JPS58388U - 接触端子付き試験基板 - Google Patents

接触端子付き試験基板

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JPS58388U
JPS58388U JP1981093730U JP9373081U JPS58388U JP S58388 U JPS58388 U JP S58388U JP 1981093730 U JP1981093730 U JP 1981093730U JP 9373081 U JP9373081 U JP 9373081U JP S58388 U JPS58388 U JP S58388U
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JP
Japan
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contact terminal
socket
contact
test board
contact terminals
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JP1981093730U
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JPS6240539Y2 (ja
Inventor
宮下　一善
啓二 今井
Original Assignee
株式会社日立製作所
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Publication date
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)
  • Multi-Conductor Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案により機能する全体図、第２図　　′は
接触端子周辺の一実施例の図である。 １・・・被測定ＩＣ，２・・・ＩＣのリード、３・−・
ＩＣソケット、４・・・基板、５・・・プローブピン、
６・・・ブロー　、ブピンガイド、７・・・周辺回路、
８・・・接触端子ソケ　−ツ１．９・・・接触端子、１
０・・・ＩＣソケットリード、１１・・・プリントパタ
ーン。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ℃ソケットを実装した基板に複数個の接触端子ソケット
    を圧入、ＩＣソケットの各リードと接触端子とは電気的
    に接続し、この接触端子ソケットには接触端子を挿入し
    、接触端子ソケットの弾性により接触端子を把持して各
    接触端子とＩＣソケットの各リードとは電気的に接続し
    ておき、被測定ＩＣをＩＣソケットに挿入し、プローブ
    ピンを接触端子に接触させプローブピンから℃の測定に
    必要な電源、信号等を供給し、測定信号をプローブピン
    に取り出し、プローブピンと接触させる接触端子を基板
    側に設け、かつ、接触端子を交換可能に構成したことを
    特徴とする接触端子付き試験基板。　　　　　　　。
JP1981093730U 1981-06-26 1981-06-26 接触端子付き試験基板 Granted JPS58388U (ja)

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JP1981093730U JPS58388U (ja) 1981-06-26 1981-06-26 接触端子付き試験基板

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JPS58388U true JPS58388U (ja) 1983-01-05
JPS6240539Y2 JPS6240539Y2 (ja) 1987-10-16

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JPS6240539Y2 (ja) 1987-10-16

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