JPH0245756A - 超音波探触子 - Google Patents
超音波探触子Info
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- JPH0245756A JPH0245756A JP63195314A JP19531488A JPH0245756A JP H0245756 A JPH0245756 A JP H0245756A JP 63195314 A JP63195314 A JP 63195314A JP 19531488 A JP19531488 A JP 19531488A JP H0245756 A JPH0245756 A JP H0245756A
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- Japan
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- sample
- ultrasonic
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- optical fiber
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Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 67
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 11
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- 210000004243 sweat Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、超音波検査装置や超音波顕微鏡等に用いられ
る超音波探触子に関する。
る超音波探触子に関する。
(従来の技術)
超音波検査装置は物体内の欠陥の有無等、物体内部の状
態を当該物体を破壊することなく観察する装置であり、
又、超音波顕微鏡も同じく物体内部を非破壊で観察する
とともに、物体表面の物性をも観察する装置である。こ
れらの装置では、超音波を放射するとともにその反射波
をこれに応じた電気信号に変換する超音波探触子が使用
される。
態を当該物体を破壊することなく観察する装置であり、
又、超音波顕微鏡も同じく物体内部を非破壊で観察する
とともに、物体表面の物性をも観察する装置である。こ
れらの装置では、超音波を放射するとともにその反射波
をこれに応じた電気信号に変換する超音波探触子が使用
される。
以下、超音波顕微鏡の概略を図により説明する。
第3図は従来の超音波顕微鏡の系統図である。
図で、■は超音波探触子を示し、圧電素子2および音響
レンズ3により構成される。圧電素子2は電気的パルス
が印加されることにより超音波を出力するとともに、そ
の反射波をそれに応じた電気信号に変換する。音響レン
ズ3は圧電素子2からの超音波を一点Fに集束する機能
を有する。4は検査の対象となる試料、5は音響レンズ
3と試料4との間に介在する媒体を示す。6,7.8は
それぞれ超音波探触子1をZ軸方向(試料4に対して上
下方向)、X軸方向、Y軸方向に駆動する走査部である
。9は圧電素子2に印加するパルスを発生する高周波パ
ルス発生器、10は高周波パルス発生器9からのパルス
を圧電素子2に与えるとともに圧電素子2からの信号は
高周波パルス発生器9には入力しないようにするサーキ
ュレータである。11は圧電素子2の信号をサーキュレ
ータ10を介して受信するオシロスコープであり、受信
信号の波形を表示する。、12は圧電素子2の信号のう
ち必要部分(検査対象部分)の波形のみをとり出すゲー
ト部、13はゲート部12でとり出した信号を増幅、検
波し、そのピーク値をホールドして出力する増幅検波部
である。14はスキャンコンバータであり、増幅検波部
13のピーク値信号をA/D変換し、そのときの試料4
の座標位置(X、Y)に対応するメモリに格納するとと
もに、これら格納された値をD/A変換する機能も有す
る。15はスキャンコンバータ14のメモリに格納され
た値に基づいて所定の表示を行なう表示部である。16
はこのような超音波顕微鏡の動作を制御する制御部を示
す。
レンズ3により構成される。圧電素子2は電気的パルス
が印加されることにより超音波を出力するとともに、そ
の反射波をそれに応じた電気信号に変換する。音響レン
ズ3は圧電素子2からの超音波を一点Fに集束する機能
を有する。4は検査の対象となる試料、5は音響レンズ
3と試料4との間に介在する媒体を示す。6,7.8は
それぞれ超音波探触子1をZ軸方向(試料4に対して上
下方向)、X軸方向、Y軸方向に駆動する走査部である
。9は圧電素子2に印加するパルスを発生する高周波パ
ルス発生器、10は高周波パルス発生器9からのパルス
を圧電素子2に与えるとともに圧電素子2からの信号は
高周波パルス発生器9には入力しないようにするサーキ
ュレータである。11は圧電素子2の信号をサーキュレ
ータ10を介して受信するオシロスコープであり、受信
信号の波形を表示する。、12は圧電素子2の信号のう
ち必要部分(検査対象部分)の波形のみをとり出すゲー
ト部、13はゲート部12でとり出した信号を増幅、検
波し、そのピーク値をホールドして出力する増幅検波部
である。14はスキャンコンバータであり、増幅検波部
13のピーク値信号をA/D変換し、そのときの試料4
の座標位置(X、Y)に対応するメモリに格納するとと
もに、これら格納された値をD/A変換する機能も有す
る。15はスキャンコンバータ14のメモリに格納され
た値に基づいて所定の表示を行なう表示部である。16
はこのような超音波顕微鏡の動作を制御する制御部を示
す。
高周波パルス発生器9から出力されたパルスがサーキュ
レータ10を経て圧電素子2に印加されると、圧電素子
2は励起されて超音波を出力する。
レータ10を経て圧電素子2に印加されると、圧電素子
2は励起されて超音波を出力する。
この超音波は音響レンズ3、媒体5を経て試料4に入射
され、その反射波は再び媒体5および音響レンズ3を経
て圧電素子2に戻る。圧電素子2は、当該反射波をこれ
に比例する電気信号に変換してオシロスコープ11およ
びゲート部12に出力する。
され、その反射波は再び媒体5および音響レンズ3を経
て圧電素子2に戻る。圧電素子2は、当該反射波をこれ
に比例する電気信号に変換してオシロスコープ11およ
びゲート部12に出力する。
オシロスコープ11は、反射波の電気信号波形を時間軸
を横軸、大きさを縦軸として表示する。一方、ゲート部
12、増幅検波部13、スキャンコンバータ14は、圧
電素子2から出力された反射波信号を処理し、所要の信
号のみを適切な形態で表示部15に表示する。なお、試
料4におけるX−Y平面上の検査位置はX方向走査部7
およびY方向走査部8により超音波探触子lを駆動する
ことにより任意に選定することができる。
を横軸、大きさを縦軸として表示する。一方、ゲート部
12、増幅検波部13、スキャンコンバータ14は、圧
電素子2から出力された反射波信号を処理し、所要の信
号のみを適切な形態で表示部15に表示する。なお、試
料4におけるX−Y平面上の検査位置はX方向走査部7
およびY方向走査部8により超音波探触子lを駆動する
ことにより任意に選定することができる。
上記超音波顕微鏡において、試料4の検査対象部位から
の最も精密な反射波信号を得るためには、超音波探触子
1からの超音波の焦点Fを当該検査対象部位と一致させ
ればよいのは明らかである。
の最も精密な反射波信号を得るためには、超音波探触子
1からの超音波の焦点Fを当該検査対象部位と一致させ
ればよいのは明らかである。
そのため、検査開始前に、まず超音波探触子1のZ軸方
向の位置を調節して、試料4の表面に焦点Fを一致させ
る作業が行なわれる。そして、検査対象部位が試料4の
表面であれば、両者が一致した状態で検査を開始すれば
よく、又、検査対象部位が試料4の内部であれば、超音
波探触子をそれに合致させて下げた状態で検査を開始す
ればよい。
向の位置を調節して、試料4の表面に焦点Fを一致させ
る作業が行なわれる。そして、検査対象部位が試料4の
表面であれば、両者が一致した状態で検査を開始すれば
よく、又、検査対象部位が試料4の内部であれば、超音
波探触子をそれに合致させて下げた状態で検査を開始す
ればよい。
このように、まず、焦点Fを試料4の表面に一致させる
作業が必要であるが、この作業は、超音波探触子1を2
軸方向に上下させながらオシロスコープ11で反射波波
形を観察することにより行なわれる。第4図(a)、(
b)は反射波波形の波形図であり、横軸に時間、縦軸に
反射波の大きさがとっである。各図で、Aは圧電素子2
が超音波を送出したときの送信波、Bは音響レンズ3と
媒体5の境界で反射するレンズ界面波、Cは試料4の表
面で反射する表面波、Dは試料4の内部のある面で反射
する界面波を示す。超音波探触子1を上下させ、これら
波形のうち表面波Cをみて、その大きさが最大となる位
置に超音波探触子1をセットすれば、この位置が試料4
の表面と焦点Fが一致する位置となる。なお、以上の説
明は超音波顕微鏡を例示した説明であるが、焦点Fを試
料表面に一致させることは、当然超音波検査装置等にお
いても必要である。
作業が必要であるが、この作業は、超音波探触子1を2
軸方向に上下させながらオシロスコープ11で反射波波
形を観察することにより行なわれる。第4図(a)、(
b)は反射波波形の波形図であり、横軸に時間、縦軸に
反射波の大きさがとっである。各図で、Aは圧電素子2
が超音波を送出したときの送信波、Bは音響レンズ3と
媒体5の境界で反射するレンズ界面波、Cは試料4の表
面で反射する表面波、Dは試料4の内部のある面で反射
する界面波を示す。超音波探触子1を上下させ、これら
波形のうち表面波Cをみて、その大きさが最大となる位
置に超音波探触子1をセットすれば、この位置が試料4
の表面と焦点Fが一致する位置となる。なお、以上の説
明は超音波顕微鏡を例示した説明であるが、焦点Fを試
料表面に一致させることは、当然超音波検査装置等にお
いても必要である。
上記のように、試料4の表面に焦点Fを一致させる場合
、オシロスコープ11で表面波Cの波形を観察するが、
第4図(a)に示すように表面波Cの波形が明瞭である
場合には、波形の大小の判断に多少の面倒さは伴うもの
の格別の問題はない。
、オシロスコープ11で表面波Cの波形を観察するが、
第4図(a)に示すように表面波Cの波形が明瞭である
場合には、波形の大小の判断に多少の面倒さは伴うもの
の格別の問題はない。
しかしながら、例えば試料4の表面と界面との間隔が小
さい場合、第4図(b)に示すように表面波Cと界面波
りとが重なり、相互に干渉し合うので波形が乱れ、試料
4の表面と焦点Fの一致を確認することが困難となる場
合がしばしば生じていた。
さい場合、第4図(b)に示すように表面波Cと界面波
りとが重なり、相互に干渉し合うので波形が乱れ、試料
4の表面と焦点Fの一致を確認することが困難となる場
合がしばしば生じていた。
本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決し、
超音波の焦点を容易に試料表面に一致させることができ
る超音波探触子を提供するにある。
超音波の焦点を容易に試料表面に一致させることができ
る超音波探触子を提供するにある。
上記の目的を達成するため、本発明は、超音波源および
音響レンズを備え、前記超音波源から放射された超音波
を前記音響レンズにより焦点に集束させる超音波探触子
において、光源と、この光源の光が前記焦点を通過する
ように調整する導光部と、前記焦点からの前記光源の反
射光を受光する受光部とを設けたことを特徴する。
音響レンズを備え、前記超音波源から放射された超音波
を前記音響レンズにより焦点に集束させる超音波探触子
において、光源と、この光源の光が前記焦点を通過する
ように調整する導光部と、前記焦点からの前記光源の反
射光を受光する受光部とを設けたことを特徴する。
超音波探触子の焦点を試料の表面に一致させる場合、光
源を発光させ、試料と超音波探触子を相対的に移動させ
る。試料表面と焦点とが一致していないとき、光源の反
射光は受光部で受光されないが、両者が一致すると当該
反射光は受光部で受光される。これにより、両者の一致
、不一致が判断される。
源を発光させ、試料と超音波探触子を相対的に移動させ
る。試料表面と焦点とが一致していないとき、光源の反
射光は受光部で受光されないが、両者が一致すると当該
反射光は受光部で受光される。これにより、両者の一致
、不一致が判断される。
以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第1図は本発明の実施例に係る超音波探触子の側面図で
ある。図で、第3図に示す部分と同一部分には同一符号
を付して説明を省略する。1′は本実施例の超音波探触
子を示す。20はレーザ発振器、20bはレーザ発振器
20から出力されるレーザビームを示す。21は超音波
探触子1′の適宜個所に固定された光ファイバであり、
一端でレーザビーム2Qbを人力するとともに、他端か
らレーザビーム20bを出力する。光ファイバ21の当
該他端の中心軸(光軸)は焦点Fを通るように調整され
ている。22は同じく超音波探触子1′の適宜個所に固
定された光ファイバであり、その下端の中心軸(光軸)
は焦点Fを通るように調整されている。
ある。図で、第3図に示す部分と同一部分には同一符号
を付して説明を省略する。1′は本実施例の超音波探触
子を示す。20はレーザ発振器、20bはレーザ発振器
20から出力されるレーザビームを示す。21は超音波
探触子1′の適宜個所に固定された光ファイバであり、
一端でレーザビーム2Qbを人力するとともに、他端か
らレーザビーム20bを出力する。光ファイバ21の当
該他端の中心軸(光軸)は焦点Fを通るように調整され
ている。22は同じく超音波探触子1′の適宜個所に固
定された光ファイバであり、その下端の中心軸(光軸)
は焦点Fを通るように調整されている。
23は光ファイバ22の上端から出力されるレーザビー
ムを検出するフォトデテクタ、24はフォトデテクタ2
3の受光レベルを表示する表示器である。なお、f、は
焦点距離を示し、音響レンズ3の曲率、材質および媒体
5の音速によりその大きさが決定される。
ムを検出するフォトデテクタ、24はフォトデテクタ2
3の受光レベルを表示する表示器である。なお、f、は
焦点距離を示し、音響レンズ3の曲率、材質および媒体
5の音速によりその大きさが決定される。
次に、本実施例の動作を第2図に示すフォトデテクタの
出力電圧特性図を参照しながら説明する。
出力電圧特性図を参照しながら説明する。
レーザ発振器20からのレーザビーム20bは光ファイ
バ21を通って出力され、出力されたレーザビームは焦
点Fを通過する。超音波探触子1′は上下に移動されて
その位置が調節されるが、焦点Fが図に一点鎖線で示す
ように試料4の表面と一致しない場合には、レーザビー
ム20bの試料表面での反射ビームは、破線で示すよう
に光ファイバ22の下端の光軸と一致しないので、光フ
ァイバ22には入力されず、したがってフォトデテクタ
23での検出はなく、表示器24には何も表示されない
。
バ21を通って出力され、出力されたレーザビームは焦
点Fを通過する。超音波探触子1′は上下に移動されて
その位置が調節されるが、焦点Fが図に一点鎖線で示す
ように試料4の表面と一致しない場合には、レーザビー
ム20bの試料表面での反射ビームは、破線で示すよう
に光ファイバ22の下端の光軸と一致しないので、光フ
ァイバ22には入力されず、したがってフォトデテクタ
23での検出はなく、表示器24には何も表示されない
。
しかし、超音波探触子1′の位置調節により試料4の表
面が焦点Fの極く近傍に達すると、図に実線で示すよう
にレーザビーム20bの反射ビームの一部が光ファイバ
22の下端から入射し′、この反射ビームは第2図に示
すようにフォトデテクタ23で検出され、フォトデテク
タ23の出力電圧は表示器24に表示される。試料4の
表面が焦点Fに近づくにしたがって光ファイバ22に入
力される反射ビームの量が増加し、焦点Fに一致したと
き当該反射ビームの量は最大となり、フォトデテクタ2
3の出力電圧も第2図に示すように最大となる。表示器
24でこの最大出力電圧をみることにより、焦点Fを試
料4の表面に一致させることができる。
面が焦点Fの極く近傍に達すると、図に実線で示すよう
にレーザビーム20bの反射ビームの一部が光ファイバ
22の下端から入射し′、この反射ビームは第2図に示
すようにフォトデテクタ23で検出され、フォトデテク
タ23の出力電圧は表示器24に表示される。試料4の
表面が焦点Fに近づくにしたがって光ファイバ22に入
力される反射ビームの量が増加し、焦点Fに一致したと
き当該反射ビームの量は最大となり、フォトデテクタ2
3の出力電圧も第2図に示すように最大となる。表示器
24でこの最大出力電圧をみることにより、焦点Fを試
料4の表面に一致させることができる。
このように、本実施例では、レーザ発振器のレーザビー
ムを光ファイバにより超音波の焦点を通過させるように
し、試料表面と焦点が一致しているとき当該レーザビー
ムの反射光を光ファイバを介してフォトデテクタで検出
し、その出力電圧を表示器に表示するようにしたので、
超音波反射波の波形とは無関係に、単に表示器の最大値
をみるだけで焦点を試料表面に一致させることができ、
焦点合せを容易に行なうことができる。
ムを光ファイバにより超音波の焦点を通過させるように
し、試料表面と焦点が一致しているとき当該レーザビー
ムの反射光を光ファイバを介してフォトデテクタで検出
し、その出力電圧を表示器に表示するようにしたので、
超音波反射波の波形とは無関係に、単に表示器の最大値
をみるだけで焦点を試料表面に一致させることができ、
焦点合せを容易に行なうことができる。
なお、上記実施例の説明では、レーザ発振器および光フ
ァイバにより光が焦点を通過するようにしたが、通常の
光源とレンズを用いることもできる。又、試料表面から
の反射ビームを入力する光ファイバ、フォトデテクタ、
および表示器に代えて、試料表面と焦点が一致したとき
の反射ビームのみを人力する微小孔を有する板体、箱体
等を用いることもできる。
ァイバにより光が焦点を通過するようにしたが、通常の
光源とレンズを用いることもできる。又、試料表面から
の反射ビームを入力する光ファイバ、フォトデテクタ、
および表示器に代えて、試料表面と焦点が一致したとき
の反射ビームのみを人力する微小孔を有する板体、箱体
等を用いることもできる。
以上述べたように、本発明では、導光部により光源の光
が焦点を通過するようにし、試料表面と焦点とが一致し
たとき、受光部により試料表面からの反射光を受光する
ようにしたので、超音波反射波形に関係なく、容易に焦
点合せを行なうことができる。
が焦点を通過するようにし、試料表面と焦点とが一致し
たとき、受光部により試料表面からの反射光を受光する
ようにしたので、超音波反射波形に関係なく、容易に焦
点合せを行なうことができる。
第1図は本発明の実施例に係る超音波探触子の側面図、
第2図は第1図に示すフォトデテクタの出力電圧特性図
、第3図は超音波顕微鏡の系統図、第4図(a)、(b
)は超音波反射波の波形図である。 1′・・・・・・超音波探触子、2・・・・・・圧電素
子、3・・・・・・音響レンズ、4・・・・・・試料、
20・・・・・・レーザ発振器、20b・・・・・・レ
ーザビーム、21.22・・・・・・光ファイバ、23
・・・・・・フォトデテクタ、24・・・・・・表示器
。 坪相汗訊材」距赳
第2図は第1図に示すフォトデテクタの出力電圧特性図
、第3図は超音波顕微鏡の系統図、第4図(a)、(b
)は超音波反射波の波形図である。 1′・・・・・・超音波探触子、2・・・・・・圧電素
子、3・・・・・・音響レンズ、4・・・・・・試料、
20・・・・・・レーザ発振器、20b・・・・・・レ
ーザビーム、21.22・・・・・・光ファイバ、23
・・・・・・フォトデテクタ、24・・・・・・表示器
。 坪相汗訊材」距赳
Claims (3)
- (1)超音波源および音響レンズを備え、前記超音波源
から放射された超音波を前記音響レンズにより焦点に集
束させる超音波探触子において、光源と、この光源の光
が前記焦点を通過するように調整する導光部と、前記焦
点からの前記光源の反射光を受光する受光部とを設けた
ことを特徴とする超音波探触子 - (2)請求項(1)において、前記導光部は光ファイバ
であることを特徴とする超音波探触子 - (3)請求項(1)において、前記受光部は、前記反射
光を入力する光ファイバと、この光ファイバの出力光を
検出する光検出器と、この光検出器の出力レベルを表示
する表示器とで構成されることを特徴とする超音波探触
子
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63195314A JPH0245756A (ja) | 1988-08-06 | 1988-08-06 | 超音波探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63195314A JPH0245756A (ja) | 1988-08-06 | 1988-08-06 | 超音波探触子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0245756A true JPH0245756A (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=16339099
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63195314A Pending JPH0245756A (ja) | 1988-08-06 | 1988-08-06 | 超音波探触子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0245756A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020122778A (ja) * | 2018-12-17 | 2020-08-13 | ザ・ボーイング・カンパニーThe Boeing Company | レーザ超音波イメージング |
-
1988
- 1988-08-06 JP JP63195314A patent/JPH0245756A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020122778A (ja) * | 2018-12-17 | 2020-08-13 | ザ・ボーイング・カンパニーThe Boeing Company | レーザ超音波イメージング |
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