JPH04316131A - Fault identifying method - Google Patents

Fault identifying method

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JPH04316131A
JPH04316131A JP3083789A JP8378991A JPH04316131A JP H04316131 A JPH04316131 A JP H04316131A JP 3083789 A JP3083789 A JP 3083789A JP 8378991 A JP8378991 A JP 8378991A JP H04316131 A JPH04316131 A JP H04316131A
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JP
Japan
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hypothesis
hypotheses
input sequence
output response
block
Prior art date
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JP3083789A
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Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Fujinami
藤波 努
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To specify such a fault that the process corresponding to a specific input sequence is omitted or an erroneous output response is returned and, at the same time, to identify a fault even when no sufficient data are available by deleting an hypothesis which is contradictory to the behavior of an automatic machine. CONSTITUTION:A binary adder 108 accepts an input sequence through a data input device 109 and presents a result through a data output device 110 and, when the adder 108 presents the result, writes its internal state in an internal state storage device 111. A data collecting device 103 collects the input sequence, internal state, and output response of the adder 108 as data. A hypothesis management device 104 requests a hypothesis preparing device 105 to prepare the hypothesis 106 of a fault or deletes the hypothesis of a fault which is contradictory to the collected data. The device 105 prepares the hypothesis of the fault based on the design information 101 in response to the request from the device 104 and an input sequence preparing device 107 prepares the input sequence which is the most effective for selecting the hypotheses based on the hypothesis of the fault.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は自動機械の故障同定方法
に関し、特に設計情報を利用して故障を同定する方法に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for identifying faults in automatic machines, and more particularly to a method for identifying faults using design information.

【0002】0002

【従来の技術】従来、自動機械の故障を同定する方法と
して、例えば、正常な自動機械と故障している自動機械
のモデルからなる直和機械を構成し、入力系列と出力応
答から故障を同定する方法が、「順序機械」(岩波講座
、情報科学、13(1983年)第172−177頁)
に記載されている。 この方法では、入力集合の共通な順序機械の状態遷移表
を、入力に対応する列を共通にして縦に並べることによ
り新しい状態遷移表を得、この新しい状態遷移表で表わ
される順序機械を直和機械と呼んでいる。
[Background Art] Conventionally, as a method for identifying faults in automatic machines, for example, a direct sum machine is constructed from models of a normal automatic machine and a malfunctioning automatic machine, and faults are identified from an input series and an output response. The method of
It is described in. In this method, a new state transition table is obtained by vertically arranging the state transition tables of sequential machines that have a common set of inputs with common columns corresponding to the inputs, and the sequential machine represented by this new state transition table is directly created. It is called a Japanese machine.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来技術は、特定の入力系列に対して誤った内部状態に
遷移する故障のみに触れており、特定の入力系列に対応
する処理が欠落していたり、誤った出力応答を提示する
故障については触れていない。また、上述の従来技術は
、自動機械が、入力されたすべての系列を受け付けるこ
とを前提としており、ある入力系列を受け付けられない
ために処理を中断して停止する故障については触れてい
ない。計算機システムにおいては、システムに異常が発
生した場合でも、内部状態は得ることが可能な場合が多
いのに対して、出力は得られなくなることが多い。上述
の如き事情を考えると、上記従来技術は、計算機システ
ムにおける故障の同定方法として用いるには問題が多い
。本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、従来の技術における上述の如き問題を
解消し、特定の入力系列に対応する処理が欠落していた
り、誤った出力応答を提示する故障の同定方法を提供す
ることにある。また、本発明の他の目的は、自動機械が
処理を中断して停止した場合の故障同定方法を提供する
ことにある。
[Problems to be Solved by the Invention] However, the above-mentioned prior art only deals with failures that cause a transition to an incorrect internal state for a specific input series, and the process corresponding to the specific input series is missing. It does not address failures that cause errors or produce incorrect output responses. Further, the above-mentioned conventional technology assumes that the automatic machine accepts all input sequences, and does not mention a failure in which the process is interrupted and stopped because it cannot accept a certain input sequence. In computer systems, even if an abnormality occurs in the system, it is often possible to obtain the internal state, but in many cases, the output cannot be obtained. Considering the above-mentioned circumstances, the above-mentioned conventional technology has many problems when used as a fault identification method in a computer system. The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to solve the above-mentioned problems in the conventional technology, such as missing processing corresponding to a specific input series or incorrect output response. The purpose of this invention is to provide a fault identification method that presents the following problems. Another object of the present invention is to provide a fault identification method when an automatic machine interrupts processing and stops.

【0004】0004

【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、特
定の入力系列が与えられたとき、それ自身の内部状態に
基づいて特定の出力応答を提示し、また、特定の状態に
内部状態を変更(遷移)する自動機械の故障同定方法に
おいて、前記自動機械の設計情報に基づいて故障の仮説
を生成し、前記自動機械の挙動と矛盾する仮説を削除す
ることによって故障を同定することを特徴とする故障同
定方法によって達成される。
[Means for Solving the Problems] The above object of the present invention is to present a specific output response based on its own internal state when a specific input sequence is given, and to In a fault identification method for an automatic machine that changes (transitions), a fault hypothesis is generated based on design information of the automatic machine, and a fault is identified by deleting a hypothesis inconsistent with the behavior of the automatic machine. This is achieved by a characteristic fault identification method.

【0005】[0005]

【作用】本発明に係る故障同定方法においては、設計情
報に基づいて、故障の仮説を作成し、ある入力系列を与
えたときの出力応答または内部状態を基に仮説を絞り込
んでいくので、特定の入力系列に対応する処理が欠落し
ている故障,誤った出力応答を提示する故障または正常
に終了しない故障を同定できるようになるので、従来よ
り正確に故障を同定することができる。
[Operation] In the fault identification method according to the present invention, a fault hypothesis is created based on design information, and the hypothesis is narrowed down based on the output response or internal state when a certain input sequence is given, so This makes it possible to identify faults where processing corresponding to the input sequence is missing, faults that present an incorrect output response, or faults that do not terminate normally, making it possible to identify faults more accurately than before.

【0006】[0006]

【実施例】図1に、本発明をバイナリー加算器108の
故障同定に適用した場合の一実施例を示す。本バイナリ
ー加算器は、設計情報101に示す如く機能する。設計
情報では、入力系列と出力応答を「入力系列/出力応答
」の形式で表現し、内部状態の遷移を矢印の向きで示し
ている。二重丸で示している状態は、バイナリー加算器
が正常に動作した場合に落ちつく最終的な内部状態であ
る。初期状態は常に「q0」である。本バイナリー加算
器は、正常に動作する場合、入力系列「00」に対して
「0」を出力し、内部状態「q0」で正常終了する。ま
た、入力系列「11,00」に対しては「0,1」を出
力し、内部状態を「q0」,「q1」,「q0」の順に
変更して、「q0」で正常終了する。バイナリー加算器
は、データ入力装置109を通して入力系列を受付け、
データ出力装置110を通して結果を提示する。その際
、内部状態を内部状態記憶装置111に書き込む。なお
、内部状態記憶装置111は、最後に書き込まれた状態
のみを保持する。故障同定装置102は、データ収集装
置103,仮説管理装置104,仮説生成装置105,
入力系列生成装置107から構成される。データ収集装
置103は、バイナリー加算器の入力系列,内部状態お
よび出力応答をデータとして収集する。仮説管理装置1
04は、仮説生成装置105に故障の仮説106を生成
するよう要求したり、収集したデータと矛盾する故障の
仮説を削除する。仮説生成装置105は、仮説管理装置
からの要求に応じて、設計情報101を基に、故障の仮
説を生成する。入力系列生成装置107は、故障の仮説
を基に、それらの仮説の絞り込みにもっとも効果的な入
力系列を生成する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows an embodiment in which the present invention is applied to fault identification in a binary adder 108. This binary adder functions as shown in design information 101. In the design information, the input sequence and output response are expressed in the format of "input sequence/output response", and the transition of the internal state is indicated by the direction of an arrow. The state indicated by the double circle is the final internal state that the binary adder settles into if it operates normally. The initial state is always "q0". When this binary adder operates normally, it outputs "0" for the input sequence "00" and ends normally with an internal state of "q0". Furthermore, for the input series "11,00", "0,1" is output, the internal state is changed in the order of "q0", "q1", "q0", and the process ends normally at "q0". The binary adder receives an input sequence through the data input device 109,
The results are presented through the data output device 110. At that time, the internal state is written to the internal state storage device 111. Note that the internal state storage device 111 retains only the last written state. The failure identification device 102 includes a data collection device 103, a hypothesis management device 104, a hypothesis generation device 105,
It is composed of an input sequence generation device 107. The data collection device 103 collects the input sequence, internal state, and output response of the binary adder as data. Hypothesis management device 1
04 requests the hypothesis generation device 105 to generate a failure hypothesis 106 or deletes a failure hypothesis that is inconsistent with the collected data. The hypothesis generation device 105 generates a failure hypothesis based on the design information 101 in response to a request from the hypothesis management device. The input sequence generation device 107 generates the most effective input sequence for narrowing down the hypotheses based on the failure hypotheses.

【0007】図2に、本実施例を実現するためのハード
ウェア構成を示す。本実施例に示す故障同定装置では、
前述のデータ収集装置を実現する第1のCPU201と
、仮説管理装置を実現する第2のCPU202と、仮説
生成装置を実現する第3のCPU203,入力系列生成
装置を実現する第4のCPU204,設計情報を記憶す
る第1の記憶装置205,故障の仮説を記憶する第2の
記憶装置206,ユーザからの指示を受け付ける入力装
置207,故障同定作業の結果を表示する表示装置20
8を備えている。以下、図3のフローチャートに基づい
て、本実施例に係る故障同定方法の概要を説明する。 まず、入力系列,内部状態,出力応答があるかどうかを
調べ、もしあるならばデータ収集装置103を介してそ
れらのデータを得る(ブロック31)。ここで、データ
が得られ、かつ、故障の仮説があるならば、そのデータ
と矛盾する仮説を削除する(ブロック32)。次に、故
障の仮説があるかどうかを調べ、もしないならば設計情
報を基に、故障の仮説を生成する(ブロック33)。次
に、処理を終了するかどうかを判定をする。仮説の絞り
込みが不可能になった時点で、残った仮説を解として出
力し終了する(ブロック34)。処理を終了しない場合
は、仮説を参照することにより、それらの仮説を絞り込
むためにもっとも役立つ入力系列を生成し(ブロック3
5)、生成した入力系列を機器に入力して検査する(ブ
ロック36)。以上で1つのサイクルが完了し、再びブ
ロック31に戻って検査の結果をデータ収集装置を介し
て収集する。
FIG. 2 shows a hardware configuration for realizing this embodiment. In the fault identification device shown in this example,
A first CPU 201 that realizes the aforementioned data collection device, a second CPU 202 that realizes a hypothesis management device, a third CPU 203 that realizes a hypothesis generation device, and a fourth CPU 204 that realizes an input sequence generation device. A first storage device 205 that stores information, a second storage device 206 that stores failure hypotheses, an input device 207 that accepts instructions from the user, and a display device 20 that displays the results of failure identification work.
It has 8. The outline of the fault identification method according to this embodiment will be explained below based on the flowchart of FIG. 3. First, it is checked whether there is an input sequence, internal state, and output response, and if so, their data is obtained via the data collection device 103 (block 31). Here, if data is obtained and there is a hypothesis of failure, the hypothesis inconsistent with the data is deleted (block 32). Next, it is checked whether there is a failure hypothesis, and if not, a failure hypothesis is generated based on the design information (block 33). Next, it is determined whether or not to end the process. When it becomes impossible to narrow down the hypotheses, the remaining hypotheses are output as solutions and the process ends (block 34). If the processing does not end, refer to the hypotheses to generate the input sequence most useful for narrowing down those hypotheses (block 3).
5) inputting the generated input sequence into the instrument and testing it (block 36); This completes one cycle, and the process returns to block 31 to collect test results via the data collection device.

【0008】次に、バイナリー加算器の故障を同定する
具体的な過程を示して、本発明を詳細に説明する。図4
,図5,図12,図13は、各ブロックでの処理の詳細
を示したフローチャートであり、図4は仮説管理方法(
ブロック32),図5は仮説生成方法(ブロック33)
,図12は終了判定方法(ブロック34),図13は入
力系列生成方法(ブロック35)に対応する。なお、図
6〜11は、後述する如く、本実施例において生成され
る仮説の例を示すである。バイナリー加算器が故障した
場合、はじめにデータを収集する(ブロック31)。次
の仮説の管理(図4)では、まず、仮説があるかどうか
を調べ(ブロック41)、もし仮説があれば、それらの
うちから出力応答または内部状態が矛盾する仮説を削除
する(ブロック42〜45)。仮説があってもデータが
ない場合には、仮説は削除されない。本故障同定装置を
起動した時点では、いかなる仮説も存在しないので仮説
管理は行われない。仮説を削除した場合は、その仮説の
出力応答に関する情報を後述する出力応答テーブルから
取り除く(ブロック46)。出力応答テーブルは、故障
の仮説のそれぞれについて、ある入力系列を入力したと
きに設計通りに動作するかどうかを調べたものである。 仮説の生成(図5)では、まず、仮説があるかどうかを
調べ(ブロック50)、もし仮説がなければ設計情報を
読み込んで(ブロック51)、それを変形することによ
り仮説を生成した後(ブロック52)、それ以前に得た
データと矛盾する仮説を削除して(ブロック53)、無
矛盾な仮説を得る。矛盾する仮説を削除した結果、仮説
がなくなってしまった場合、まだ仮説を生成する余地が
あるならば再び仮説を生成する(ブロック57)。仮説
は、はじめ変形オペレータを1回だけ適用して作成し、
以後、新たに仮説を生成する度に変形オペレータの適用
回数を増やしていく(ブロック54〜56)。これによ
り、順次複雑な故障の仮説を生成するようになる。変形
オペレータとしては、設計情報から特定の遷移を欠落さ
せる(ブロック55a),誤った内部状態へ遷移させる
(ブロック55b),誤った出力応答を出させる(ブロ
ック55c)オペレータがある。本故障同定装置を起動
した時点では、いかなる仮説も存在しないので必ず仮説
を生成する。
Next, the present invention will be explained in detail by showing a specific process for identifying a fault in a binary adder. Figure 4
, FIG. 5, FIG. 12, and FIG. 13 are flowcharts showing details of processing in each block, and FIG. 4 is a hypothesis management method (
Block 32), Figure 5 shows the hypothesis generation method (block 33)
, FIG. 12 corresponds to the end determination method (block 34), and FIG. 13 corresponds to the input sequence generation method (block 35). Note that FIGS. 6 to 11 show examples of hypotheses generated in this embodiment, as described later. If the binary adder fails, first collect data (block 31). In the next hypothesis management (Figure 4), it is first checked whether there are any hypotheses (block 41), and if there are hypotheses, those whose output responses or internal states are inconsistent are deleted (block 42). ~45). If there is a hypothesis but no data, the hypothesis will not be deleted. At the time when this failure identification device is activated, no hypothesis exists, so hypothesis management is not performed. If a hypothesis is deleted, information regarding the output response of that hypothesis is removed from the output response table described below (block 46). The output response table is a result of checking whether each failure hypothesis operates as designed when a certain input series is input. In generating a hypothesis (Fig. 5), first, it is checked whether there is a hypothesis (block 50), and if there is no hypothesis, design information is read (block 51), and a hypothesis is generated by transforming it (block 51). Block 52) and delete hypotheses inconsistent with previously obtained data (block 53) to obtain consistent hypotheses. If there are no more hypotheses as a result of deleting contradictory hypotheses, if there is still room to generate a hypothesis, generate a hypothesis again (block 57). The hypothesis is first created by applying the transformation operator only once,
Thereafter, each time a new hypothesis is generated, the number of times the transformation operator is applied is increased (blocks 54 to 56). As a result, increasingly complex failure hypotheses are generated. Examples of the transformation operator include an operator that causes a specific transition to be omitted from the design information (block 55a), an operator that causes a transition to an incorrect internal state (block 55b), and an operator that causes an incorrect output response to be issued (block 55c). Since no hypothesis exists at the time this failure identification device is activated, a hypothesis is always generated.

【0009】図6(a〜d),図7(e〜h),図8(
i〜l),図9(m〜p),図10(q〜t)および図
11(u〜x)は、バイナリー加算器の設計情報に、上
述のオペレータを各1回ずつ適用して生成した仮説を示
している。 なお、ここで、括弧内のアルファベットは、後の説明で
、これだけを用いることがある。図6,7は特定の遷移
を欠落させたもの、図8,9は特定の遷移において誤っ
た内部状態へ遷移させるようにしたもの、図10,11
は特定の遷移において誤った出力応答を出させるように
したものである。例えば、図6のaは、状態「q0」に
おいて入力系列「00」を与えられたとき、「q0」に
遷移する処理を欠落させたもの、図8のiは、状態「q
0」において入力系列「00」を与えられたとき、「q
0」に遷移するべきところを「q1」に遷移するように
したもの、図10のqは、状態「q0」において入力系
列「00」を与えられたとき、「0」を出力すべきとこ
ろを「1」を出力するようにしたものである。最初に仮
説を生成する際には、これら24の仮説を生成し、以後
はオペレータの適用回数を増やして、徐々に複雑な仮説
を生成するようにする。
FIGS. 6(a-d), FIGS. 7(e-h), FIG. 8(
i to l), Fig. 9 (m to p), Fig. 10 (q to t), and Fig. 11 (u to x) are generated by applying each of the above operators once to the design information of the binary adder. The following hypothesis is shown. Note that only the alphabets in parentheses may be used in later explanations. Figures 6 and 7 are those in which certain transitions are omitted, Figures 8 and 9 are those in which a particular transition is caused to transition to an incorrect internal state, and Figures 10 and 11.
is designed to give an incorrect output response at a specific transition. For example, a in FIG. 6 is a state in which the process of transitioning to "q0" when input sequence "00" is given in state "q0" is omitted, and i in FIG.
0”, when input sequence “00” is given, “q
q in Figure 10 changes the state where the transition should be to ``0'' to ``q1.'' When the input sequence ``00'' is given in the state ``q0,'' the q that should output ``0'' is changed. It is designed to output "1". When generating hypotheses for the first time, these 24 hypotheses are generated, and thereafter, the number of times the operator is applied is increased to gradually generate more complex hypotheses.

【0010】終了判定(図12)では、まず、仮説があ
るかどうかを調べ(ブロック 121)、仮説がなけれ
ば故障同定に失敗したと判断して(ブロック 122)
、処理を終了する。仮説があれば、出力応答テーブルが
あるかどうかを調べる(ブロック 123)。出力応答
テーブルがなければ、終了せず処理を続行する。一方、
出力応答テーブルがあり、参照した結果、残っている仮
説が同一の入力系列に対して誤った出力応答を返すこと
が予想されたなら(ブロック 124)、それ以上の同
定は不可能であると判断し、残った仮説を表示して(ブ
ロック 125)、処理を終了する。また、そうでなけ
れば、更に絞り込みを続行する。入力系列生成方法(図
13)では、まず、出力応答テーブルがあるかどうかを
調べ(ブロック 131)、なければ存在する仮説につ
いて出力応答テーブルを作成する(ブロック 132)
。出力応答テーブルは、故障がないならば正常に処理で
きる入力系列を各仮説に与えたとき、正しい出力応答が
得られるかどうかを示すテーブルである。 例えば、上述の仮説図6,7のaからhに関して、ある
最小の入力系列「00」に対する出力応答テーブルは、
図27のようになる。図27では、正しい出力応答を返
す仮説を「O」で、誤った出力応答を返す仮説を「X」
で示している。図27から明らかなように、状態「q0
」において入力系列「00」を与えられたとき「q0」
に遷移する処理を欠落させた仮説aは、正しい出力応答
を返さない。 なお、後述する如く、出力応答テーブルは、最小サイズ
の入力系列からはじめて、順次長い入力系列に対するテ
ーブルを作成するようにする。この出力応答テーブルは
、終了判断と入力系列生成のために使われる。すべての
入力系列を絞り込みに利用してしまったならば(ブロッ
ク 134)、現在のテーブルを破棄してより大きな入
力系列に対するテーブルを作成する(ブロック 135
)。検査に利用する入力系列は、出力応答テーブルを参
照し、誤った出力応答を返す仮説がもっとも多いものを
選択する(ブロック 136)。図28は、図6から図
11に示した仮説aからxについて、故障がないならば
正常に処理できる入力系列のうち最小サイズのもの、す
なわち、「00」,「01」,「10」に対する出力応
答を示したものである。この出力応答テーブルでは、入
力系列「00」,「01」,「10」は誤った出力応答
を返す仮説を同じ数だけカバーしているので、どの系列
を選択しても良い。なお、図28以降では、図を見やす
くするため、出力応答が正しいことを示す記号「O」を
表示しない。
In the completion determination (FIG. 12), it is first checked whether there is a hypothesis (block 121), and if there is no hypothesis, it is determined that fault identification has failed (block 122).
, ends the process. If there is a hypothesis, check to see if there is an output response table (block 123). If there is no output response table, processing continues without terminating. on the other hand,
If there is an output response table, and as a result of referencing it, it is predicted that the remaining hypotheses will return incorrect output responses for the same input sequence (block 124), it is determined that further identification is impossible. Then, the remaining hypotheses are displayed (block 125), and the process ends. If not, further narrowing down is continued. In the input sequence generation method (Fig. 13), first, it is checked whether an output response table exists (block 131), and if not, an output response table is created for the existing hypothesis (block 132).
. The output response table is a table that indicates whether a correct output response is obtained when each hypothesis is given an input sequence that can be processed normally if there is no failure. For example, regarding a to h in hypothetical diagrams 6 and 7 above, the output response table for a certain minimum input sequence "00" is:
The result will be as shown in FIG. In Figure 27, a hypothesis that returns a correct output response is marked as "O", and a hypothesis that returns an incorrect output response is marked as "X".
It is shown in As is clear from FIG. 27, the state “q0
”, when input sequence “00” is given, “q0”
Hypothesis a, which lacks the process of transitioning to , does not return a correct output response. Note that, as will be described later, the output response table is created starting from the input sequence of the minimum size and sequentially creating tables for longer input sequences. This output response table is used for termination determination and input sequence generation. Once all input sequences have been used for refinement (block 134), the current table is discarded and a table for the larger input sequence is created (block 135).
). As for the input sequence to be used for testing, the output response table is referred to and the one that has the most hypotheses that return incorrect output responses is selected (block 136). For hypotheses a to x shown in FIGS. 6 to 11, FIG. 28 shows the smallest size input sequences that can be processed normally if there is no failure, that is, "00", "01", and "10". This shows the output response. In this output response table, input series "00", "01", and "10" cover the same number of hypotheses that return incorrect output responses, so any series may be selected. Note that from FIG. 28 onward, the symbol "O" indicating that the output response is correct is not displayed in order to make the diagrams easier to read.

【0011】以下、上述の方法に基づいて故障を同定す
る具体例を示す。対象とするバイナリー加算器は、先に
図11xに示した仮説と同じ故障、すなわち、状態「q
1」で入力系列「00」を受け取ったとき、「1」を返
すべきところを「0」を返してしまう故障であるとする
。また、故障同定作業を始める前にはバイナリー加算器
のデータをまったく得ていないものとする。まず、はじ
めにデータ収集(ブロック31)を試みるが、データを
得ることはできない。次に、仮説管理(ブロック32)
を行うが、仮説は存在しないので(ブロック41)、す
ぐに仮説を生成する(ブロック33)。仮説がないので
(ブロック50)、設計情報101を読み込み、変形し
て仮説を生成する。ここでは、1回目の仮説生成なので
カウンタの値は1であるから(ブロック54)、変形オ
ペレータを1回だけ適用し(ブロック55)、カウンタ
の値を2とする(ブロック56)。変形に当たっては、
まず特定の遷移を欠落させて(ブロック55a)、図6
のaから図7のhまでに示す仮説を得る。次に、誤った
内部状態へ遷移するよう変形し(ブロック55b)、図
8iから9pまでに示す仮説を得る。最後に、誤った値
を出力するよう変形し(ブロック55c)、図10qか
ら11xに示す仮説を得る。このように仮説を生成した
後、これまでに得たデータと矛盾する仮説を削除しよう
とするが(ブロック53)、データがないので削除され
る仮説はない。続いて、終了判定を行う。ここでは、仮
説が存在し(ブロック 121)、出力応答テーブルは
まだないので(ブロック 123)、終了しない。終了
しなかったので、次に、入力系列を生成する。出力応答
テーブルはまだ存在しないので、上述の如く、設計通り
に動作する場合に処理できる入力系列のうち最小サイズ
のもの、すなわち、「00」,「01」,「10」に対
する出力応答テーブル(図28)を生成する(ブロック
 132)。各系列ともまだ絞り込みに利用していない
ので(ブロック 134)、これらの系列から検査に利
用するものを選択する。ここでは、「00」を選択して
(ブロック 136)、検査する(ブロック36)。以
上が第1回目のサイクルである。
A specific example of fault identification based on the above method will be shown below. The target binary adder has the same fault as the hypothesis shown in FIG. 11x, that is, the state “q
Assume that there is a failure in which when the input sequence "00" is received with "1", "0" is returned instead of "1". Furthermore, it is assumed that no data of the binary adder has been obtained before starting the fault identification work. First, data collection (block 31) is attempted, but no data can be obtained. Next, hypothesis management (block 32)
However, since no hypothesis exists (block 41), a hypothesis is immediately generated (block 33). Since there is no hypothesis (block 50), the design information 101 is read and transformed to generate a hypothesis. Here, since this is the first hypothesis generation, the value of the counter is 1 (block 54), so the transformation operator is applied only once (block 55), and the value of the counter is set to 2 (block 56). Regarding transformation,
First, by dropping certain transitions (block 55a), FIG.
The hypotheses shown from a to h in FIG. 7 are obtained. It is then transformed to transition to the incorrect internal state (block 55b), resulting in the hypotheses shown in Figures 8i to 9p. Finally, it is transformed to output an incorrect value (block 55c) and the hypotheses shown in FIGS. 10q to 11x are obtained. After generating hypotheses in this way, an attempt is made to delete hypotheses that contradict the data obtained so far (block 53), but since there is no data, there are no hypotheses to be deleted. Subsequently, a termination determination is made. Here, we do not finish because there is a hypothesis (block 121) and there is no output response table yet (block 123). Since the process did not end, an input sequence is generated next. Since the output response table does not yet exist, as described above, the output response table for the smallest size input series that can be processed when operating as designed, that is, "00", "01", and "10" (Fig. 28) (block 132). Since each series has not yet been used for narrowing down (block 134), one of these series to be used for inspection is selected. Here, "00" is selected (block 136) and tested (block 36). The above is the first cycle.

【0012】次の第2回目のサイクルでは、まず、デー
タを収集する(ブロック31)。ここでは、検査の結果
、バイナリー加算器は、正常な出力応答「0」を返して
、「q0」で正常に終了していることがわかるとする。 次の仮説管理では、仮説が存在するので(ブロック41
)、出力応答の記録があるかどうかを調べる(ブロック
42)。ここでは、出力応答のデータが得られるので、
矛盾する仮説a,qを削除する(ブロック44)。仮説
aは入力系列「00」を受け付けらず、異常終了すると
予想していたからである。また、仮説qは、異常な出力
応答「1」を返すと予想していたからである。次に、内
部状態の記録が残っているかどうかを調べる(ブロック
43)。ここでもデータ「q0」が得られるので、矛盾
する仮説iを削除する(ブロック45)。仮説iは入力
系列「00」に対して、内部状態「q1」で異常終了す
ると予想していたからである。続いて、上で削除された
仮説a,i,qを出力応答テーブルから削除する(ブロ
ック46)。この結果、出力応答テーブルは図29のよ
うになる。次は仮説生成であるが、仮説はまだ存在する
ので(ブロック50)、終了判定を行う。 仮説は存在し(ブロック 121)、出力応答テーブル
も存在する(ブロック 123)が、ここでは、すべて
の仮説が同じ入力系列に対して誤った動作をすることは
ない(ブロック 124)。例えば、入力系列「01」
に対して仮説cは誤った出力応答を返すが、仮説bは正
常な出力応答を返す。従って、ここでは処理を終了しな
い。入力系列の生成では、まだ、「01」と「10」と
が未使用のまま残っているので(ブロック 134)、
ここから、次の入力系列として、「01」を選択して、
検査する(ブロック 136)。以上が第2回目のサイ
クルである。
In the next second cycle, data is first collected (block 31). Here, it is assumed that as a result of the test, it is found that the binary adder returns a normal output response of "0" and terminates normally at "q0". In the next hypothesis management, since a hypothesis exists (block 41
), check whether there is a record of the output response (block 42). Here we get the output response data, so
Delete contradictory hypotheses a and q (block 44). This is because hypothesis a did not accept the input sequence "00" and was expected to end abnormally. This is also because the hypothesis q was expected to return an abnormal output response of "1". Next, it is determined whether a record of the internal state remains (block 43). Since data "q0" is obtained here as well, contradictory hypothesis i is deleted (block 45). This is because the hypothesis i predicted that the input sequence "00" would end abnormally in the internal state "q1". Subsequently, the hypotheses a, i, and q deleted above are deleted from the output response table (block 46). As a result, the output response table becomes as shown in FIG. The next step is hypothesis generation, but since hypotheses still exist (block 50), an end determination is made. Hypotheses exist (block 121) and an output response table also exists (block 123), but now all hypotheses do not behave incorrectly on the same input sequence (block 124). For example, input series "01"
Hypothesis c returns an incorrect output response, while hypothesis b returns a normal output response. Therefore, the process does not end here. In the generation of the input series, "01" and "10" still remain unused (block 134).
From here, select "01" as the next input series,
Check (block 136). The above is the second cycle.

【0013】次の第3回目のサイクルでは、まず、デー
タを収集する(ブロック31)。検査の結果、ここでは
、バイナリー加算器は正常な出力応答「1」を返して、
「q0」で正常に終了していることがわかるとする。次
の仮説管理では、仮説が存在するので(ブロック41)
、出力応答の記録があるかどうかを調べる(ブロック4
2)。ここでは、出力応答のデータが得られるので、矛
盾する仮説c,sを削除する(ブロック44)。仮説c
は入力系列「01」を受け付けられず、異常終了すると
予想していたからである。また、仮説sは、異常な出力
応答「0」を返すと予想していたからである。次に、内
部状態の記録が残っているかどうかを調べる(ブロック
43)。ここでもデータ「q0」が得られるので、矛盾
する仮説kを削除する(ブロック45)。仮説kは入力
系列「01」に対して、内部状態「q1」で異常終了す
ると予想していたからである。続いて、削除された仮説
c,k,sを、出力応答テーブルから削除する(ブロッ
ク46)。この結果、出力応答テーブルは図30のよう
になる。次は仮説生成であるが、仮説はまだ存在するの
で(ブロック50)、終了判定を行う。仮説は存在し(
ブロック 121)、出力応答テーブルも存在する(ブ
ロック 123)が、ここでは、すべての仮説が同じ入
力系列に対して誤った動作をすることはない(ブロック
 124)ので、処理を終了しない。入力系列の生成で
は、まだ「10」が未使用のまま残っているので(ブロ
ック 134)、次の入力系列として、「10」を選択
して、検査する(ブロック 136)。以上が第3回目
のサイクルである。
In the next third cycle, data is first collected (block 31). As a result of the test, here the binary adder returns a normal output response of "1",
Assume that it can be seen that the process has ended normally with "q0". In the next hypothesis management, since a hypothesis exists (block 41)
, check if there is a record of the output response (block 4
2). Here, since output response data is obtained, contradictory hypotheses c and s are deleted (block 44). Hypothesis c
This is because it was expected that the input sequence "01" would not be accepted and the program would terminate abnormally. This is also because the hypothesis s was predicted to return an abnormal output response of "0". Next, it is determined whether a record of the internal state remains (block 43). Since data "q0" is obtained here as well, contradictory hypothesis k is deleted (block 45). This is because the hypothesis k predicted that the input sequence "01" would end abnormally in the internal state "q1". Subsequently, the deleted hypotheses c, k, and s are deleted from the output response table (block 46). As a result, the output response table becomes as shown in FIG. The next step is hypothesis generation, but since hypotheses still exist (block 50), an end determination is made. The hypothesis exists (
Block 121), there is also an output response table (block 123), but here we do not terminate the process since all hypotheses do not behave incorrectly for the same input sequence (block 124). In the generation of the input series, since "10" remains unused (block 134), "10" is selected as the next input series and examined (block 136). This is the third cycle.

【0014】次の第4回目のサイクルでは、まず、デー
タを収集する(ブロック31)。ここでは、検査の結果
、バイナリー加算器は、正常な出力応答「1」を返して
、「q0」で正常に終了していることがわかるとする。 次の仮説管理では、仮説が存在するので(ブロック41
)、出力応答の記録があるかどうかを調べる(ブロック
42)。ここでは、出力応答のデータが得られるので、
矛盾する仮説d,tを削除する(ブロック44)。仮説
dは入力系列「10」を受け付けられず、異常終了する
と予想していたからである。また、仮説tは、異常な出
力応答「0」を返すと予想していたからである。次に、
内部状態の記録が残っているかどうかを調べる(ブロッ
ク43)。ここでもデータ「q0」が得られるので、矛
盾する仮説lを削除する(ブロック45)。仮説lは入
力系列「10」に対して、内部状態「q1」で異常終了
すると予想していたからである。 削除された仮説d,l,tをテーブルから削除する(ブ
ロック46)。この結果、出力テーブルは図31のよう
になる。次は仮説生成であるが、仮説はまだ存在するの
で(ブロック50)、終了判定を行う。仮説は存在し(
ブロック 121)、出力応答テーブルも存在する(ブ
ロック  123)が、どの仮説も正常な出力応答を返
すと予想されている。このことは、すべての仮説が同じ
入力系列に対して「誤った」動作をすることはない(ブ
ロック 124)ことに相当するので、ここでも処理を
終了しない。次の入力系列の生成では、これまでにすべ
ての入力系列を利用してしまったので(ブロック 13
4)、このテーブルを破棄して、設計通りに動作する場
合に処理できる入力系列のうち、次に小さいもの、すな
わち、「00,00」,「00,01」,「00,10
」,「11,00」,「01,00」,「01,01」
,「01,10」,「10,00」,「10,01」お
よび「10,10」に対する出力応答テーブル(図32
)を生成する(ブロック 135)。そして、系列「1
1,00」のみに誤った出力応答を返す仮説があるので
、ここでは「11,00」を選択して検査する。以上が
第4回目のサイクルである。
In the next fourth cycle, data is first collected (block 31). Here, it is assumed that as a result of the test, it is found that the binary adder returns a normal output response of "1" and terminates normally at "q0". In the next hypothesis management, since a hypothesis exists (block 41
), check whether there is a record of the output response (block 42). Here we get the output response data, so
Delete contradictory hypotheses d and t (block 44). This is because hypothesis d predicted that the input sequence "10" would not be accepted and the process would end abnormally. This is also because the hypothesis t was predicted to return an abnormal output response of "0". next,
Check whether a record of the internal state remains (block 43). Since data "q0" is obtained here as well, contradictory hypothesis l is deleted (block 45). This is because the hypothesis 1 predicts that the input sequence "10" will end abnormally in the internal state "q1". The deleted hypotheses d, l, t are deleted from the table (block 46). As a result, the output table becomes as shown in FIG. The next step is hypothesis generation, but since hypotheses still exist (block 50), an end determination is made. The hypothesis exists (
Block 121), there is also an output response table (block 123), but any hypothesis is expected to return a normal output response. This corresponds to the fact that all hypotheses do not behave "wrongly" for the same input sequence (block 124), so we do not terminate the process here either. In generating the next input sequence, all input sequences have been used so far (block 13
4) Discard this table and select the next smallest input sequence that can be processed if the table operates as designed, i.e. "00,00", "00,01", "00,10"
”, “11,00”, “01,00”, “01,01”
, “01,10”, “10,00”, “10,01” and “10,10” (Fig. 32
) (block 135). Then, the series “1
Since there is a hypothesis that only "1,00" returns an incorrect output response, "11,00" is selected and tested here. This is the fourth cycle.

【0015】次の第5回目のサイクルでは、まず、デー
タを収集する(ブロック31)。検査の結果、ここでは
、バイナリー加算器は異常な出力応答「00」を返して
、「q0」で正常に終了していることがわかるとする。 次の仮説管理では、仮説が存在するので(ブロック41
)、出力応答の記録があるかどうかを調べる(ブロック
42)。ここでは、出力応答のデータが得られるので、
矛盾する仮説e,f,g,h,j,m,n,o,u,v
,wを削除する(ブロック44)。これらの仮説は、入
力系列「11,00」に対して、正常な出力応答「01
」を返して終了すると予想していたからである。また、
仮説bは、入力系列「11,00」を受け付けないと予
想したので削除する。 また、仮説rは、得られた応答「00」とは異なる「1
1」を出力すると予想していたので削除する。次に、内
部状態の記録が残っているかどうかを調べる(ブロック
43)。 ここでもデータ「q0」が得られるので、矛盾する仮説
pを削除する(ブロック45)。仮説pは、入力系列「
11,00」に対して内部状態「q1」で異常終了する
と予想していたからである。続いて、削除された仮説を
テーブルから削除する(ブロック46)。この結果、出
力テーブルは図33のようになる。次は仮説生成である
が、仮説はまだ存在するので(ブロック50)、終了判
定を行う。この時点では、仮説と出力応答テーブル(ブ
ロック 121,123)が存在し、ただ1つの仮説x
のみが残されている。これは、すべての仮説が同一の入
力系列に対して誤った出力応答を返す場合に相当するの
で(ブロック 124)、仮説xを解として出力する(
ブロック 125)。上記実施例においては、このよう
に、第5回目のサイクルで、正しく故障を同定すること
ができる。
In the next fifth cycle, data is first collected (block 31). As a result of the test, it is assumed here that the binary adder returns an abnormal output response of "00" and is found to terminate normally at "q0". In the next hypothesis management, since a hypothesis exists (block 41
), check whether there is a record of the output response (block 42). Here we get the output response data, so
Contradictory hypotheses e, f, g, h, j, m, n, o, u, v
, w (block 44). These hypotheses are based on the normal output response “01,00” for the input sequence “11,00”.
This is because I expected it to return `` and exit. Also,
Hypothesis b is deleted because it was predicted that the input series "11,00" would not be accepted. Furthermore, the hypothesis r is “1” which is different from the obtained response “00”.
I expected it to output "1", so I deleted it. Next, it is determined whether a record of the internal state remains (block 43). Since data "q0" is obtained here as well, the contradictory hypothesis p is deleted (block 45). The hypothesis p is based on the input sequence “
This is because it was expected that the process would abnormally end with the internal state "q1" for "11,00". The deleted hypothesis is then removed from the table (block 46). As a result, the output table becomes as shown in FIG. The next step is hypothesis generation, but since hypotheses still exist (block 50), an end determination is made. At this point there are hypotheses and output response tables (blocks 121, 123), and only one hypothesis x
only is left. This corresponds to the case where all hypotheses return incorrect output responses for the same input sequence (block 124), so hypothesis x is output as a solution (
block 125). In the above embodiment, the failure can be correctly identified in the fifth cycle.

【0016】次に第二の具体例として、第一の事例と同
じ図11xに示した故障を、バイナリー加算器の内部状
態に関するデータが得られない場合に同定する方法を示
す。第1回目のサイクルは、第一の事例と同じである。 第2回目のサイクルでは、内部状態に関するデータが得
られないので、仮説iを削除できない。従って、第2回
目のサイクルで得られる出力応答テーブルは、図34の
ようになる。同様に、次の第3回目のサイクルでは、仮
説kを削除できない。従って、第3回目のサイクルで得
られる出力応答テーブルは、図35のようになる。同様
に、次の第4回目のサイクルでは、仮説lを削除できな
い。従って、第4回目のサイクルで得られる出力応答テ
ーブルは、図36のようになる。この時点で、すべての
入力系列を利用してしまったので(ブロック 134)
、このテーブルを破棄し、次のテーブル(図37)を作
成する(ブロック 135)。そして、誤った出力応答
を返す仮説がもっと多く含まれている入力系列「11,
00」を選択して検査する。以上が第4回目のサイクル
である。第5回目のサイクルでは、入力系列「11,0
0」に対して、仮説b,e,f,g,h,j,m,n,
o,r,u,v,wが矛盾し、結果として、図38の出
力応答テーブルが得られる。そして、誤った出力応答を
返す仮説がもっと多く含まれている入力系列「00,0
1」を選択して検査する。第6回目のサイクルでは、入
力系列「00,01」に対して仮説iが矛盾し、結果と
して図39の出力応答テーブルが得られる。そして、誤
った出力応答を返す仮説がもっと多く含まれている入力
系列「01,10」を選択して検査する。
Next, as a second specific example, we will show how to identify the fault shown in FIG. 11x, which is the same as the first case, when data regarding the internal state of the binary adder cannot be obtained. The first cycle is the same as the first case. In the second cycle, hypothesis i cannot be deleted because no data regarding the internal state is obtained. Therefore, the output response table obtained in the second cycle is as shown in FIG. Similarly, hypothesis k cannot be deleted in the next third cycle. Therefore, the output response table obtained in the third cycle is as shown in FIG. Similarly, in the next fourth cycle, hypothesis l cannot be deleted. Therefore, the output response table obtained in the fourth cycle is as shown in FIG. At this point, all input sequences have been used (block 134).
, discard this table and create the next table (Figure 37) (block 135). Then, input sequence “11,” which contains more hypotheses that return incorrect output responses.
00” and inspect it. This is the fourth cycle. In the fifth cycle, the input sequence “11,0
0'', hypotheses b, e, f, g, h, j, m, n,
o, r, u, v, and w are inconsistent, and as a result, the output response table shown in FIG. 38 is obtained. Then, the input sequence “00,0
1” and inspect it. In the sixth cycle, hypothesis i is inconsistent with the input series "00,01", and as a result, the output response table shown in FIG. 39 is obtained. Then, the input series "01, 10" containing more hypotheses that return incorrect output responses is selected and tested.

【0017】第7回目のサイクルでは、入力系列「01
,10」に対して仮説kが矛盾し、結果として図40の
出力応答テーブルが得られる。そして、誤った出力応答
を返す仮説がもっと多く含まれている入力系列「00,
10」を選択して検査する。第8回目のサイクルでは、
入力系列「00,10」に対して矛盾する仮説がないの
で、仮説が1つも削除されない。従って、出力応答テー
ブルは更新されず、図40のままである。この時点でも
、まだすべての仮説が同一の入力系列に対して誤った出
力応答を返すことはないので、誤った出力応答を返す仮
説がもっと多く含まれている入力系列「10,00」を
選択して検査する。第9回目のサイクルでは、入力系列
「10,00」に対して仮説lが矛盾し、結果として図
41の出力応答テーブルが得られる。ここで残された仮
説pとxは、いずれも、同一の入力系列「11,00」
に対して誤った出力応答を返すと予想される(ブロック
 124)。従って、ここで残された仮説を解として表
示し、絞り込みを打切って終了する。すなわち、状態「
q1」において「00」を受け取ったとき、「1」を出
力して「q0」に遷移すべきところを、誤って「q1」
に遷移しているか、または、「1」を出力すべきところ
を誤って「0」を出力しているかのどちらかであること
を表示する。上記実施例によれば、このように、対象と
する機器の内部状態が得られない場合でも、ある程度は
故障を同定できる。
In the seventh cycle, the input series "01
, 10'', hypothesis k is contradictory, and as a result, the output response table shown in FIG. 40 is obtained. Then, input sequence “00,
10" and inspect it. In the 8th cycle,
Since there is no hypothesis that contradicts the input series "00, 10", no hypothesis is deleted. Therefore, the output response table is not updated and remains as shown in FIG. 40. At this point, all hypotheses do not return incorrect output responses for the same input sequence, so select the input sequence "10,00" that contains more hypotheses that return incorrect output responses. and inspect. In the ninth cycle, hypothesis l is inconsistent with the input series "10,00", and as a result, the output response table shown in FIG. 41 is obtained. The remaining hypotheses p and x are both the same input series “11,00”
(block 124). Therefore, the remaining hypothesis is displayed as a solution, and the narrowing down is terminated. That is, the state ``
When receiving "00" in "q1", it should output "1" and transition to "q0", but it was mistakenly output as "q1".
This indicates that either the current state is transitioning to , or that the output is erroneously outputting ``0'' when ``1'' should be output. According to the embodiment described above, even if the internal state of the target device cannot be obtained, the failure can be identified to some extent.

【0018】次に、第三の実施例として、専門家の経験
的な知識を利用して、故障の仮説を生成する方法を示す
。本実施例では、故障同定装置102に対して、図14
に示す如く、専門家の経験的な知識を保持する知識ベー
ス140を加えている。仮説生成装置105は、仮説の
生成(ブロック33)において、上述の知識ベース14
0から、専門家の経験的知識を利用して仮説を生成する
ことに特徴がある。また、図15に示すように、ハード
ウェア構成は、該専門家の経験的な知識を記憶する第三
の記憶装置150を新たに備える。図16は、本実施例
における仮説生成方法を示すフローチャートである。本
実施例においては、第一および第二の実施例における仮
説生成方法(図5)とは異なり、知識ベースに保持され
た専門家の経験的知識を利用して故障の仮説を生成する
(ブロック 160)。専門家の経験的知識は、条件部
と実行部とからなり、条件部には”IF”に続けて故障
同定作業の状態を、また、実行部には”THEN”に続
けて仮説の生成方法を記述する。本実施例では、以下に
示す如き知識が、知識ベースに保持されているものとす
る。 (知識1) IF      まだ仮説を生成していないTHEN 
 誤った出力応答を出す仮説を生成する(知識2) IF      知識1が失敗した THEN  誤った内部状態へ遷移する仮説を生成する
(知識3) IF      知識1と知識2が失敗したTHEN 
 特定の遷移が欠落している仮説を生成するここで、本
実施例において故障を同定する例を示す。対象とするバ
イナリー加算器は、第一,第二の実施例と同様に、図1
1xに示した仮説と同じ故障、すなわち、状態「q1」
で入力系列「00」を受け取ったとき、「1」を返すべ
きところを「0」を返してしまう故障であるとする。 また、第二の実施例と同様、バイナリー加算器の内部状
態に関するデータは得られないとする。第1回目のサイ
クルでは、まだ、仮説を生成していないので知識1を適
用し、誤った出力応答を出す仮説を生成する。従って、
第1回目のサイクルで得られる出力応答テーブルは、図
42のようになる。以下、第4回目のサイクルまでは、
第二の実施例と同様に進行し、図43の出力応答テーブ
ルを作成する。第5回目のサイクルでは、入力系列「1
1,00」に対して仮説r,u,v,wが矛盾し、結果
として、図44の出力応答テーブルが得られる。この時
点では、仮説と出力応答テーブル(ブロック 121,
123)が存在し、ただ1つの仮説xのみが残されてい
る。これは、前述の、すべての仮説が同一の入力系列に
対して誤った出力応答を返す場合に相当するので(ブロ
ック 124)、仮説xを解として出力する(ブロック
 125)。上記実施例によれば、このように、第5回
目のサイクルで正しく故障を同定することができる。な
お、先に示した第二の実施例では、9サイクルを要して
いることと比較すると、専門家の知識の利用により、よ
り短時間で故障を同定できる場合があることがわかる。
Next, as a third embodiment, a method of generating a failure hypothesis using the experiential knowledge of experts will be described. In this embodiment, the fault identification device 102 is configured as shown in FIG.
As shown in FIG. 2, a knowledge base 140 is added that holds the experiential knowledge of experts. In generating a hypothesis (block 33), the hypothesis generation device 105 uses the knowledge base 14 described above.
It is characterized by generating a hypothesis from scratch using the experiential knowledge of experts. Furthermore, as shown in FIG. 15, the hardware configuration newly includes a third storage device 150 that stores the experiential knowledge of the expert. FIG. 16 is a flowchart showing the hypothesis generation method in this embodiment. In this embodiment, unlike the hypothesis generation method in the first and second embodiments (Fig. 5), a failure hypothesis is generated using the experiential knowledge of experts held in the knowledge base (block 160). The expert's experiential knowledge consists of a condition part and an execution part.The condition part contains "IF" followed by the status of the fault identification work, and the execution part contains "THEN" followed by the hypothesis generation method. Describe. In this embodiment, it is assumed that the following knowledge is held in the knowledge base. (Knowledge 1) IF THEN which has not yet generated a hypothesis
Generate a hypothesis that gives an incorrect output response (Knowledge 2) IF THEN that Knowledge 1 fails Generate a hypothesis that transitions to an incorrect internal state (Knowledge 3) IF THEN that Knowledge 1 and Knowledge 2 fail
Generating a Hypothesis in which a Specific Transition is Missing Here, an example of identifying a fault in this embodiment will be shown. The target binary adder is shown in FIG. 1 as in the first and second embodiments.
The same fault as the hypothesis shown in 1x, that is, the state "q1"
Let us assume that there is a failure in which when the input sequence ``00'' is received, ``0'' is returned instead of ``1''. Further, as in the second embodiment, it is assumed that data regarding the internal state of the binary adder cannot be obtained. In the first cycle, since no hypothesis has been generated yet, knowledge 1 is applied to generate a hypothesis that will produce an incorrect output response. Therefore,
The output response table obtained in the first cycle is as shown in FIG. Below, until the 4th cycle,
Proceeding in the same manner as in the second embodiment, the output response table shown in FIG. 43 is created. In the fifth cycle, the input sequence “1
1,00'', the hypotheses r, u, v, and w contradict each other, and as a result, the output response table shown in FIG. 44 is obtained. At this point, the hypothesis and output response table (block 121,
123), and only one hypothesis x remains. This corresponds to the aforementioned case where all hypotheses return incorrect output responses for the same input sequence (block 124), so hypothesis x is output as a solution (block 125). According to the above embodiment, the failure can be correctly identified in the fifth cycle. Note that compared to the second embodiment shown above, which requires nine cycles, it can be seen that there are cases where the failure can be identified in a shorter time by using the knowledge of experts.

【0019】次に第四の実施例として、自動機械の設計
情報を特定の入出力を持つモジュール単位で保持し、故
障の仮説を上記モジュール毎に生成することにより、故
障をモジュールごとに同定する方法を示す。図17は、
3つのバイナリー加算器(A)140,同(B)141
,同(C)142を組み合せて構成した複合機械のモジ
ュール構成図である。この複合機械は、入力装置143
〜146から入力系列を受け付け、出力装置149から
出力応答を返す。バイナリー加算器(A)と同(B)の
出力147,148は、バイナリー加算器(C)への入
力系列となる。本実施例に示す複合機械は、四桁の入力
データを上述の入力装置143〜146から受け付ける
。すなわち、入力データとして「0011」が与えられ
たとき、四桁目の「0」は入力装置143から、三桁目
の「0」は入力装置144から、二桁目の「1」は入力
装置145から、また、一桁目の「1」は入力装置14
6から受け付ける。 従って、入力系列「0011,0000」を与えた場合
、バイナリー加算器(A)140の内部状態は「q0→
q0→q0」、バイナリー加算器(B)141の内部状
態は「q0→q1→q0」、また、バイナリー加算器(
C)142の内部状態は「q0→q1→q0」のように
遷移し、出力応答として「01」を返す。本複合機械を
モジュール単位に分割して扱わなかった場合、設計情報
は全体で図18〜25を合わせたものとなる。複合機械
の内部状態としては、構成要素であるバイナリー加算器
A,B,Cの内部状態の組み合わせにより、次の8つの
状態がある。 状態S0:A=q0,B=q0,C=q0状態S1:A
=q1,B=q0,C=q0状態S2:A=q1,B=
q1,C=q0状態S3:A=q1,B=q0,C=q
1状態S4:A=q1,B=q1,C=q1状態S5:
A=q0,B=q1,C=q0状態S6:A=q0,B
=q0,C=q1状態S7:A=q0,B=q1,C=
q1
Next, as a fourth embodiment, design information of an automatic machine is held for each module having a specific input/output, and a failure hypothesis is generated for each module, thereby identifying a failure for each module. Show how. Figure 17 shows
Three binary adders (A) 140, (B) 141
, (C) 142 is a module configuration diagram of a compound machine configured by combining. This compound machine has an input device 143
It receives an input series from ~146, and returns an output response from the output device 149. Outputs 147 and 148 of the binary adders (A) and (B) become input sequences to the binary adder (C). The multifunction machine shown in this embodiment receives four-digit input data from the input devices 143 to 146 described above. That is, when "0011" is given as input data, the fourth digit "0" is sent from the input device 143, the third digit "0" is sent from the input device 144, and the second digit "1" is sent from the input device 143. 145, and the first digit “1” is the input device 14.
Accepted from 6. Therefore, when the input sequence "0011,0000" is given, the internal state of the binary adder (A) 140 is "q0→
q0 → q0'', the internal state of the binary adder (B) 141 is ``q0 → q1 → q0'', and the binary adder (
C) The internal state of 142 transitions as "q0→q1→q0" and returns "01" as an output response. If this complex machine is not divided into modules, the entire design information will be the sum of FIGS. 18 to 25. There are the following eight internal states of the compound machine, depending on the combination of the internal states of the binary adders A, B, and C, which are the constituent elements. State S0: A=q0, B=q0, C=q0 State S1: A
=q1, B=q0, C=q0 State S2: A=q1, B=
q1, C=q0 State S3: A=q1, B=q0, C=q
1 state S4: A=q1, B=q1, C=q1 state S5:
A=q0, B=q1, C=q0 state S6: A=q0, B
=q0, C=q1 State S7: A=q0, B=q1, C=
q1

【0020】図18は、状態S0から他の状態への
遷移を示したものであり、点線で表現している状態S3
,S4,S7は、状態S0から遷移することがないこと
を意味している。以下、図19は状態S1からの、図2
0は状態S2からの、図21は状態S3からの、図22
は状態S4からの、図23は状態S5からの、図24は
状態S6からの、また、図25は状態S7からの遷移を
示した図である。以上の説明から明らかなように、複合
機械をそのまま全体として扱うと設計情報は莫大になり
、仮説の数は組み合せ爆発を起こす。仮説の数は「各桁
が取り得る値の数」と「各入力系列の長さ」の乗数に、
「状態の数」と「仮説生成方法の数」を掛け合わせたも
のである。この例では「24×8×3=384」となり
、384個もの仮説を同時に管理しなければならなくな
る。そこで、本実施例では、自動機械の設計情報を特定
の入出力を持つモジュール単位で保持し、故障の仮説を
該モジュールごとに生成することにより、故障をモジュ
ールごとに同定する。本実施例に示す複合機械の場合は
、独立した入出力を持つ3つのバイナリー加算器A,B
,Cのそれぞれを1つのモジュールとし、それぞれのバ
イナリー加算器毎に、設計情報を保持する。各モジュー
ルの設計情報は、図1の101と同様である。このよう
に設計情報をモジュール毎とに分けたことにより、各モ
ジュールの仮説数は「22×2×3=24」となり、仮
説の数は大幅に減少する。図26は、本実施例の概要を
示すフローチャートである。例として、バイナリー加算
器Bが故障している場合の故障同定方法を示す。始めに
、まだ調べていないモジュールがあるかどうかを調べる
(ブロック 260)。ここでは、まだバイナリー加算
器A、B,Cを調べていないので、まず、バイナリー加
算器Aの設計情報を読み込み(ブロック 261)、第
一の実施例または第三の実施例に述べた方法で、故障同
定作業を行う(ブロック 262)。ここでは、バイナ
リー加算器Aは故障していないので故障を同定できない
。同定できなければ、他のモジュールが故障しているか
どうかを調べる(ブロック 263)。ここでは、まだ
、調べていないモジュールとして、バイナリー加算器B
,Cが残っているので(ブロック 260)、次にバイ
ナリー加算器Bの設計情報を読み込み(ブロック 26
1)、故障同定作業を行う(ブロック 262)。バイ
ナリー加算器Bは故障しているので、故障の同定に成功
し終了する。なお、すべてのモジュールを調べたにも関
わらず故障を同定できなかったときには、故障同定に失
敗したことを表示して(ブロック 264)終了する。 上記実施例によれば、このように、設計情報をモジュー
ル毎とに分けたことにより、各モジュールの仮説の数は
大幅に減少し、より短時間で故障を同定できるようにな
る。 なお、上述の各実施例はいずれも本発明の一例を示した
ものであり、本発明はこれらに限定されるべきものでは
ないことは言うまでもない。
FIG. 18 shows the transition from state S0 to other states, and state S3 is represented by a dotted line.
, S4, and S7 mean that there is no transition from state S0. Hereinafter, FIG. 19 is a diagram of FIG.
0 is from state S2, FIG. 21 is from state S3, FIG.
is a diagram showing the transition from state S4, FIG. 23 from state S5, FIG. 24 from state S6, and FIG. 25 from state S7. As is clear from the above explanation, if a complex machine is treated as a whole, the amount of design information becomes enormous, and the number of hypotheses becomes combinatorially explosive. The number of hypotheses is the multiplier of "the number of possible values for each digit" and "the length of each input series",
It is the product of the "number of states" and the "number of hypothesis generation methods." In this example, the number is 24×8×3=384, meaning that 384 hypotheses must be managed at the same time. Therefore, in this embodiment, design information of an automatic machine is held for each module having a specific input/output, and a failure hypothesis is generated for each module, thereby identifying a failure for each module. In the case of the compound machine shown in this embodiment, there are three binary adders A and B with independent input and output.
, C as one module, and design information is held for each binary adder. The design information of each module is the same as 101 in FIG. By dividing the design information into modules in this way, the number of hypotheses for each module becomes "22 x 2 x 3 = 24", which significantly reduces the number of hypotheses. FIG. 26 is a flowchart showing an overview of this embodiment. As an example, a fault identification method when binary adder B is faulty will be shown. First, it is determined whether there are any modules that have not yet been examined (block 260). Since binary adders A, B, and C have not yet been examined here, first read the design information of binary adder A (block 261) and use the method described in the first or third embodiment. , performs fault identification operations (block 262). Here, since binary adder A is not faulty, the fault cannot be identified. If it cannot be identified, check to see if other modules are faulty (block 263). Here, we will introduce binary adder B as a module that has not yet been investigated.
, C remain (block 260), then the design information of binary adder B is read (block 26).
1) Perform fault identification work (block 262). Since binary adder B is faulty, the fault is successfully identified and the process ends. Note that if a fault cannot be identified even after checking all modules, a message indicating that fault identification has failed is displayed (block 264) and the process ends. According to the above embodiment, by dividing the design information into modules in this way, the number of hypotheses for each module is significantly reduced, and failures can be identified in a shorter time. It should be noted that each of the above-mentioned embodiments is an example of the present invention, and it goes without saying that the present invention should not be limited to these.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明によれば、設計情報を基に故障の
仮説を作成し、ある入力系列を与えたときの出力応答ま
たは内部状態を基に絞り込んでいくので、特定の入力系
列に対応する処理が欠落している故障、誤った出力応答
を提示する故障、または、正常に終了しない故障を同定
できる。また、出力応答テーブルにより故障を絞り込め
ない状態を判断できるので、故障している機器の十分な
データが得られない場合でも、可能な限り絞り込まれた
仮説が得られる。なお、仮説の生成にあたっては、変形
オペレータの適用回数を徐々に増やしていくので、仮説
を少しずつ検証していくことができる。これにより、一
度に必要なメモリ消費量を減らすことができる。また、
専門家の経験的知識を利用することにより、無駄な仮説
を生成することなく、効率的に故障を同定できる。また
、検査に利用する入力系列を、最小の長さのものから徐
々に長くしていくようにすることにより、絞り込みにも
っとも役立つ入力系列を選択するために要する計算時間
と、検査に要する計算時間をできるかぎり短縮すること
ができる。更に、上述の入力系列の選択に当たっては、
誤った出力応答を返す仮説がもっとも多いものを選択す
ることにより、できる限り少ない回数で仮説を絞り込ん
でいくことができる。また、設計情報をモジュール毎に
分割して扱うようにすることにより、仮説の数が組み合
せ爆発を起こすのを防ぐことができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, a failure hypothesis is created based on design information and narrowed down based on the output response or internal state when a certain input sequence is given, so it is possible to respond to a specific input sequence. Faults that are missing processing, provide incorrect output responses, or do not terminate normally can be identified. Furthermore, since it is possible to determine a state in which the failure cannot be narrowed down using the output response table, a hypothesis narrowed down as much as possible can be obtained even if sufficient data on the malfunctioning device cannot be obtained. Note that when generating a hypothesis, the number of times the transformation operator is applied is gradually increased, so the hypothesis can be verified little by little. This reduces the amount of memory required at one time. Also,
By utilizing the experiential knowledge of experts, failures can be efficiently identified without generating useless hypotheses. In addition, by gradually increasing the length of the input sequence used for testing, starting from the minimum length, we can reduce the calculation time required to select the input sequence that is most useful for narrowing down the selection, and the calculation time required for testing. can be shortened as much as possible. Furthermore, when selecting the input series mentioned above,
By selecting the hypothesis that returns the most incorrect output responses, it is possible to narrow down the hypotheses in as few times as possible. Furthermore, by handling design information separately for each module, it is possible to prevent combinatorial explosion in the number of hypotheses.

【0022】[0022]

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す故障同定装置の構成図
である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a failure identification device showing an embodiment of the present invention.

【図2】実施例の故障同定装置のハードウェア構成図で
ある。
FIG. 2 is a hardware configuration diagram of a failure identification device according to an embodiment.

【図3】実施例の故障同定方法の概要を示したフローチ
ャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing an overview of a fault identification method according to the embodiment.

【図4】実施例の故障同定方法における仮説管理方法を
詳細に示したフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing in detail a hypothesis management method in the failure identification method of the embodiment.

【図5】実施例の故障同定方法における仮説生成方法を
詳細に示したフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing in detail a hypothesis generation method in the fault identification method of the embodiment.

【図6】実施例の故障同定方法における仮説生成方法に
より生成した故障の仮説の例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example of a failure hypothesis generated by a hypothesis generation method in the failure identification method of the embodiment.

【図7】実施例の故障同定方法における仮説生成方法に
より生成した故障の仮説の例を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing an example of a failure hypothesis generated by a hypothesis generation method in the failure identification method of the embodiment.

【図8】実施例の故障同定方法における仮説生成方法に
より生成した故障の仮説の例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing an example of a fault hypothesis generated by a hypothesis generation method in the fault identification method of the embodiment.

【図9】実施例の故障同定方法における仮説生成方法に
より生成した故障の仮説の例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing an example of a fault hypothesis generated by the hypothesis generation method in the fault identification method of the embodiment.

【図10】実施例の故障同定方法における仮説生成方法
により生成した故障の仮説の例を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing an example of a fault hypothesis generated by the hypothesis generation method in the fault identification method of the embodiment.

【図11】実施例の故障同定方法における仮説生成方法
により生成した故障の仮説の例を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing an example of a fault hypothesis generated by a hypothesis generation method in the fault identification method of the embodiment.

【図12】実施例の故障同定方法における終了判定方法
を詳細に示したフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart showing in detail a termination determination method in the failure identification method of the embodiment.

【図13】実施例の故障同定方法における入力系列生成
方法を詳細に示したフローチャートである。
FIG. 13 is a flowchart showing in detail an input sequence generation method in the fault identification method of the embodiment.

【図14】本発明の他の実施例を示す故障同定装置の構
成図である。
FIG. 14 is a configuration diagram of a fault identification device showing another embodiment of the present invention.

【図15】図14に示す実施例の故障同定装置のハード
ウェア構成図である。
FIG. 15 is a hardware configuration diagram of the failure identification device of the embodiment shown in FIG. 14;

【図16】実施例の故障同定方法における仮説生成方法
を詳細に示したフローチャートである。
FIG. 16 is a flowchart showing in detail a hypothesis generation method in the fault identification method of the embodiment.

【図17】実施例の複合機械のモジュール構成図である
FIG. 17 is a module configuration diagram of the compound machine of the embodiment.

【図18】実施例の複合機械の設計情報の例を示す図で
ある。
FIG. 18 is a diagram illustrating an example of design information of a compound machine according to an embodiment.

【図19】実施例の複合機械の設計情報の例を示す図で
ある。
FIG. 19 is a diagram illustrating an example of design information of a compound machine according to an embodiment.

【図20】実施例の複合機械の設計情報の例を示す図で
ある。
FIG. 20 is a diagram illustrating an example of design information of the compound machine of the embodiment.

【図21】実施例の複合機械の設計情報の例を示す図で
ある。
FIG. 21 is a diagram illustrating an example of design information of a compound machine according to an embodiment.

【図22】実施例の複合機械の設計情報の例を示す図で
ある。
FIG. 22 is a diagram illustrating an example of design information of the compound machine of the embodiment.

【図23】実施例の複合機械の設計情報の例を示す図で
ある。
FIG. 23 is a diagram illustrating an example of design information of the compound machine according to the embodiment.

【図24】実施例の複合機械の設計情報の例を示す図で
ある。
FIG. 24 is a diagram illustrating an example of design information of the compound machine according to the embodiment.

【図25】実施例の複合機械の設計情報の例を示す図で
ある。
FIG. 25 is a diagram illustrating an example of design information of the compound machine according to the embodiment.

【図26】実施例の故障同定方法の概要を示したフロー
チャートである。
FIG. 26 is a flowchart showing an overview of a fault identification method according to the embodiment.

【図27】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 27 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図28】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 28 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図29】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 29 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図30】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 30 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図31】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 31 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図32】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 32 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図33】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 33 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図34】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 34 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図35】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 35 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図36】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 36 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図37】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 37 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図38】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 38 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図39】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 39 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図40】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 40 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図41】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 41 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図42】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 42 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図43】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 43 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【図44】実施例の故障同定方法における出力応答テー
ブルの例を示す図である。
FIG. 44 is a diagram showing an example of an output response table in the fault identification method of the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101:設計情報、102:故障同定装置、103:デ
ータ収集装置、104:仮説管理装置、105:仮説生
成装置、106:故障の仮説、107:入力系列生成装
置、108:バイナリー加算器、109:データ入力装
置、110:データ出力装置、111:内部状態記憶装
置、140:知識ベース。
101: Design information, 102: Fault identification device, 103: Data collection device, 104: Hypothesis management device, 105: Hypothesis generation device, 106: Failure hypothesis, 107: Input sequence generation device, 108: Binary adder, 109: Data input device, 110: Data output device, 111: Internal state storage device, 140: Knowledge base.

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  特定の入力系列が与えられたとき、そ
れ自身の内部状態に基づいて特定の出力応答を提示し、
また、特定の状態に内部状態を変更(遷移)する自動機
械の故障同定方法において、前記自動機械の設計情報に
基づいて故障の仮説を生成し、前記自動機械の挙動と矛
盾する仮説を削除することによって故障を同定すること
を特徴とする故障同定方法。
1. Presenting a specific output response based on its own internal state when given a specific input sequence;
Further, in a fault identification method for an automatic machine that changes (transitions) an internal state to a specific state, a failure hypothesis is generated based on design information of the automatic machine, and a hypothesis that is inconsistent with the behavior of the automatic machine is deleted. A fault identification method characterized by identifying faults by
【請求項2】  前記故障の仮説を、前記設計情報から
特定の遷移を欠落させるか、誤った内部状態へ遷移させ
るか、または、誤った出力応答を出させる如く変形して
生成することを特徴とする請求項1記載の故障同定方法
2. The failure hypothesis is generated by deforming the design information such that a specific transition is omitted, a transition is made to an incorrect internal state, or an incorrect output response is issued. The fault identification method according to claim 1, wherein:
【請求項3】  前記仮説の生成方法が、変形操作を1
回だけ適用することから始めて順次適用回数を増やすこ
とにより、単純な仮説から複雑な仮説を生成するもので
あることを特徴とする請求項2記載の故障同定方法。
Claim 3: The hypothesis generation method includes one transformation operation.
3. The fault identification method according to claim 2, wherein a complex hypothesis is generated from a simple hypothesis by starting with only one application and sequentially increasing the number of applications.
【請求項4】  前記仮説の矛盾の有無の判定は、自動
機械に特定の入力系列を与えたときに正常終了するかど
うかを調べることにより行い、この判定結果に基づいて
仮説を絞り込むことを特徴とする請求項1記載の故障同
定方法。
4. The determination of whether or not there is a contradiction in the hypotheses is performed by checking whether or not the automatic machine completes normally when given a specific input sequence, and the hypotheses are narrowed down based on the result of this determination. The fault identification method according to claim 1, wherein:
【請求項5】  前記仮説の矛盾の有無の判定は、自動
機械に特定の入力系列を与えたときの内部状態を調べる
ことにより行い、この判定結果に基づいて仮説を絞り込
むことを特徴とする請求項1記載の故障同定方法。
[Claim 5] A claim characterized in that the determination of whether or not there is a contradiction between the hypotheses is performed by examining the internal state when a specific input sequence is given to the automatic machine, and the hypotheses are narrowed down based on the result of this determination. Fault identification method according to item 1.
【請求項6】  前記仮説の矛盾の有無の判定は、自動
機械に特定の入力系列を与えたときの出力応答を調べる
ことにより行い、この判定結果に基づいて仮説を絞り込
むことを特徴とする請求項1記載の故障同定方法。
[Claim 6] A claim characterized in that the determination of whether or not there is a contradiction between the hypotheses is performed by examining an output response when a specific input sequence is given to an automatic machine, and the hypotheses are narrowed down based on the determination result. Fault identification method according to item 1.
【請求項7】  前記自動機械に与える入力系列は、故
障がないならば正常に動作する入力系列のうち、長さの
短いものから順に生成することを特徴とする請求項4〜
6のいずれかに記載の故障同定方法。
7. The input sequence to be applied to the automatic machine is generated in order of length from among input sequences that would normally operate if there is no failure.
6. The fault identification method according to any one of 6.
【請求項8】  前記自動機械に与える入力系列は、該
入力系列を自動機械に与えた場合、誤った出力応答を返
す仮説がもっとも多いものを選択することを特徴とする
請求項4〜6のいずれかに記載の故障同定方法。
8. The input sequence to be applied to the automatic machine is selected from the input sequence that has the highest number of hypotheses that will return an incorrect output response when the input sequence is applied to the automatic machine. The failure identification method described in any of the above.
【請求項9】  前記仮説の絞り込みにおいて、新たに
入力系列を与えることにより判明した内部状態または出
力応答では1つも仮説を削除できないとき、それ以上は
仮説を絞り込めないと判断して終了することを特徴とす
る請求項4〜6のいずれかに記載の故障同定方法。
9. In narrowing down the hypotheses, when no hypothesis can be deleted based on the internal state or output response found by giving a new input sequence, it is determined that the hypotheses cannot be narrowed down any further and the process is terminated. The fault identification method according to any one of claims 4 to 6, characterized in that:
【請求項10】  前記仮説の生成方法が、専門家の経
験的な知識を利用して仮説を生成するものであることを
特徴とする請求項2記載の故障同定方法。
10. The fault identification method according to claim 2, wherein the hypothesis generation method utilizes the experiential knowledge of an expert.
【請求項11】  前記自動機械の設計情報を特定の入
出力を持つモジュール単位で保持し、前記故障の仮説は
該モジュール毎に生成することにより、故障をモジュー
ル毎に同定することを特徴とする請求項1記載の故障同
定方法。
11. The automatic machine design information is held for each module having a specific input/output, and the failure hypothesis is generated for each module, thereby identifying a failure for each module. The fault identification method according to claim 1.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010225150A (en) * 2009-03-23 2010-10-07 Palo Alto Research Center Inc Method and system for fault diagnosis in observation rich system

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