JPS5839942A - 超音波顕微鏡の自動焦点調節装置 - Google Patents

超音波顕微鏡の自動焦点調節装置

Info

Publication number
JPS5839942A
JPS5839942A JP56138808A JP13880881A JPS5839942A JP S5839942 A JPS5839942 A JP S5839942A JP 56138808 A JP56138808 A JP 56138808A JP 13880881 A JP13880881 A JP 13880881A JP S5839942 A JPS5839942 A JP S5839942A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
signal
acoustic lens
ultrasonic
reflected wave
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP56138808A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0136585B2 (ja
Inventor
Junichi Ishibashi
石橋 純一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp, Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Corp
Priority to JP56138808A priority Critical patent/JPS5839942A/ja
Publication of JPS5839942A publication Critical patent/JPS5839942A/ja
Publication of JPH0136585B2 publication Critical patent/JPH0136585B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、超音波顕微鏡において、超音波音響レンズが
試料に合焦した場合の当該試料からの反射波の検波信号
は、合焦しない場合の検波信号に比べて一番大きな鎧を
示し、しかもその場合の超音波音響レンズと試料間の距
離は、廟音波音響レンズの構成によって定まることに着
目し、超音波音響レンズから試料に超音波を投射した時
点を1準とした超音波音響レンズの構成等によって定ま
るタイミングによって、合焦により得られる検波信号(
合焦検波信号)をサンプル・ホールドして検出し、これ
を所定のしきい値と比較して合焦、非合焦を判定するよ
うにした超音波顕微鏡の自動焦点調節装置に関するもの
である。
超音波顕微鏡は、従来種々の構成のものが提案されてい
る。その構成の一例を第1図に示す。図示の超音波顕微
鏡においては、高周波パルス発生器/で超高周波数のバ
ースト波電気信号を発振させてサーキュレータコを介し
て圧電トランスジューサ3に供給し、ここで電気信号か
ら超音波に変換して超音波音響レンズ参および液体jを
介して走査制御装置6によりXおよびY方向に一次元的
に移動する試料台7上に載置された試料j上にスポット
状に投射している。また、試料lからの反射波は超音波
音響レンズ参で集音し、圧電トラン、スジューサ3によ
り電気信号に変換してサーキュレータコを介して信号処
理回路デに供給し、ここで不要な信号を除去すると共に
必要な反射波に対応する信号のみを増幅、検波して反射
波の強度に応じた検波信号を得、この検波信号を輝度信
号としてスキャンコンバータlσにより走査制御装置乙
による試料台7の走査と同期させて超音波像を陰極管l
l上に表示させるようにしている。なお、音響レンズ参
は試料含7に対して垂直な2方向に変位可能になってい
る。
上述したような超音波顕微鏡において、超音波音響レン
ズ参を2方向に変位させて試料tから十分離れた位置か
ら近づけていくと、信号処理回路9からは第2図に示す
ような第1.第コおよび第3の順次の極大fiil、n
および■を有するいわゆるv(2)カーブと呼ばれる検
波信号の強度分布が得られそれらの検波信号が得られる
距離(Z)は、使用する超音波の周波数、音響レンズ参
の構造、液体jの種類等によって定まるものである。第
一図において、v(Z)が最大となる第コの極大値■の
点fは超音波音響レンズ参が試料tに対して合焦状態に
あると亀に得られ、この点fの前後の点dおよびhにお
いて現われる第1および第3の極大ftL!および麗は
試料lにおける表面波と反射波との干渉などにより生じ
る。
そこで、従来では信号処理回路デの出力をオシロスコー
プ等の測定器でモニターし、これを目視により観察しな
がら超音波音響レンズ参を手動により2方向に変位させ
て検波信号レベルが最大となる位置(111図の点f)
を探し、この位置に音響レンズ参を合わせることにより
、超音波音響レンズ参の試料tに対する焦点調節を行な
っていた。
しかし、このような手動による焦点調節においては、操
作者が反射波検波信号のレベルを観察しながら、たとえ
ば第2図の点d、fおよびhの第1〜第Jの極大fi[
I−1を憶え、これらを比較しながら最大反射波点(焦
点位置)fを探す必要があるため、調節が極めて困難で
あると共に時間がかかる。これは超音波の周波数を高く
すれはする程、液体j中での超音波の減衰が大きくなり
、これを押えるために超音波音響レンズ参と試料tとの
間の距離を更に短くする必要があるため、距離の微小炭
化から最大反射点を探すのが更に困難となる。また、操
作者はモニターを見ながら超音波音響レンズ参を操作す
るため、超音波音響レンズ参と試料tとが接餉して両者
が毀損する恐れがある。更に、焦点調節が極めて困難で
あるために、多数の試料を観察する場合に像のフントラ
ストに差異が生じ、試料間の比較が極めて難しくなる不
具合がある。
本発明の目的は、上述の種々の不具合を解消するために
、焦点調節を自動的に行なう自動焦点調節装置を提供し
ようとするものである。
すなわち、本発明の超音波顕微鏡の自動焦点調節装置は
、超音波音響レンズと試料の超音波投射方向における相
対位置を変位させて焦点を調節するように構成した焦点
調節機構を有する超音波顕微鏡において、前記超音波音
蕃レンズから投射された超音波の試料からの反射波を受
信して得た検波信号中から、前記超音波音響レンズの構
成等によって定まる所定のタイミングによって合焦時の
検波信号をサンプリングしてホールドするように構成し
たサンプル・ホールド手段と、そのサンプル・ホールド
手段からの出力電圧を所定のしきい埴と比較して停止パ
ルス信号を得るように構成した比較手段とを具え、その
停止パルス信号によって前記焦点調節機構の動作を停止
させるよう構成した仁とを特徴とするものである。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第3図は、本発明の実施例の一例の構成を第1図に示し
た従来構成の超音波顕微鏡に適用した場合について、ブ
ロック線図で示したものである。
また第1図の部分と同一部分は、同一符号を付して示し
たが、これらの各部については、さきに説明したのでこ
こでは説明を省略する。
同図において、/2は超音波音響レンズ参を2方向に間
欠的に変位させるための駆動装置を含む2方向駆動機構
、すなわち焦点調節機構である。/Jはその2方向駆動
機構/2を制御するための2方向駆動制御装置であって
、停止パルス信号が供給さ、れたとき、前記2方向駆動
機構12の動作を停止させるよう構成しである。また、
l参は高周波ノくルス発生器Iを発停制御するための制
御ノザルス発生器、/jは信号処理回路デから得られた
反射波検波信号を制御パルス発生器Iりからのパルス信
号によりサンプリングしてホールドするように構成した
サンプル・ホールド器であって、−そのノぐルス信号を
超音波音響レンズ参の構成等によって定まるタイミング
をもった合焦時の検波信号のタイミングに一致させるた
めに必要な時間だけ遅延パルス発生器14により遅延さ
せてサンプル・ホールド器にサンプリングパルスとして
加えている0 すなわち、制御パルス発生器/lからのパルス出力を部
分し、その一方により高周波パルス発生器を駆動して高
層゛波パルス信号発生させ、これにより圧11i)テン
、スジューサJを駆動することにより得られた第1図の
如自試料tからの反射波の検波信号を信号8111回路
9から得るとともに、その部分した池方のパルス信号を
遅延パルス発生器16により遅延させることによって、
第2図に示した第一、の極大値lに相当する合焦時の検
波信号のタイミングに一致するタイミングをもったパル
ス信号とし、このパルス信号により前記信号処理回路!
からの検波信号をサンプリングし、ホールドしているの
で、超音波音響レンズ参と試料lの2方向の距離が便化
するように、その超音波音響レンズ参をたとえに試料l
と遠く離れた位置から試料tに近づけるように変位させ
た場合、サンプル・ホールド99/jによってサンプル
舎ホールドされる検波信号の出力電圧が最大値を示した
ときの超音波音響レンズ参の位置が、丁度合焦位置に相
当する仁ととなる・17はサンプル・ホールド器/jか
らの出力電圧をノイズ等の信号から分離するための比較
器であって、サンプル・ホールド器/jでとらえた電圧
Vfとしきい値基準電圧設定@nの電圧vrを比較し、
vfl〉vrとなったと自出力するよう構成しである。
従って、第2図に示したv(2)カーブにおいて、合焦
時検波信号である第一の極大錬成のみがし龜い籠を越え
るように、し自い値基準電圧設定512の電圧vrを設
定すれd1超音波音響レンズの2方向の位置が、合焦点
に達した時点で、比較器17からパルス信号が発生する
。この実施例においては、そのパルス信号を停止パルス
信号として前記2方向駆動制御装置13に供給している
〇その2方向駆動制御装置13は、さきに説明したよう
に、停止パルスによって前記2方向駆動機構72を停止
させるよう制御する構成となっているので、その2方向
駆動機構12により駆動する超音波音響レンズは、前記
比較器/7から停止パルスが発生した時点、すなわち合
焦時の検波信号が得られた合焦恒量で停止する。
上述の本発明の実施例の構成における制作を、第参図に
示すタイミングチャートを参照して、さらに詳細に説明
する。
2方向駆動制御装置13により2方向駆動機構/2を動
作させ、超音波音響レンズ参と試料tの2方向の距離を
近づけ、奄しくは遠ざけるように駆動させる。一方、圧
11)テンヌジューサを駆動するための、繰り返しの高
周波パルスを高周波パルス発生器lから発生させ、その
発生の制御を制御パルス発生器/fからのパルス信号に
よって行なう。第参図に高周波パルス発生器lから発生
させた波を入射波Pとして、そのタイミングをt工のと
ころにとれば、その波は圧電トーランスジューサJによ
り超音波に変換され、超音波音響レンズ参を通り、液体
jを介して試料tの表面に当って、その反射波が逆経路
を通り、信号処理回路tから出力検波信号として取り、
出される@超音波音響レンズ参の焦点に試料lの面があ
ると亀は、さきに説明したように最も大きい反射があり
、そのときの反射波をRfとし、入射波Pからの遅れ時
間をt(とする。
超音波音響レンズ参の焦点を試料tの面から少し超音波
音響レンズ参と試料tが離れているときの反射波をR近
いときの反射波をR2とすると、1 それらのタイミング関係は第参図に示したようになる。
そこで、信号処理回路tからの反射波検波信号中、最も
大きい反射波Rfに相当する反射波検波信号を取り出す
ため、制御パルス発生器lヂからのパルス信号を遅延パ
ルス発生器14によりtf、だけ遅延させてt2のタイ
ミングをもった遅延パルス信号とし、この遅延パルス信
号により前記反射波検波信号をサンプル・ホールド回路
/3によってサンプリングし、そのときの電圧値をホー
ルドして比較@/7に供給する◎ 従って、比較器17に供給されるサンプル・ホールド器
ljの出力は、超音波音響レンズ参が試料lの面に合焦
するまでの過程の期間では、非合焦の検波信号をも含む
こととなるが、比較器/7は最も大きな反射波Rfの検
波信号vfが入力−したときのみ、シ愈いw/ivrに
対しvf>vrとなって出力するように、あらかじめ、
しきい値基準電圧設定器/lにより所定のしきい値vr
に設定しであるので、超音波音響レンズ参の焦点に試料
tの面が位置したと自、すなわち最大反射波Rfに対応
する検波信号vfがサンプル書ホールド器によりサンプ
リングされホールドされたときのみ、前記比較器17か
らパルス信号を出力し、2方向駆動機構/2による超音
波音響レンズ参の2方向の変位を停止させるように2方
向駆動制御装置13を制御する。これにより、超音波音
響レンズ参の2方向の変位が停止し、超音波音響レンズ
参は試料lの面に自動合焦する。
第5図は、本発明の池の実施例の構成の一部を示すプ四
ツクS図であっτ、’Mx図における一点鎖線で囲んだ
部分のみを示したものであり、その他の部分は第3図の
ものと同一構成なので図示を省略しである。
この実施例は、ざきの実施例におけるものよりも一層精
度高く自動焦点調節を行ない得るようにしたもので、サ
ンプル・ホールド回路は二つのサンプルホールド器19
 、 Mからなっている。その一方は、パルス信号入力
端子Iを介して第3図にlで示した制御パルス発生器か
らのパルス信号のタイミングを前述の実施例の場合と同
様に、第4図に示したtfなる時間遅延させるための第
7の遅延パルス発生器nによって遅延させた遅延パルス
信号により、検波信号入力端子Bから加えられる第Jv
!:Jに9で示した信号処理回路からの検波信号をサン
プリングしてホールドするように構成しである@ また、他方のサンプル・ホールド器Xは、前記第1の遅
延パルス発生器nで遅延した遅延パルス信号を、さらに
第2の遅延パルス発生器Xにより微少時間Δtだけ遅延
させて得た遅延パルス信号によって、前記傷号処J1@
路9からの検波信号をサンプリングし、ホールドするよ
うに構成しである。
一方、比較手段もまた二つの比較@B 、 mからなり
、それら両比較器3.24からの出力をAND回の実施
例と同様に第1のサンプル・ホールド(至)19の出力
電圧を、ノイズ等の信号と分離して娯動作を防ぐための
しきい値基準電圧設定@コによる所定のしきい値と比較
し、前記出力電圧がそのしきい値を越えた場合にのみ出
力するように構成しである◎また、他方の第2の比較−
1は、前記反射波検出信号をごく短かな時間差Δtts
sててサンプリングして得た各サンプル・ホールド器/
9 、 J7からの各出力電圧の差をとるように接1し
である0しかして、ムND回路lからの停止パルス信号
は、停止パルス信号出力端子lからlIl図に13で示
した2方向駆動制御装置入力し、ざきの実施例と同様の
動作をさせるようにしている。なお、その他の構成は、
第JWのものと同一であるので以下同図をも参照して、
1114図およびl!7図のタイミングチャートに基づ
きこの実施例のものの動作を説明する〇 第1の実施例と同様に、超音波音響レンズ参な試料lか
ら遠い位置より徐々に試料lに近づけて、試料lの面の
近傍に超音波音響し・ンズ参の焦点位置が達する場合、
信号処理回路9から得られる検波出力は第1図のように
変化する◇ 超音波音響レンズ参の焦点に、試料lの面があるときの
検波出力を同図Bとすれは、超音波音響レンズ亭と試料
lが、その焦点距離より少し離れているときは、同図ム
のように検波出力は、同図Bに示した合焦した場合の検
波出力よりも減少し、また少し近いとさも同図Cのよう
に検波出力は減少する。この微妙な検波出力レベルの差
をとらえて、合焦位置を判別するために、制御パルス発
生器l参からのパルスに対し、ざきの実施例の場合と°
同様に、制御パルス発生器lφからのパルス信号に対し
、そのパルス信号のタイミングによる超音波音響レンズ
参からの試料lへの入射波によって得られる合焦時の反
射波検波信号が得られるまでの時開差1fをもったタイ
ミングの第7の遅延パルス信号を、第1の遅延パルス発
生器nから出力させ、その第1の遅延パルス信号により
信号処理回路9からの反射波検波信号なlIlのサンプ
ル・ホールドl119によ゛つてサンプリングし出力電
圧V工を得る。
また、前記第1の遅延パルス信号な第一の遅延パルス発
生器2#により#I7図に示したように微少時間Δtだ
け遅延させた第一の遅延パルス信号を得て、この第2の
遅延パルス信号により信号処理回路9からの反射波検波
信号を第一のサンプル・ホールドWJにおいてサンプリ
ングし出力電圧v2を得る。第7図は、それら出力電圧
vl、v2のタイ虚ング関係を示したものである。
前記第7のサンプル・ホールドBitの出力電圧Vエバ
、1lIlの比較器Bにおいて、しきい値基準電圧設定
器コにより設定された基準電圧vrと比較される。その
基準電圧vrは、前記出力電圧をその第1の比較器は出
力する。つまり、ここで超音波音響レンズ参の焦点近傍
に試料lの面があることを判断する。
同図Bを焦点に合ったときの検波出力とすれば、超音波
音響レンズ参を試料lに近づけるように2方向駆動させ
るときは、同図のムからBへ、Bか・ら0へと検波出力
レベルが変化する。そこで、第1図のム’、B、Oに示
した検波出力の微妙なレベル差を判別するため、第7図
に示すように各サンプル・ホールド器/9 、 X)の
サンプルホールドのタイミング差Δtを短くすれば、検
波出力が焦点位置に対し同図ムの状態にあるとき、第1
のサンプル・ホールド器lデからの出力電圧V工と第2
のサンプル・ホールド器Xからの出力電圧v2が、■よ
<v2となり、この場合V工〉vrとなって第1の比較
器BからON状態の出力がでても、第一の比較器スがV
工〈■2のときのみ出力するように■入力端子に■0、
θλ入力端子v2を入力させであるので、tIIiコの
比較I11はOFF状部となり、従ってAND回路回路
向FF状態のままである。
つぎに超音波音響レンズ亭が試料lの面に合焦して焦点
位置と検波出力の関係が同図Bに示した状態に達し、も
しくはその直前の状態においては■ とV の関係がV
□〉v2となり、第2の比較器    2 ムはON状態となって出力する。このとき、第1の比較
@@21がON状態となって出力しているので、AND
回路回路向図Bに示した合焦状態となった時点もしくは
その直前の時点でON状態となり、その出力が停止パル
ス信号として2方向駆動制御装置13に入力し、2方向
駆動機111nの動作を停止させる。超音波音響レンズ
参の2方向の駆動は、これによって停止し、その焦点は
試料lの面に合ったこととなる◇ 上述の第2の実施例においては、超音波音響レンズ参を
試料lに近づく方向に移動させて、自動合焦させる場合
について説明したが、超音波音響レンズ参を試料lから
遠ざける方向に駆動して自動合焦すせる場合には、各々
のサンプル・ホールド器lり、Xの出力を逆に!Mat
、た構成にすれば、上述の第2の実施例と同様の動作を
させることができる0 上述したように本発明によれば、超音波音響レンズと試
料間の距離を変化させ、試料面に超音波音響レンズの焦
点が合ったときの試料からの反射波の検波信号をサンプ
リングしてホールドし、このホールド電圧を所定のしき
い値と比較して得た比較出力のタイミングによって、前
記超音波音響レンズの駆動を停止させることにより前記
超音波音ルンズを試料面に合焦させるようにしたもので
あるから、従来観察者が手動により行なっていた焦点調
節を、迅速かつ高精度に自動的に行なう。
ことができ、シかも超−音波音響レンズと試料との接触
による毀損も有効に防止できる。また、常に高精度の焦
点調節を自動的に行なうことができることから、多数の
試料を観察する場合には一定のコントラストの像を得る
ことができ、したがって試料間の比較を容易かつ正確に
行なうことができるO 特に第2の実施例のものにおいては合焦時における反射
波のピーク点に近い検波信号のタイミングで超音波音響
レンズの駆動を停止せしめることができるので、ざらに
一層高精度の自動焦点調節が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の超音波顕微鏡の一例の構成を示すブロッ
ク線図、1112図は音響レンズと試料との間の距離に
対する反射波検波信号の強度分布図、第3図は本発明装
置を第7図のものに適用した場合の本発明の実施例の一
例を示すブロック線図、第参図は、第3図の実施例の動
作を説明するためのタイミングチャート、第5図は本発
明の他の実施例の構成の一部を示すブロック線図、第6
図および第7図はその動作を説明するためのタイミング
チャートである。 l・・・高周波パルス発生器、コ・・・サーキュレータ
、3・・・電圧トランスジューサ、−・・・超音波音響
レンズ、!・・・液体、6・・・走査制御装置、7・・
・試料台、l・・・試料、9・・・信号処理回路、l/
・・・陰極線管、12・・・2方向駆動機構、13・・
・2方向駆動制御回路、/41・・・制御11ハルス発
生器、 /1・・・サンプル・ホールド6、/4・・・
遅延パルス発生器、” N N〜謁・・・比較器、/l
 。 コ・・・シきい値基準電圧設足詣、/9・・・#Ilの
サンプル・ホールド器、X・・・第一のサンプル・ホー
ルド器、I・・・パルス儒者入力端子、n・・・第1の
遅延/(ルス発生器、n・・・検波信号入力端子、2り
・・・第2の遅延パルス発生器、B・・・If!/の比
較器、U・・・第一の比較器、l・・・AND回路、J
・・・停止パルス信号出力端子。 第1図 第2図 第3図 第5図 第7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 L 超音波音響レンズと試料の超音波投射方向における
    相対位置を蛮位させて焦点を調節するように構成した焦
    点調節機構を有する超音波顕微鏡にiいて、前記超音波
    音響レンズから投射された超音波の試料からの反射波を
    受信して得た検波信号中から、前記超音波音響レンズの
    構成等によって定まる所定のタイミングによって合焦時
    の検波信号をサンプリングしてホールドするように構成
    したサンプル・ホールド手段と、そのサンプル・ホール
    ド手段からの出力電圧を所定のしきい値と比較して停止
    パルス信号を得るように構成した比較手段とを具え、そ
    の停止パルス信号によって前記焦点調節機構の動作を停
    止させるよう構成したことを特徴とする超音波顕微鏡の
    自動焦点調節装置。 2 前記サンプル・ホールド手段は、前記の所。 定のタイミングと、その近傍のタイミングの二つの時点
    における前記検波信号をサンプリングして得た二値を各
    別にホールドするように構成するとともに、前記比較手
    段は、その二値を比較し前記所定のタイミングによるサ
    ンプル・ホールド値がその近傍のタイミングによるサン
    プル・ホールド値よりも大きいときに出力を発する比較
    器と、前記二値のうちの一つと所定のしきい値を比較す
    る比較器とそれら両比較器からの出力のAND出力を停
    止パルス信号として取り出すためのAND回路とから構
    成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
    超音波顕微鏡の自動焦点調節装置。
JP56138808A 1981-09-03 1981-09-03 超音波顕微鏡の自動焦点調節装置 Granted JPS5839942A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56138808A JPS5839942A (ja) 1981-09-03 1981-09-03 超音波顕微鏡の自動焦点調節装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56138808A JPS5839942A (ja) 1981-09-03 1981-09-03 超音波顕微鏡の自動焦点調節装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5839942A true JPS5839942A (ja) 1983-03-08
JPH0136585B2 JPH0136585B2 (ja) 1989-08-01

Family

ID=15230715

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56138808A Granted JPS5839942A (ja) 1981-09-03 1981-09-03 超音波顕微鏡の自動焦点調節装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5839942A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59191661U (ja) * 1983-06-07 1984-12-19 オリンパス光学工業株式会社 超音波顕微鏡の合焦警告装置
US5553499A (en) * 1990-09-07 1996-09-10 Olympus Optical Co., Ltd. Ultrasonic microscope having an automatic focusing adjustment mechanism
DE102006005449B4 (de) * 2005-04-11 2010-11-25 Pva Tepla Analytical Systems Gmbh Akustisches Rastermikroskop und Autofokus-Verfahren
US9625572B2 (en) 2011-11-18 2017-04-18 Sonix, Inc. Method and apparatus for signal path equalization in a scanning acoustic microscope

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59191661U (ja) * 1983-06-07 1984-12-19 オリンパス光学工業株式会社 超音波顕微鏡の合焦警告装置
US5553499A (en) * 1990-09-07 1996-09-10 Olympus Optical Co., Ltd. Ultrasonic microscope having an automatic focusing adjustment mechanism
DE102006005449B4 (de) * 2005-04-11 2010-11-25 Pva Tepla Analytical Systems Gmbh Akustisches Rastermikroskop und Autofokus-Verfahren
US9625572B2 (en) 2011-11-18 2017-04-18 Sonix, Inc. Method and apparatus for signal path equalization in a scanning acoustic microscope

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0136585B2 (ja) 1989-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4563705A (en) Automatic focus controlling apparatus and method
JP2007044183A (ja) 内視鏡装置
JPS5839942A (ja) 超音波顕微鏡の自動焦点調節装置
JPH08184747A (ja) 顕微鏡自動焦点位置検出装置
KR100350091B1 (ko) 현미경 초점맞춤 검출방법 및 장치
JPH04318509A (ja) 自動合焦装置及び自動合焦装置における合焦調整方法
JPH04318508A (ja) 自動合焦装置
JPS60204181A (ja) 自動合焦装置
US4683751A (en) Sample stand adjusting device in an ultrasonic microscope
JP2006007257A (ja) レーザ加工装置
JPH0766770B2 (ja) 電子線照射装置
WO1992004628A1 (en) Ultrasonic microscope
JPH0461306B2 (ja)
JP2010002534A (ja) 顕微鏡装置
JPH0254522B2 (ja)
JPH07120440A (ja) 割れ検出装置
EP0451865B1 (en) Automatic focusing apparatus with optimal focusing position calculation method
JPH09168113A (ja) オートフォーカス装置
JPH0427502B2 (ja)
JPS6322546B2 (ja)
JPS62249054A (ja) 超音波顕微鏡
JPH0252218B2 (ja)
JPH08313498A (ja) 超音波顕微鏡
JPH0245756A (ja) 超音波探触子
JPS59102156A (ja) 超音波顕微鏡