JPS5845046B2 - Memory device selection circuit - Google Patents
Memory device selection circuitInfo
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- JPS5845046B2 JPS5845046B2 JP55167115A JP16711580A JPS5845046B2 JP S5845046 B2 JPS5845046 B2 JP S5845046B2 JP 55167115 A JP55167115 A JP 55167115A JP 16711580 A JP16711580 A JP 16711580A JP S5845046 B2 JPS5845046 B2 JP S5845046B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、揮発性メモリのバッテリバックアップ方式に
おいて、メモリデバイスの非選択をハイレベルのデバイ
ス選択信号とするバッテリバックアップ方式におけるデ
バイス選択回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a device selection circuit for a volatile memory battery backup method in which non-selection of a memory device is used as a high-level device selection signal.
マイクロプロセッサ用RAMメモリ素子としては、一般
的にMOSメモリデバイスが採用され、主電源ダウン時
の記憶データの揮発を防止する必要性のある場合には予
備のバッテリから給電するバッテリバラ・クアツプ方式
が採られる。MOS memory devices are generally used as RAM memory elements for microprocessors, and when it is necessary to prevent stored data from volatilizing when the main power is turned off, a battery independent backup method is used to supply power from a spare battery. taken.
この揮発性メモリのバッテリバックアップ処理において
、主電源ダウン時に誤ってデータが書き替えられないよ
う、メモリデバイスの選択信号を前もって非選択状態に
しておきバッテリからの給電に切替える必要がある。In this battery backup process for volatile memory, it is necessary to set the selection signal of the memory device to a non-selected state in advance and switch to power supply from the battery to prevent data from being erroneously rewritten when the main power is turned off.
この非選択状態は電源復帰後の電源確立後に解除する。This non-selected state is canceled after power is established after power is restored.
バッテリバックアップ時のメモリデバイスの選択制御は
、選択信号が正論理でなされるデバイスには電源断予告
信号による選択から非選択への制御に何ら問題はないが
、選択信号がハイレベルで非選択状態になるメモリデバ
イスには従来技術ではデータ保持の信頼性やバッテリの
電力消費の点で問題があった。Regarding the selection control of memory devices during battery backup, there is no problem in controlling the selection from selection to non-selection using the power-off warning signal for devices whose selection signal is positive logic, but when the selection signal is at a high level, the device is in a non-selected state. Conventional memory devices have problems in terms of data retention reliability and battery power consumption.
第1図及び第2図は従来のデバイス選択制御回路の要部
構成を示す。1 and 2 show the main part configuration of a conventional device selection control circuit.
第1図は、出力選択端子を持ちトーテムポール出力回路
にされるTTLロジック1がデバイス選択信号sDのほ
かに選択端子に電源断予告信号Spを人力とし、MOS
メモリデバイス2の高レベル入力を保証するためにバッ
クアップ電源へのプルアップ抵抗3を有する選択信号駆
動回路としている。FIG. 1 shows a TTL logic 1 which has an output selection terminal and is configured as a totem pole output circuit.In addition to the device selection signal sD, a power-off notice signal Sp is manually input to the selection terminal, and the MOS
In order to guarantee a high level input to the memory device 2, the selection signal driving circuit has a pull-up resistor 3 to the backup power supply.
この駆動回路では、デバイス2を非選択状態にするハイ
レベル出力状態でプルアップ抵抗3を通してロジック1
に流入する漏れ電流がデバイス2に流れる電流に比して
かなり大きく、バッテリバックアップのためのバッテリ
容量を大きくする必要がある。In this drive circuit, the logic 1
Since the leakage current flowing into the device 2 is considerably larger than the current flowing into the device 2, it is necessary to increase the battery capacity for battery backup.
第2図はデバイス選択信号sDに電源断予告信号S、で
ゲートをかげるTTLゲートロジック4と、その出力で
トランジスタ5とプルアップ抵抗6等から成るディスク
リート回路を7駆動して該トランジスタ5をオフ状態に
して非選択状態を得る選択信号駆動回路としている。Figure 2 shows a TTL gate logic 4 that turns off the gate using a device selection signal sD and a power-off warning signal S, and its output drives a discrete circuit 7 consisting of a transistor 5, a pull-up resistor 6, etc., and turns off the transistor 5. The selection signal driving circuit is configured to obtain a non-selected state.
この従来回路ではトランジスタ5への漏れ電流を極めて
少なくすることができるが、使用するトランジスタの応
答特性により電源正常時のメモリアクセス動作速度を制
限される問題がある。Although this conventional circuit can extremely reduce the leakage current to the transistor 5, there is a problem in that the memory access operation speed when the power supply is normal is limited by the response characteristics of the transistor used.
また、主電源のもとで動くロジック4がトーテムポール
出力であるため、主電源電圧が降下する過渡期において
選択制御出力が誤動作する恐れもあり、信頼性の高い回
路構成とは言えなかった。Furthermore, since the logic 4 that operates under the main power supply has a totem pole output, there is a risk that the selection control output may malfunction during a transition period when the main power supply voltage drops, and the circuit configuration cannot be said to be highly reliable.
本発明の目的は、通常のデバイス選択動作に悪影響を及
ぼすことがなく、しかもバッテリバックアップ時のデー
タ保持を確実にしてバッテリの電力消費も少なくしたメ
モリデバイス選択回路を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a memory device selection circuit that does not adversely affect normal device selection operations, ensures data retention during battery backup, and reduces battery power consumption.
第3図は本発明の一実施例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention.
電源断予告信号S、はオープンコレクタ出力を有するT
TLインバータロジック1の入力とされ、その出力負荷
にはフ第1・カプラ8の発光ダイオード8Aとプルアッ
プ抵抗9の直列回路が接続される。The power-off warning signal S, T has an open collector output.
It is input to the TL inverter logic 1, and a series circuit of a light emitting diode 8A of the first coupler 8 and a pull-up resistor 9 is connected to its output load.
一方、デバイス選択信号sDはフォトカプラ8のフォト
トランジスタ8Bのエミッタに接続され、そのコレクタ
がプルアップ抵抗10を持ってMOSメモリデバイス2
への選択信号入力部にされる。On the other hand, the device selection signal sD is connected to the emitter of the phototransistor 8B of the photocoupler 8, and its collector has a pull-up resistor 10 and is connected to the MOS memory device 2.
It is used as a selection signal input section for
この構成において、通常のデバイス選択には電源断予告
信号Spがハイレベルにあってロジック7の出力がロー
レベルになり、フォトカプラ80発光ダイオード8Aに
電流が流れてフォトトランジスタ8Bのベース電流制御
によりオン状態に保持し、デバイス選択信号sDがロー
レベルになる選択状態、・・イレベルになる非選択状態
に応じてデバイス2の入力が変る。In this configuration, for normal device selection, the power-off warning signal Sp is at high level and the output of logic 7 is at low level, current flows through photocoupler 80 and light emitting diode 8A, and the base current control of phototransistor 8B The input of the device 2 changes depending on the selected state in which the device selection signal sD is held in the on state and becomes low level, and the non-selected state in which the device selection signal sD becomes high level.
そして、主電源ダウンに際しては第4図にタイムチャー
トを示すように、同図aに示す主電源電圧の低下に先立
って主電源交流入力等の検出から得る電源断予告信号(
第4図b)のハイレベルからローレベルへの変化(時刻
ti) でフォトカプラ8のフォトトランジスタ8B
のべ一又電流を断ち、該トランジスタ8Bのオフでデバ
イス選択信号(第4図C)をしゃ断する。When the main power supply is shut down, as shown in the time chart in Fig. 4, a power cutoff warning signal (
The phototransistor 8B of the photocoupler 8 changes from high level to low level (time ti) in FIG. 4b).
The total current is then cut off, and the device selection signal (FIG. 4C) is cut off by turning off the transistor 8B.
このしゃ断状態ではプルアップ抵抗10からデバイス2
にハイレベルの非選択入力を与える。In this cut-off state, the device 2 is connected to the pull-up resistor 10.
Give a high level non-select input to .
主電源のダウンから復帰には主電源電圧が正常になるに
充分な時間経過後又は該電圧の検出によって時刻t2に
電源断予告信号Spがハイレベルになってフォトトラン
ジスタ8Bをオン状態に保持し、通常のデバイス選択に
戻る。To recover from a main power supply failure, the power cutoff notice signal Sp becomes high level at time t2 after a sufficient time has elapsed for the main power supply voltage to return to normal or upon detection of the voltage, and the phototransistor 8B is held in the on state. , return to normal device selection.
従って、通常の主電源からの電力供給には、フ第1・カ
プラのフォトトランジスタ8Bがオン状態に保持されデ
バイス選択信号による選択制御が可能であるし、バッテ
リバックアップ時にはフォトトランジスタがオフして強
制的にデバイス2を非選択状態にする。Therefore, when power is normally supplied from the main power supply, the phototransistor 8B of the first coupler is held in the on state, allowing selection control by the device selection signal, and during battery backup, the phototransistor is turned off and forced device 2 to a non-selected state.
ここで、注目すべきことは、バッテリバックアップ時に
は第2図のディクリートトランジスタと同様にプルアッ
プ抵抗10からトランジスタ8Bへの漏れ電流が極めて
少なくしかも発光ダイオード8Aへの電流断でなされ、
バッテリの電力消費を低減できる。What should be noted here is that during battery backup, the leakage current from the pull-up resistor 10 to the transistor 8B is extremely small, similar to the discrete transistor shown in FIG. 2, and the current is cut off to the light emitting diode 8A.
Battery power consumption can be reduced.
換言すれば従来方式に比してバッテリを小型化してプリ
ント基板上への高密度実装も可能とすることができる。In other words, the battery can be made smaller and more densely mounted on a printed circuit board than in the conventional method.
また、通常のデバイス選択はフ第1− )ランジスタ8
Bがオン状態に保持されてその応答性には直接関係せず
、デバイス選択信号sDの発生源にトーテムポール出力
のロジックを使用して高速動作を得ることができる。In addition, the normal device selection is F1-) transistor 8.
B is kept in the on state and is not directly related to its responsiveness, and high-speed operation can be achieved by using totem pole output logic as the source of the device selection signal sD.
また、電源断予告信号Spはオープンコレクタのロジッ
ク7を使用してトランジスタ8Bのベース電流を制御す
るため、主電源電圧が降下する際にもロジック7の誤動
作が無く、確実な非選択状態の保持ができる。In addition, since the power-off notice signal Sp uses open collector logic 7 to control the base current of transistor 8B, there is no malfunction of logic 7 even when the main power supply voltage drops, and the non-selected state can be maintained reliably. Can be done.
以上間らかにしたように、本発明はメモリデバイス選択
信号の極性が非選択時にハイレベルになるメモリデバイ
スをバッテリバックアップするにおいて、デバイス選択
信号のロジック出力とメモリデバイスの選択信号入力部
との間にプルアップ抵抗を持つトランジスタを設け、こ
のトランジスタのベース電流を電源断予告信号で制御す
るデバイス選択回路とするため、通常のデバイス選択に
影響を及ぼすことなくバッテリバックアップ時の確実な
データ保持やバッテリの低消費電力化に優れる効果があ
る。As explained above, the present invention provides battery backup for a memory device in which the polarity of the memory device selection signal goes high when not selected, and the logic output of the device selection signal and the selection signal input section of the memory device are connected to each other. A transistor with a pull-up resistor is provided in between, and the base current of this transistor is controlled by a power-off warning signal as a device selection circuit, so data can be retained reliably during battery backup without affecting normal device selection. This has an excellent effect in reducing battery power consumption.
第1図及び第2図は従来のメモリデバイス選択回路図、
第3図は本発明の一実施例を示す回路図、第4図は第3
図の動作説明のためのタイムチャートである。
2・・・・・・メモリデバイス、7・・・・・・オープ
ンコレクタのインバータロジック、8・・・・・・フォ
トカプラ、9.10・・・・・・ゾルアップ抵抗、11
・・・・・・トランジスタ、12・・・・・・オープン
コレクタロジック、SD・・・・・・デバイス選択信号
、
S、・・・・・・電源断予告信号。1 and 2 are conventional memory device selection circuit diagrams,
Fig. 3 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention, and Fig. 4 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention.
It is a time chart for explaining the operation of the figure. 2...Memory device, 7...Open collector inverter logic, 8...Photocoupler, 9.10...Sol-up resistor, 11
...Transistor, 12...Open collector logic, SD...Device selection signal, S, ...Power cutoff notice signal.
Claims (1)
イス選択信号の極性をハイレベルに保持するバッテリバ
ックアップ方式において、メモリデバイスの主を源電圧
の低下に先立ってローレベルになり主電源電圧が正常に
復帰した後にハイレベルに戻る主電源断予告信号を入力
とするオープンコレクタのインバータロジックと、この
インバータロジックの出力と電源との間にプルアップ抵
抗を持って発光ダイオードが接続されメモリデバイス選
択信号のロジック出力をエミッタ入力としメモリデバイ
スの選択信号入力部との間にプルアップ抵抗を持ってコ
レクタが接続されるフォトトランジスタが接続されるフ
ォトカプラとを備え、主電源断時に上記主電源断予告信
号に従って上記フォトトランジスタのベース電流をしゃ
断して該トランジスタをオンからオフ状態に切換えてメ
モリデバイスの選択信号入力部をハイレベルに保持する
ことを特徴とするメモリデバイス選択回路。1 In a battery backup method in which the polarity of the memory device selection signal is held at high level when a volatile memory device is not selected, the main power supply voltage of the memory device becomes low level before the power supply voltage drops and the main power supply voltage returns to normal. There is an open collector inverter logic that inputs the main power cutoff notice signal that returns to high level after the main power is turned off, and a light emitting diode is connected with a pull-up resistor between the output of this inverter logic and the power supply, and the logic of the memory device selection signal. The output is an emitter input, and a photocoupler is connected to a phototransistor whose collector is connected with a pull-up resistor between the output and the selection signal input part of the memory device. A memory device selection circuit characterized in that the base current of the phototransistor is cut off to switch the transistor from an on state to an off state, and a selection signal input section of the memory device is held at a high level.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55167115A JPS5845046B2 (en) | 1980-11-27 | 1980-11-27 | Memory device selection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55167115A JPS5845046B2 (en) | 1980-11-27 | 1980-11-27 | Memory device selection circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5790730A JPS5790730A (en) | 1982-06-05 |
JPS5845046B2 true JPS5845046B2 (en) | 1983-10-06 |
Family
ID=15843709
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55167115A Expired JPS5845046B2 (en) | 1980-11-27 | 1980-11-27 | Memory device selection circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5845046B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH048231B2 (en) * | 1983-08-31 | 1992-02-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2799018B2 (en) * | 1989-12-11 | 1998-09-17 | シャープ株式会社 | Electronic equipment |
-
1980
- 1980-11-27 JP JP55167115A patent/JPS5845046B2/en not_active Expired
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH048231B2 (en) * | 1983-08-31 | 1992-02-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPS5790730A (en) | 1982-06-05 |
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