JPS5852756A - Correcting method for diagnostic data - Google Patents

Correcting method for diagnostic data

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JPS5852756A
JPS5852756A JP56151054A JP15105481A JPS5852756A JP S5852756 A JPS5852756 A JP S5852756A JP 56151054 A JP56151054 A JP 56151054A JP 15105481 A JP15105481 A JP 15105481A JP S5852756 A JPS5852756 A JP S5852756A
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JP
Japan
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dictionary
diagnostic
scan
fault
diagnostic data
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JP56151054A
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JPS624743B2 (en
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Yasunori Hiraoka
平岡 康紀
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing

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Abstract

PURPOSE:To shorten the correction time of a diagnostic dictionary by using a fault dictionary as it is, and varying the number of scan-out clocks, a scan-out address, and a normal value directly without the intervention of fault simultation. CONSTITUTION:Existent diagnostic data for a block number (i) of an objective to be corrected and new diagnostic data after correction are each ccomposed of a test input A and a diagnostic dictionary B, which consists of the numbers (n) and (m) of scan-out clocks, scan-out addresses (a) and (b), normal values (x) and (y), and a fault dictionary alpha as a minimum unit. Solid-line arrows E show data used as new diagnostic data without modification, and broken-line arrows E' show data which should be corrected attending hardware changes. The correction is made without intervention of fault simulation, so the processing time is shortened.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、機能診断方式によって情報処理装置の故障診
断を行なう際使用する診断データを簡易に修正する方法
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for easily modifying diagnostic data used when diagnosing a failure of an information processing apparatus using a functional diagnosis method.

近年、あらゆる分野で情報処理装置の使用が拡大し、そ
の装置が故障した場合の社会的影響も益々大きくなって
いる。このため装置が故障したときr/C素早くその故
障位置を指摘する故障診断技術も益々重要になってきて
いる。
In recent years, the use of information processing devices has expanded in all fields, and the social impact when such devices break down has become increasingly large. For this reason, failure diagnosis technology that quickly points out the location of a failure in a device using an R/C is becoming increasingly important.

情報処理装置の故障診断方法の一つに機能診断と呼ばれ
るものがある。これはハードウェアの機能を通常のプロ
グラム走行時と同じように動作させながら、ハードウェ
アに故障が有るときと無いときの各部入出力信号状態を
監視し、その結果から故障位置を求める診断方法であり
、装置に付加される診断制御用のハードウェア量が少な
くて済む利点がある。
One of the failure diagnosis methods for information processing devices is called functional diagnosis. This is a diagnostic method that monitors the input/output signal status of each part when there is a hardware failure or not, while operating the hardware functions in the same way as when running a normal program, and uses the results to determine the location of the failure. This has the advantage that the amount of diagnostic control hardware added to the device can be reduced.

この機能診断方式ではハードウェアの機能を十分にテス
トするための入力条件のと、該入力条件により検出しう
る故障群の対応リスト等■が必要である。一般には、■
をテスト入力、■を診断辞書、そして■と■を合わせた
ものを診断データと呼ぶ。詳しく太うと、機能診断を行
うには、■被診断装置の状態設定、■動作命令の設定、
■クロック歩道、■被診断装置の状態続出(以下、この
ことをスキャンアウトと呼ぶ)、■読出した状態が正常
(無故障)状態と異なっていれば故障辞書を索引する、
という一連の手続が必要であるが、このうち■〜■がテ
スト入力のと呼ばれ、一般には診断設計者が各条件を指
定する。■〜■が診断辞書■であり、これはスキャンア
ウト時のクロック数、スキャンアウトポイントを示すア
ドレス、正常状態時の論理値(正常値)及び故障辞書か
ら成る。故障辞書■〜■の手続きを入力として、ハード
ウニアシミニレージ璽ンあるいはソフトウエアシミエレ
ーシlンにより求められる。
This function diagnosis method requires input conditions for sufficiently testing the functions of the hardware, and a corresponding list of failure groups that can be detected based on the input conditions. In general, ■
is called test input, ■ is called a diagnostic dictionary, and the combination of ■ and ■ is called diagnostic data. In more detail, in order to perform a functional diagnosis, you need to: ■ set the status of the device to be diagnosed, ■ set the operation commands,
■Clock walking, ■Continuously checking the status of the device to be diagnosed (hereinafter referred to as scanout), ■If the read status is different from the normal (fault-free) status, indexing the fault dictionary;
A series of procedures are required, among which steps ① to ② are called test input, and the diagnostic designer generally specifies each condition. ① to ② are the diagnostic dictionary ②, which consists of the clock number at the time of scan-out, an address indicating the scan-out point, a logical value (normal value) in a normal state, and a fault dictionary. Using the procedures in the fault dictionary ■ to ■ as input, it is determined by hardware or software simulation.

ところで、上述した診断辞書の作成方法には、(イ)正
常なる診断対象装置に擬似故障を挿入した状態でテスト
入力を与え、そのときの応答状態から診断辞書を作成す
るハードウニアシミニレージ曹ン方法と、(→コンピュ
ータシステム内に診断対象装置の回路情報を展開し、テ
スト人力に対して故障シミュレーションを行い、そのテ
スト人力が検出する故障群を求めることから診断辞書を
作成するソフトウエアシミエレーシ冒ン方法とがあり、
大形の装置では(鴫の方法を用いるのが一般的である。
By the way, the above-mentioned method for creating a diagnostic dictionary includes (a) a hardware simulation method in which a test input is given to a normal device to be diagnosed with a simulated fault inserted, and a diagnostic dictionary is created from the response state at that time; (→Software simulation that deploys the circuit information of the device to be diagnosed in a computer system, performs a fault simulation on the human test personnel, and creates a diagnostic dictionary by determining the group of failures detected by the human test personnel. There is a method of blasphemy,
For large-scale equipment, it is common to use the Shizu method.

このfP)の方法で診断辞書を作成することを故障シミ
ュレーショント呼フ。
Creating a diagnostic dictionary using this fP) method is a fault simulation tool.

一般に、故障シミエレーシ璽ンによる診断辞書の作成に
は膨大な計算機処理時間を必要とする。
Generally, creating a diagnostic dictionary based on fault simulation requires an enormous amount of computer processing time.

経験によれば超大形計算機の中央処理装置(約15万ゲ
ートのcpu )を約100の回路ブロック(加算機、
乗算器等)に分け、各回路ブロックに対する診断辞書を
故障シミュレーションにより作成するには、1プ四ツク
当り約5時間、全体で500時間程度の計算時間を必要
とする。この方法で一旦診断辞書が作成されたのちに、
診断対象となる情報処理装置側にハードウェア変更が生
じると、従来は変更に関連する回路ブロック(複数の場
合が多い)の診断辞書を再び故障シミエレーシ璽ンによ
り梓成し直している。しかしながらこの様にすると診断
データの修正に多大な工数がががってこれがユーザへの
提供時期の遅れとなり、この間ユーザ側に診断プログラ
ムが存在17ない時期が生じてMTTR(平均修理時間
)の低下をもたらすという問題が生ずる。
According to experience, the central processing unit of a super-large computer (CPU with about 150,000 gates) consists of about 100 circuit blocks (adders,
Multipliers, etc.) and creating a diagnostic dictionary for each circuit block by fault simulation requires approximately 5 hours of calculation time for each circuit block, or approximately 500 hours in total. Once a diagnostic dictionary has been created using this method,
When a hardware change occurs in an information processing device to be diagnosed, conventionally, the diagnostic dictionary for the circuit block (often a plurality of blocks) related to the change is re-compiled by fault simulation. However, if this is done, a large amount of man-hours will be required to correct the diagnostic data, which will delay the provision of the data to the user.During this time, there will be periods when the user does not have the diagnostic program17, resulting in a decrease in MTTR (Mean Time to Repair). The problem arises that

ところが過去の例にみられるハードウェアの変更内容を
本発明者等が詳細に検討してみると、ハードウェア変更
により診断辞書は変更となるが、診断辞書内の故障辞書
は変更しないでそのま\使用できる場合が少なからずあ
ることが見い出された0例えば、回路ブロックが追加さ
れである回路ブロックIc到るまでのクロック数に変更
があった場合には、該追加回路ブロックが独立的なもの
であれば回路ブロックIK対する診断辞書内のスキャン
アウトクロック数のみが変更となり、他の診断辞書内の
内容は変更がない、更に一般化すれば、既存の診断辞書
を構成する要素のうちスキヤシアウトクロック数、スキ
ャンアウトアドレス、正常値のいずれか1つ又は複数を
修正するだけで故障シミエレーシ璽ンを行なって故障辞
書を修正しなくても診断辞書の修正が可能となるケース
があるということである。
However, when the present inventors examined in detail the contents of hardware changes seen in past examples, it was found that although the diagnostic dictionary was changed due to the hardware change, the fault dictionary within the diagnostic dictionary remained unchanged. For example, if a circuit block is added and the number of clocks required to reach a certain circuit block Ic is changed, the additional circuit block may be an independent one. If so, only the number of scan-out clocks in the diagnostic dictionary for circuit block IK will be changed, and the contents in other diagnostic dictionaries will not be changed.More generalizing, if the number of scan-out clocks in the diagnostic dictionary for circuit block IK is changed, the contents in other diagnostic dictionaries will not be changed. There are cases where it is possible to modify the diagnostic dictionary by simply modifying one or more of the out-clock count, scan-out address, and normal value without performing fault simulation and modifying the fault dictionary. It is.

本発明は上記知見に基づく4ので、その特徴とするとこ
ろは情報処理装置の機能診断方式による故障診断時に使
用する、予め故障シミエレーシ冒ンによって作成した診
断辞書とテスト入力とからなる診断データを、該情報処
理装置のハードウェア変更に伴ない修正する方法におい
て、骸診断データを構成する要素のうち故障辞書はその
まま流用して他のスキャンアウトクロック数、スキャン
アウトアドレスおよび正常値を故障シミエレーシ冒ンを
経ずに直接変更する点にある。以下図面を参照しながら
これを詳細に説明する。
The present invention is based on the above-mentioned findings, and is characterized by the fact that diagnostic data consisting of a diagnostic dictionary and test inputs previously created by failure simulation, which is used when diagnosing an information processing device using a functional diagnosis method, is In the method for modifying the information processing device in accordance with hardware changes, the fault dictionary among the elements constituting the corpse diagnosis data is used as is, and other scanout clock numbers, scanout addresses, and normal values are used for fault simulation. The point is that it can be changed directly without going through the process. This will be explained in detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明方法の概略説明図で、左側が修正対象と
なるブロック番号1(回路ブロック1に対応する)K対
する既存診断データ、右側が修正後の新診断データであ
る。診断データは前述したようにテスト人力■と診断辞
書■とからなり、更に該診断辞書■はスキャンアウトク
ロック数n。
FIG. 1 is a schematic explanatory diagram of the method of the present invention, in which the left side shows existing diagnostic data for block number 1 (corresponding to circuit block 1) K to be corrected, and the right side shows new diagnostic data after the correction. As mentioned above, the diagnostic data consists of the test human power ■ and the diagnostic dictionary ■, and the diagnostic dictionary ■ has the number of scan-out clocks n.

m・・−・・・・・、スキャンアウトアドレスa 、 
b ’−−−−−−−−−1正常値XI7・・・・・・
、および故障辞書α・・曲、 を最小単位として構成さ
れる。尚、クロック数m1スキヤンアドレスb1正常値
y1・・・・・・ は故障診断を2以上の条件で行なう
場合に用いる。本発明はこの診断辞書■のうち故障辞書
αを変更せずに済む場合に適用される。図中の実線矢印
は変更を要せずに新診断データにそのまま流用できるデ
ータを示したものである。これに対し、破線矢印がノ1
−ドウエア変更に伴ない修正しなければならないデータ
であるが、これはスキャンアウトクロック数n、m・−
・・・・、スキャンアウトアドレスa、b・・・1.1
、正常値X+7・・・・・・だけである。新診断データ
中のn’ 、 E!l’ =−’・・は修正後のスキャ
ンアウトクロック数 m/ 、 b/・・・・・・は修
正後のスキャンアウトアドレス、!’*7’・・・・・
・は修正後の正常値である。これらの修正は故障シミ2
レージlンを経ずに行なえるので、その処理時間は1回
路ブロック当り僅か数分程度で済む。
m...-..., scanout address a,
b'-------1 Normal value XI7...
, and the fault dictionary α...song, is constructed as the minimum unit. Note that the number of clocks m1 scan address b1 normal value y1 . . . is used when fault diagnosis is performed under two or more conditions. The present invention is applied to the case where it is not necessary to change the fault dictionary α of the diagnostic dictionary (2). The solid arrows in the figure indicate data that can be used as-is as new diagnostic data without requiring any changes. In contrast, the dashed arrow indicates
- This is data that must be corrected due to software changes, but this is the number of scan-out clocks n, m, -
..., scanout address a, b...1.1
, normal value X+7... n', E! in new diagnostic data l' = -'... is the number of scan-out clocks after modification m/, b/... is the scan-out address after modification, ! '*7'...
・ indicates the corrected normal value. These corrections are for failure stains 2
Since the processing can be performed without going through a range cycle, the processing time is only about a few minutes per circuit block.

第2図は本発明の一実施例を示す処理フローで、(1)
は全体図、(b)はその変更処理プログラムの詳細図で
ある。第2図(瓢)は、既存診断データファイルからブ
ロック番号が指定された既存診断データを読出し、それ
を各種変更内容に従い変更処理プログラムKかけ、そし
て修正された新診断データを新診断データファイルに格
納する様子を示したものである。同図(b)は変更内容
指定がクロック数か、スキャンアウト アドレスか、正
常値かを判断しつつ診断データを変更する処理のフロー
を示したものである。
FIG. 2 is a processing flow showing one embodiment of the present invention, (1)
is an overall view, and (b) is a detailed view of the change processing program. Figure 2 (gourd) reads existing diagnostic data with a specified block number from an existing diagnostic data file, runs it through a change processing program K according to various changes, and then writes the modified new diagnostic data into a new diagnostic data file. This shows how it is stored. FIG. 6(b) shows the flow of processing for changing diagnostic data while determining whether the specified change is the number of clocks, a scan-out address, or a normal value.

故障辞書αけ、回路ブロックi内の1点(スキャンアウ
トポイント)でエラーが発見されたとき、その点にエラ
ーを生じさせる可能性のある全系統を導線番号群として
示すもので、これは前述した故障シミュレーションによ
り予め作成される。勿論、ハードウェアの変更内容によ
ってはこの故障辞書も故障シミュレーションによって変
更する必要が生ずる0本発明はその必要のないハードウ
ェア変更に限られる。
When an error is discovered at one point (scanout point) in circuit block i, the fault dictionary α shows all the systems that may cause an error at that point as a group of conductor numbers, which is described above. It is created in advance through failure simulation. Of course, depending on the details of the hardware change, it may be necessary to change this fault dictionary through fault simulation, but the present invention is limited to hardware changes that do not require this.

以上述べたように本発明によれば、従来故障シミュレー
ションを経て数時間を要し、ていた診断辞書の修正を僅
か数分程度に短縮できる利点があり、実用上の効果は甚
大である。
As described above, according to the present invention, there is an advantage that the correction of the diagnostic dictionary, which conventionally required several hours through failure simulation, can be shortened to about a few minutes, and the practical effect is enormous.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の概要説明図、第2図は本発明の一実施
例を示すフローチャートである。 図中、のけテスト入力、■は診断辞書、αけ故障辞書、
mF′iスキャンアウトクロック数、&はスキャンアウ
トアドレス、Xは正常値である。 出願人 富士通株式会社 代理人弁理士   青   柳      稔第1図
FIG. 1 is a schematic explanatory diagram of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart showing an embodiment of the present invention. In the figure, Noke test input, ■ is a diagnostic dictionary, α is a fault dictionary,
mF'i is the scan-out clock number, & is the scan-out address, and X is the normal value. Applicant Fujitsu Ltd. Representative Patent Attorney Minoru Aoyagi Figure 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 情報処理装置の機能診断方式による故障診断時に使用す
る、予め故障シェミレーシ曹ンによって作成した診断辞
書とテスト入力とからなる診断データを、該情報処理装
置のハードウェア変更に伴ない修正する方法において、
該診断データを構成する要素のうち故障辞書はそのまま
流用して他のスキャンアウトクロック数、スキャンアウ
トアドレスおよび正常値を故障シ&2レージlンを経ず
に直接変更することを特徴とする診断データの修正方法
In a method for modifying diagnostic data consisting of a diagnostic dictionary and test inputs created in advance by a failure simulation method, which is used when diagnosing an information processing device using a function diagnosis method, in accordance with a hardware change of the information processing device,
Diagnostic data characterized in that among the elements constituting the diagnostic data, the fault dictionary is used as is, and other scan-out clock numbers, scan-out addresses, and normal values are directly changed without going through the fault series &2 range. How to fix.
JP56151054A 1981-09-24 1981-09-24 Correcting method for diagnostic data Granted JPS5852756A (en)

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