JPS5846947A - X線断層撮像装置 - Google Patents
X線断層撮像装置Info
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- JPS5846947A JPS5846947A JP56144648A JP14464881A JPS5846947A JP S5846947 A JPS5846947 A JP S5846947A JP 56144648 A JP56144648 A JP 56144648A JP 14464881 A JP14464881 A JP 14464881A JP S5846947 A JPS5846947 A JP S5846947A
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- ray
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 19
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 5
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000002872 contrast media Substances 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 1
- 229940039231 contrast media Drugs 0.000 description 1
- 230000003902 lesion Effects 0.000 description 1
- 210000000954 sacrococcygeal region Anatomy 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発qFi、人体の断層像をX線を用いて測定するX線
断層(CT)装置に関する。
断層(CT)装置に関する。
X線CT装置は、断層像を得たい平面内のX線ビーム透
過量をあらゆる角度・位置について測定し、フィルター
ドパツク・プロジェクション法等の偉再生アルゴリズム
によシ測定データを処理することによシ、医療診断用の
断層画像を得るものである。X1llCT装置を用いた
診断では、既に被検査体の全体断層像が得られている場
合、人体へのX線被ばく量を極力小さく抑えて、病巣部
のその後の変化を示す断層g1t−得ることが望まれる
。
過量をあらゆる角度・位置について測定し、フィルター
ドパツク・プロジェクション法等の偉再生アルゴリズム
によシ測定データを処理することによシ、医療診断用の
断層画像を得るものである。X1llCT装置を用いた
診断では、既に被検査体の全体断層像が得られている場
合、人体へのX線被ばく量を極力小さく抑えて、病巣部
のその後の変化を示す断層g1t−得ることが望まれる
。
本発明の目的は、被検査体の断層像のうち、診断に必要
な一部の関心領域のみを通るようにX線ビームを照射し
て得たX線透過量データと、事帥に得られている同−被
検壷体OCT断層倫データとを使用し、少ない被ばく量
で関心領域のみの断層fllt−llチー°XX線検出
装置提供するものである。
な一部の関心領域のみを通るようにX線ビームを照射し
て得たX線透過量データと、事帥に得られている同−被
検壷体OCT断層倫データとを使用し、少ない被ばく量
で関心領域のみの断層fllt−llチー°XX線検出
装置提供するものである。
本発明においては、断層画像中の関心領域以外の領域の
画像情報が予め得られている場合、その後変化を生じた
と居われる関心領域に関するXSビーム透過l゛だけを
新たに測定すれば、断層像が再生できるという原理が用
いられる。この原理を第1図を用いて説明する。
画像情報が予め得られている場合、その後変化を生じた
と居われる関心領域に関するXSビーム透過l゛だけを
新たに測定すれば、断層像が再生できるという原理が用
いられる。この原理を第1図を用いて説明する。
本発明においては、少なくとも1回は従来のX線C’T
![と同様、第1図(至)に示す如く、X線全体照射に
よる全省域再成を行ない、全体断層画像aを用意してお
く。その後被検査者の病状の変化、造影剤等による像の
変化郷を診断したい場合には、全体iaiIgI@域a
の中に病巣部を包含する関心領域φを設定し、このとき
X@照射は領域φに関する範囲についてのみ行なう。す
なわち、角度θの方向からのX線ビームの照射は、領域
φを含む範囲のα、からβ、までについて行なう。これ
による測定データをg (X、θ)で表わす。ここで得
たいデニタは、被検査者の関心領異φ内部だけが値を持
ち他Fimoであるような断層像のX線ビーム透過量デ
ータg、(X、θ)が求まれは、従来のφだけの像再生
を行なうことができる。ところで、上記のX線部分照射
測定データg (X、θ)は、断層像のうち第1図■に
斜線を施して示す領域Ω、と破線で囲んで示し念省域φ
の透過量データの和である。すなわち、 g(X、(1に=gΩ、(X、θ)+ g、(X、θ)
(1)である。従って、予め得られている断層像のうち
、伽域φ内部の値を0として模擬的にX線透過量gQ#
(X、θ)を求め、下記演算を行なうことによってg
(X、θ)を求めることができる。
![と同様、第1図(至)に示す如く、X線全体照射に
よる全省域再成を行ない、全体断層画像aを用意してお
く。その後被検査者の病状の変化、造影剤等による像の
変化郷を診断したい場合には、全体iaiIgI@域a
の中に病巣部を包含する関心領域φを設定し、このとき
X@照射は領域φに関する範囲についてのみ行なう。す
なわち、角度θの方向からのX線ビームの照射は、領域
φを含む範囲のα、からβ、までについて行なう。これ
による測定データをg (X、θ)で表わす。ここで得
たいデニタは、被検査者の関心領異φ内部だけが値を持
ち他Fimoであるような断層像のX線ビーム透過量デ
ータg、(X、θ)が求まれは、従来のφだけの像再生
を行なうことができる。ところで、上記のX線部分照射
測定データg (X、θ)は、断層像のうち第1図■に
斜線を施して示す領域Ω、と破線で囲んで示し念省域φ
の透過量データの和である。すなわち、 g(X、(1に=gΩ、(X、θ)+ g、(X、θ)
(1)である。従って、予め得られている断層像のうち
、伽域φ内部の値を0として模擬的にX線透過量gQ#
(X、θ)を求め、下記演算を行なうことによってg
(X、θ)を求めることができる。
φ
g (X、 #)= g(X、19)−gΩ (X、θ
)(2)−− この場合、X線ビームを範囲〔α−1β−〕内で一定嘘
度照射にしようとすると、範囲〔α#、β−〕の外側で
は強度を′完全に0にはできないという実際上の問題が
ある。そこで第1図■に示すように、構製的X線透過量
gJ7#(X、#)の範囲〔a#。
)(2)−− この場合、X線ビームを範囲〔α−1β−〕内で一定嘘
度照射にしようとすると、範囲〔α#、β−〕の外側で
は強度を′完全に0にはできないという実際上の問題が
ある。そこで第1図■に示すように、構製的X線透過量
gJ7#(X、#)の範囲〔a#。
β、〕外部の鎗を0どする処理が必要となる。本処理を
ここでは記号〔〕で表わす。
ここでは記号〔〕で表わす。
以上のように本発明においては、あらかじめ得られてい
る断層−1像データと、変化を生じた部分を全て含むよ
うに設定された関心領域φにのみX線ビームを照射して
得た透過量g (X、 θ)データとを用いて、少ない
X線被はく量で関心領域φの像再生を行なうものである
。
る断層−1像データと、変化を生じた部分を全て含むよ
うに設定された関心領域φにのみX線ビームを照射して
得た透過量g (X、 θ)データとを用いて、少ない
X線被はく量で関心領域φの像再生を行なうものである
。
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第2図は本発明の一実施例を示す&置全体構成図である
。図において、被検査者1は、ファンビーム型のX線照
射装置2の内部に゛固定され、駆動装置3に1よシ同時
に回転するxi源4およびX線検出器列5により、図に
示す断面内でのあらゆる角度・位置のX線透過蓋g (
X、θ)が測定される。
。図において、被検査者1は、ファンビーム型のX線照
射装置2の内部に゛固定され、駆動装置3に1よシ同時
に回転するxi源4およびX線検出器列5により、図に
示す断面内でのあらゆる角度・位置のX線透過蓋g (
X、θ)が測定される。
全体照射モードでは%X線照射仙域側限用のコリメータ
6a、6bFi全開され、被検査者断面l全体を含むよ
うにファンビーム7が形成される。
6a、6bFi全開され、被検査者断面l全体を含むよ
うにファンビーム7が形成される。
X*検出器列5のそれぞれの検出器の出力はA/D変換
され、断層像再生データ処理装ait8に入力される。
され、断層像再生データ処理装ait8に入力される。
本人力は、X1li源4および検出器列5が微少角回転
する直に行なわれる。全体照射モードでは、スイッチ9
は図示された位置となる。データ処理装置8で鉱フィル
タードバックフロジエクション処理等が行なわれ、結果
としての断層画像データは写真lOあるいはモニタ11
に出力されると共に出力装置12を介して磁気テープ、
あるいはフロッピーティスフなどの外部記憶媒体13に
出力される。
する直に行なわれる。全体照射モードでは、スイッチ9
は図示された位置となる。データ処理装置8で鉱フィル
タードバックフロジエクション処理等が行なわれ、結果
としての断層画像データは写真lOあるいはモニタ11
に出力されると共に出力装置12を介して磁気テープ、
あるいはフロッピーティスフなどの外部記憶媒体13に
出力される。
関心領域照射モードでは、先ず収納庫14から取シ出し
7’(記憶媒体131人力装置15にセットすることに
より、被検査者の前回の断層画像データがiik1gI
I記憶装置1.6−に一旦格納され、画像ディスプレイ
17に表示される1診断者19は、表示された全体の断
層画像を見ながら関心領域り水装置18g操作し、造影
剤や病状によシ変化していると考えられる領域φを画像
ディスプレイ17上で指示する。このように指示された
関心領域φは−輪郭の座標餉列あるいは、円−楕円・長
方形等の位置形状パラメータ値として、X線コリメータ
制御関数演算装置21とX線透過量模擬演算装置22に
送られる。X線コリメータ制御関数演算装置21は、第
3図に示すごとく、関心領域φにのみX線を照射して他
の領域には可能な限りX線を照射をしないように、コリ
メータ5a、5bの位置をX線照射装置20回転角ψの
関数として求める。
7’(記憶媒体131人力装置15にセットすることに
より、被検査者の前回の断層画像データがiik1gI
I記憶装置1.6−に一旦格納され、画像ディスプレイ
17に表示される1診断者19は、表示された全体の断
層画像を見ながら関心領域り水装置18g操作し、造影
剤や病状によシ変化していると考えられる領域φを画像
ディスプレイ17上で指示する。このように指示された
関心領域φは−輪郭の座標餉列あるいは、円−楕円・長
方形等の位置形状パラメータ値として、X線コリメータ
制御関数演算装置21とX線透過量模擬演算装置22に
送られる。X線コリメータ制御関数演算装置21は、第
3図に示すごとく、関心領域φにのみX線を照射して他
の領域には可能な限りX線を照射をしないように、コリ
メータ5a、5bの位置をX線照射装置20回転角ψの
関数として求める。
照射角度θに対するこのようなコリメータの位置の例を
第5図に示す。)’1 e Y會は第4図に示す2つの
コリメータ5a、5bの位置座標である。
第5図に示す。)’1 e Y會は第4図に示す2つの
コリメータ5a、5bの位置座標である。
左右のコリメータ6a、6bti、第4図のようにX線
を遮断する。左右のコリメータ6M、6bはそれぞれ独
立にモータ23で矢印の方向にスライドする。コリメー
タ6m(6b)の位置y*(y*)はポテンシオメータ
24で検出され、制御装置26から出力されるコリメー
タ位置指示データと共にサーボアンプ25に入力される
。制御装置26は、X線源4の回転角検出装置27から
の回転角ψに応じ元コリメータ位置指示データyl。
を遮断する。左右のコリメータ6M、6bはそれぞれ独
立にモータ23で矢印の方向にスライドする。コリメー
タ6m(6b)の位置y*(y*)はポテンシオメータ
24で検出され、制御装置26から出力されるコリメー
タ位置指示データと共にサーボアンプ25に入力される
。制御装置26は、X線源4の回転角検出装置27から
の回転角ψに応じ元コリメータ位置指示データyl。
’/* (9’)、 Y* (9’lによシ求め出力す
る。第5図に例−を示した制御関数は、実際には角度ψ
と位置y1゜y禦の対応テーブルの形で制御装置26に
転送される。
る。第5図に例−を示した制御関数は、実際には角度ψ
と位置y1゜y禦の対応テーブルの形で制御装置26に
転送される。
一方、関心領域指示装置18から入力された領域φを指
定するパラメータデータは、前回得られた被検査者の断
層像全体データと共KX線透過量模模疑算装置22に入
力される。装置22け、全体断層像のうち今回指定され
た関心領域φの内部に位置した値を0に置き換えること
によって、両速した断層像の模擬的なX線透過量gQa
(X、e)を演算する。この演算は各X線照射角0につ
いて行ない、領域φをぎシぎ9カバーする範囲〔α−9
β−〕を佃領域から求めた後、この範囲内についてのみ
行なう。本演算は離散的な正規格子上の2次元iiiI
gNデータを模擬的なX線ビーム線上で内挿′i! 処理し、X線ビーム方向に積分するものである。
定するパラメータデータは、前回得られた被検査者の断
層像全体データと共KX線透過量模模疑算装置22に入
力される。装置22け、全体断層像のうち今回指定され
た関心領域φの内部に位置した値を0に置き換えること
によって、両速した断層像の模擬的なX線透過量gQa
(X、e)を演算する。この演算は各X線照射角0につ
いて行ない、領域φをぎシぎ9カバーする範囲〔α−9
β−〕を佃領域から求めた後、この範囲内についてのみ
行なう。本演算は離散的な正規格子上の2次元iiiI
gNデータを模擬的なX線ビーム線上で内挿′i! 処理し、X線ビーム方向に積分するものである。
演算装置22からの模擬的なX線透過量gJ7.(X。
θ)と、範囲〔α−2−β−〕は、X線ビームの照射角
の徐少変化Δθごとに減算装置28に送られ、検出器列
5から入力される部分照射によるX線ビーム透過量g
(X、θ)との差が求められる。なお本演算の結果は、
範囲〔α−9β−〕以外を0、とじ、 (g(X、#)−gΩ、(X、θ)〕 で表わされるX線ビーム透過量分布を示すデータ(第1
図■の実線部分に相当)として断層像再生データ処塩装
置8に入力される。関心領域照射モードではスイッチ9
は減算装置28側に倒されている。減算装置28の実施
例を第6図に示す。ある照射角θに関する実測X線ビー
ム透過1tg(X。
の徐少変化Δθごとに減算装置28に送られ、検出器列
5から入力される部分照射によるX線ビーム透過量g
(X、θ)との差が求められる。なお本演算の結果は、
範囲〔α−9β−〕以外を0、とじ、 (g(X、#)−gΩ、(X、θ)〕 で表わされるX線ビーム透過量分布を示すデータ(第1
図■の実線部分に相当)として断層像再生データ処塩装
置8に入力される。関心領域照射モードではスイッチ9
は減算装置28側に倒されている。減算装置28の実施
例を第6図に示す。ある照射角θに関する実測X線ビー
ム透過1tg(X。
θ)は、実際には位置Xの分解能で決まる複数個のX線
検出器5のデータ列億りであシ、これに対応するデータ
列(gΩ#)aとの差が減算器29によシ求められる。
検出器5のデータ列億りであシ、これに対応するデータ
列(gΩ#)aとの差が減算器29によシ求められる。
減算値のデータ個数は各θごとに1カウンタ30によシ
カラントされ、カウント数は比較器31により範囲〔α
−9β−〕の外にあるかどうか判定され、もし外にある
ならば、減算結果はレジスタ32において0クリアされ
る。
カラントされ、カウント数は比較器31により範囲〔α
−9β−〕の外にあるかどうか判定され、もし外にある
ならば、減算結果はレジスタ32において0クリアされ
る。
もし範囲〔α−1β−〕の内にあるならば不変である。
以上説明した本発明のX@CT装置によれば、例えば第
7図に示すように断層像かのから■に変化した場合、本
来ならば被検査体の全面X線を照射せねばならなかった
ものが、本発明によれば変化部分の領域φに関してのみ
の低量のX線照射により、0に示す領域φだけの断層像
を得ることができる。
7図に示すように断層像かのから■に変化した場合、本
来ならば被検査体の全面X線を照射せねばならなかった
ものが、本発明によれば変化部分の領域φに関してのみ
の低量のX線照射により、0に示す領域φだけの断層像
を得ることができる。
なお、本発明では関心領域照射モードでの被検査者の位
置が、全体照射モードでの位置と全く同一でなければ再
生画像は乱れた−ものとなる。この場合、例えば第2図
において、回転角ψの一定間隔ととに被検査者1の全体
照射を行ない、通常の全体照射モードよJut少ない測
定データで全面の断層像を作成し、1倫記憶装置16の
データを位置合わせすればよい。また、装置22と装置
28によシ餉域φに関するX線透過量データを求める代
わ#)K1装置22によシ範囲〔α#、β−〕の外側の
X線透過量データを予め得られている断層11113か
ら模擬的に求めるか、あるいは保存されているX線透過
量データから求め、装置23により全体を照射したと仮
定した場合のX線透過量データg(x、θ)を合成し、
全体断層像を再生してもよい。
置が、全体照射モードでの位置と全く同一でなければ再
生画像は乱れた−ものとなる。この場合、例えば第2図
において、回転角ψの一定間隔ととに被検査者1の全体
照射を行ない、通常の全体照射モードよJut少ない測
定データで全面の断層像を作成し、1倫記憶装置16の
データを位置合わせすればよい。また、装置22と装置
28によシ餉域φに関するX線透過量データを求める代
わ#)K1装置22によシ範囲〔α#、β−〕の外側の
X線透過量データを予め得られている断層11113か
ら模擬的に求めるか、あるいは保存されているX線透過
量データから求め、装置23により全体を照射したと仮
定した場合のX線透過量データg(x、θ)を合成し、
全体断層像を再生してもよい。
第1図(A)、(B)は本発明の原理説明図、第2図は
本発明の一実施例を示す装置全体構成図、第3図は関心
佃域照、射モードの説明図、第4図FiX線の拡がシを
制御する部分の構成図、第5図は関心細板照射モードに
おけるX線照射装置の回転角φとコリメータの位@’/
s 、 Y@との関係を説明するための図、纂6図は減
算装置1c28の具体的構成を示す図、第7図(至)、
■、E5は本発明によって得られるX線断層像と従来の
像との比較のための七二タ画面の一例を示す図である。 図において、ljX線照射装置、51!X線検出装置、
8はデータ処理装置、13はデータ記憶媒体、17は表
示装置、18は関心域側指示装置、21FiX線コリメ
ータ制御関数演算装置、22は制御装置、28は減算装
置、9はデータ処理装置v、)151 口 ″43 ■ 第 2 図 ′¥J4 区 第5図 ¥Jt口 第1頁の続き ■出 願 人 株式会社日立メデイコ 東京都千代田区内神田−丁目1 番14号
本発明の一実施例を示す装置全体構成図、第3図は関心
佃域照、射モードの説明図、第4図FiX線の拡がシを
制御する部分の構成図、第5図は関心細板照射モードに
おけるX線照射装置の回転角φとコリメータの位@’/
s 、 Y@との関係を説明するための図、纂6図は減
算装置1c28の具体的構成を示す図、第7図(至)、
■、E5は本発明によって得られるX線断層像と従来の
像との比較のための七二タ画面の一例を示す図である。 図において、ljX線照射装置、51!X線検出装置、
8はデータ処理装置、13はデータ記憶媒体、17は表
示装置、18は関心域側指示装置、21FiX線コリメ
ータ制御関数演算装置、22は制御装置、28は減算装
置、9はデータ処理装置v、)151 口 ″43 ■ 第 2 図 ′¥J4 区 第5図 ¥Jt口 第1頁の続き ■出 願 人 株式会社日立メデイコ 東京都千代田区内神田−丁目1 番14号
Claims (1)
- 1、X線照射装置と、X線検出装置と、上記X線検出装
置の出力から生体断層X線像を再生するためのデータ処
理装置と、上記データ処理装置によって得られた生体断
層X線像のデータを記憶したデータ配憶媒体からデータ
を読込んで断層像として表示する表示装置と、上記表示
装置に表示された断層像の中の特定の関心領域部分を指
定するための入力装置と、上記指定された関心価域に限
定してXl5t−照射するよう上記X線照射装置を制御
する手段と、上記表示装置に表示された断層像から上記
関心領域を空白化したことに相当する模擬的なX線透過
量データを−作る手段と、関心領域に限定してXlsを
照射した時の上記X線検出装置からの出力と上記模擬的
なX線透過量データとの間に逐次的に演算を行なう手段
と、上記X線検出装置と上記演算手段とのいずれかの出
力を上記データ処理装置に選択的に入力させるための切
換手段とを備えたことを特徴とするX線断層撮偉装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56144648A JPS5846947A (ja) | 1981-09-16 | 1981-09-16 | X線断層撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56144648A JPS5846947A (ja) | 1981-09-16 | 1981-09-16 | X線断層撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5846947A true JPS5846947A (ja) | 1983-03-18 |
Family
ID=15366958
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56144648A Pending JPS5846947A (ja) | 1981-09-16 | 1981-09-16 | X線断層撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5846947A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5640462A (en) * | 1991-09-17 | 1997-06-17 | Hitachi, Ltd. | Imaging method of X-ray computerized tomography and apparatus for X-ray computerized tomography |
WO1998040013A1 (fr) * | 1997-03-12 | 1998-09-17 | Hitachi Medical Corporation | Tomographe assiste par ordinateur, dote d'un collimateur qui restreint la portee d'irradiation d'un faisceau de rayons x en eventail |
-
1981
- 1981-09-16 JP JP56144648A patent/JPS5846947A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5640462A (en) * | 1991-09-17 | 1997-06-17 | Hitachi, Ltd. | Imaging method of X-ray computerized tomography and apparatus for X-ray computerized tomography |
WO1998040013A1 (fr) * | 1997-03-12 | 1998-09-17 | Hitachi Medical Corporation | Tomographe assiste par ordinateur, dote d'un collimateur qui restreint la portee d'irradiation d'un faisceau de rayons x en eventail |
US6445761B1 (en) * | 1997-03-12 | 2002-09-03 | Hitachi Medical Corporation | X-ray computerized tomograph including collimator that restricts irradiation range of X-ray fan beam |
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