A JP S586404A
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- light sources
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明の分野
この発明は、一般に非接触視覚法による近接検知装置に
関する。
関する。
従来技術
物体の位置、方位および表面湾曲を測定するための必要
性は、ワークピースや製品が一連の処理工程をうける製
造業で特に意義がある。これらの必要性は1種々の処理
工程が工作機械。
性は、ワークピースや製品が一連の処理工程をうける製
造業で特に意義がある。これらの必要性は1種々の処理
工程が工作機械。
機械的マニピュレータまたはロボットの責任である時に
特に重要である0代表的な例では、ワークビ、−スをモ
ニタするための近接検知装置は。
特に重要である0代表的な例では、ワークビ、−スをモ
ニタするための近接検知装置は。
オン/オフ・モードで或は連続モードで作動し。
かつ視覚型または非視覚型、接触型ま九は非接触型、長
短lII型また紘短距離型として分類できる。
短lII型また紘短距離型として分類できる。
この発明の要点
添付図面についてと\に開示する視覚非接触型近接検知
技術は1問題の物体の距離1表面方位および湾曲を連続
的に示すことができる。個別光源のプレイは一連の光ビ
ームを物体に送シ。
技術は1問題の物体の距離1表面方位および湾曲を連続
的に示すことができる。個別光源のプレイは一連の光ビ
ームを物体に送シ。
そして反射された光ビームは光応答トランスジューサに
結像される。このトランスジューサは物体の方位、湾曲
および位置を示す情報を提供する・オプトケータ(0p
tocator )と名付けられたこの目的の九めの単
一光源位置センサは米国のセレクティブ・エレクトロニ
クス・インコーホL/ イシs ン(8electiv
e Electronics 。
結像される。このトランスジューサは物体の方位、湾曲
および位置を示す情報を提供する・オプトケータ(0p
tocator )と名付けられたこの目的の九めの単
一光源位置センサは米国のセレクティブ・エレクトロニ
クス・インコーホL/ イシs ン(8electiv
e Electronics 。
Inc、)から市販されている・
この発明は添付図面に関する以下の例示的な説明からも
つと容易に明らかとなるだろう。
つと容易に明らかとなるだろう。
望ましい実施例の説明
第7図に概略図で示す視覚検知装置ioは。
物体30に光ビームを向けるための個別の光源−一のア
レイコ0を含−む、光学系4IOは、物体30で反射さ
れた光ビームを適切な大きさで光応答トランスジューサ
jOに結像させる。このトランスジューサ!roは、光
検知面xiKs3.った光ビームの位置を示すアナログ
信号を発生する・アナログ/デジタル(A/D )変換
回路!−は、トランスジューサ!0からのアナログ信号
を、マイクロプロセッサ回路6oへ入力信号として供給
されるデジタル信号に変換する。典型的な例ではデジタ
ル・エクィプメント・コーボレインEl ン(Digi
tal 1!:quipment (!orporat
ion)の型式LB工///JJから成り得るマイクロ
プロセッサ回路6θハ、トランスジューサ!θからの信
号情報に基づいて物体30の位置および方位を決定する
。工作機械制御回路70は工具グーの動作を制御して工
具?2と物体300間に所望の加工関係を維持する。工
具クコは、その典型例では溶接、切断、スクライビング
などの作業を行なうことができ、或はアセンブリまたは
プロセス制御システムに使用したマニピュレータに関係
したグリッパから成っていても良い。マイクロプロセッ
サ回路AOKよって発生された一体位置および方位情報
はビデオ・ディスプレイ&4c上に視覚提示されること
もできる。
レイコ0を含−む、光学系4IOは、物体30で反射さ
れた光ビームを適切な大きさで光応答トランスジューサ
jOに結像させる。このトランスジューサ!roは、光
検知面xiKs3.った光ビームの位置を示すアナログ
信号を発生する・アナログ/デジタル(A/D )変換
回路!−は、トランスジューサ!0からのアナログ信号
を、マイクロプロセッサ回路6oへ入力信号として供給
されるデジタル信号に変換する。典型的な例ではデジタ
ル・エクィプメント・コーボレインEl ン(Digi
tal 1!:quipment (!orporat
ion)の型式LB工///JJから成り得るマイクロ
プロセッサ回路6θハ、トランスジューサ!θからの信
号情報に基づいて物体30の位置および方位を決定する
。工作機械制御回路70は工具グーの動作を制御して工
具?2と物体300間に所望の加工関係を維持する。工
具クコは、その典型例では溶接、切断、スクライビング
などの作業を行なうことができ、或はアセンブリまたは
プロセス制御システムに使用したマニピュレータに関係
したグリッパから成っていても良い。マイクロプロセッ
サ回路AOKよって発生された一体位置および方位情報
はビデオ・ディスプレイ&4c上に視覚提示されること
もできる。
第7図の視覚検知装置IOの実施例では1発光ダイオー
ド、レーザ源などであり得る光源−一は円形のアレイ2
0fC配置され、かつ光錐ON/の先熾に相当する所定
の点PK収斂する個別の直線状元ビームから成る円錐光
パターンON/を作るように位置決めされる。光錐aw
iは光学系参〇を通シかつ光検知面j/と垂直な軸!を
持つ、光源ココの作動は、゛マイクロプロセッサ回路4
0に記憶された光源作動プログラムに応答する光源作動
回路4コによって制御される。
ド、レーザ源などであり得る光源−一は円形のアレイ2
0fC配置され、かつ光錐ON/の先熾に相当する所定
の点PK収斂する個別の直線状元ビームから成る円錐光
パターンON/を作るように位置決めされる。光錐aw
iは光学系参〇を通シかつ光検知面j/と垂直な軸!を
持つ、光源ココの作動は、゛マイクロプロセッサ回路4
0に記憶された光源作動プログラムに応答する光源作動
回路4コによって制御される。
説明の都合上、物体3θが平らな板でありかつむの平板
の表面31が円錐光パターンON/の軸Xと垂直である
としよう。表面J/が点Pと交差するようにもしり体3
0が図示の位置Bに置かれるならば、光学系参〇によっ
てトラン浄ジューサ30に結像される光スポットは第一
図Bに示したような単一スポットの光パターンLPJと
なる。もし物体30が第1図の位置Aま九はO!lc@
かれるならば、光学系410によってトランスジューサ
jOに結像される光スポットのパターンは第一図A、O
にそれぞれ示す円形のパターンLP/、 LPJとなる
。
の表面31が円錐光パターンON/の軸Xと垂直である
としよう。表面J/が点Pと交差するようにもしり体3
0が図示の位置Bに置かれるならば、光学系参〇によっ
てトラン浄ジューサ30に結像される光スポットは第一
図Bに示したような単一スポットの光パターンLPJと
なる。もし物体30が第1図の位置Aま九はO!lc@
かれるならば、光学系410によってトランスジューサ
jOに結像される光スポットのパターンは第一図A、O
にそれぞれ示す円形のパターンLP/、 LPJとなる
。
物体JOの平らな表面3/が円錐光パターンON/の軸
Xと垂[K保たれるならばその時だけ。
Xと垂[K保たれるならばその時だけ。
反射された光ビームの円形パターンは存在する。
もし物体J0が第3A図に示したようK11厘でないな
らば、トランスジューサjoに結像される光スポットの
パターンはもはや円形ではなく。
らば、トランスジューサjoに結像される光スポットの
パターンはもはや円形ではなく。
平らな表面31の場合に社第3B図に示したようなだ円
形となる。なお、だ円形の主軸は物体30の方位を決定
する。
形となる。なお、だ円形の主軸は物体30の方位を決定
する。
第一図AとO[対応する円形パターンの光スポットが第
1図の位置Aまたは0に物体JOがある結果かどうかを
決定する手段がこ\までのところ設けられていない。点
Pの各側の物体位置を区別するために、光源−一はマイ
クロプロセッサ回路40に記憶されたプログラムに応じ
て光源作動回路6コによって逐次作動させられる。光源
作動回路4コは、一連のドライバ回路(各ドライバ回路
はそれぞれ1個の光源−一と関係付けられる)で適切に
実施でき、かつマイクロプロセッサ回路60によって作
られた光源作動パターンに応答する。従って、第1図の
位置人に置かれた物体3Qに応答してトランスジューサ
50でモニタされる個々の反射された光ビームのシーケ
ンスは、光スポットが逐次パターンで、すなわち光#J
Jの作動方向である時計方向または反時計方向と同じ時
計方向または反時計方向で生じるパターンLP/を作る
。物体JOが位置(3JIC在る場合、す愈わち点Pを
越える場合には、トランスジニー4jsoでモニタされ
る一連の反射光ビームは、光源−一の作動に対して/1
0°移相される元スポットのパターンLPJを作る。従
って、視覚検知装置10は、光学系参〇VCよってトラ
ンスジューサSO上に結像される光スポットのパターン
が円形かだ円形かなどに基づいて一体30の方位を決定
できる。
1図の位置Aまたは0に物体JOがある結果かどうかを
決定する手段がこ\までのところ設けられていない。点
Pの各側の物体位置を区別するために、光源−一はマイ
クロプロセッサ回路40に記憶されたプログラムに応じ
て光源作動回路6コによって逐次作動させられる。光源
作動回路4コは、一連のドライバ回路(各ドライバ回路
はそれぞれ1個の光源−一と関係付けられる)で適切に
実施でき、かつマイクロプロセッサ回路60によって作
られた光源作動パターンに応答する。従って、第1図の
位置人に置かれた物体3Qに応答してトランスジューサ
50でモニタされる個々の反射された光ビームのシーケ
ンスは、光スポットが逐次パターンで、すなわち光#J
Jの作動方向である時計方向または反時計方向と同じ時
計方向または反時計方向で生じるパターンLP/を作る
。物体JOが位置(3JIC在る場合、す愈わち点Pを
越える場合には、トランスジニー4jsoでモニタされ
る一連の反射光ビームは、光源−一の作動に対して/1
0°移相される元スポットのパターンLPJを作る。従
って、視覚検知装置10は、光学系参〇VCよってトラ
ンスジューサSO上に結像される光スポットのパターン
が円形かだ円形かなどに基づいて一体30の方位を決定
できる。
トランスジューサ!0に結像される反射光ビームの逐次
発生方向は点PK対する物体30の位置を決定する。物
体J0の特定位置は、トランスジューサjOで検知され
た光スポットのパターンの周18に基づいて決定される
0点Pの近くに置かれ九物体に相当する光スポットのパ
ターンの周囲は比較的小さいが1点Pから離れた物体位
置に相当する元スポットのパターンの周囲は比例的に大
きくなる。例えば゛1元スポットのパターンが第−囚人
およびO[示したように円形である時に、その半径は点
Pから物体3oの表面31までの距離に比例する。
発生方向は点PK対する物体30の位置を決定する。物
体J0の特定位置は、トランスジューサjOで検知され
た光スポットのパターンの周18に基づいて決定される
0点Pの近くに置かれ九物体に相当する光スポットのパ
ターンの周囲は比較的小さいが1点Pから離れた物体位
置に相当する元スポットのパターンの周囲は比例的に大
きくなる。例えば゛1元スポットのパターンが第−囚人
およびO[示したように円形である時に、その半径は点
Pから物体3oの表面31までの距離に比例する。
一体、yoの表面反射特性もまた1反射光ビームに応答
するトランスジューサ!0が発生する信号の電流レベル
に基づいてモニタできる。電流の値は反射光ビームの強
さの関数である。
するトランスジューサ!0が発生する信号の電流レベル
に基づいてモニタできる。電流の値は反射光ビームの強
さの関数である。
光源−一をアレイコOK位健決めすることKよってプリ
セットされる各光源−一からの光ビームの方向と、物体
30によって反射された元ビームがトランスジューサs
oに当るスポットに対する視線とが両方共成る時点で既
知であるので1党を反射中の物体の表面上のスポットの
位置は3角法を使用してマイクロプロセッサ回路60で
計算できる。
セットされる各光源−一からの光ビームの方向と、物体
30によって反射された元ビームがトランスジューサs
oに当るスポットに対する視線とが両方共成る時点で既
知であるので1党を反射中の物体の表面上のスポットの
位置は3角法を使用してマイクロプロセッサ回路60で
計算できる。
トランスジューサ!Oは信号処理器と組み合わせた適当
なテレビ・カメラであり得るが1日本の浜松テレビ会社
から型式B/JOOとして市販されているようなプレー
ナ状11Mホトダイオードから成るアナログ位置センサ
Φテップが望ましい。この市販のチップは、マイクロプ
ロセッサ回路60によって容易に処理されて各反射光ビ
ームがトランスジューサ3oの光検知面!/の何処Km
るかを決定するための出力電流信号を発生する。この市
販のチ゛ツブの感度は。
なテレビ・カメラであり得るが1日本の浜松テレビ会社
から型式B/JOOとして市販されているようなプレー
ナ状11Mホトダイオードから成るアナログ位置センサ
Φテップが望ましい。この市販のチップは、マイクロプ
ロセッサ回路60によって容易に処理されて各反射光ビ
ームがトランスジューサ3oの光検知面!/の何処Km
るかを決定するための出力電流信号を発生する。この市
販のチ゛ツブの感度は。
光学系4LOによる反射光ビームの結像があまり重要て
ないようなものである。
ないようなものである。
上述した市販のチップを利用する視覚検知装置の一実施
例では、光源:iコはt 00 nm 〜/、000n
m の範囲の波長を有する赤外線発光ダイオードから成
る。
例では、光源:iコはt 00 nm 〜/、000n
m の範囲の波長を有する赤外線発光ダイオードから成
る。
第1図には光源−一の単一の円形アレイ−〇を図示した
が、別な構成の物体を測定するために他のアレイを用い
ることもできる。
が、別な構成の物体を測定するために他のアレイを用い
ることもできる。
第ダ図、第ダA図に示したような異なる収斂点P′およ
びP#を各々有する同心円アレイ−Jおよびコ!は、そ
れぞれ第ダB図、第ダC図の元スポットのパターンLP
j、 LP≦で示されえような湾曲物体を測定する丸め
に用いられ得る。
びP#を各々有する同心円アレイ−Jおよびコ!は、そ
れぞれ第ダB図、第ダC図の元スポットのパターンLP
j、 LP≦で示されえような湾曲物体を測定する丸め
に用いられ得る。
第参図およびS[41A図から明らかなよう虻。
互に逆の湾曲面0/およびCλは、外側の円形光源アレ
イコ3を用いた時だけ同じ光スポツトツバターンを作る
。円錐光パターンON!および01FIJ Kよって作
られた第JIB図νよび第ea図の光スポットのパター
ンから明らかなように。
イコ3を用いた時だけ同じ光スポツトツバターンを作る
。円錐光パターンON!および01FIJ Kよって作
られた第JIB図νよび第ea図の光スポットのパター
ンから明らかなように。
内側の円形光源アレイλ!は湾曲面0/と01の差であ
る。
る。
光源−一の平行直線アレイコ4およびJりは。
板3りおよび3デから成るような第j人図に示した物体
3Sの縁または隅の継ぎ目Sの位置および方位をモニタ
するための構成を提供する。
3Sの縁または隅の継ぎ目Sの位置および方位をモニタ
するための構成を提供する。
光源ココの逐次作動に応答して物体J!から反射された
元ビームは第、tBrI!Jの光スポットのパターンL
Pりを作る。直線アレイコ4およびコクに関連したi線
光スポット・パターンは、光源コ2と板Jりおよび3?
の表面との距離が等しいならば、平行である。物体3!
から反射された光ビームに応答してトランスジューサ3
0によってマイクロプロセッサ40へ供給される物体位
置および方位情報を利用して、物体33に対する工具り
Jまたはその逆に工具グーに対する物体3jを位置決め
することができる。
元ビームは第、tBrI!Jの光スポットのパターンL
Pりを作る。直線アレイコ4およびコクに関連したi線
光スポット・パターンは、光源コ2と板Jりおよび3?
の表面との距離が等しいならば、平行である。物体3!
から反射された光ビームに応答してトランスジューサ3
0によってマイクロプロセッサ40へ供給される物体位
置および方位情報を利用して、物体33に対する工具り
Jまたはその逆に工具グーに対する物体3jを位置決め
することができる。
第を図において、コンパクトな汎用非接触近接検知@@
100を形成するために、光[ココの汎用X−Yアレイ
Jllはトランスジエーサgo、*/D変換回路!コ、
マイクロプロセラ、す回路40および光源作動回路6J
のLEIエチップtoと一緒に用−られることができる
、X−Yアレイコ亭は、一定形状の物体に対してマイク
ロプロセッサ回路によって指定されるような様々の逐次
光ビーム・パターンを選択させる。
100を形成するために、光[ココの汎用X−Yアレイ
Jllはトランスジエーサgo、*/D変換回路!コ、
マイクロプロセラ、す回路40および光源作動回路6J
のLEIエチップtoと一緒に用−られることができる
、X−Yアレイコ亭は、一定形状の物体に対してマイク
ロプロセッサ回路によって指定されるような様々の逐次
光ビーム・パターンを選択させる。
第1図はこの発明の視覚検知装置の概略図。
第1図は第1図の視覚検知装置に対して異なる3つの位
置Ktかれた物体から反射された光ビームのパターンを
示す図、第jA図と第、7B図は第1図の物体の方位を
変えた場合の図、第参図および第41Av!Jないし第
ダO図並びに第3A図および9711図は別な光源アレ
イを示す図。 第6図は第1図の変形例の概略図である。 30と33は物体、IQは視覚検知装置、100d非接
触近接検知装置、−一は光源。 4−2は光源作動回路、shoはトランスジューサ。 !コはA/D変換回路、10はマイクロプロセッサ回路
、4IQは光学系、xiは光検知面、70は工作機械制
御回路、クコは工具、J7は円形アレイ、コJとコ!は
同心の第1および第1の円形アレイ、Xは軸、コロとコ
クは平行なアレイ、コ参はX−Yアレイ、!OはLSI
チップである。 ;−1 1・
置Ktかれた物体から反射された光ビームのパターンを
示す図、第jA図と第、7B図は第1図の物体の方位を
変えた場合の図、第参図および第41Av!Jないし第
ダO図並びに第3A図および9711図は別な光源アレ
イを示す図。 第6図は第1図の変形例の概略図である。 30と33は物体、IQは視覚検知装置、100d非接
触近接検知装置、−一は光源。 4−2は光源作動回路、shoはトランスジューサ。 !コはA/D変換回路、10はマイクロプロセッサ回路
、4IQは光学系、xiは光検知面、70は工作機械制
御回路、クコは工具、J7は円形アレイ、コJとコ!は
同心の第1および第1の円形アレイ、Xは軸、コロとコ
クは平行なアレイ、コ参はX−Yアレイ、!OはLSI
チップである。 ;−1 1・
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 l 非接触法によシ1体の物理的位置および方位を検出
するための装置であり。 前記物体から間隔をおいて配置された多数の光源と。 これらの多数の光源へ動作時に接続され。 前記光源を逐次作動させて一連の光ビームを前記物体に
当てさせる光源作動手段と。 前記物体に対して位置決めされ、前記物体で反射された
光ビームを受けてその各々を示す出力信号を発生するた
めの光応答トランスジューサ手段と。 前記出力信号に応答して前記物体の位置および方位を検
出するための信号処理手段と。 を備えた装置。 ユ 物体とトランスジューサ手段の関に配置され1反射
された元ビームを前記トランスジューサ手段へ結像させ
るための焦点合わせ手段を更に備えた特許請求の範囲第
7項記載の装置。 遣 トランスジューサ手段は1元検知面を有、しかつ反
射された各党ビームに応答して出力信号を発生し、各出
力信号がそれぞれの反射光ビームの当った光感短面上の
位置を示す特許請求の範囲第1項記載の装置。 嘱 トランスジューサ手段によって発生された出力信号
の値は、一体の表面の反射特性を示す特許請求の範囲第
7項記載の装置。 j 信号処理手段は、光源作動手段の動作を制御する九
めの記憶されたプログラムを有し成る時点で1個の光源
だけが作動されるように前記プログラムに応じて多数の
光源を逐次作動させるためのマイクロプロセッサ回路手
段、Jr含み、このマイクロプロセッサ回路手段は。 トランスジューサ手段によって発生された出力信・号に
応答して物体の位置および方位を示す信号を発生する特
許請求の範囲第1項記載の装置。 乙 物体は動作時にこれと関連する工具手段を含み、信
号処理手段は前記物体の位置および方位に応答して前記
工具手段と前記物体の相対位置決めを制御する特許請求
の範囲第1項記載の装置。 Z 多数の光源は円形プレイを構成し、この円形プレイ
は収斂する光ビームを投射するように位置決めされ、前
記光源忙よって発せられた光ビームに円錐光ビームのパ
ターンを形成させる特許請求の範囲第1項記載の装置。 l 、多数の光源は同心の第7および第一の円形アレイ
を構成し、各円形アレイは収斂する光ビームを発する光
源を含み、前記第1および第一のプレイは各円形アレイ
のそれぞれの光源によって逐次発せられ九光ビームに、
共通の軸を中心として同心の円錐光ビームのパターンを
形成させるように位置決めされる特許請求の範囲第7項
記載の装置。 デ 多数の光源は少なくとも一つの平行な行の光源から
成るアレイを構成する特許請求の範囲第7項記載の装置
。 io 多数の光源は1次元アレイの光源を構成し。 光源作動手段は所定のシーケンスで前記光源を特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の装置。 l/、トランスジューサ手段は一次元の光検知面を有し
、多数の光源は、これらによって逐次発せられた光ビー
ムに、前記党感知面と垂直である軸を有する円錐光ビー
ムのパターンを形成させるように位置決めされた円形ア
レイを構成する特許請求の範囲第3項記載の装置。 72 光源は、toonmないし/、0θQ nmの
範囲の波長を持つ赤外線発光ダイオードである特許請求
の範囲第3項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/278,518 US4427880A (en) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | Non-contact visual proximity sensing apparatus |
US278518 | 1981-06-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS586404A true JPS586404A (ja) | 1983-01-14 |
Family
ID=23065285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57110068A Pending JPS586404A (ja) | 1981-06-29 | 1982-06-28 | 物体の物理的位置および方位を検出するための装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4427880A (ja) |
JP (1) | JPS586404A (ja) |
KR (1) | KR840000813A (ja) |
BE (1) | BE893699A (ja) |
CA (1) | CA1195408A (ja) |
ES (1) | ES8308086A1 (ja) |
IE (1) | IE53298B1 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59188509A (ja) * | 1983-04-11 | 1984-10-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 物体の位置および形状認識方法 |
JPH05126524A (ja) * | 1990-10-22 | 1993-05-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 光学的位置決定システム |
JP2001124513A (ja) * | 1999-10-25 | 2001-05-11 | Totani Corp | プラスチックフィルムのヒートシール位置検出装置 |
JP2001188006A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-10 | Totani Corp | プラスチックフィルムのヒートシール位置検出装置 |
JP2006119074A (ja) * | 2004-10-25 | 2006-05-11 | Pentax Corp | 位置検出装置 |
JP2008268181A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-11-06 | Casio Comput Co Ltd | プロジェクタ |
US7980703B2 (en) | 2007-03-26 | 2011-07-19 | Casio Computer Co., Ltd. | Projector |
Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58167902A (ja) * | 1982-03-30 | 1983-10-04 | Agency Of Ind Science & Technol | 物体検出装置 |
JPS58202751A (ja) * | 1982-05-20 | 1983-11-26 | Agency Of Ind Science & Technol | 大口径金属鏡の超精密切削加工法 |
US4520388A (en) * | 1982-11-01 | 1985-05-28 | General Electric Company | Optical signal projector |
US4576481A (en) * | 1982-12-13 | 1986-03-18 | Position Orientation Systems, Ltd. | Passive optical position measurement system |
US4574199A (en) * | 1983-01-27 | 1986-03-04 | Diffracto Ltd. | Sensing location of an object |
JPS6042725A (ja) * | 1983-08-18 | 1985-03-07 | Olympus Optical Co Ltd | 焦点検出装置 |
DE3342675A1 (de) * | 1983-11-25 | 1985-06-05 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von objekten |
US4694186A (en) * | 1984-09-10 | 1987-09-15 | Canon Kabushiki Kaisha | System for photoelectric detection |
US4700045A (en) * | 1985-04-30 | 1987-10-13 | Chesapeake Laser Systems, Inc. | Seam tracking system with acousto-optical scanner |
US4647193A (en) * | 1985-06-10 | 1987-03-03 | Rca Corporation | Optical target ranging apparatus |
US4694153A (en) * | 1985-10-29 | 1987-09-15 | California Institute Of Technology | Linear array optical edge sensor |
NL8503182A (nl) * | 1985-11-19 | 1987-06-16 | Philips Nv | Inrichting voor het langs optische weg meten van een oppervlakteprofiel. |
CA1266562A (en) * | 1986-09-24 | 1990-03-13 | Donald Stewart | Distance measuring apparatus |
FR2605401B1 (fr) * | 1986-10-20 | 1992-04-17 | France Etat Armement | Procede et dispositif optoelectronique de mesure en temps reel de mouvements d'une structure solide soumise a l'effet d'un fluide |
JPH0191960A (ja) * | 1987-09-30 | 1989-04-11 | Mitsubishi Electric Corp | 産業用ロボット装置 |
US4880992A (en) * | 1987-10-08 | 1989-11-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Non-contacting measuring system for precision characteristics, particularly of industrial robots |
US4972093A (en) * | 1987-10-09 | 1990-11-20 | Pressco Inc. | Inspection lighting system |
US5072127A (en) * | 1987-10-09 | 1991-12-10 | Pressco, Inc. | Engineered video inspecting lighting array |
US4876455A (en) * | 1988-02-25 | 1989-10-24 | Westinghouse Electric Corp. | Fiber optic solder joint inspection system |
US4988202A (en) * | 1989-06-28 | 1991-01-29 | Westinghouse Electric Corp. | Solder joint inspection system and method |
US5164994A (en) * | 1989-12-21 | 1992-11-17 | Hughes Aircraft Company | Solder joint locator |
US5064043A (en) * | 1990-04-10 | 1991-11-12 | Cincinnati Incorporated | Vision system |
US5215423A (en) * | 1990-09-21 | 1993-06-01 | Edelhoff Polytechnik Gmbh & Co. | System for determining the spatial position of an object by means of a video optical sensor |
US5420689A (en) * | 1993-03-01 | 1995-05-30 | Siu; Bernard | High speed illumination system for microelectronics inspection |
US5424838A (en) * | 1993-03-01 | 1995-06-13 | Siu; Bernard | Microelectronics inspection system |
US5507455A (en) * | 1993-12-28 | 1996-04-16 | Yang; Ro-King | Automatic control device for flying state of remote-control toy airplane |
US5703677A (en) * | 1995-11-14 | 1997-12-30 | The Trustees Of The University Of Pennsylvania | Single lens range imaging method and apparatus |
US5757498A (en) * | 1996-05-30 | 1998-05-26 | Klein, Ii; Richard J. | Optical spray coating monitoring system and method |
US5883706A (en) * | 1996-12-05 | 1999-03-16 | Northrop Grumman Corporation | Multiplexer for laser ranging devices and the like |
US5857625A (en) * | 1996-12-30 | 1999-01-12 | The University Of Northern Iowa Foundation | Paint gun incorporating a laser device |
US5868840A (en) * | 1996-12-30 | 1999-02-09 | The University Of Northern Iowa Foundation | Paint gun incorporating a laser device |
GB9828473D0 (en) | 1998-12-24 | 1999-02-17 | British Aerospace | Non-contact positioning apparatus |
US6618123B2 (en) * | 2000-10-20 | 2003-09-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Range-finder, three-dimensional measuring method and light source apparatus |
US6730926B2 (en) * | 2001-09-05 | 2004-05-04 | Servo-Robot Inc. | Sensing head and apparatus for determining the position and orientation of a target object |
US7724609B2 (en) * | 2004-03-25 | 2010-05-25 | Wagner Spray Tech Corporation | Sonic cup gun |
US7244464B2 (en) * | 2004-03-25 | 2007-07-17 | Wagner Spray Tech Corporation | Spray gun with range finder |
FR2938908B1 (fr) * | 2008-11-24 | 2011-01-21 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de mesure de la position d'au moins un objet en mouvement dans un repere a trois dimensions |
FI125320B (en) | 2012-01-05 | 2015-08-31 | Helmee Imaging Oy | ORGANIZATION AND SIMILAR METHOD FOR OPTICAL MEASUREMENTS |
EP2939253A4 (en) * | 2012-12-28 | 2016-08-24 | Cold Plasma Medical Technologies Inc | METHOD AND DEVICE FOR PROCESSING CONTROL IN MEDICAL COLD LASMA DEVICES |
-
1981
- 1981-06-29 US US06/278,518 patent/US4427880A/en not_active Expired - Fee Related
-
1982
- 1982-06-10 IE IE1386/82A patent/IE53298B1/en unknown
- 1982-06-22 KR KR1019820002785A patent/KR840000813A/ko unknown
- 1982-06-28 ES ES513525A patent/ES8308086A1/es not_active Expired
- 1982-06-28 CA CA000406077A patent/CA1195408A/en not_active Expired
- 1982-06-28 JP JP57110068A patent/JPS586404A/ja active Pending
- 1982-06-29 BE BE0/208491A patent/BE893699A/fr not_active IP Right Cessation
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59188509A (ja) * | 1983-04-11 | 1984-10-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 物体の位置および形状認識方法 |
JPH0534602B2 (ja) * | 1983-04-11 | 1993-05-24 | Nippon Telegraph & Telephone | |
JPH05126524A (ja) * | 1990-10-22 | 1993-05-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 光学的位置決定システム |
JP2001124513A (ja) * | 1999-10-25 | 2001-05-11 | Totani Corp | プラスチックフィルムのヒートシール位置検出装置 |
JP2001188006A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-10 | Totani Corp | プラスチックフィルムのヒートシール位置検出装置 |
JP2006119074A (ja) * | 2004-10-25 | 2006-05-11 | Pentax Corp | 位置検出装置 |
JP4512190B2 (ja) * | 2004-10-25 | 2010-07-28 | Hoya株式会社 | 位置検出装置 |
JP2008268181A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-11-06 | Casio Comput Co Ltd | プロジェクタ |
US7980703B2 (en) | 2007-03-26 | 2011-07-19 | Casio Computer Co., Ltd. | Projector |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR840000813A (ko) | 1984-02-27 |
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CA1195408A (en) | 1985-10-15 |
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