JPS5853362U - 電子顕微鏡等の試料磁区構造観察装置 - Google Patents

電子顕微鏡等の試料磁区構造観察装置

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JPS5853362U
JPS5853362U JP12313681U JP12313681U JPS5853362U JP S5853362 U JPS5853362 U JP S5853362U JP 12313681 U JP12313681 U JP 12313681U JP 12313681 U JP12313681 U JP 12313681U JP S5853362 U JPS5853362 U JP S5853362U
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JP
Japan
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magnetic domain
structure observation
electron microscopes
sample
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JP12313681U
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Inventor
青木　好則
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日本電子株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例を示す断面図、第２図はコア
のＡ−Ａ’断面図である。 １：上磁極、２：下磁極、３ニスペーサ−１４：穴、５
：試料、６：試料ホルダー、７：光軸、８：支持部材、
９：回転体、１０：コア、Ｉ　Ｉｓ、　　Ｉ　ＩＮ：磁
極、１２ａ、　　１２ｂ、　　１３ａ、　　１３ｂ、電
子線通過孔、１４：コイル、１５：プーリー、１６：回
転軸、１７：プーリー、１８：ベルト。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料位置を略中心として配置され、一対の磁極を有した
    中空コアと、該コアに巻回された励磁コイルと、該コア
    を該試料を略中心として回転させるための機構とを備え
    、該コアに電子線通過孔を設けて成る電子顕微鏡等の試
    料磁区構造観察装置。
JP12313681U 1981-08-20 1981-08-20 電子顕微鏡等の試料磁区構造観察装置 Granted JPS5853362U (ja)

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JPS5853362U true JPS5853362U (ja) 1983-04-11
JPS6328520Y2 JPS6328520Y2 (ja) 1988-08-01

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002080218A1 (fr) * 2001-03-29 2002-10-10 Japan Science And Technology Corporation Systeme d'observation d'un echantillon avec application d'un champ magnetique
JP2012129137A (ja) * 2010-12-17 2012-07-05 Hitachi Ltd 磁場印加試料保持装置およびそれを用いた荷電粒子線装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS422007Y1 (ja) * 1965-02-17 1967-02-07

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JPS6328520Y2 (ja) 1988-08-01

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