JPS5835851A - 電子線装置におけるフイラメント交換機構 - Google Patents

電子線装置におけるフイラメント交換機構

Info

Publication number
JPS5835851A
JPS5835851A JP13509081A JP13509081A JPS5835851A JP S5835851 A JPS5835851 A JP S5835851A JP 13509081 A JP13509081 A JP 13509081A JP 13509081 A JP13509081 A JP 13509081A JP S5835851 A JPS5835851 A JP S5835851A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
filament
electron gun
lever
wehnelt
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP13509081A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0352177B2 (ja
Inventor
Yoshinori Takaba
鷹羽 義範
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd, Nihon Denshi KK filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP13509081A priority Critical patent/JPS5835851A/ja
Publication of JPS5835851A publication Critical patent/JPS5835851A/ja
Publication of JPH0352177B2 publication Critical patent/JPH0352177B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/18Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子線露光ateにおいて電子銃室を真空に保
ったままで、フィラメントを簡易操作−ごて交換するこ
とのできる新規な機構に関する〇斯種装置におけるフィ
ラメントの交換は電子銃室と集束レンズとの境に設けら
れた仕切弁を閉じた後、電子銃室をリークして大気圧に
し、電子銃室を集束レンズから切り離す(とにより行な
っている0ところで近時の電子線露光装置は高真空を必
要とするため、フィラメント交換後、電子銃室を所定の
高真空まで排気するのに長い時間を費やす。又仕切弁が
汚染されてチャージアップの原因となり、それによって
電子線が不正lこ偏向され、正確な図形を描くことがで
きなくなる。
本発明は斯様な点に鑑み、電子銃室の真空を破ることな
(フィラメントの交換を行なうことのできる新規な1a
構を提供するもので、電子銃室内に設置された絶縁体に
着脱自在に取り付けられたウェーネルト電極と、該ウェ
ーネルト電極の内側に電気的に絶縁された状態で固定さ
れたフィラメントと、仕切弁の開閉Iこより前記電子銃
室と連通或は遮断可能な予備室と、該予備室内IC回転
可能に設置された外部から操作可能なネジ棒と、鎖ネジ
棒)C螺合された雌ネジ本と、m記予備室内にネジ棒と
平行におかれた案内体と、該案内体に支持され前記維ネ
ジ体と一体に移動する移動体と、該移動体に回転可能に
取り付けられ、且つ一端にm紀ウつ一本ルト蝋極を着脱
可能に挾持するテコ体と、前記ネジ棒の回転に伴なって
維ネジ体が一往復するたびにこの維ネジ本を一定角度交
互に正転、逆転させて前記テコ体の一端を交互に押しと
げ、押し下げするための手段とを設けるように構成して
いる。
以下本発明の一実施例を図面に基づき峰脱する0第1図
は縦#面図%#E2図は第1図のムーム断面図であり、
1は電子線露光装置の電子銃室である。2は該電子銃室
内の上部中央に固定された碍子で、下端には筒状の金具
6が固着されている。
4は該金具6の内側に取り外し可能に嵌合されたウェー
ネルト取付台で、下端外局1こウェーネルト電極5が螺
着されており、又取付台4の中央部にはフィラメント6
を支持する電極棒7m、7bを保持した支持板8がビス
(図示せず)等により固定されている5 9m、9b、
9c (9b及び9cは図示せず)は金具5kC嵌会さ
れた取付台4を挾持、固定するための押棒で、各押棒は
光軸2を中心にして略対称におかれ、且つ板バネ10畠
、10b、10C(10b及び10cは図示せず)によ
り常に光軸2に向って押圧されている。11m及びll
bは前記電極棒7畠、7bのソケットで、図示外のケー
ブル等を介してフィラメント加熱電源に接続されている
0 12は電子銃室1のIIIIiに形成した予備室で、穴
16を介して電子銃室1と連通されている0該穴16s
分には二点鎖線で示す様6ζ仕切弁14が設けてあり、
電子銃室1と予備室12とを遮断することができる0又
前記予備室12の開放端には有底状の筒体15が嵌合さ
れ、それによって予備室は大気から遮断される。該筒体
15内dζはネジ棒16及び2本の案内棒17m、17
bが夫々平行5こ配置されている。ネジ棒16はその軸
心が光軸2と略交叉するようIζおかれ、又一端は筒体
15の底部を回転可能に貫通して大気中に取り出され、
その先端にハンドル18が取り付けられており、更に該
ネジ棒16には端部Iこ突起19a、19bを有するナ
ツト20が螺合されている。尚図示しないが該ネジ棒1
6とナツト20との螺合部分には多数のボールが介在さ
れていてボールネジを構成している0前記2つの案内棒
17m、17bには断面コの字状の移動体21が移動可
能に支持されており、該移動体21の開口部22内基こ
前記ナツト20がおかれる。
26は前記移動体21の開口部22内に支軸24を介し
て回転可能に取り付けられた5字状の第1のテコ体で、
一端(作用点1m1)は穴16を通って電子銃室1内に
挿入され、又その先端には第3図に平面図を示す様に欠
切部25が形成されている。
該欠切部25にはコの字状の保持体26が軸27Jl。
27bを介して回転可能に取り付けられている0保持体
26の椀26m、26bの対向面遥こは前記ウェーネル
ト取付台41こ設けた鐸41を挿入する凹溝281゜2
8bが形成しである。該各凹溝内基ζは板バネ29M。
29b+こより押圧された押棒60a、60bが設けて
あり、これにより第3図中一点鎖線で示す様に鍔4m(
即らウェーネルト電極5)を凹溝28m、28b内1ζ
挾持、同定させることができる0又前記保持体26には
テコ体23の@面lこ支軸61を介して回ノ転可能に取
り付けられたし・イー52の一端がピン66により枢着
されている。レバー62の他端はピン341こより前記
移動体21に枢着されている。
一方前記第重のテコ体26の他端(力点側)はナツト2
0の突起19a、19bと対向する様におかれ、又先端
中央部には欠切部55が形成されている066は第4図
1こ正面図を示す様に前記移動体21に支軸67鳳、6
7bを介して回転自在に取り付けられたIH2のテコ体
で、一端(力点@’)Pは前記第1のテコ体26の欠切
部65の位1lilにおかれ、又他端(作用点11)Q
は第1のテコ体26の力点側の側面Bに当接している。
該当接面(Il1面B)はナツト20の突起19m、1
9bが当接する面(側面C)の反対側である。
68は前記ナツト28の外周1こおかれた半円縞状の規
制板で、移動体21に固定されており、又#X規制板に
はg5図に拡大平rJ図を示す様#C前記ネネジ棒6と
平行な長溝69とこの長溝の右端から分岐した2つの斜
溝40.41が形成されている。該各科溝40,41の
終端部40B 、 4151は前記長溝69と平行な直
線状に形成されており、又終端s40鳳と41mとはネ
ジ棒16を中心にしである一定角度、例えば90fIL
はなして設けである。更#C該各溝59,40及び41
内にはm紀ナツト201こ固定されたピン42が遊嵌さ
れる0これによりナツト20は規制板68と一体化する
為、ハンドル18を介してネジ棒16を回転させること
によりナツト2Gは前後lζ移動する046及び44は
t14に!、規制板6B上の斜溝40と41との間に軸
45を介して回転可能に取り付けられた夫々短冊状及び
半円板状lこ形成された第1及び第2の案内板で、これ
らはナツト20が一往復するととにピン42を斜溝40
と41内に交互に切換んて導び(ための役目を果す。4
6は規制板6Bと第2の案内板44との間に張架された
スプリングで、規制板との固定点は長$39の終端縁部
1こ設けられ、第2の案内板との固定点は軸45を中心
にして反対側に設けられる。47は第1と第2の案内板
46と44との関着こ張架されたスプリングで、このス
プリングにより第1の案内板46は1145図にその状
態を示す様に第2の案内板44が一方の斜溝40をふさ
いでいるとき、他方の斜溝41をふさぐような回転力が
与えられる。48a、48b。
49、及び49bはストッパーである0斯かる装置にお
ける動作を以下5こ詳説する◎第1図は予備室12内に
おかれた移動体21が最右端におかれ、碍子2(金具6
)に装着されているウェーネルト取付台4の鍔部4mを
第1のテコ体261こ取り付けられた保持体26が挾持
した状態を示す0又このときナツト20に固定されたピ
ン4.2は第5図で示す様に斜溝41の終端fs41 
a内におかれ、ナツト20g:設けた突起19mは第2
のテコ体66と当接している。この状態におり1てネジ
棒16を回してナツト20を第1図中右方6ζ移動させ
ると、第2のテコ体66が支軸!7畠、61bを中心l
こして時針方向6と回転すると同時#C第1のテコ体2
5が支4B24を中心にして時針方向に回転するため、
保持体26が押し下り、ウェーネルト取付台4が金具6
から取り外される。このとき保持体26の端部a(第り
図#照)は第1のテコ体のテコ比と同じテコ比を有する
レバー62によって押し下げられるため、姿勢を変えず
(例えば水平tC保たれたまま)に下降する。しかして
ウェーネルト取付台4が金具6から外れるとナツト20
は図示外のストッパーにより移動が阻止され、同時番こ
mlのテコ体26は図示外のラチェット機構等のロック
機構によりその位置がロックされる。
しかる後、ネジ棒16を前述とは逆の方向に回してナツ
ト20を第1図中左方に移動させると、ピン42を介し
て移動体21が一体とぼって移動するため、ウェーネル
ト電極5は穴16を通って予備室12内1ζ移される。
前記ナツト20が第1図中一点鎖線すで示す様に最左端
まで移動するとピン42は斜溝41をったって第5図で
示す斜溝69の左端イの位置におかれる0ここで第1の
案内板46が斜溝41をふさいでいるわけであるが、ピ
ン42が長溝69側lζ向うときには第1の案内板46
はフリーで、ピン42の移動とともにストッパー48b
の位置まで回転し、ピン42が斜溝40側に進入するの
を阻止する〇 この状態において仕切弁14にて穴16を塞ぎ、電子銃
室1と予備室12とを遮断した門、予備室内をリークし
て筒体15を子側12からぬき出すことEこより新しい
フィラメントをウェーネルト取付台4に装着することが
できる。フィラメント交換後、筒体15を予備112+
こ挿入し、予備室内を粗引して仕切弁14を開放するこ
とによりこの予備室と電子銃室とを連通゛させる。しか
して藺紀ネジ棒16を前述とは逆方向に回転させて移動
体21を第1図中最左端から実線で示す位置まで移動し
、第1のテコ体26に挾持されたウェーネルト取付台4
を碍子2の直下1ζおく。このときピン42は第5図で
示す長溝69のイの位置から第1の案内板461こガイ
ドされて斜溝40に進入し、更に鋏ビン42は第2の案
内板44を回転させながら移動して終端部40鳳の口の
位置におかれる。
これによりナツト20は前述したウェーネルト取付台4
を碍子2の金具6から敗り外す状態、即ち一往復する前
の状態から90度回転し、ナツトの突起19m、19b
は第1のテコ体25の側面Cと当接する。そこでネジ棒
16を回してナツト20を更5こ前進させれば、第2の
テコ体26が支軸24を中心1こして反時計方向に回転
するため、保持体26が押しとげられ、第1図でその状
態を示す様にウェーネルト取付台4が金具6内に嵌合さ
れ、新しいフィラメント6がソケット11鳳、11bに
接続される0尚第1のテコ体26はウェーネルト取付台
4を金具3内に押し込んだ際、図示外のラチェット機構
等のロック機構によりその位置がロックされる。しかる
後、ネジ棒16を逆転させて移動体21(第1のテコ体
26)を第1図中最左端に移動させれば、試料の露光を
行なうことができる。ここで前述した様にピン42が斜
溝40を通って終端部40a1こ移動する際第2の案内
板44は回転され、それによって案内板6とはスプリン
グ46による反時針方向の回転力から時針方向の回転力
が加わり、案内板は第6図にその状態を示す様に斜溝4
1側をふさく様1こ配置される。これによりスプリング
47にて第2の案内板456ζ時針方向の回転力が加わ
り、案内板46は斜溝40@1ζ配置される。従ってピ
ン42が終端部40a#槍鷹Iこ位置している状1it
(ウェーネルト取付台4を金具&IC@合した状態)か
ら移動体21を第1図中最左端に移動させた際、ピン4
2は第2の案内板44により阻害されることなく第1の
案内板46を押しのけて長溝69のイの位置まで移動す
る。
この状態でネジ棒16を逆転させて移動$21を第1図
中実線の位置まで移動させると、保持体26がウェーネ
ルト取付台4の鍔4畠を挾持し、更に長#I69のイの
位置におかれたピン42は斜溝41を通って終端部41
aj(:おかれるため、ナツト20は逆転し、その突起
19aが1g2のテコ体66と当接する0このとき第1
の案内板はピン42によって回転されるため、第1及び
第2の案内板46゜44は第6図の状態から第5図の状
−6ζ復帰する。
以下鋳述した動作を行なうことにより新しいフィラメン
トと交換することができる0 以上の如き構成となすことにより本発@1こおいては電
子銃室の真空を破ることなくフィラメントの交換を行な
うことができるため、交換を短時間で行なうことができ
、しかも電子線通路土に仕切弁を設置する必要がなくな
るため、チャージアップによる電子線の不正偏向を防止
でき、正確な図形を描(ことができる0又/1ンドルを
回転するだけでフィラメント交換を行なうことができる
ため、取り扱い操作が非常に容易となり、夾用性大であ
る。
尚前述の説明では本発明を電子線露光装置に実施した場
合について述べたが、これに限定されることなく他の高
真空を必要とする電子顕微鏡等の電子線装置にも同様に
実施することができるO1函の簡単な!!明 第1図は本発明の一実施例を示す縦断両回、第2図は第
1図のA−ム断面図、第3図は第1のテコ体の平面図、
第4図は第2のテコ体の左側面図、第5図及び第6図は
規制板の拡大平面図であるロ1:電子銃室ζ2:碍子、
6:金具、4:つ工−ネルト取付台、5:ウェーネルト
電極、6:フィラメント、12:予備室、1S:穴、1
4:仕切弁、15:lii体、16 : ネジ棒、18
:/%7Fル、19m、19b:突起、20:ナツト、
21:移動体、26:第1のテコ体、24:支軸、26
:保持体、51:支軸、62ニレバー、66:第2のテ
コ体、37m、67b:支軸、68:規制板、69:長
溝、40.41 :斜溝、42:ピン、46:第1の案
内板、44:第2の案内板、46.47:スプリング。
特許出願人 日本電子株式会社 代表者加勢忠雄

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 電子銃室内に設置された絶縁体に着脱自在に取り付けら
    れたウェーネルト電極と、該ウェーネルト電極の内ll
    11c電気的に絶縁された状態で固定されたフィラメン
    トと、仕切弁の開閉により前記電子銃室と連通或は遮断
    可能な予備室と、咳予備室内に回転可能に設置された外
    部から操作可能なネジ棒と、該ネジ棒に蝶合された一ネ
    ジ体と、前記予備室内Jこネジ棒と平行におかれた案内
    体と、咳案内体に支持され前記雌ネジ体と一体に移動す
    る移動体と、該移動体#cIg1転可能に取り付けられ
    、且つ一端に前記ウェーネルト電極を着脱可能に挾持す
    るテコ体と、前記ネジ棒の回転に伴なって雌ネジ体が一
    往復するたびにこの維ネジ体を一定角度交互遥こ正転、
    逆転させて前記テコ体の一端を交互Iζ押し上げ、押し
    下げするための手段とを設けたことを特徴とする電子線
    俟Klこおけるフィラメント交換機構。
JP13509081A 1981-08-28 1981-08-28 電子線装置におけるフイラメント交換機構 Granted JPS5835851A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13509081A JPS5835851A (ja) 1981-08-28 1981-08-28 電子線装置におけるフイラメント交換機構

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13509081A JPS5835851A (ja) 1981-08-28 1981-08-28 電子線装置におけるフイラメント交換機構

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5835851A true JPS5835851A (ja) 1983-03-02
JPH0352177B2 JPH0352177B2 (ja) 1991-08-09

Family

ID=15143595

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13509081A Granted JPS5835851A (ja) 1981-08-28 1981-08-28 電子線装置におけるフイラメント交換機構

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5835851A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4721918A (en) * 1984-07-19 1988-01-26 High Voltage Engineering Europa B.V. Process and apparatus for the exchange of emission sources
JP2009245725A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Jeol Ltd 電子ビーム発生装置
CN103426705A (zh) * 2012-05-22 2013-12-04 日新离子机器株式会社 灯丝更换器和灯丝更换结构

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4721918A (en) * 1984-07-19 1988-01-26 High Voltage Engineering Europa B.V. Process and apparatus for the exchange of emission sources
JP2009245725A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Jeol Ltd 電子ビーム発生装置
CN103426705A (zh) * 2012-05-22 2013-12-04 日新离子机器株式会社 灯丝更换器和灯丝更换结构
JP2013243098A (ja) * 2012-05-22 2013-12-05 Nissin Ion Equipment Co Ltd フィラメント交換器及びフィラメント交換構造

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0352177B2 (ja) 1991-08-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5001350A (en) Electron microscope
TW201222617A (en) Sample device for charged particle beam
JPS5835851A (ja) 電子線装置におけるフイラメント交換機構
CN106783494A (zh) 一种透射电镜样品杆真空存储与测试装置
US2849619A (en) Electron microscope having a multiplespecimen carrier
US3596087A (en) Spark source mass spectrometers and sample insertion probe therefor
JP3999399B2 (ja) X線管
US4445874A (en) Apparatus and method for aligning the envelope and electron gun mount assembly of a CRT
US3992578A (en) Yoke mounting apparatus
US3588574A (en) Cathode-ray device with a replaceable cathode
JP2005026530A (ja) 試料ホルダ移動機構及び真空装置並びに荷電粒子ビーム装置
US3505521A (en) Electron emission microscope object manipulator
US2497755A (en) X-ray tube with movable directing cone
US3400265A (en) X-ray spectrometry apparatus having both interchangeable specimens and radiation sources
US3476936A (en) Apparatus for positioning specimens in electron microscopes or electron diffraction cameras
JPH06349436A (ja) 電子顕微鏡等の試料交換装置
GB1023104A (en) Improvements in corpuscular radiation instruments
US4347658A (en) Method of making magnetic reed contact unit
JP3404090B2 (ja) 電子顕微鏡用試料傾斜装置
US2851611A (en) Electron-optical instruments
US4507873A (en) Apparatus for accurately establishing the sealing length of CRT envelopes
JPS5849568Y2 (ja) 電子顕微鏡等における試料装置
JPH10199466A (ja) イオンビーム加工観察装置
JPS607047A (ja) 電子線装置の試料処理装置
JPH0610611Y2 (ja) 電子顕微鏡等の試料装置