JPS5861730A - Ｘ線検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、少なくとも２種類の選択スイッチオン可能な
焦点を有するＸ＋？、ｄ’びと、Ｘ線管に対して２周節
される一次ビーム絞りと、像層とを有するＸ服検査装置
に関する。

Ｘ線技術において、陽枠皿が冊平面に対して傾斜が異な
る２９の焦点軌道を有するように回転陽極管を構成する
ことは通常行なわれている。これらの焦点軌道の各々に
対応して陰極が設けられている。皿平面に対する傾斜が
小さいほうの焦点軌道」二に生ずる焦点は放射状投射方
向に、すなわち像層から見て小さいほうの軸線寸法を示
すので、この焦点は、そｎ＋ｃ対１−で垂直方回にその
寸法を（陰極の相応の寸法選定により）同時に減ぜられ
て、好唸しくは、細かに示すＸ勝撮影の発生のために用
いられる。しかし、その面積が小さいため、その最大許
容線量（は他方の焦点のそれよりも小さい傾斜が大きい
ほうの焦点軌道に対応する陰極により一般にもつと大き
い焦点が生ずるので、もつと大きい線［汁で作動させる
こともできる。両焦点が種々の幾何学的場所に生じ、ま
た一方の焦点から他方の焦点への切換が一次ビーム絞−
りの調節の狂いに通ずることは、このようなＸ線検査装
置の性質である。視差ずれの場合と同様に、像層平面」
二の像層１）ｌにわずかではあるが認められる程度のず
れが生ずる。この像ずれはもちろん、両焦点の信性が離
れているほど、また焦点−絞り間の間隔と絞、り一像層
間の間隔との比を示す分数の値が小さいほど大きい。

本発明の目的は、焦点の切換の際の像層平面における像
ずれをできるかぎりわずがな費用で減少させ傅るｘ１Ｍ
検査装置を提供することである。

この目的は、本発明によれば、冒頭に記載した種類のＸ
線検査装置ｔ　において、−次ビーム絞りの絞υ板が一
方の焦点から他方の焦点への切換の際に同期して同一の
方向にかつ焦点がずれるのとほぼ同一の大きさだけずら
されることを！特徴とするＸ＆１検査波置装より達成さ
れる。それてより、像層平−面における像ずれが焦点自
体のずれよりも犬きぐなる。

一方の焦点から他方の焦点への切換の際の像層平面てお
けろ像ずれを一層減少させるため、本発明の有利な実施
態様では、像ずれがほぼ一次ビーム絞シの絞り板からの
焦点の間隔と像層からのこれらの絞り板の間隔との比だ
け、焦点切換により生ずる焦点ずれよりも小さく保たれ
ている。このような絞（）板の移勤行権の減少により一
方の然気から他方の焦点への切換の際の像層平面におけ
る像ずれを完全になくすこともできる。

簡単に事ｆ１．装備可能な構造とするため、本発明の実
施態様では、−次ビーム絞り全体がそのホルダーに対し
てずらされる。この構造では、市販されている一次ビー
ム絞りを使用することもできる。

ホルダーが一次ビーム絞りのケース内でずらされる。こ
の構造は前記の構造よりも良好（で応動し得るだけでな
く、移動要素が絞りケース内に保護されて収容されてい
るので、故障のおそれが一層少ない。

以下１図面に示されている２つの実施例により本発明の
詳細な説明する。

第１図でＸ線管２は金属製の管ケースｌのなかに支えら
れている。Ｘ線管２の内部に、軸３のまわりに回転可能
な陽極皿・１と固定の陰′ｒｊ１７．　８とが記入され
ている。陽極皿・１は皿面に対して傾斜の異なる２つの
焦点軌道５，６を有し、各々に陰極７，８が対応してい
る。管ケース１のビーム出射窓９の前に一次ビーム絞り
１０が陽極皿４の軸３に対して平行にずれ得るように管
ケース１に支えられている。−次ビーム絞り１０の内部
には、種々の面内でずれ得る絞シ板１１．　１２．　１
３゜１４．１５が示されている。絞り板により絞られて
いる。この像層は選択的（でＸ線イメージインテンノフ
ァイアの人力螢光面斗たｆｄｌｌ！フイルム力七ン］・
におさめら力、たフィルム板である。像層１７と一次ビ
ーム絞り１０との間に被検患者１８が示されている。第
１図には、外侮１の焦点軌道に対応する陰極７がスイッ
チオンさ八た状態が示されて層る。電子ビーム１９は破
線で示さ九ている。焦点２　ｏから出光して絞り板によ
り像層１７の−１−に絞１−　ｈ　：ｊｔｃビー１、コ
ーン１６は２つの実線により示されている。

一次ビーム絞り（づ１、第１図かられかるように、青ケ
ース１に固定さす１．／こフランジ状のホルダー２１の
なかに陽極間・１の軸３に対して平行にずｔ′１゜得る
ように支えられている。−次ビーム絞りは圧縮ばね２２
により、プランジャ形電磁石２４のプランジャ２：３を
ストッパ２５に押刊ける終端位置に押される。電磁石２
４が励（区されると、プランジャ２：３（佳−次ビーム
絞Ｉｌｌ　１．　Ｏのケース２Ｇを圧縮ばね２２の力に
抗してもう１つのストッパ２７に当接さぜる。両ストッ
パ２５，２７の位（をは止めナラ１−２８．　２０．　
３０．　３］により設定可能である。

第１図に示さルてｂるように、傾斜が大きいほうの焦点
りσＬ道５に対応する陰極７がスイッチオンされて照射
が行なわれる際には、電磁石２４は無電流状態にとどま
る。−次ビーム絞ジ１０のケース２Ｇｉは圧縮げね２２
により第１図（ｌこ示されている左４ｎ１１終端位置に
押さ′ｈた状態すなわち電０６石２４のプランジャ２３
が左側ストッパ２５知押付けられた状態に保たれる。焦
点から光するｘａビームコーンＩ６ｉづ：このストッパ
２５ｆ：介して像層１７に対して、絞、り板１１．　１
２．　１３，１４゜１５が適当にさらに開いたときに像
層Ｉ７の全フィールドが縁交差なしに正確に照射される
ように設定可能である。

い寸検査状態がＸ線撮影のなかに留められるべきであれ
ば、一層細かい細部の検査のため傾斜の小さいほうの焦
点軌道６に対応する陰極８へ切換えられ得る。こうして
生ずるビームコーン３２け、−次ビーム絞り１（）がず
らされない場合には、第１図に破線で示されている輪郭
を有し、像層−１−の他のフィールドを照射することに
なろう。これを避けろため、他方の陰性１８七同期して
′ｆ１５：　（＋ｊｊ、石２１石室１が印加される。電
１磁石２・１にそのプランジャ２３により一次ビームＭ
　リＩ　（＋のケース２６を圧縮ばね２２の力に抗し７
て第１図中で右側の設定可能なストッパ２７に押ｆりけ
る。このストッパの位置（づ１、焦点のす１換により生
ずるη「し−ビームコーンが、−次ビーム絞り１０がず
らされ、ない場合よりも少なくすらさ八るようＶＣ調節
されている。

−次ビーム絞り１０を特定の大きさだけ第１図で見て右
方にずらせば、１１．１１斜の小さいほうの焦点軌道６
への電子の衝突点から出発する新しいビームコーンが像
層平面内で実線で示さｒｔでいるビームコーン１６と同
一の像境界に当るようにすることさえ−ａＪ−能である
。

を示す。この場合、絞りケース３４はＸ線管ケース１に
移佃１不能に固定的にフランジ結合されており、そのか
わり絞り板３５．　３Ｂ、　　３７．　３８゜３９．４
０，４］が全体として一次ビーム絞り３３の絞りケース
３４のなかでずれ得る。第２図かられかる」：うに、案
内ｉ’１２が一次ビーム絞り３３の基板１３の上に数例
けられており、この案内棒にトンネル状の絞９保持器４
１が長手方向のずれ可能に支えられている。案内棒７１
．２と反対の側に絞り保持器４１は、第３図に示されて
論るように、案内軸（で対して平行に向けられたスリッ
ト４５を有する。スリット１５のなかＫ、基板４３に高
さ調節ｉ」能に支えられた合成樹脂滑動片４Ｇが入り込
んでいる。絞り保持器４４とならんで、ギアモータ４７
が基板１３の」−に取イ」けられている。その駆動１曲
・１８に偏心体１９が取付けられてめる。この偏心体は
連行板５１の孔５０のなかに入り込んでいる。この連行
板は絞り保持器４４と休１１）がほぼ’＝ＭＬ　Ｏ−な
しに回転しイ！するように選５ｉｆさｎている。絞り保
持器１４のトに、図示さ八ていない仕方で１個々の絞り
板３５．　３　（：、　　３７．３８゜３９．４０，４
　］に１１する移動要素が４ｙ付けられている。さらに
、絞り保持器にｄ、２゛つのマイクロスイッチ５２　、
　５３が取イ」けら′ｊ１．ており、それらの切換コー
ル５４．！’５５は基板１：３の−１−に改付けられた
切）カアングル５（３と対向して作動する。

第２図および第；３図に示した一次ビーム絞り３３はｉ
ｌｆケース］のフランジ状に構成されたビーム出射窓９
（Ｃ移動不ｔ１ｅ’　Ｋ取イτｊけらね、　：（４４る
。Ｘ線管２におけろ一方の然気から他方の焦点への切換
の際、ギアモータ４７がそ〕ｔぞれ他のマイクロスイッ
チ５２　、　５３を介してスイッチオンされろ。それ（
でよりギアモータは偏心体４　Ｆ）を回転させ、その回
転に伴い連行板５］および軟り保持器１４を、マイクロ
スイッチを介してギ゛アモータ４７が停止される捷です
ら＋、絞り保持器に取イ・］けらハている絞り板３５，
３イｉ、３７，３８．３り、　　／ＩＯ。

４１ばその移動機構ど一路にこのようにして、選択され
た新しい焦点に対して中心を合わされ乙ので、絞ら八た
ビーｌ、コーン］６は像層平面内でイ４り点切換前と同
一の面要素に当る。特定のフィルムまたは像フォーマッ
ト−にの絞り板の設定はここから触れら九ずにとど捷る
。絞り保持器１４に対して相対的なマイクロスイッチ５
２　、　５３のずれにより、ギアモータ／１７の停止点
は、停止位置の相互間隔全偏心体の最大行程よりも小さ
くするようにも定めらノｔイ（ｆる。

【図面の簡単な説明】

第１図は一次ビーム絞りが全体としてず、１１．得ろ本
究明に、ＬるＸ緋検査装置におけるビーム経路の概要図
、第２１ン１は絞りの対称軸線が絞りケース内でずれ得
る一次ビーム絞りの断面図、第３図は第２図の線＋＋＋
−ｍに沿う断面図である。 １・・′Ｕケース、２・・Ｘ線管、３・・回転軸、４・
・Ｉ場イ奎皿、５，６・・・焦点軌道、７，８・・陰極
、９・・出射窓、１０・・−次ビーム絞り、１１〜１５
・・絞り仮、１６・・ビームコーン、１７・・像層、１
８・・患者、１９・・電子線、２０・・・焦点、２Ｉ・
・ホルダー、２２・・圧縮ばね、２３・・・グランジャ
、２４・・プランジャ形’ｔＪＹ　（厩石、２５・・ス
トッパ、２６・・絞りケース、２７　・ス）・ツバ、２
８〜３】・・１１ユめメツト、：３：３・・−次ビーム
絞り、３１・・絞りケース、３５〜１■・・絞り板、７
Ｉ２・・案内棒、４３・・・基板、４４・・絞り保持器
、４５・・スリット、４６　・滑動片、７Ｉ７・・ギア
モータ、／Ｉ８・・駆動軸、１９・・偏心体、５０・・
孔、５１・・・連行板＋　　５２１　５３・・マイクロ
スイッチ、５４．、　５５・・切換ロール、５６・・切
換アングル。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）少くとも２４’＋ｆｉ　順の選択スインチオン可能
   な焦点を有するＸ線管と、Ｘ線管に対して調節される一
   次ビート絞りと、像層とを有するＸ線検査装置において
   、−次ビーム絞１ｊ（１−０゜３３）の絞り板（Ｉｌ、
   、１２．．１３，１４゜１５、　３５．　３ｒｉ、　　
   ３７．　　；３８．　３９．４０゜４１）が一方の焦点
   から他方の焦点（２０）への切換に際［７て同期して同
   一の方向（にかつ焦点がずれるのとほぼ同一の大きさだ
   けずらされることをＩ特徴とするＸ線検査装置。 ２）像ずれがほぼ一次ビーム絞り（１（Ｊ、３３）の絞
   り板（］、ｌないし１１．）　＋　　３　Ｌ）な−１，
   ／Ｉ　、１．　）からの焦点（２０）の間隔と像層（１
   ７）からのこれらの絞り板の間１′４との比だけ、焦点
   切換により生ずる焦点ずれＪ、ジも小さく保た１項記載
   のＸ線検査装置。 ３）−次ビート絞り（］０）全体がそのホルダー　（２
   １）に対してずらされることを特徴とする特許請求の範
   囲第１項記載のＸ線検査装置。 １）絞り板ホルダー（／１．４　）が−次ビーム絞す（
   ３３）のケース（３４）内でずらされることを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項記載のＸ線検１！ｉ：装置。 ５）ずれ行程がストッパ（２５，２７，４９゜５（Ｊ）
   により制限されていることを特徴とする特許請求の範、
   囲第３墳７トたは第４項記載のＸ＆！検査装置。 に）ずれがプランジャ形電磁石（２４）を介して行なわ
   れることを特徴とする特許請求の範囲第３項または第４
   項記載のｘ、ｌｉｔ検査装置。 ７）ずれが偏心体（４り　）を介して行なわれることを
   特徴とする特許請求の範囲第３項また８）偏心体（１９
   ）が電動機により回転されることを特徴とする特許請求
   の範囲第７項記載のＸ線検査装置。