JPS5840671A - 2重誤り訂正符号の誤り位置解読回路 - Google Patents

2重誤り訂正符号の誤り位置解読回路

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JPS5840671A
JPS5840671A JP56138940A JP13894081A JPS5840671A JP S5840671 A JPS5840671 A JP S5840671A JP 56138940 A JP56138940 A JP 56138940A JP 13894081 A JP13894081 A JP 13894081A JP S5840671 A JPS5840671 A JP S5840671A
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JP
Japan
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circuit
exclusive
syndrome
error
double
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JP56138940A
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English (en)
Inventor
Toshio Horiguchi
敏男 堀口
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NEC Corp
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NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M13/00Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes
    • H03M13/03Error detection or forward error correction by redundancy in data representation, i.e. code words containing more digits than the source words
    • H03M13/05Error detection or forward error correction by redundancy in data representation, i.e. code words containing more digits than the source words using block codes, i.e. a predetermined number of check bits joined to a predetermined number of information bits
    • H03M13/13Linear codes
    • H03M13/15Cyclic codes, i.e. cyclic shifts of codewords produce other codewords, e.g. codes defined by a generator polynomial, Bose-Chaudhuri-Hocquenghem [BCH] codes

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  • Mathematical Physics (AREA)
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Error Detection And Correction (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は2重誤り位置を解読する回路に関し、特に少な
い回路量てランダムな2重シンボル誤りの誤り位置を解
読する回路に関している。
磁気ファイル等のファイル装置のデータ信頼性を向上す
るために、しばしば単一シンボルを訂正するリードソロ
モン(Read Solomon)符号等の誤り訂正符
号が用いられている。
データ信頼性をより向上させるためにランダムな2重シ
ンボル誤りを訂正する誤り訂正符号を蒙層するのが望ま
しいが、2重誤り訂正符号の欠点のひとつは誤り位置を
解読する回路の規模が大きくなる点にある。ひとつのシ
ンボルは一般にmビットで表わされ、このようなシンボ
ルの誤りを訂正するkは符号内での誤り位置と誤りパタ
ーンを解読する必要がある。復号に際してはまず誤り位
置を解読し、ついで得られた誤り位置を用いて誤りパタ
ーンを解飲する方法が取られる。2重シンボル誤り訂正
符号の誤り位置解読回路は従来から知られているが、こ
の方法は誤り位置に関する2次方程式の係数を求め、つ
いでこの2次方程式を解くという方法を採っているため
に復号遅延が大赤く、しかも回路規模が大きくなる欠点
を有していた。
復号遅延を小さくするためには誤り位置に関する2次方
程式を立てずに直接的に誤り位置を解読する方法が必要
であるが、このような方法はこれまで知られていなかっ
た。
従って本発明の目的は、2重シンボル誤りを訂正する符
号に対して、誤り位置の2次方程式を立てずに直接的に
誤り位置を解読する回路を提供するにある。
本発明の誤り位置読解回路は、誤り位置の2次方程式を
立てずに直接的に誤り位置を解読するのて、復号遅延が
小さく、しかも、回路量が少ないという特徴を有してお
り、特に符号をインタリーブして用いる場合に適してい
る。
本発明の2重誤り訂正符号の誤り位置解読回路は、任意
の整数mで定義されるガロワ体GF(2m)の要素αi
を用いて構成される2重シンボル誤り “訂正符号のパ
リティ検査行列H に従って符号化されたmシンボルの符号語におけるラン
ダムな2重シンボル誤りの誤り位置を解読する回路を提
供する。ここでm=2m−1で、ひとつのシンボルは並
列のmビットである。nシンボルの符号語の中の4シン
ボルが検査用で、n−4シンボルが情報用である。
本発明の誤り位置解読回路は前記検査行列Hの第1行、
第2行、第3行及び第4行に対応するシンドロームS0
、S1、S2及びS3を生成するシンドローム生成回路
と、前記シンドロームS0、S1、S2及びS3の間の
排他的0凰すなわちS0■S1、S2■S2及びS2■
S3をとる回路と、前記排他的ORS0■S1=αp、
S1■S2=αr及びS2■S3=αqをそれぞれ整数
p、2r及びqに変換する第1、第2及び第3の論理変
換回路と、前記第1及び嬉3の論m蛮換回路の出力pと
qを加算する加算器と、前記加算器の出力p+qと、前
記第2の論履変換翳路の出力2rとをmodnにおいて
比較する比較器から構成される。
実施例を説明する前に本発明の原理について記述する。
本発明において、シンドロームS0、S1、S2及びS
3は前記パリティ検査行列Hに従って生成ξれる。すな
わち、d0、d1、………、dn−1を受信されたmシ
ンボルの符号語(シンボルd1はmビット)とすると、
シンドロームは下式に従つて生成される。
ここで■は排他的ORを示す。i番目のシンボルに誤り
パターンei、j番目に誤りパターンejの誤りが生じ
るものとするとシンドロームは誤りパターンei,ej
を用いて下式のように表わされる。
上記シンドロームS0、S1,S2及びS3はそれぞれ
、1、α1、α2及びα3をフィードバック係数に持つ
シンドローム・レジスタに符号シンポルdn−1、dn
−2、……、d1及びd0をこの順に入力することによ
って生成される。
本発明においては、シンドロームを生成後に誤り位置を
解読するためにシンドローム−レジスタをさらにシフト
する。
式(2)で表わされる2重シンボル誤りを仮定すれば、
シンドローム・レジスタをk回シフト後のシンドローム
(シンドローム・レジスタの内容)S0、S1、S2及
びS3は S0=ei■ej S1=eiαi+k■ejαj+k S2=eiα2(i+k)■ejα2(j+k) (3
)S3=eiα3(i+k)■ejα3(j+k)とな
る。誤り位置を解読するためには、上記シンドロームの
開の排他的ORすなわち S0■S1、S1■S2及び
S2■S3をとり、 L=(S0■S1)(S2■S3)■(S1■S2)2
を計算する。
ここで、(S1■S2)2は (S1■S2)2=(eiαi+k■ejαj+k■e
iα2(i+k)■ejα2(j+k))2=(eiα
i+k(1■αi+k)■ejαj+k(1■αj+k
))2=e2iα2(i+k)(1■α2(i+k)■
e2jα2(j+k)(1■α2(j+k))。
また(S0■S1)(S2■S3)は、(S0■S1)
(S2■S3)=(ei■ej■eiαi+k■ejα
j+k)×(eiα2(i+k)■ejα2(j+k)
■eiα3(i+k)■ejα3(j+k))=〔ei
・(1■αi+k)■ej・(1■αj+k)〕×〔e
iα2(i+k)(1■αi+k)■ejα2(j+k
)(1■ajj+k)〕=e2iα2(i+k)(1■
α3(i+k)■e2jα2(j+k)(1■α3(j
+k))■eiejα2(j+k)(1■αi+k)(
1■αj+k)■eiejα(i+k)(1■α(i+
k)(1■αj+k)。
よってL=(S0■S1)(S2+S3)■(S1+S
2)2=eiej(1■αi+k)(1■αj+k)(
α2(i+k)■α2(j+k))ここで上式りにおい
て、2重誤りを仮定しているからi≠jである。従って
α2(i+k)■α1(j+k)である。L=0となる
のは1■αi+k又は1■αj+kにおいてである。換
言すれば、αi+k=1又はαj+k=1の時誤ってL
=0となる。
ここでan=αn=1(m=2m−1)であるから、i
+k=n又はj+k=nの時に誤ってL=0となる。
すなわち、シンドローム・レジスタをk回シフトした時
にL=0となれば誤り位置i(又はj)はi(又はj)
=n−kで与えられる。
本発明の原理は以上の通りであるが、本発明においては
さらに回路的に工夫をこらして誤り位置解読回路の回路
量を低減することを図っている。
すなわち前記L=(S0■S1)(S0■S0)■(S
1■S2)2の中には(S0■S2)と(S2■S0)
のガロワ体GF(2m)の上ての乗算が含まれており、
これを実行する乗算器はかなりの回路量となる。乗算器
の使用を回避するために本発明ては以下のように工夫し
ている。
L=(S0■S1)(S2■S3)■(S1■S0)2
において各項(S0■S1)、(S2■S0)及び(S
1■S2)3はそれぞれガロワ体GF(2m)の要素で
表わされる。すんわちS0■S1=αp、S2■S3=
αq及びS1■ S2=αrとすれば、LはL=αp+
q■α3rで表わされる。
このLにおいてL=0となるのはmodnにおいて p
+q=2rとなる時である。この点に着目すればまずS
0■S1、S2■S3及びS1■S3を次のようにべき
に変換する。
ここで、2r(modn)は2r をmで割った時の剰余に変換することを意味する。
次いでpとqのmodnにおける加算p+q(modm
)を行い、2r(modn)と等しいかどうかのチェッ
クを行う。すなわち、 p+q(modm)=2r(modん) (5)が成立
するかどうかのチェックを行う。式(5)が成立する時
に限ってL=0となるから、式(5)の検査によって誤
り位置を解読できる。
すなわち、シンドローム・レジスタをk回シフトした時
にp+q(mod m)と2r(mod n)が一致し
たとすれば、誤り位置i(又はj)はi(又はj)=n
−kで与えられる。
以下図面を参照して本発明を説明する。
第1図は本発明の2重シンボル誤りの誤り位置を解読す
る回路のブロック図である。第1図において回路10〜
13はそれぞれmビットのシンドローム・レジスタて、
回路20、21、22はそれぞれガロワ体GF(2m)
の要素α1、α2、α3を乗算する回路である。
但し、αはGF(2m)の原始元である。回路1〜7は
それぞれmビットの排他的OR回路である。
図において、排他的OR1とレジスタ10はシンドロー
ムS0の生成回路を構成し、排他的OR2とレジスタ1
1及びα1乗算回路20がシンドロームS1の生成回路
を構成する。また、排他的OR3とレジスタ12及びa
3乗算回路21がシンドロームS0の生成回路を構成し
、排他的OR4とレジスタ13及びα3乗算回路22が
S0の生成回路を構成している。叉排他他的OR回路1
〜4に入力する信号線100はデータ入力線てあって、
受信シンボル(並列のmビツト)を入力するのに用いる
信号線200はシンドロームレジスタ10〜13にクロ
ック信号を供給する線である。ひとつのデータシンボル
(mビット)を信号線100を介して入力するとともに
信号線200を介してクロックを加えることによって、
データがシンドロームレジスタに取り込まれる。前述し
た式(1)に則して云えば、 データシンボルdn−1
(dn−1はmビット)を信号線100を介して入力す
るとともに信号線200を介してクロックを加える。
次にデータシンボルdn−2について同様なオペレーシ
ョンを行う。
以下同様にしてデータシンボルd0までオペレーション
を行うとレジスタ10、11、12及び13の内容は式
(1)で表わされたシンドロームS0、S1、S2、及
びS3となる。
生成されたシンドロームS0、S1、S2及びS3から
誤り位置を解読するためには、入力信号線100上のデ
ータを0に保持したまま信号線200を介してシンドロ
ーム・レジスタ10〜13にクロツクを加える。クロッ
クをk回加えるとレジスタ10〜13の内容は式(3)
で表わされるシンドロームS0〜Snとなる。
排他的OR回路5はシンドロームS0とS1の排他的O
RS0■S1を生成する。同様に回路6及び7はそれぞ
れ排他的0RS1■S2及びS2■S3を生成する。
生成SれたS0■S1、S2ΦS3及びS■S1はそれ
ぞれ論理変換回路30、31及び32に入力される。
論理変換回路30、31及び32は式(4)に従ってS
0■S1、S1■S2及びS2■S3をそれぞれ整数p
、2r(mod n)及びqに変換する。
回路40は得られた整数pとqとをmod nにおいて
加算する回路である。
従って回路40の出力はp+q(mod n)となる。
回路50は前記p+q(mod n)と2r(mod 
n)を比較し、一致すれば出力信号線300を論理1に
する比較回路である。回路60は誤り位置を表示するた
めのカウンタであって、シンドローム・レジスタに加え
られるクロックをカウントする。
前述したように、シンドローム生成後、誤り位置を解読
するためにシンドローム・レジスタにクロックを加える
。このクロックはカウンタ60にも同時に加えられる。
k回目のクロック時刻にp+q(modm)と2r(m
od n)が一致したとすれば、比較器50の出力30
0が論理1となり誤り位置が求まったことを指示する。
この時のカウンタ60の内容(出力)はkである。
このカウント値kから、誤り位置i(又はj)が式i(
又はj)=m−kを用いて求められる。
以下にふいてm=4すなわちGF(24)で定義される
符号に対して第1図のα1乗算回路加、α2乗算回路2
1、α3乗算回路22及び変換回路30〜32の構成方
法を説明する。m=4より、この符号の符号長mは15
(=24−1)シンボルとなるOここてひとつのシンボ
ルは4ピツトである。また、検査シンボル数は4シンボ
ルで、情報シンボル款は11である。
ガロワ体GF(24)におけるαi(i=0〜14)は
α0、α1、α2及びα3の線形結合、すなわちαi=
a0α0■aiα1■a2α2■α3α3で表わされる
。ここでai=0又は1である。換言すればガロワ体の
要素αiとバイナリ・ベクトル(a0a1a2a3)は
1対1に対応している。
第2図は原始多項式G(X)=X4+X+1を法とする
カロワ体GF(24)について考えたとき、ベクトル(
a0a1a2a3)とαi対応を示している。
例えばベクトル(0101)はα2に対応している。
第1図におけるα1乗算回路加は入力ベクトル(a0a
1a2a3)にαを掛けてベクトル(b0b1b2b3
)を出力する回路である。
入力ベクトルはガロワ体の上ではa0α0■a1α1■
a2α2■a3α3と表わされるから、これにαを掛け
たa0α1■a1α2■a2α3■a3α4かb0α0
■b1α1■b2α2■b3α3に等しい。
すなわち、 b0α0■b1α1■b2α2■b3α3=a0α1■
a1α2■a2α3■a3α4 である。第2図よりα4=α0■α1であるからb0α
0■b1α1■b2α2■b3α3=a2α0■(a0
■a2)α1■a2α2■a0α3。
よってb0=a2、b2=a0■a3、b2=a1、b
3=a2となる。
第3図は上記に対応する第1図のα1乗算回路20を具
体的に排他的OR回路70を用いて構成したブロック図
である。
第4図は第1図におけるα2乗算回路21を具体的にし
たブロック図であり、第3図のα1乗算回路を2段カス
ケード接続して構成される。
第5図は同様に第1図のα3乗算回路22を具体的にし
たブロック図であり、第3のα1乗算回路を3段カスケ
ード接続して構成される。
次に第1図における変換回路30〜32は以下のように
構成される。回路30〜32は式(4)に従って変換を
行う。
変換回路30は入力αpを出刃pに変換するが、実際に
は4ビツトの入力ベクトル(a0a1a2a3)を出力
ベクトル(b0b1b2b3)に変換する回路である。
すなわち、ガロワ体の要素ap=0α0■a1α1■a
2α2■a3α3から2進数p=b020+b121+
b222+b323への変換に対応して、(a0a1a
2a3)を(b0b1b2b3)に変換する。
例えば、α11=a1α1■a2α2■a3α3すなわ
ち(a0a1a2a3)=(0111)は11=20+
21+22すなわち(b0b1b2b3)=(1101
)に変換される。
第6図は以上の変換を行うための対応表を示す。
従って第1図の変換回路30は第6図の変換を行うよう
に構成すれば良く、このような1絡は既存の読出専用メ
モリ(ROM)を用いて容易に実施できる。すなわち(
a0a1a2a3)をROMのアドレスとして、このア
ドレスに対応するデータ(b0b1b2b3)を格納し
ておけば良い。第1図の変換回路32はαqをqに変換
する回路であるから、第6図の変換表を用いて同様に構
成できる。
すなわち、回路30と32は同一回路で良い。第1図の
変換回路31はαrを2r(mod n)に変換する。
ここで本実施例の場合n=15である。
この変換において例えばr=11とするとα11は整数
7に変換される。2r=22=15X1+7から22m
od15=7が導びかれるからである。すなわち、ガロ
ア体の要素ar=a0α0■a1α1■a2α2■a3
α3から2進数2r(mod15)=b020+b12
1+b222+b323への変換に対応して(a0a1
a2a3)が(b0b1b2b3)に変換される。r=
11に対する前記の例ではα11=α1+α2+α3が
2r(mod 15)=7=20+21+22に変換さ
れるので、(a0a1a2a3)=(0111)が(b
0b1b2b3)=(1110)にして、(a0a1a
2a3)を(b0b1b2b3)に変換するテーブルを
示す。第1図の変換回路31は第7図の変換を行うよう
に構成すれば良く、このような回路は既存の読出し専用
メモリを用いて容易に実施できる。
第1図におけるmod n(この場合n=15)の加算
回路40は前記変換器30及32の出力をmod15に
おいて加算する。
第8図はmod15の加算回路の構成を示すプロック図
である。
第1図における加算回路40は4ビットのバイナリ入力
を加算する全加算器であり、図における4ビット入力a
0a1a2a3と他の4ビット入力a0′a1′a2′
a3′を加算して、加算結果c0c1c2c3を出力す
る。mod15の加算器を構成するために、図のように
加算器の桁上げ(carry)出力Cと桁借り(Bor
row)入力Bを接続し、循環桁上げ(end−aro
und carry)構成にしておく。 4ビツトの入
力a0a1a2a3には変換回路30の出力Pか入力し
、入力a0′a1′a2′a3′には変換回路32の出
力qを入力する。循環桁上げ構成によって出力C0C1
C2C3には加算結果p+q(mod15)が出力され
る。
以上のように、本発明による誤り位置回路はシンドロー
ム生成回路の他に、3個のmビットの排他的OR回路、
3個の読出し専用メモリ(ROM)、1個のmビット加
算器及びmビットの誤りの比較器より構成でき、極めて
少ない回路量でかつ誤り位置方程式を立てずに直接的に
2重シンボル誤り位置を高速解読でき本発明の目的を充
分に達成できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による誤り位置解読回路の一実施例を示
すブロック図、第2図はガロワ体GF24)の要素αi
とバイナリ・ベクトルとの対応表を示す図、第3図はα
1乗算回路のブロック図、第4図はα2乗算回路ブロッ
ク図、第5図はα3乗算回路ブロック図、第6図はαp
をPに変換を示す図、第7図はαrを2rに変換 を示す図、第8図はmod15の加算を行う循環桁上げ
加算器のブロック図である。 図において1、2、3、4、5、6、7は排他的OR回
路、10、11、12、13はシンドロームレジスタ、
20、21、22はα1、α2、α3乗算回路をそれぞ
れ示す。30、31、32は変換回路、40はmodn
の加算回路、50は比較器をそれぞれ示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 任意の整数mで定義されるカロワ体GF(2m)の要素
    α1を用いて構成される2重シンホル誤り訂正符号のパ
    リティ検査行列 に従って符号化された符号語から、前記検査行列の第1
    行、2行、3行及び4行に対応し、てシンドロームS0
    、S1、S2及びS4を生成するシンドローム生成回路
    と、前記シンドロームS0■S1、S1■S2及びS2
    ■S3の間の排他的ORすなわちS0■S1、S1■S
    2及びS2■S3をとる回路と、前記排他的ORS0■
    S1(=αp)、S1■S2(=αr)及びS2■S3
    (=αq)をそれぞれ整数p、2r及びqに変換する第
    1、第2及び第3の論理変換回路と、前記第1及び第3
    の論理変換回路の出力pとqを加算する加算器と、前記
    加算器の出力p+qと前記第2の論理変換回路の出力2
    rとをmodnにおいて比較する比較器とから構成され
    る2重誤り訂正符号誤り位置解読回路。
JP56138940A 1981-09-03 1981-09-03 2重誤り訂正符号の誤り位置解読回路 Pending JPS5840671A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0338496A2 (en) * 1988-04-20 1989-10-25 Sanyo Electric Co., Ltd. Method and circuit for detecting data error

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EP0338496A2 (en) * 1988-04-20 1989-10-25 Sanyo Electric Co., Ltd. Method and circuit for detecting data error

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