JPS5848933B2 - プログラム制御可能な計算機 - Google Patents
プログラム制御可能な計算機Info
- Publication number
- JPS5848933B2 JPS5848933B2 JP54156301A JP15630179A JPS5848933B2 JP S5848933 B2 JPS5848933 B2 JP S5848933B2 JP 54156301 A JP54156301 A JP 54156301A JP 15630179 A JP15630179 A JP 15630179A JP S5848933 B2 JPS5848933 B2 JP S5848933B2
- Authority
- JP
- Japan
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- data
- register
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- bit
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2215—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test error correction or detection circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Dram (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
開示の概要
中央処理ユニツ}(CPU)が、メモリ・モジュール内
のメモリ・アレイにアクセスする必要なしに、ソフトウ
エア制御の下に、メモリ・モジュールのエラー更正回路
網をテストすることを可能にさせるためのメモリ・モジ
ュール内の閉鎖ループ・データ・パスを与える装置が開
示されている。
のメモリ・アレイにアクセスする必要なしに、ソフトウ
エア制御の下に、メモリ・モジュールのエラー更正回路
網をテストすることを可能にさせるためのメモリ・モジ
ュール内の閉鎖ループ・データ・パスを与える装置が開
示されている。
該メモリ・モジュールは、シングル・ビン} 更正/ダ
ブル・ビント検出を与えるエラー更正回路網を有する。
ブル・ビント検出を与えるエラー更正回路網を有する。
該エラー更正回路は、各データヮードが該メモリ・モジ
ュールのメモリ・アレイに書込まれるとき、それらのデ
ータヮードに添えられるエラー・コードを発生する。
ュールのメモリ・アレイに書込まれるとき、それらのデ
ータヮードに添えられるエラー・コードを発生する。
該エラー更正回路網は、該メモリ・モジュールのメモリ
・アレイから読取られた各データヲードに於けるエラー
を検出し、更正するためのエラー・コードを用いる。
・アレイから読取られた各データヲードに於けるエラー
を検出し、更正するためのエラー・コードを用いる。
該メモリ・モジュール内の状態レジスタは、中央処理ユ
ニットと該メモリ・モジュール間の連終のため、制御情
報と状態情報とを蓄積する。
ニットと該メモリ・モジュール間の連終のため、制御情
報と状態情報とを蓄積する。
状態レジスタの2ビント位置は閉鎖ループ・エラー更正
のために供されている。
のために供されている。
両方のビント位置が2進のOを含んでいれば、該メモリ
・モジュールは正常に動作している。
・モジュールは正常に動作している。
そのビット位置の一方が2進の1を含んでいれば、その
メモリ・モジュールへの読取又は書込みコマンドは、該
エラー更正回路網内のエラー・コードの一時的ストアレ
イジからの読取り、又は該一時的ストアレイジへの書込
みを生せしめる。
メモリ・モジュールへの読取又は書込みコマンドは、該
エラー更正回路網内のエラー・コードの一時的ストアレ
イジからの読取り、又は該一時的ストアレイジへの書込
みを生せしめる。
他のビット位置が2進の1を含むならば、該メモリ・モ
ジュールへの読取り又は書込みコマンドは、該メモリ・
モジュールのメモリ・アレイへの読込み又はそれからの
書出しではなく、該メモリ・モジュールの一時的ストア
レイジからの読取り又は該一時的ストアレイジへの書込
みを生せしめる。
ジュールへの読取り又は書込みコマンドは、該メモリ・
モジュールのメモリ・アレイへの読込み又はそれからの
書出しではなく、該メモリ・モジュールの一時的ストア
レイジからの読取り又は該一時的ストアレイジへの書込
みを生せしめる。
該メモリ・モジュールの一時的ストアレイジからの読取
り及び該一時的ストアレイジへの書込みを行なう能力を
利用して、CPUは該メモリ・モジュールのメモリ・プ
レイから読出しすること、及び該メモリ・アレイへの書
込みをすることなしに、ソフトウエアの制御の下に、該
エラー更正回路を直接にテストすることが出来る。
り及び該一時的ストアレイジへの書込みを行なう能力を
利用して、CPUは該メモリ・モジュールのメモリ・プ
レイから読出しすること、及び該メモリ・アレイへの書
込みをすることなしに、ソフトウエアの制御の下に、該
エラー更正回路を直接にテストすることが出来る。
本発明の背景
本発明は、一般にデジタル・コンピュータ・システムに
関しており、更に詳しくはメモリ・テスト装置に関して
いる。
関しており、更に詳しくはメモリ・テスト装置に関して
いる。
今日の多くのコンピュータは、適当な型式のモジュール
の加除によって、コンピュータのキャパシティーを増減
する可能性を与えるため、モジュール化されるよう設計
されている。
の加除によって、コンピュータのキャパシティーを増減
する可能性を与えるため、モジュール化されるよう設計
されている。
モジュール化されたコンピュータのメモリ容量は、一つ
以上のメモリ・モジュールの加除により増減でき、そし
て、それらのメモリ・モジュールは互いに他に関して、
そして該モジュール化されたコンピュータ内の他のモジ
ュールに関して通常は非同期的に動作する。
以上のメモリ・モジュールの加除により増減でき、そし
て、それらのメモリ・モジュールは互いに他に関して、
そして該モジュール化されたコンピュータ内の他のモジ
ュールに関して通常は非同期的に動作する。
一つのメモリ・モジュールの内の該メモリ・アレイは、
該メモリ・モジュールの実際のストアレイジ素子である
。
該メモリ・モジュールの実際のストアレイジ素子である
。
ところで、過去に於てはメモリ・アレイは様々な技術を
用いて作られて来た。
用いて作られて来た。
そして半導体技術は現在では最も一般的になっている。
半導体メモリ・アレイを経済的に利用可能にするために
は高い密度が必要である。
は高い密度が必要である。
214、215、216ビットものモノリシツク装置が
現在では可能である。
現在では可能である。
単一のモノリシツク装置上に於ける斯かる高密度の二つ
の欠点は、故障の可能性の増大と、部品交換コストの増
大とである。
の欠点は、故障の可能性の増大と、部品交換コストの増
大とである。
この問題個所を探し当てる一般的技術はエラー更正回路
(FCC)の使用である。
(FCC)の使用である。
設計者は一つのメモリ・アレイに於げるエラーの存在を
単に推測し、そしてその推測されたエラーを更正するた
め、該メモリ・モジュール内にFCCを設計する。
単に推測し、そしてその推測されたエラーを更正するた
め、該メモリ・モジュール内にFCCを設計する。
FCCの使用に際しての主たる問題は、ECCのテスト
能力と、それを可能にする回路とである。
能力と、それを可能にする回路とである。
特別の目的のテスト装置を用いることによりECCは効
果的にテストされ得るが、このアプローチは工場内での
テスト以外のためには通常は余りにもコストがかかり過
ぎる。
果的にテストされ得るが、このアプローチは工場内での
テスト以外のためには通常は余りにもコストがかかり過
ぎる。
フィールド・テステイングの一般的方法は、テスト・ソ
フトウエアを用い、そのテスト・ソフトウエアは該メモ
リ・プレイからテストパターンを読取りそして該アレイ
にテスト・パターンを書込み、それによってFCCを推
論的にテストする。
フトウエアを用い、そのテスト・ソフトウエアは該メモ
リ・プレイからテストパターンを読取りそして該アレイ
にテスト・パターンを書込み、それによってFCCを推
論的にテストする。
この技術は、ソフトウエア・テスト法が時間がかかるの
にも拘らず、広く利用されている。
にも拘らず、広く利用されている。
この技術の最犬の欠点は、該メモリ・アレイが正しく動
作していると云う仮定を信頼する必要があることである
。
作していると云う仮定を信頼する必要があることである
。
この仮定は、そのテスト技術を受け入れられな℃・程に
信頼性を失うようにさせる程に現実的でない(即ち、メ
モリ・アレイの故障の可能性はかなり高い)。
信頼性を失うようにさせる程に現実的でない(即ち、メ
モリ・アレイの故障の可能性はかなり高い)。
本発明は、テスト・プロセスに於で、該メモリ・アレイ
の使用に信頼を置くことなしに、FCCのソフトウエア
・テストのコスト上のオリ点を得さしめる。
の使用に信頼を置くことなしに、FCCのソフトウエア
・テストのコスト上のオリ点を得さしめる。
本発明の要約
該メモリ・モジュールは、一つの半導体メモリ・アレイ
とエラー更正回路網(FCC)とを有する。
とエラー更正回路網(FCC)とを有する。
該メモリ・モジュールはまた一つの状態レジスタをも含
んでおり、その状態レジスタは様々なメモリ機能を制御
し、また或る状態情報(例えば、エラー状態、エラー・
ロツギング等)を表示するために用いられる。
んでおり、その状態レジスタは様々なメモリ機能を制御
し、また或る状態情報(例えば、エラー状態、エラー・
ロツギング等)を表示するために用いられる。
該状態レジスタは、該メモリ・モジュールがメインテナ
ンス・モードに置かれているときは常に、恰かも該メモ
リ・モジュールのアドレス可能な位置であるかの如くに
アクセスされることができる(即ち、それに書込み、そ
れから読出され得る)。
ンス・モードに置かれているときは常に、恰かも該メモ
リ・モジュールのアドレス可能な位置であるかの如くに
アクセスされることができる(即ち、それに書込み、そ
れから読出され得る)。
二位置手動スイッチは、定常モード又はメインテナンス
・モードを選択する。
・モードを選択する。
メインテナンス・モードに於では、一つ以上のアドレス
が該状態レジスタをアクセスするために供される。
が該状態レジスタをアクセスするために供される。
従って、該状態レジスタの内容は、該メモリ・モジュー
ルをメインテナンス・モードに置き、且つソフトウエア
を介して供されたアドレスに書込むことによって変更さ
れる。
ルをメインテナンス・モードに置き、且つソフトウエア
を介して供されたアドレスに書込むことによって変更さ
れる。
状態レジスタの2ビットが閉鎖ルーフ・エラー更正に供
される。
される。
両ビット位置がクリア(即ち2進のゼロを含む)ならば
、そのメモリ・モジュールの動作は正常である。
、そのメモリ・モジュールの動作は正常である。
この2ビット位置の一方はアクセス・エラー・コードと
呼ばれ、また他方は閉鎖ループ・エラーと称される。
呼ばれ、また他方は閉鎖ループ・エラーと称される。
閉鎖ループ・エラーがセント(即ち2進の1を含む)さ
れていれば、該メモリ・モジュールからの読出しは(a
read from the memory modu
le )該メモリ1アレイにアクセスせず(即ちそれか
ら読出さない)に、該メモリ・モジュールに対して該メ
モリ・アレイをインターフエイスするレジスタに見出さ
れる如何なるデータをも単に戻すだけである。
れていれば、該メモリ・モジュールからの読出しは(a
read from the memory modu
le )該メモリ1アレイにアクセスせず(即ちそれか
ら読出さない)に、該メモリ・モジュールに対して該メ
モリ・アレイをインターフエイスするレジスタに見出さ
れる如何なるデータをも単に戻すだけである。
従って、閉鎖ループ・エラーがセントされていれば、書
込みアクセスに続いた読出しアクセスは、該メモリ・ア
レイをアクセスすることなしに書込みデータを読出しと
して戻す。
込みアクセスに続いた読出しアクセスは、該メモリ・ア
レイをアクセスすることなしに書込みデータを読出しと
して戻す。
アクセス・エラー・コードがセットされていると、全て
の読出し又は書込みアクセスは該レジスタから直接に読
出し又はそれへ直接に書込み、そしてそのレジスタは該
メモリ・アレイにアクセスすることなく、そのエラー・
コードを蓄積して該メモリ・モジュールに対して該メモ
リ・アレイをインタフエイスする。
の読出し又は書込みアクセスは該レジスタから直接に読
出し又はそれへ直接に書込み、そしてそのレジスタは該
メモリ・アレイにアクセスすることなく、そのエラー・
コードを蓄積して該メモリ・モジュールに対して該メモ
リ・アレイをインタフエイスする。
ECCのソフトウエア・テスト法は、閉鎖ループ・エラ
ーとアクセス・エラー・コードが、メモリ・アレイをア
クセスする必要がないと云う能力を利用して開発された
ことが埋解されよう。
ーとアクセス・エラー・コードが、メモリ・アレイをア
クセスする必要がないと云う能力を利用して開発された
ことが埋解されよう。
好適な具体例の説明
本発明の最初の使用のために選ばれたメモリ・モジュー
ルは、AN/UYK−7 (V)Vコンピュータ・セッ
トの一部分として設計された。
ルは、AN/UYK−7 (V)Vコンピュータ・セッ
トの一部分として設計された。
このAN/UYK−7 (V)コンピュータ・セントは
米国の国防総省の現在の在庫に含まれている軍用・・−
ドウエアの標準装置である。
米国の国防総省の現在の在庫に含まれている軍用・・−
ドウエアの標準装置である。
読者は、こ工に含まれている開示を充分に理解するため
に、とのAN/UYK−7(V)コンピュータ・セット
について知らなければならない。
に、とのAN/UYK−7(V)コンピュータ・セット
について知らなければならない。
AN/UYK−7(V)コンピュータ・セット用の回路
図は、NAVSEAO 9 6 7−LP−3 1 9
−4 0 3 0及びNAVSEAO 9 6 7 −
LP−3 1 9 −4040と命名されている。
図は、NAVSEAO 9 6 7−LP−3 1 9
−4 0 3 0及びNAVSEAO 9 6 7 −
LP−3 1 9 −4040と命名されている。
これらはWashington, D. C .のNa
val Sea SystemsC o mm an
dから入手できる。
val Sea SystemsC o mm an
dから入手できる。
同一の供給源から、関係があり、入手できるものとして
、NAVSEA0967−LP−319−4010とN
AVSEA0967−LP−319−4020があり、
それらは夫々AN/UYK−7(V)コンピュータ・セ
ント用の技術説明書と部品リストである。
、NAVSEA0967−LP−319−4010とN
AVSEA0967−LP−319−4020があり、
それらは夫々AN/UYK−7(V)コンピュータ・セ
ント用の技術説明書と部品リストである。
第1図は、本発明を用いたメモリ・モジュール、MEM
ORYI 1を含むコンピュータを示している。
ORYI 1を含むコンピュータを示している。
中央処理装置、CPU10は、上に引用した文献により
教示される一連のソフトウエア・インストラクションの
実行によってプログラムされ得る。
教示される一連のソフトウエア・インストラクションの
実行によってプログラムされ得る。
CPU10は、ライン12を介してメモリ・モジュール
MEMORY1 1に対するインクフエイスとして示さ
れている。
MEMORY1 1に対するインクフエイスとして示さ
れている。
実際には、MEMORY11へのインタフエイスは極め
て複雑であり、従って読者は更なる詳細に関してはNA
VSEA0 96 7−LP−3 1 9−4 0 3
0を参照すべきである。
て複雑であり、従って読者は更なる詳細に関してはNA
VSEA0 96 7−LP−3 1 9−4 0 3
0を参照すべきである。
MEMORYI 1は8ヶのりクエスタ・ポートを持っ
ているので、それは8ヶのりクエスタまで持ち得るが、
たった一つのりクエスタ(即ちCPU10)Lか示され
ていない(NAVSEA09 6 7−LP−3 1
9−4 0 3 0参照)。
ているので、それは8ヶのりクエスタまで持ち得るが、
たった一つのりクエスタ(即ちCPU10)Lか示され
ていない(NAVSEA09 6 7−LP−3 1
9−4 0 3 0参照)。
インタフエイス回路網、INTERFACE20は、ラ
イン12を介して直接にCPU10とインタフエイスし
ており、MEMORY1 1のためのプロトコールを処
理する。
イン12を介して直接にCPU10とインタフエイスし
ており、MEMORY1 1のためのプロトコールを処
理する。
MEMORYARRAY22は、モトローラ社のMCM
4116、MOSTEK MK4116又はナショナ
ル・セミコンダクタ社のMM5290の如き214ビッ
トのモノリシツク装置を用いて構成された半導体ランダ
ム・アクセス・ストアである。
4116、MOSTEK MK4116又はナショナ
ル・セミコンダクタ社のMM5290の如き214ビッ
トのモノリシツク装置を用いて構成された半導体ランダ
ム・アクセス・ストアである。
MEMORYARRAY22は72ビット・ストアによ
る215〜217ワードとして構成されている。
る215〜217ワードとして構成されている。
AN/UYK−7(V)コンピュータ・セットは、ハリ
テイを持たないベーシック32ビント・フードを用いて
いるが、尤もCPUIOは8ビント・バイト又は16ビ
ット・ハーフ・ワードを用いてMEMORYI 1へ読
入れ、それから書き出すことも出来る(NAVSEAO
967−LP319−4030参照)。
テイを持たないベーシック32ビント・フードを用いて
いるが、尤もCPUIOは8ビント・バイト又は16ビ
ット・ハーフ・ワードを用いてMEMORYI 1へ読
入れ、それから書き出すことも出来る(NAVSEAO
967−LP319−4030参照)。
従ってMEMORYARRAY22の各72ビット・ワ
ードは、二つの32ビット・データ・ワードと一つの8
ビット・エラー・コードとを与える。
ードは、二つの32ビット・データ・ワードと一つの8
ビット・エラー・コードとを与える。
各アクセス(即ち読出し又は書込み)は、MEMORY
ARRAY22からの全72ビット・ワードのアク
セスを行なわせる。
ARRAY22からの全72ビット・ワードのアク
セスを行なわせる。
従って、MEMORY ARRAY22と、データ・
レジスタDREG27との間で読取及び書込データを移
送するライン33及びライン34は、各アクセスで全7
2ビットを移送する。
レジスタDREG27との間で読取及び書込データを移
送するライン33及びライン34は、各アクセスで全7
2ビットを移送する。
DREG27は読取又は書込動作の間、72ビット・ワ
ード及びエラー・コレクション・ファンクション並びに
バンハアリング・データの所望の部分ルーテイング(
routing )を与える。
ード及びエラー・コレクション・ファンクション並びに
バンハアリング・データの所望の部分ルーテイング(
routing )を与える。
例えば、MEMORYI 1からの各読出しは、MEM
ORY ARRAY22をして全72ビット・ワード
を取り出させ、そしてそれをライン33を介してDRE
G27に送らせる。
ORY ARRAY22をして全72ビット・ワード
を取り出させ、そしてそれをライン33を介してDRE
G27に送らせる。
DREG27エラーは、必要に応じて8ビット・エラー
・コードを用いて64ビット・データ・ワードを更正し
、リクエストされた所望の32ビット・データをライン
24を介してINTERFACE2 0へ移送する。
・コードを用いて64ビット・データ・ワードを更正し
、リクエストされた所望の32ビット・データをライン
24を介してINTERFACE2 0へ移送する。
同様に書込みアクセスの間、DREG27は、INTE
RFACE20からライン35を介して8、16又は3
2ビットのデータ・ワードを受け取る。
RFACE20からライン35を介して8、16又は3
2ビットのデータ・ワードを受け取る。
MEMORY ARRAY22は、適当なアドレス可
能な位置の内容を読取り、そして全72ビットをDRE
G2γに移送する。
能な位置の内容を読取り、そして全72ビットをDRE
G2γに移送する。
INTERFACE20から受け取られた8、16又は
32ビット・データ・ワードは、MEMORY AR
RAY22から受け取ったばかりの72ビット・ワード
の適当な位置に挿入される。
32ビット・データ・ワードは、MEMORY AR
RAY22から受け取ったばかりの72ビット・ワード
の適当な位置に挿入される。
新たな8ビント・エラー・コードが計算され、そして修
正された72ビント・ワードがライン34を介してME
MORY ARRAY22に移送されて適当なアドレ
ス可能位置に蓄積される。
正された72ビント・ワードがライン34を介してME
MORY ARRAY22に移送されて適当なアドレ
ス可能位置に蓄積される。
DREG27の更なる詳細は以下に説明されている。
手動モード変更回路網、MODE31は、ライン27を
介して状態レジスタ、SREG21にモード変更コマン
ドを供給する。
介して状態レジスタ、SREG21にモード変更コマン
ドを供給する。
SREG21は、ライン25を介してアドレス信号を、
そしてライン23を介して書込み信号をINTERFA
CE20から受取る。
そしてライン23を介して書込み信号をINTERFA
CE20から受取る。
SREG2 1は、ライン32を介して状態レジスタ・
ビット位置の状態の表示をINTERF’ACE20と
DREG27とに供給する。
ビット位置の状態の表示をINTERF’ACE20と
DREG27とに供給する。
ライン36は、SREG21がソフトウエアの制御の下
にアクセスされつムあるか否かをINTERFACE2
0とDREG27とに表示する。
にアクセスされつムあるか否かをINTERFACE2
0とDREG27とに表示する。
TIMING AND CONTROL28は、ラ
イン29を介してINTERFACE20とタイミング
信号を交換して、ライン30を介してSREG21へそ
して又ライン37を介してDREG27ヘタイミング及
び制御信号を供給する。
イン29を介してINTERFACE20とタイミング
信号を交換して、ライン30を介してSREG21へそ
して又ライン37を介してDREG27ヘタイミング及
び制御信号を供給する。
第1図によれば通常動作の際中央制御装置10からの情
報は、インタフェースを通って保持レジスク27に達す
る。
報は、インタフェースを通って保持レジスク27に達す
る。
情報ワードは、64ビットから成り、かつ処理装置から
は32ビットずつの2つのワードとして供給される。
は32ビットずつの2つのワードとして供給される。
レジスタ27においてこれら2つのワードは合成され、
かつ8ビットの誤りチェック符号が計算され、かつ情報
ワードに加えられ、72ビットのワード全長が生じる。
かつ8ビットの誤りチェック符号が計算され、かつ情報
ワードに加えられ、72ビットのワード全長が生じる。
それからこのフードはメモリ22に記憶される。
情報の読出しの際、メモリから72ビットワードが読出
され、かつ64の情報ビットから8ビットの誤りチェッ
ク符号が計算され、かつ元のワードに記憶された8つの
チェックビットと比較される。
され、かつ64の情報ビットから8ビットの誤りチェッ
ク符号が計算され、かつ元のワードに記憶された8つの
チェックビットと比較される。
これらチェックビットが一致すれば、このワードは、イ
ンターフェース20を介して処理装置に戻される。
ンターフェース20を介して処理装置に戻される。
一致しなかった場合には、シンドロームワードが発生さ
れ、それによりどのビットに誤りがあるかがわかるので
、訂正を行うことができるか、または訂正不可能な2ビ
ット誤りが生じたことがわかる。
れ、それによりどのビットに誤りがあるかがわかるので
、訂正を行うことができるか、または訂正不可能な2ビ
ット誤りが生じたことがわかる。
訂正が可能ならば、フードは訂正され、処理装置に戻さ
れるが、不可能な場合には、状態に応じて別の作業を始
めなげればならない。
れるが、不可能な場合には、状態に応じて別の作業を始
めなげればならない。
本発明は、チェックビントを計算しかつ誤りチェックお
よび訂正動作を行う回路のチェックに関するものである
。
よび訂正動作を行う回路のチェックに関するものである
。
計算機のメモリ機能の一部は、状態レジスタ21内に保
持された状態ワードによって制御される。
持された状態ワードによって制御される。
本発明によれば2つの特定のビットがこの状態レジスタ
にセットされ、これらのビットは、誤り回路を直接チェ
ックできるモードを設定する。
にセットされ、これらのビットは、誤り回路を直接チェ
ックできるモードを設定する。
これらビットの一方218は、セットされている場合、
レジスタ27がメモリ22にアクセスしないようにする
。
レジスタ27がメモリ22にアクセスしないようにする
。
メモリに書込もうとしても、レジスタ27に書込まれる
だけであり、それからこのレジスタは、通常のようにチ
ェックビットを発生するが、これらチェックビットはレ
ジスタ内に保持されるだけであり、メモリには転送され
ない。
だけであり、それからこのレジスタは、通常のようにチ
ェックビットを発生するが、これらチェックビットはレ
ジスタ内に保持されるだけであり、メモリには転送され
ない。
読出そうとしても、レジスタ27の内容が返送されるだ
けである。
けである。
他方のビット219は、セントされている時、レジスタ
27のチェックビット位置に直接ビットに書込むことが
できるようにし、それによりこのレジスタは、実際に誤
りが生じたかのように誤り訂正ルーチンを実行するよう
に強制される。
27のチェックビット位置に直接ビットに書込むことが
できるようにし、それによりこのレジスタは、実際に誤
りが生じたかのように誤り訂正ルーチンを実行するよう
に強制される。
それ故にこれら2つの状態によれば、誤りチェックおよ
びチェックビット発生回路に推定された全系列のナエソ
クルーチンをプログラム制御により実行できるようにな
る。
びチェックビット発生回路に推定された全系列のナエソ
クルーチンをプログラム制御により実行できるようにな
る。
個々のユニットについては後に詳細に説明するが、第7
図によりレジスタ27について簡単に説明する。
図によりレジスタ27について簡単に説明する。
データレジスタ27は、64ビット入力情報と8ビット
チェック符号を保持するラッチ600、チェックビット
を発生しかつ比較する回路601,訂正回路602、お
よびチェックされ訂正されたデータビットを保持するラ
ンチ603を有する。
チェック符号を保持するラッチ600、チェックビット
を発生しかつ比較する回路601,訂正回路602、お
よびチェックされ訂正されたデータビットを保持するラ
ンチ603を有する。
これら部品間の情報の転送は、ラツチェネーブル回路6
04に制御されており、このラツチェネーブル回路は種
々の信号を発生し、ランチおよび訂正回路に対する情報
の入力を制御する。
04に制御されており、このラツチェネーブル回路は種
々の信号を発生し、ランチおよび訂正回路に対する情報
の入力を制御する。
このラソチェネーブル回路は第9図に示されている。
個々のゲート信号について述べれば、線620の信号は
ランチ600のクリアを制御し、線621の信号は誤り
符号ランチを独立にクリア制御し、線622の信号はメ
モリから読取った到来データのランチを制御し、線62
3の信号は、良好データランチから戻ったチェックされ
たデータのランチを制御する。
ランチ600のクリアを制御し、線621の信号は誤り
符号ランチを独立にクリア制御し、線622の信号はメ
モリから読取った到来データのランチを制御し、線62
3の信号は、良好データランチから戻ったチェックされ
たデータのランチを制御する。
第9図から明らかなように、状態レジスタにおいてビッ
ト2がセットされていることを表わす線821の信号は
、これらすべての信号を禁止するので、ラッチは、メモ
リと通信できず、かつクリアされず、すでにここにある
情報を保持し続けるだけである。
ト2がセットされていることを表わす線821の信号は
、これらすべての信号を禁止するので、ラッチは、メモ
リと通信できず、かつクリアされず、すでにここにある
情報を保持し続けるだけである。
状態レジスタにおいてもビット219がセットされてい
る時にだけ、線625に信号が生じることができ、かつ
この信号によれば、線35を介して処理装置からラツチ
600のチェック符号位置にデータを書込むことができ
る。
る時にだけ、線625に信号が生じることができ、かつ
この信号によれば、線35を介して処理装置からラツチ
600のチェック符号位置にデータを書込むことができ
る。
第2図は、INTERFACE20のより詳細な図を与
えている。
えている。
DRIVERS ANDRECEIVERSI 05
は、CPUI Oからデータ信号及び制御信号を受け取
り、そしてデータ信号及び制御信号をライン12を介し
てCPU10へ移送し、そしてそのライン12は引用さ
れた文献ではCPUオペランド・メモリ゜パスとして記
述されている。
は、CPUI Oからデータ信号及び制御信号を受け取
り、そしてデータ信号及び制御信号をライン12を介し
てCPU10へ移送し、そしてそのライン12は引用さ
れた文献ではCPUオペランド・メモリ゜パスとして記
述されている。
該引用文献はまた、DRIVERS AND RE
CEIVERS105の回路説明も与えている。
CEIVERS105の回路説明も与えている。
CPUI Oから受信された制御信号は、ライン113
を介してPRIORITYI 00に移送され、そして
それはライン12を介して受け取られたりリクエストが
何時優先順位を与えられるかを決定する。
を介してPRIORITYI 00に移送され、そして
それはライン12を介して受け取られたりリクエストが
何時優先順位を与えられるかを決定する。
ライン12を介して受け取られたデータは、ライン11
0を介してマルチプレクサ、MUX101に移送される
。
0を介してマルチプレクサ、MUX101に移送される
。
MEMORYI 1は、各々がDRIVERS AN
D RECEIVERS105への別個のインタフエ
イスを有する8ヶまでのりクエスタとインタフエイスし
得るので、−−一〜′ MUX101は必要である(NAVSEAO967−L
P−3 1 9−4 0 3 0参照)。
D RECEIVERS105への別個のインタフエ
イスを有する8ヶまでのりクエスタとインタフエイスし
得るので、−−一〜′ MUX101は必要である(NAVSEAO967−L
P−3 1 9−4 0 3 0参照)。
PRIORITY1 0 0は、8ヶのりクエスタ・ポ
ートの何れか一つが何時MEMORY1 1へのアクセ
スが許されるかを決定する。
ートの何れか一つが何時MEMORY1 1へのアクセ
スが許されるかを決定する。
PRIORITY100は、8ヶのりクエスタ(その内
の一つだけが小されている)の内の一つからの選択され
たデータをライン126を介してMUXI 0 1に知
らせる。
の一つだけが小されている)の内の一つからの選択され
たデータをライン126を介してMUXI 0 1に知
らせる。
PRIORITYI 00は、アクセス・リクエストが
いつ遂行されるべきかを、ライン29aを介してTIM
ING AND CONTROL28に知らせる。
いつ遂行されるべきかを、ライン29aを介してTIM
ING AND CONTROL28に知らせる。
MUXIOIは、ライン126を介してPRIORIT
YI 00によって指定された通り、8ヶのりクエスタ
の内の一つからデータを選択し(その内の一つだけがラ
イン110上にそのデータが移送された状態で示されて
いる)、ライン120を介してデマルチプレクサ、DM
UX102へ、そのデータを移送し、そしてライン35
を介してDREG27−\移送する。
YI 00によって指定された通り、8ヶのりクエスタ
の内の一つからデータを選択し(その内の一つだけがラ
イン110上にそのデータが移送された状態で示されて
いる)、ライン120を介してデマルチプレクサ、DM
UX102へ、そのデータを移送し、そしてライン35
を介してDREG27−\移送する。
DMUX102は、ライン29bを介して受け取られた
TIMING AND CONTROL28からの
コマンドに基づいて、そのデータをライン23を介して
状態レジスタ、SREG21か又はライン122を介し
てアドレス・レジスタ,AREG104へ送る。
TIMING AND CONTROL28からの
コマンドに基づいて、そのデータをライン23を介して
状態レジスタ、SREG21か又はライン122を介し
てアドレス・レジスタ,AREG104へ送る。
DMUX102は、ライン120を介してMUX101
から受信されたアドレス・ワードをライン122を介し
てAREG104へ送るか、又はライン120を介して
MUX101から受信された8、l6又は32ビットの
データ・ワードをライン23を介してSREG21に送
る。
から受信されたアドレス・ワードをライン122を介し
てAREG104へ送るか、又はライン120を介して
MUX101から受信された8、l6又は32ビットの
データ・ワードをライン23を介してSREG21に送
る。
この選択は、ライン29bを介して受信されるTIMI
NG AND CONTROL28からのコマンド
に応答して、DMUXI 02によって行なわれる。
NG AND CONTROL28からのコマンド
に応答して、DMUXI 02によって行なわれる。
AREG104は、ライン122を介してDMUX10
2から受信されたアドレス・ワードを保持するレジスタ
である。
2から受信されたアドレス・ワードを保持するレジスタ
である。
AREG104は、図示されていない回路網を介してM
EMORY ARRAY22をアドレスするために通
常は用いられる。
EMORY ARRAY22をアドレスするために通
常は用いられる。
AREG104はまた、図示されている回路を介してS
REG2 1をアクセスするのにも用いられる。
REG2 1をアクセスするのにも用いられる。
AREG104は、そのアドレス・フードを保持する。
好適な具体例に於ては、SREG21は、アドレス77
7778のとき(MEMORY1 1がメインテナンス
・モードにあるときのみ)アクセスされる。
7778のとき(MEMORY1 1がメインテナンス
・モードにあるときのみ)アクセスされる。
従って、SREG21へのアクセスを選択するには、A
REG104がビット位置2°〜214(即ち2°,2
1,22,23,・・・・・−・・・・・・・・・2l
4)に二進の1を含ましめることを要求する。
REG104がビット位置2°〜214(即ち2°,2
1,22,23,・・・・・−・・・・・・・・・2l
4)に二進の1を含ましめることを要求する。
これは777778のアドレスを与える。
(このアドレスは実際はX777778であり、そして
Xは状態レジスタへのアクセスを決定するのに用いられ
ないアドレス・ビット215〜217によって決定され
ることに留意されたい。
Xは状態レジスタへのアクセスを決定するのに用いられ
ないアドレス・ビット215〜217によって決定され
ることに留意されたい。
)この15ビット位置(即ち2° 21 , 22 ,
23,・・・・・・・・・・・・・・・214)の内
容は、ライン125を介してANDゲート106へ移送
される。
23,・・・・・・・・・・・・・・・214)の内
容は、ライン125を介してANDゲート106へ移送
される。
全ての15ビット位置が二進の1を含んでいるときにの
み(即ちAREG104がX777778のアドレス・
ワードを含んでいる)、ANDゲート106はライン1
07を低にさせる。
み(即ちAREG104がX777778のアドレス・
ワードを含んでいる)、ANDゲート106はライン1
07を低にさせる。
AREG104が他のアドレス・ワードを含んでいるな
らば、ライン107は高である。
らば、ライン107は高である。
ANDゲート108は、ライン29cが高であり且つラ
イン107が低である場合にのみ、ライン25を高にさ
せる。
イン107が低である場合にのみ、ライン25を高にさ
せる。
ライン29cはTIMING AND CONTR
OL28から受信されたタイミング信号である。
OL28から受信されたタイミング信号である。
上述の如く、DMUXI O2は、8、16又は32ビ
ット・データ・ワードをライン23を介してSREG2
1へ移送する。
ット・データ・ワードをライン23を介してSREG2
1へ移送する。
ライン23は四つのコンダクタを含み、それらは閉鎖ル
ープ・エラー更正のために重要なこれらのビット位置に
於てSREG21へ移送される四つのビット位置の内容
を表示する。
ープ・エラー更正のために重要なこれらのビット位置に
於てSREG21へ移送される四つのビット位置の内容
を表示する。
この好適な具体例に於では、それらは216 , 21
7, 218,及び219である。
7, 218,及び219である。
これらのビント位置の一つが二進のOを含んでいれば、
ライン23の四つのコンダクタの内の対応する一つは高
にある。
ライン23の四つのコンダクタの内の対応する一つは高
にある。
これらのビット位置の内の一つが二進の1を含んでいれ
ば、ライン23の四つのコンダクタの対応する一つは低
にある。
ば、ライン23の四つのコンダクタの対応する一つは低
にある。
ライン32は、関係する状態レジスタ・ピット位置(即
ちビット216 , 217 , 218及び219)
の内容を読取り選択回路網、READ SRLECTIONI 09に移送する。
ちビット216 , 217 , 218及び219)
の内容を読取り選択回路網、READ SRLECTIONI 09に移送する。
ライン36は、後に更に論議されるREAD
SELECTION1 09に可能化信号を移送する。
READ SELECTION109はまた、ライン
112を介してAREG104のビット位置2°の内容
をも受け取る。
112を介してAREG104のビット位置2°の内容
をも受け取る。
ライン24は、読取りアクセスのため、DREG27の
出力をREADSELECTIONI 09へ移送する
。
出力をREADSELECTIONI 09へ移送する
。
ライン29eは、READ SELECTION10
9に若干の必要なタイミング信号を与える。
9に若干の必要なタイミング信号を与える。
DRIVERS AND RECEIVERS10
5は、ライン29dを介してTIMINGAND C
ONTROL28から可能化信号を受げ取る。
5は、ライン29dを介してTIMINGAND C
ONTROL28から可能化信号を受げ取る。
READ SELECTION109は、読取アクセ
ス・コマンドに応答してCPU1 0に移送されるべき
32ビット・データ・ワードを、ライン111を介して
DRIVERS ANDRECEIVERS1 05
へ供給する。
ス・コマンドに応答してCPU1 0に移送されるべき
32ビット・データ・ワードを、ライン111を介して
DRIVERS ANDRECEIVERS1 05
へ供給する。
第3図は、手動千一ド変更回路、MODE31の回路図
である。
である。
単極双投(SPDT)スイッチ200は、オペレータが
それによってモード変更を投入する手段である。
それによってモード変更を投入する手段である。
SPDTスイッチ200は、幾分かのノイズ免除( n
oise immunity )を与える瞬間接触スイ
ッチである。
oise immunity )を与える瞬間接触スイ
ッチである。
後述のように7リップ・フロツプが実際のスイッチ位置
を蓄積するので、瞬間接触スイッチの使用が許される。
を蓄積するので、瞬間接触スイッチの使用が許される。
メインテナンス・モードにスイッチされているとき、S
PDTスインチ200は、ライン220を太地に瞬間的
に接続する。
PDTスインチ200は、ライン220を太地に瞬間的
に接続する。
NORゲート209は、これを低として感知し、NOR
ゲート209をしてライン222を高にさせる。
ゲート209をしてライン222を高にさせる。
ライン219もまた高(即ち停止信号が存在しない)で
あると仮定すると、ANDゲート211はライン224
を高にさせる。
あると仮定すると、ANDゲート211はライン224
を高にさせる。
インバータ213は、この高を逆転してライン27aに
低を与える。
低を与える。
MA I NTENANC Eモードはまた、ライン2
16に於て自動手段を介しても投入され得る。
16に於て自動手段を介しても投入され得る。
これは未だ実行されていないので開示されていない。
抵抗201,203及び205は、1000オームの値
の”プルアソプ″抵抗である。
の”プルアソプ″抵抗である。
これらは様々なライン(即ちライン220,216及び
ライン224)への電源電流に用いられて、高ヘの遷移
の際に所望の立ちあがり時間を与える。
ライン224)への電源電流に用いられて、高ヘの遷移
の際に所望の立ちあがり時間を与える。
キャパシタ207は、高周波数スイソチング・トランジ
エントを遮断 ( decouple ) する。
エントを遮断 ( decouple ) する。
該STOP信号は初期電力トランジエントの間、モード
変更を防止する。
変更を防止する。
NORMALモードへの切換えは、SPDTスイソチ2
00がNORMAL位置へ置かれることによって行なわ
れる。
00がNORMAL位置へ置かれることによって行なわ
れる。
その信号は同様な態様でNORゲート210、ANDゲ
ート212、及びインバータ214を介して伝播される
。
ート212、及びインバータ214を介して伝播される
。
プルアンプ抵抗202,204及び206もまた100
0オームである。
0オームである。
NORMALモードへの切換は、インバータ214をし
てライン27bに低を供給させる。
てライン27bに低を供給させる。
第4図は、状態レジスタ、SREG21の動作を示して
いる。
いる。
明瞭のため、たった4ビント位置だけ(即ち、ビット位
置216 , 217 , 218及び219)が示さ
れている。
置216 , 217 , 218及び219)が示さ
れている。
SREG21の残余のピント位置は本発明に関係のない
機能を与える。
機能を与える。
ライン27a及びライン27bは、MODE31から受
け取られたモード変更信号(即ち、ライン27a一低一
MAINTENANCEモード、ライン27b=低一N
ORMALモード)を移送する。
け取られたモード変更信号(即ち、ライン27a一低一
MAINTENANCEモード、ライン27b=低一N
ORMALモード)を移送する。
フリンプ・フロンプ、F/F300は現在のモードを実
際に蓄積する(即ちF/F 3 0 0セン}jMA
INTENANCEモード、F/F300クリアーNO
RMALモード)。
際に蓄積する(即ちF/F 3 0 0セン}jMA
INTENANCEモード、F/F300クリアーNO
RMALモード)。
F/F300がセントされていれば、セント出力、Sは
高である。
高である。
F/F300がクリアされていれば、Sは低である。
F/F 3 0 0の出力は、インバータ301で逆転
されてゲート302に与えられている。
されてゲート302に与えられている。
ゲート302の出力は、もしF/F 3 0 0がセッ
トであり(即ちMAINTENANCEモード)、且つ
ライン25が高であれば(即ち、AREG104が第2
図に示された如く X777778のアドレス・ワードを含んでいる)、高
である。
トであり(即ちMAINTENANCEモード)、且つ
ライン25が高であれば(即ち、AREG104が第2
図に示された如く X777778のアドレス・ワードを含んでいる)、高
である。
ゲート302の出力はインバータ303によって逆転さ
れて、ゲート304への一人力として与えられる。
れて、ゲート304への一人力として与えられる。
ゲート302の出力はまた、ライン36を介してREA
D SELECTIONI 09及びDREG27へも与え
られて、SREG21がアクセスされつ〜あるときに表
示を与える。
D SELECTIONI 09及びDREG27へも与え
られて、SREG21がアクセスされつ〜あるときに表
示を与える。
TIMING ANDCONTROL28からのライ
ン30が高になり、インバータ303で出力が低になる
と(即ちゲート302の出力が高である)、ゲート30
4の出力は高となり、そしてそれは4ビント・ランチ、
4−BIT LATCH305のクロソク入力、CL
Kに移送され、そしてその4ビット・ランチは型式54
LSl74のモノリシツク装置である。
ン30が高になり、インバータ303で出力が低になる
と(即ちゲート302の出力が高である)、ゲート30
4の出力は高となり、そしてそれは4ビント・ランチ、
4−BIT LATCH305のクロソク入力、CL
Kに移送され、そしてその4ビット・ランチは型式54
LSl74のモノリシツク装置である。
ライン23(即ちライン23a,23b,23c及び2
3d)の四本のコンダクタの各々は、若しDMUX10
2から移送された対応ビント位置(即ち216 , 2
17 , 218又は219)が二進のゼロであれば高
であり、そしてDMUX102から移送された対応ビッ
ト位置が上述した如く二進の1であれば低である。
3d)の四本のコンダクタの各々は、若しDMUX10
2から移送された対応ビント位置(即ち216 , 2
17 , 218又は219)が二進のゼロであれば高
であり、そしてDMUX102から移送された対応ビッ
ト位置が上述した如く二進の1であれば低である。
四つのINVERTERS(即ち306,307,30
8及び309)は、ライン23の四本のコンダクタ上に
見出された信号を逆転して、ライン310,311,3
12及び313を介して4−BIT LATCH30
5に反転信号を与える。
8及び309)は、ライン23の四本のコンダクタ上に
見出された信号を逆転して、ライン310,311,3
12及び313を介して4−BIT LATCH30
5に反転信号を与える。
例えば、INVERER306は、DMUX102から
移送されたビント位置216が二進の1であれば、ライ
ン23aから低を受け取り、4−BIT LATCH
305の入力Aφに高を与える。
移送されたビント位置216が二進の1であれば、ライ
ン23aから低を受け取り、4−BIT LATCH
305の入力Aφに高を与える。
同様に、INVERTER307は、DMUX102か
ら移送されたビット位置217が二進のゼロであれば、
ライン23bを介して高を受け取り、4−BIT L
ATCH305の入力A1へ低を与える。
ら移送されたビット位置217が二進のゼロであれば、
ライン23bを介して高を受け取り、4−BIT L
ATCH305の入力A1へ低を与える。
4−BIT LATCHの出力はQφ,Q1,Q2及
びQ3に於げる補数である。
びQ3に於げる補数である。
即ち、4BIT LATCH305の全てのピント位
置が二進のゼロを含んでいれば、Qφ,Ql,Q2及び
Q3は高である。
置が二進のゼロを含んでいれば、Qφ,Ql,Q2及び
Q3は高である。
4−BIT LATCH305の全てのビント位置が
二進の1を含んでいれば、Qφ,Q1,Q2及びQ3は
低である。
二進の1を含んでいれば、Qφ,Q1,Q2及びQ3は
低である。
4−BIT LATCH305のビット位置の状態は
、ライン304aが高になるときにのみ変更される。
、ライン304aが高になるときにのみ変更される。
ライン304aが高になるとき、4−BIT LAT
CH305の四つのビット位置の状態は、ライン310
,311,312及び313によって決定される。
CH305の四つのビット位置の状態は、ライン310
,311,312及び313によって決定される。
例えば、ライン310が高であり、ライン304aが高
になると、ピント位置216は二進の1を含むようにさ
せられ、ライン32bは低になる。
になると、ピント位置216は二進の1を含むようにさ
せられ、ライン32bは低になる。
同様に、ライン311が低であり、ライン304aが高
になると、ピント位置217は二進のゼロを含ませられ
、ライン3 2 e 41.高になる。
になると、ピント位置217は二進のゼロを含ませられ
、ライン3 2 e 41.高になる。
ライン32b,3 2 c t 3 2 d及び32e
は、夫々状態レジスタのビント位置216 , 217
, 218及び219の補数出力を含む。
は、夫々状態レジスタのビント位置216 , 217
, 218及び219の補数出力を含む。
表Aを参照されたい。状態レジスタの残余の28ビット
位置(即ち2°〜215及び220〜231)の補数出
力はライン32aによって表わされている、しかし乍ら
、以後の論議の間、ピント位置218と219のみが本
発明に関係があるものとして論議されよう。
位置(即ち2°〜215及び220〜231)の補数出
力はライン32aによって表わされている、しかし乍ら
、以後の論議の間、ピント位置218と219のみが本
発明に関係があるものとして論議されよう。
第5図は、READ SELECTION109の詳
細を示す。
細を示す。
READ SELECTION109の機能は、適当
な源からの所望の32ビット・データ・ワードを選択し
て、それをライン111を介してINTERFACE2
0に移送することである。
な源からの所望の32ビット・データ・ワードを選択し
て、それをライン111を介してINTERFACE2
0に移送することである。
ANDゲート、AGATE405は、ライン415を介
して状態レジスタ・マルチプレクサ、SREG MU
X(図示せず)から受げ取った32ビント・データ・ス
トリームを、ライン41γを介して読取りマルチプレク
サ、RMUX 404から受げ取った32ビント・デ
ータ・ス} IJ−ムと結合する。
して状態レジスタ・マルチプレクサ、SREG MU
X(図示せず)から受げ取った32ビント・データ・ス
トリームを、ライン41γを介して読取りマルチプレク
サ、RMUX 404から受げ取った32ビント・デ
ータ・ス} IJ−ムと結合する。
実際に関係があるのは後者である。
RMUX404は、ライン24a及び24b上に到来す
る二つの32ビット・ワードとして、DREG27(第
1図をも参照)の64ピント出力を受げ取る。
る二つの32ビット・ワードとして、DREG27(第
1図をも参照)の64ピント出力を受げ取る。
RMUX404は、ライン419を介して受け取った選
択入力、SELに基づいて、ライン417を介して移送
するために何れかの入力を選択する。
択入力、SELに基づいて、ライン417を介して移送
するために何れかの入力を選択する。
ライン419が低状態にあれば、RMUX404は、ラ
イン417を介して、ライン24a上のデータをAGA
TE405に移送すべく選択する。
イン417を介して、ライン24a上のデータをAGA
TE405に移送すべく選択する。
ライン419が高状態にあれば、RMUX404は、ラ
イン417を介して、ライン24b上のデータをAGA
TE205へ移送すべく選択する。
イン417を介して、ライン24b上のデータをAGA
TE205へ移送すべく選択する。
インバータ406は、ライン112(上記参照)を介し
てAREG1 04のビット位置2°の内容を受け取る
。
てAREG1 04のビット位置2°の内容を受け取る
。
若し、AREG104のビット位置2°がクリア(即ち
二進のゼロを含む)であれば、ライン112は高である
。
二進のゼロを含む)であれば、ライン112は高である
。
インバータ406は、ライン419を低にさせ、RMU
X404をしてライン24aを選択せしめる。
X404をしてライン24aを選択せしめる。
AREG104のピント位置が2°がセント(即ち二進
の1を含む)であれば、ライン112は低である。
の1を含む)であれば、ライン112は低である。
インバータ406は、ライン419を高にさせ、RMU
X404をしてライン24bを選択せしめる。
X404をしてライン24bを選択せしめる。
RMUX404の可能化入力、ENは、選択された入力
がライン417を介してAGATE405に移送される
か否かを決定する。
がライン417を介してAGATE405に移送される
か否かを決定する。
例えば、ライン414が高であれば、RMUX404は
不能化されて、RMUX404をしてライン417の全
ての32本のコンダクタを高にさせる。
不能化されて、RMUX404をしてライン417の全
ての32本のコンダクタを高にさせる。
しかし乍ら、ライン414が低であれば、RMUX40
4は可能化されて、RMUX404をして選択されたラ
イン(即ちライン24aか又はライン24b)上に受信
されたデータを、ライン417を介してAGATE40
5へ移送せしめる。
4は可能化されて、RMUX404をして選択されたラ
イン(即ちライン24aか又はライン24b)上に受信
されたデータを、ライン417を介してAGATE40
5へ移送せしめる。
RMUX404は型式54LS158の如き8ヶの装置
である。
である。
RMUX404は、ライン414が低のとき可能化され
る。
る。
ライン414は、ライン413が高のとき、インバータ
403によって低にされる。
403によって低にされる。
ライン412が低であるか、又はライン411とライン
29eが低であるとき、ゲート402によってライン4
13は高になされている。
29eが低であるとき、ゲート402によってライン4
13は高になされている。
DREG27からのデータが、かりにもAGATE40
5に可能化されるべき時はその時刻に於て、ライン29
eはTIMING AND CONTROL28に
よって低にさせられる。
5に可能化されるべき時はその時刻に於て、ライン29
eはTIMING AND CONTROL28に
よって低にさせられる。
ライン29eは通常は高であるから、読取アクセス・サ
イクルの終りの間にのみ低になる。
イクルの終りの間にのみ低になる。
ライン29eは、斯くて、DREG27に於げるデータ
が変更させるか又は末だエスタブリッジされない時間の
間に、データの移送を可能化するのを防止する。
が変更させるか又は末だエスタブリッジされない時間の
間に、データの移送を可能化するのを防止する。
ライン411は、ライン32d又はライン36が高であ
るとき、ゲート401によって低になされる。
るとき、ゲート401によって低になされる。
従って、SREG21のビソト位置218がセントされ
ているか、又はSREG21がアクセスされつつあると
き、ゲート401はライン411を低にさせる。
ているか、又はSREG21がアクセスされつつあると
き、ゲート401はライン411を低にさせる。
ライン410が高であるとき、ライン412はインバー
タ407によって低になされる。
タ407によって低になされる。
ライン32eが低であり、(即ちSREG21のピント
位置219がセントされている。
位置219がセントされている。
)、且つライン36が低(即ち、SREG21がアクセ
スされていない)であるとき、ライン410はゲート4
00によって高になされる。
スされていない)であるとき、ライン410はゲート4
00によって高になされる。
第6図は、AGATE405に於ける回路を示している
。
。
これらのANDゲート500〜531は、ライン415
及び417から受信された二つの32ビット・データ・
ストリームを、単一の32ビット・データ・ストリーム
に併合させ、そしてそれはライン111を介してDRI
VERSAND RECEIVERS105に移送さ
れる。
及び417から受信された二つの32ビット・データ・
ストリームを、単一の32ビット・データ・ストリーム
に併合させ、そしてそれはライン111を介してDRI
VERSAND RECEIVERS105に移送さ
れる。
RMUX404とSREG MUX(図示せず)とは
同時に両方が可能化され得ない。
同時に両方が可能化され得ない。
従って、ライン415かライン417かの全ての32本
のコンダクタは全て1でなげればならない。
のコンダクタは全て1でなげればならない。
第7図は、DREG27の動作を示している。
DREG2 7の主たる要素は、72ビット・ランチ/
マルチプレクサ、LATCH/MUX6 00;ラツチ
可能化回路、LATCHEN6 04 ;エラー回路、
ERROR CIRCUIT601;データ・コレク
タ、DATA CORRE CTOR602;及び
64ビット・ランチ、GOODDATA LATCH
603である。
マルチプレクサ、LATCH/MUX6 00;ラツチ
可能化回路、LATCHEN6 04 ;エラー回路、
ERROR CIRCUIT601;データ・コレク
タ、DATA CORRE CTOR602;及び
64ビット・ランチ、GOODDATA LATCH
603である。
正常な読取動作の間、全72ピント・フードは、ライン
33を介してMEMORY ARRAY22からLA
TCH/MUX600によって受け取られる。
33を介してMEMORY ARRAY22からLA
TCH/MUX600によって受け取られる。
この72ビットは、ライン610を介して、DATA
CORRECTOR602へ送られる。
CORRECTOR602へ送られる。
この更正された64ビント・データ・フード(即ちエラ
ー・コードは除去されている)は、ライン611を介し
てGOOD DATA LATCHに移送され、そ
してそこからそれはライン24a及び24bを介して、
二つの32ビット・データ・ワードとしてREAD
SELECTION109に移送される。
ー・コードは除去されている)は、ライン611を介し
てGOOD DATA LATCHに移送され、そ
してそこからそれはライン24a及び24bを介して、
二つの32ビット・データ・ワードとしてREAD
SELECTION109に移送される。
(第5図をも参照)。通常の読取動作の間、全72ピン
ト・フードは、ライン33を介してMEMORY A
RRAY22からLATCH/MUX600によって受
け取られる。
ト・フードは、ライン33を介してMEMORY A
RRAY22からLATCH/MUX600によって受
け取られる。
該72ビット・ワードは、前述の通りエラー更正されて
いる。
いる。
GOOD DATA LATCH603の64ビッ
ト内容は、しかる後ライン614を介してLATCH/
MUX600に戻される。
ト内容は、しかる後ライン614を介してLATCH/
MUX600に戻される。
この書込みデータは、ライン35を介してMUXIOI
から受け取られる。
から受け取られる。
この書込みデータは、LATCH/MUX600の内容
を変更して、その書込みデータが64ビット・データ・
ワードに書かれるように用いられる。
を変更して、その書込みデータが64ビット・データ・
ワードに書かれるように用いられる。
ERRORCIRCUIT601は、新たな8ビント・
エラー・コードを計算し、そしてそれをライン613を
介してLATCH/MUX600に供給する。
エラー・コードを計算し、そしてそれをライン613を
介してLATCH/MUX600に供給する。
この新たな72ビント・ワードは、ライン34を介して
MEMORY ARRAY22に移送されて、適当な
アドレス可能な位置に書込まれる。
MEMORY ARRAY22に移送されて、適当な
アドレス可能な位置に書込まれる。
この64データ・ビソトは、ライン34aを介してGO
OD DATA LATCH603から移送され、
そして8ビント・エラー・コードは、ライン34bを介
してLATCH/MUX600から直接に移送される。
OD DATA LATCH603から移送され、
そして8ビント・エラー・コードは、ライン34bを介
してLATCH/MUX600から直接に移送される。
LATCHEN604は、LATCH/MUX600に
対して、ライン620,621,622,623,62
4及び625を介してその動作を制御する信号を供給す
る。
対して、ライン620,621,622,623,62
4及び625を介してその動作を制御する信号を供給す
る。
LATCHEN604は入力としてライン32,36及
び3Tを必要とする。
び3Tを必要とする。
ライン32は、SREG21のピント位置の状態を移送
する。
する。
ライン36は、SREG21がアクセスされつふあると
き(上記参照)高であり、それ以外の全てのときは低で
ある。
き(上記参照)高であり、それ以外の全てのときは低で
ある。
ライン37は、TIMINGAND CONTROL
28からの幾つかのタイミンク信号を移送する。
28からの幾つかのタイミンク信号を移送する。
これらのタイミング信号は以下に述べられる。
ERROR CIRCUIT601、DATA C
ORRECTOR602及びGOOD DATA
LATCH603は一般のショットキー( schot
tky )及びロー・パワー・ショントキー( low
− power − schttky )装置を用い
て装備されており、それらについては詳細に説明しない
。
ORRECTOR602及びGOOD DATA
LATCH603は一般のショットキー( schot
tky )及びロー・パワー・ショントキー( low
− power − schttky )装置を用い
て装備されており、それらについては詳細に説明しない
。
LATCH/MUX600は72ピント位置を含んでい
る。
る。
第8a図は64データ・ピント位置の1つ(即ち、2°
,21,22,・・・・・・・・・・・・・・・又は2
63)を示している。
,21,22,・・・・・・・・・・・・・・・又は2
63)を示している。
第8b図はエラー・コードにあてられた8ビント位置の
一つ(即ち、264,265 , 266,・・・・・
・・・・・・・・・・又は271)を示している。
一つ(即ち、264,265 , 266,・・・・・
・・・・・・・・・・又は271)を示している。
第8a図を参照すると、一つのデータ・ピントはMEM
ORY ARRAY22からライン33x(即ちX番
目のピント位置)を介して、MUX101からライン3
5xを介して、或いはGOODDATA LATCH
603からライン614Xを介して入力を受け得ること
が判る。
ORY ARRAY22からライン33x(即ちX番
目のピント位置)を介して、MUX101からライン3
5xを介して、或いはGOODDATA LATCH
603からライン614Xを介して入力を受け得ること
が判る。
ライン610xは、LATCH/MUX6 00のX番
目位置の出力である。
目位置の出力である。
ライン610x,インバータ701X、ライン706X
、及びゲート102Xヲ含ムこのフイードバンク・ルー
プは、このピント位置を定常状態にランチする。
、及びゲート102Xヲ含ムこのフイードバンク・ルー
プは、このピント位置を定常状態にランチする。
ライン620はクリア入力である。
ライン620が高であるとき、このビント位置はランチ
する。
する。
ライン620が低であるとき、このピント位置はランチ
しない(又はランチされたま〜に留まる)。
しない(又はランチされたま〜に留まる)。
ライン622は、それが高のとき、ライン33x上のデ
ータ・ピントをしてゲー}703xを介して該ランチ内
に可能化させる。
ータ・ピントをしてゲー}703xを介して該ランチ内
に可能化させる。
ライン623上の高はライン35x上のデータ・ビット
をしてゲー}704xを介して該ランチに入らしめる。
をしてゲー}704xを介して該ランチに入らしめる。
ライン624上の高は、ライン614X上のデータ・ビ
ットをして該ランチに入らしめる。
ットをして該ランチに入らしめる。
第8b図を参照すルト、LATCH/MUX600のy
番目のビットの動作が見られ、そしてそのy番目のビン
トは8ヶのエラー・コード・ビントの内の一つである。
番目のビットの動作が見られ、そしてそのy番目のビン
トは8ヶのエラー・コード・ビントの内の一つである。
ライン33yはMEMORY ARRAY22からの
y番目のピントを移送する。
y番目のピントを移送する。
ライン35y はMUX101から受け取られたライ
ン35の最下位の8ビット位置に対応する一つ(即ち、
2°,21,22,・・・・・・・・・・・・・・・又
は27)を移送する。
ン35の最下位の8ビット位置に対応する一つ(即ち、
2°,21,22,・・・・・・・・・・・・・・・又
は27)を移送する。
このことは、ライン350ビント位置2°〜27がL
A T C H/MUX600の対応するデータ・ビッ
ト位置に接続されるだけではなく(第8a図参照)、第
8b図に示される如く、8ヶのエラーコード・ピント位
置にも接続されていることを意味する。
A T C H/MUX600の対応するデータ・ビッ
ト位置に接続されるだけではなく(第8a図参照)、第
8b図に示される如く、8ヶのエラーコード・ピント位
置にも接続されていることを意味する。
これらのランチ、クリア及び可能化機能は、GOODD
ATA LATCH603からの入力(即ちライン6
14)が不要であることを除けば第8a図に示されたも
のと同等である。
ATA LATCH603からの入力(即ちライン6
14)が不要であることを除けば第8a図に示されたも
のと同等である。
ゲート750yの出力はライン34byとライン610
yとを介して移送される。
yとを介して移送される。
第9図は、LATCHEN604の回路網を示す。
64個のデータ・ランチに対するクリア信号(即ちライ
ン620上の低信号)は、第9図から判るように、ライ
ン37d上の高、又はライン821上の高と、ライン3
7 a ,3 7 b又は37cの何れか一つに於け
る低とによってもたらされる。
ン620上の低信号)は、第9図から判るように、ライ
ン37d上の高、又はライン821上の高と、ライン3
7 a ,3 7 b又は37cの何れか一つに於け
る低とによってもたらされる。
ライ” 3 7 a ,3 7 b ,3 7 c及び
37dは、TIMING AND CONTROL
28の出力であり、そしてそのT I MI NGAN
D CONTROL28は(低である)、ノーマルな
読取りモード、書込みモード・バースト読取りモードの
クリア化を可能にさせ(即ち、MEMORY1 1の機
能は末だ利用できない)、書込データを可能化させる。
37dは、TIMING AND CONTROL
28の出力であり、そしてそのT I MI NGAN
D CONTROL28は(低である)、ノーマルな
読取りモード、書込みモード・バースト読取りモードの
クリア化を可能にさせ(即ち、MEMORY1 1の機
能は末だ利用できない)、書込データを可能化させる。
若し、SREG21のビン}, 218 (第4図及び
表Aをも参照)がセントされていれば、ライン821は
低であり、ライン37a ,37b及び37c上のノー
マルなクリア可能化信号は64箇のデータ・ランチをク
リアできない。
表Aをも参照)がセントされていれば、ライン821は
低であり、ライン37a ,37b及び37c上のノー
マルなクリア可能化信号は64箇のデータ・ランチをク
リアできない。
このことは、閉鎖ループ・エラー(即ちSREG21の
ピント位置218)がセントされているときはいつもL
ATCH/MUX600のみの内容の読取り許す(即ち
LATCH/MUX600の内容を変更しない)ために
必要である。
ピント位置218)がセントされているときはいつもL
ATCH/MUX600のみの内容の読取り許す(即ち
LATCH/MUX600の内容を変更しない)ために
必要である。
同様に、ライン621は、それが低になるときはいつも
8箇のエラー・コード・データ・ランチをクリアする。
8箇のエラー・コード・データ・ランチをクリアする。
ノーマルな読取りに関して、このことは、TIMING
AND CONTROL28からのライン37f
上のタイミング信号が高になるときはいつも(即ちノー
マルな読取りの間)生ずる。
AND CONTROL28からのライン37f
上のタイミング信号が高になるときはいつも(即ちノー
マルな読取りの間)生ずる。
若し閉鎖ループ・エラーがセントされていれば、ライン
821は低であり、8箇のエラーコード・ランチは、読
取りアクセスの間クリアされ得ない。
821は低であり、8箇のエラーコード・ランチは、読
取りアクセスの間クリアされ得ない。
ライン622はそれが高のとき、読取りアクセスの間、
MEMORY ARRAY22から受信された読取り
データに対してLATCH/MUX600の72ピント
位置の全てをランチする。
MEMORY ARRAY22から受信された読取り
データに対してLATCH/MUX600の72ピント
位置の全てをランチする。
閉鎖ループ・エラーがセントされているときはいつも、
ライン622は高になり得ない(常に低である)ことに
留意されたい。
ライン622は高になり得ない(常に低である)ことに
留意されたい。
これはMEMORYARRAY22からの如何なるデー
タもLATCH/MUX600にランチされないように
させる。
タもLATCH/MUX600にランチされないように
させる。
ライン623は、TIMING AND
CONTROL28から受信された可能化書込データ(
低)ライン37dに応答してMUX101から受信され
た書込データをLATCH/MUX600にランチする
。
低)ライン37dに応答してMUX101から受信され
た書込データをLATCH/MUX600にランチする
。
ライン624は、ライン614を介して受信されたGO
OD DATA LATCH603からのデータを
、それが高になるときにランチする。
OD DATA LATCH603からのデータを
、それが高になるときにランチする。
閉鎖ループ・エラーがクリアであり且つライン37a(
即ち読取りモード)、37b(即ち書込みモード)又は
37c(即ちバースト読取りモード)の内の一つがTI
MING ANDCONTROL28によって低kな
されているときはいつもこのことが通常は起る。
即ち読取りモード)、37b(即ち書込みモード)又は
37c(即ちバースト読取りモード)の内の一つがTI
MING ANDCONTROL28によって低kな
されているときはいつもこのことが通常は起る。
しかし乍ら、閉鎖ループ・エラーがセントされていると
き、ライン821は低であり、ライン37a,37b及
び37cの何れもライン624を高にさせることができ
ない。
き、ライン821は低であり、ライン37a,37b及
び37cの何れもライン624を高にさせることができ
ない。
若しSREG21がアクセスされつつあり(即ち、ライ
ン36が第4図に示される如く高である)、ライン37
eが高になれば、ライン624もまた高になることがで
きる。
ン36が第4図に示される如く高である)、ライン37
eが高になれば、ライン624もまた高になることがで
きる。
ライン37eは、SREG21へのアクセスの間、GO
OD DATA LATCH603の内容をLAT
CH/MUX600にランチすることを不可能にさせる
ために、TIMING ANDCONTROL2Bに
よって発生されたタイミング信号である。
OD DATA LATCH603の内容をLAT
CH/MUX600にランチすることを不可能にさせる
ために、TIMING ANDCONTROL2Bに
よって発生されたタイミング信号である。
ライン625が設げられて、MUXIOIからのデータ
がライン35を介して、LATCH/MUX600の8
箇のエラー・コード・ビット位置に受け取られるのを可
能にさせる。
がライン35を介して、LATCH/MUX600の8
箇のエラー・コード・ビット位置に受け取られるのを可
能にさせる。
これは、テストの目的でCPUI Oが8箇のエラー・
コード・ピント位置にテスト・データを直接に書込むこ
とを許す。
コード・ピント位置にテスト・データを直接に書込むこ
とを許す。
SREG21のビット位置219がセントされ(即ちラ
イン32eは低である)、且つSREG21がアクセス
されていない(即ち、ライン36は低である)ときはい
つも、ライン625は高になる(即ちライン35からの
データをランチする)。
イン32eは低である)、且つSREG21がアクセス
されていない(即ち、ライン36は低である)ときはい
つも、ライン625は高になる(即ちライン35からの
データをランチする)。
第10図は,SREG21のビット位置の内の一つ(即
ち、216又は217)を二進の1にセントし、閉鎖ル
ープ・エラーの更正機能を許すのに必要なキー信号の相
対的なタイミングを示している。
ち、216又は217)を二進の1にセントし、閉鎖ル
ープ・エラーの更正機能を許すのに必要なキー信号の相
対的なタイミングを示している。
ライン12は、一つのアドレス・ワード及び一つの8、
l6、又は32ビント・データ・フードとして移送され
たCPU1 0からのデータを含むライン113は、ア
クセス・リクエスト及び書込みコマンドの存在を示す。
l6、又は32ビント・データ・フードとして移送され
たCPU1 0からのデータを含むライン113は、ア
クセス・リクエスト及び書込みコマンドの存在を示す。
ライン29aは、アドレス・ワード・サイクル、ACY
CLE及びデータ・ワード・サイクルWCYCLEのタ
イミングを示しており、ゲーテイング信号はライン29
bを介してDMUX1 02へTIMING AND
CONTROL28によって供給され、該アドレス・ワ
ードをAREG104(即ちGATE A)へゲート
し、該データ・ワードをSREG2 1(即ちGATE
D)へゲートする。
CLE及びデータ・ワード・サイクルWCYCLEのタ
イミングを示しており、ゲーテイング信号はライン29
bを介してDMUX1 02へTIMING AND
CONTROL28によって供給され、該アドレス・ワ
ードをAREG104(即ちGATE A)へゲート
し、該データ・ワードをSREG2 1(即ちGATE
D)へゲートする。
TIMINGAND CONTROL28はENAB
LE Aにライン29cを介して移送して、アドレス
決定(即ちAREG104はX777778を含む)を
ライン25に与えさせる。
LE Aにライン29cを介して移送して、アドレス
決定(即ちAREG104はX777778を含む)を
ライン25に与えさせる。
ライン120,121及び122は、そのアドレス・フ
ードとデータ・ワードとを導通する。
ードとデータ・ワードとを導通する。
優先回路100はMUX101に、可能な8箇のインタ
フエイスの内の何れをライン126を介して選択するか
を知らせる。
フエイスの内の何れをライン126を介して選択するか
を知らせる。
第11a図は、閉鎖ループ・エラーが書込アクセスを更
正し、LATCH/MUX600の64データ・ビット
位置のみを修正し、LATCH/MUX600の書込デ
ータをそのま工に留めるのに必要なキー信号の相対的タ
イミングを示す。
正し、LATCH/MUX600の64データ・ビット
位置のみを修正し、LATCH/MUX600の書込デ
ータをそのま工に留めるのに必要なキー信号の相対的タ
イミングを示す。
この書込みアクセスは、SREG21のビント218及
び219がセントされていることを除いて通常通りに生
ずる。
び219がセントされていることを除いて通常通りに生
ずる。
これはライン32a及びライン32eを低にさせる。
ライン620はLATCH/MUX600の64データ
・ビット位置をクリアする。
・ビット位置をクリアする。
ライン621は、8箇のエラー・コード・ビット位置が
クリアされていないことを示している。
クリアされていないことを示している。
ライン622は、MEMORY ARRAY22から
の72ピント・ワードがLATCH/MUX600に可
能化されないことを示す。
の72ピント・ワードがLATCH/MUX600に可
能化されないことを示す。
ライン623は、ライン35を介してMUX101から
受け取った32ビントのみがLATCH/MUX600
へ可能化されることを示す。
受け取った32ビントのみがLATCH/MUX600
へ可能化されることを示す。
第11b図は、閉鎖ループ・エラーの読取りアクセスに
必要なキー信号の相対的タイミングを示しており、そし
てそのアクセスはL A T C H/MUX600の
内容から単に読取るだけで、読取りアクセスの間にアド
レスされるところのMEMORY ARRAY22の
アドレス位置からデータを移送しない。
必要なキー信号の相対的タイミングを示しており、そし
てそのアクセスはL A T C H/MUX600の
内容から単に読取るだけで、読取りアクセスの間にアド
レスされるところのMEMORY ARRAY22の
アドレス位置からデータを移送しない。
閉鎖ループ・エラーがセントされている(即ちライン3
2dが低である)ことに留意されたい。
2dが低である)ことに留意されたい。
ライン29aは、アドレス・サイクル(ACYCLE)
及び読取りサイクル(RCYCLE )が開始されつ〜
あることを示す。
及び読取りサイクル(RCYCLE )が開始されつ〜
あることを示す。
しかし乍ら、ライン620は高に留まる(即ち、LAT
CH/MUX600の64データ・ビット位置はクリア
されない)。
CH/MUX600の64データ・ビット位置はクリア
されない)。
その上更に、ライン622は、64データ・ピント位置
又は8箇のエラー・コード・ピント位置の何れかに於て
、MEMORY ARRAY22から受信された何等
のデータもLATCH/MUX600に可能化されない
ことを示している。
又は8箇のエラー・コード・ピント位置の何れかに於て
、MEMORY ARRAY22から受信された何等
のデータもLATCH/MUX600に可能化されない
ことを示している。
ライン624は、GOOD DATA LATCH
603からLATCH/MUX600へ何等のデータも
可能化されないことを示している。
603からLATCH/MUX600へ何等のデータも
可能化されないことを示している。
上述の開示は、閉鎖ループ・エラー更正機能を与えてい
る本発明の好適な具体例を説明している。
る本発明の好適な具体例を説明している。
状態レジスタSREG21のピント位置218及び21
9は、この特徴の動作を制御する。
9は、この特徴の動作を制御する。
ビット位置218がセントされていれば、読取り及び書
込みアクセスは、LATCH/MUX600に単に書込
み又はそれから単に読取るだけである。
込みアクセスは、LATCH/MUX600に単に書込
み又はそれから単に読取るだけである。
ビット位置219がセントされていれば、LATCH/
MUX600の8箇のエラー・コード・ビット位置への
直接のアクセスがなされ得る。
MUX600の8箇のエラー・コード・ビット位置への
直接のアクセスがなされ得る。
これらの新規々能力を用いて、テスト・ソフトウエアが
発生され、そしてそれはMEMORY ARRAY2
2ヘアクセスすることなしに、エラー更正回路(FCC
)の適切な動作を直接にテストすることができる。
発生され、そしてそれはMEMORY ARRAY2
2ヘアクセスすることなしに、エラー更正回路(FCC
)の適切な動作を直接にテストすることができる。
第1図は、メモリ・モジュール即ちその主たる構成部品
を持ったMEMORY1 1を含むコンピュータを示し
ている。 第2図は、インタフエイス論理の動作を示している。 第3図は、手動モード・チェンジの能力を与える回路網
を説明している。 第4図は、閉鎖ループ・エラー更正に供された状態レジ
スタ回路網を示している。 第5図は、読取選択回路網READ SELECTI
ON109の動作を示している。 第6図は、アンド・ゲート回路網AGATE405の説
明を与えている。 第7図は、メモリ・モジュールのデータ・レジスタDR
EG27の全体の説明を与えている。 第8a図は、ビント位置2°〜263に於けるLATC
I{//MUX600の一つのピント位置を示している
。 第8b図は、ビント位置264〜271に於けるLAT
CH/MUX600の一つのビット位置を示している。 第9図は、LATCH/MUX600可能化回路LAT
CHEN604の図解を与えている。 第10図は、状態レジスタSREG21に対する書込ア
クセスの相対的タイミングを示す。 第11a図は、閉鎖ループ・エラー・セントでの書込ア
クセスの相対的タイミングを示す。 第1 1 b図は、閉鎖ループ・エラー・セントでの読
出しアクセスの相対的タイミングを示す。 符号の説明、10:中央処理装置(CPU)、11:メ
モリ・モジュール、20:インタフエイス回路網、21
:状態レジスタ、22:メモリ・アレイ、27:データ
・レジスタ、28:タイミング及び制御回路、31:手
動モード変更回路網、100:優先回路、101:マル
チプレクサ、102:デマルチプレクサ,104:アド
レス・レジスタ、105:駆動及び受信回路、109:
読取選択回路、200:単極双投スインチ、300:フ
リソプ・フロソプ,305:4ビット・ランチ、404
:読取りマルチプレクサ、405:アンド・ゲート、6
00:72ビント・ラソチ/マルチプレクサ、601:
エラー回路、602:データ・コレクタ、603:
64ビソト・ランチ、604:ランチ可能化回路。
を持ったMEMORY1 1を含むコンピュータを示し
ている。 第2図は、インタフエイス論理の動作を示している。 第3図は、手動モード・チェンジの能力を与える回路網
を説明している。 第4図は、閉鎖ループ・エラー更正に供された状態レジ
スタ回路網を示している。 第5図は、読取選択回路網READ SELECTI
ON109の動作を示している。 第6図は、アンド・ゲート回路網AGATE405の説
明を与えている。 第7図は、メモリ・モジュールのデータ・レジスタDR
EG27の全体の説明を与えている。 第8a図は、ビント位置2°〜263に於けるLATC
I{//MUX600の一つのピント位置を示している
。 第8b図は、ビント位置264〜271に於けるLAT
CH/MUX600の一つのビット位置を示している。 第9図は、LATCH/MUX600可能化回路LAT
CHEN604の図解を与えている。 第10図は、状態レジスタSREG21に対する書込ア
クセスの相対的タイミングを示す。 第11a図は、閉鎖ループ・エラー・セントでの書込ア
クセスの相対的タイミングを示す。 第1 1 b図は、閉鎖ループ・エラー・セントでの読
出しアクセスの相対的タイミングを示す。 符号の説明、10:中央処理装置(CPU)、11:メ
モリ・モジュール、20:インタフエイス回路網、21
:状態レジスタ、22:メモリ・アレイ、27:データ
・レジスタ、28:タイミング及び制御回路、31:手
動モード変更回路網、100:優先回路、101:マル
チプレクサ、102:デマルチプレクサ,104:アド
レス・レジスタ、105:駆動及び受信回路、109:
読取選択回路、200:単極双投スインチ、300:フ
リソプ・フロソプ,305:4ビット・ランチ、404
:読取りマルチプレクサ、405:アンド・ゲート、6
00:72ビント・ラソチ/マルチプレクサ、601:
エラー回路、602:データ・コレクタ、603:
64ビソト・ランチ、604:ランチ可能化回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 少なくとも1つの処理装置10および少なくとも1
つのメモリモジュール11が設けられており、このメモ
リモジュールは、半導体メモリアレイ22とデータレジ
スタ27を有し、このデータレジスタは、データと誤り
デジントを保持する保持レジスタ600、およびメモリ
アレイに書込むべきデータについて誤り符号デジットを
発生しかつ読出されたデータの誤りを訂正する誤り訂正
回路601 ,602を有する、プログラム制御可能な
計算機において、 メモリモジュールが、さらにセント可能な装置305を
有し、このセット可能な装置は、誤り訂正回路をチェッ
クする保守モードの際にセント可能であり、それにより
読み書き命令が、メモリアレイ22をアドレス制御する
ことなく、それぞれ保持レジスタ600から読取りかつ
ここに書込みを行い、この時同時に誤り訂正回路601
,602は、保持レジスタ600の内容に従って訂正動
作を行うことを特徴とする、プログラム制御可能な計算
機。 2 メモリモジュール11が状態レジスタ21を有し、
またセット可能な装置305が、状態レジスタのデジツ
} 218 , 219の少な《とも一方を保持する装
置を有する、特許請求の範囲第1項記載の計算機。 3 手動操作可能な保守スイッチ装置(第3図)が設け
られており、このスイッチ装置が、操作の際に保守モー
ドを設定し、その際プログラムがエネーブルされ、デジ
ットを状態レジスタ21に書込む、特許請求の範囲第2
項記載の計算機。 4 セット可能な装置305が、状態レジスタ2102
つのデジット位置218 , 219を含み、カ・つ保
守モードにおいて、第1のデジット218をセットした
際に保持レジスタ600のデータビット位置(第8a図
)にまたはここからデータを書込みまたは読出すことが
でき、また第2のデジット219をセントした際に保持
レジスタ600の誤り符号位置(第8b図)にまたはこ
こからデータを書込みまたは読出すことができるように
なっている、特許請求の範囲第2項または第3項記載の
計算機。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/964,993 US4223382A (en) | 1978-11-30 | 1978-11-30 | Closed loop error correct |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5578358A JPS5578358A (en) | 1980-06-12 |
JPS5848933B2 true JPS5848933B2 (ja) | 1983-11-01 |
Family
ID=25509285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP54156301A Expired JPS5848933B2 (ja) | 1978-11-30 | 1979-11-30 | プログラム制御可能な計算機 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4223382A (ja) |
EP (1) | EP0012017B1 (ja) |
JP (1) | JPS5848933B2 (ja) |
DE (1) | DE2963191D1 (ja) |
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-
1979
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- 1979-11-29 DE DE7979302727T patent/DE2963191D1/de not_active Expired
- 1979-11-30 JP JP54156301A patent/JPS5848933B2/ja not_active Expired
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JPS62175227U (ja) * | 1986-04-28 | 1987-11-07 |
Also Published As
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---|---|
US4223382A (en) | 1980-09-16 |
DE2963191D1 (en) | 1982-08-12 |
EP0012017A3 (en) | 1980-10-01 |
EP0012017B1 (en) | 1982-06-23 |
JPS5578358A (en) | 1980-06-12 |
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