JPS5834412A - 光学装置 - Google Patents

光学装置

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JPS5834412A
JPS5834412A JP13315181A JP13315181A JPS5834412A JP S5834412 A JPS5834412 A JP S5834412A JP 13315181 A JP13315181 A JP 13315181A JP 13315181 A JP13315181 A JP 13315181A JP S5834412 A JPS5834412 A JP S5834412A
Authority
JP
Japan
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image
array
optical system
lens
optical
Prior art date
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Pending
Application number
JP13315181A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Iizuka
飯塚 清志
Takashi Kawabata
隆 川端
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPS5834412A publication Critical patent/JPS5834412A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/40Optical focusing aids

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はうL学装(角、lVfに、結1r′光学系と、
該結像光学系により形成されるイ″4:を受ける一次元
薯:電変換累子アレイとを有する光学装置ζtに関イる
ものである。
上に述べた様な光学装置は、例えば、JIIr定の基線
間隔を隔てて配置された2系統の結像光学系により該基
線方向に配列された〜次元光電変閘素子アレイ上に物体
の21βを形成し、該2像の位置関係をもとに物体迄の
距離に関する情報を形成する様な測距装置等において見
受けられる。
ところでこの裡測距装+i2にあってはイ(>られる像
信ぢが極めて細いに9状に関する信号のみとなるため、
lZ>記の基糾吉直方向のより多くの情報を集めて測距
のM¥t IFLを上げるために色々な工夫が提案さi
lでいる。例えばその−例として像を基線方向に圧縮す
るためのシリンドリカルレンズを上記結像]Y:学糸中
に配する方法が既に提案されている。しかし乍「)、シ
リンドリカルカルレンズではその曲率故に広い範囲の圧
紅・・が困カ1「であり、その工作もjjlil L 
< 、又、単なる圧縮のため、圧縮方向の特徴が11j
われ易いと云う欠点がある。
本発明は1ffiかる事情に鑑みて為されたもので、結
像光学系と、該結像光学系により形成される像を受ける
一次元光電変換累子アレイを冶する光学装置きして、上
に述べた様な、従来のシリンドリカルレンズによる方法
に見られる不都合を解消させて、像の採取範囲を格段に
拡大させ得、且つ、シリンドリカルレンズの様な工作上
の難しさ或いは限界を打破17得るgI規な改良を提供
するこ吉を目的とし、その特徴とする処は、J−!fl
’+光電変換素子のアレイ方向とほぼ平行な像成分を採
取し圧縮して上記−次元光電変換素子アレイ上に形成す
るフレネル状構造を有する光学手段を備えたことに存す
るものである。
以下本発明を添付した図面を使用して説明する。
第1図、第2図は本発明の適用例としての測距装置を説
明する図である。
第1図は測距方法を説明する図で、1は基準隊形成用光
学系に、また、2は比較[3j形成川光学系に担当し、
両光学系は同一の焦点距μl1ffを有する。
また両者の光軸は基線長dだけ1iillさA]る。
ろは−次元光電変換菓子アレイとしての市川#l +’
+己走前走査型受光素子列5で基準像の形11にさ′J
する部分、4は比較像の形成される部分を示す。
Aは物体で、基準像形成用光学系1の光軸−1−に在る
ものとし、更に光学系の前側主点よりh゛+; nt 
eだけ離れている。なお、A1は受光素子例5上に形成
された基準像、A2は比較Glζで、比較像N20党軸
からgだけ離れた位IIに形成されている。そ師に対F
r;する。
第2図はgの検出方法を示すもので、領域6中の例えば
5個の受つY;素子は斜脚を引いた基準角:に係るパタ
ーンの信ぢを発し、これを照度信号abcdeとする。
一方、領域4では物体距離に応じて実線もしくけ破線で
示すパターンの信号を発するものとする。
仮に実線のパターンであるならば照度信号abcdeに
一致するイg号は光学系2の光軸から非常に離わた装置
に在り、この時、近距離物体に応じたgを出力する。ま
た破線のパターンであるならば基準の照度信号に一致す
る信号は光学系2の元軸に比較的近い位置に在るので遠
用14(を物体に応じたgを出力する。
このような原則に基づく測距装置を実際にカメラ等に装
」!11するための光学系の構成としては、第6図のご
とき構成があげられる。6,7け反射鏡、8.9は結像
レンズ、10は反射プリズムで、6゜8.10をもって
基準像を素子列11上に結像させ、また、7,9.10
をもって比較像を素子列11上に結像させるものでル)
る。
ここで以下の翫二連での便宜を考え、光+1g1方向を
X、菓子配列方向をylそれらと垂il′lt「方向を
2とする。尚、反射によってx、y、zはPli、 3
図に示すとと(変る。
この構成によって、2系統の結イ9!糸を隣接すること
が可能となり、受MI菓子列の長さを・V・橡最小なも
のにできる。しかしながら、2系統吉も2回の反射を含
んでいるので各反射(U3、プリズムレンズの部品和実
及び取付稍ル′によって受光素子列11上の像は変化し
、特に受光素子列11として各受光素子の幅が0.01
〜0.06 nun桿11.((1) rl(ffl’
4 C,C,T’)を用いる場合には、2像の2方向の
結像位1i’j差が411)距l′l#度に大きな影4
ヶを与える。
即ち、第4図のごとく、z方向に輝IW変化のある物体
を測距する場合、もし基I′v5像素子列と比較像素子
列が2光学系の相互誤差によって2方向の異なる位置を
見ていたとすると、基準出力と比較出力とは1ン1示の
ご吉(なり、比較出力内に基準出力と同−i’;li分
が無くなり、イl’l距不能さなる。
(?1つて、名光学f〜1輸i’l MW度及び取付精
度は極めてIVl、いものがη2求されることになる。
この1〆f度を緩′lTl’lするために2光学系中相
方にY方向に円筒lll1llを有するシリンドリカル
レンズ、あるいはシリンドリカル面を配することが既に
提案されている。
即ち、285図は2J′l、6図の構成における反射絹
6゜7の!+//II+側/1方向に円筒tlli(を
有する2系糾一体のシリンドリカルレンズ12を配した
ものであり、同一特性のシリンドリカルレンズを配置で
きる特徴がある。
第6図は、rll、6図の構成における結1埃レンズ8
゜9の代りに1而を凸球面、他の111nをY方向に円
筒ll1l+を有するシリンドリカル面とした結像レン
ズ13.14を配したもので、光学部品の増加が無いと
いった特徴がある。
第5図、第6図ともシリンドリカルレンズは)Y方向に
は屈折力を持たす2方向に屈折力を持つ。
従ってx+Y断面の焦点の位置に受′yt、素イ列11
を配置醍すれば、第7図に示同−通り、′1り1体15
の才子列上の像は16のように2方向はデフォーカスの
ためある範囲平均化されノ、(草体と比1咬憔の2方向
のずれかぁ)つても比較出力内に基準出力と同一のR1
t分が存在することにt[り測距が町熊吉1.Cる。
しかし乍ら、先に述べた様にシリンドリカルレンズ或い
はシリンドリカル而の場合には広い範囲の圧縮が附加で
;l’!If々のr/iiで′1ltlJ約が、ト)る
と云う不都合を有しているものである。
従って、本発明においてはフレネル状の微細構造により
像の採取及び圧縮を行なう様にしたものである。即ち、
例えば第8図は第5図に才、τけるシリンドリカルレン
ズ12に代る本発明に係る改1隻を示すもので、llI
l図に示すレンズ21け略示イルのフレネル構造を有し
ており、同レンズ21により受光素子列20の物体22
−1−での相対感度は波形23で示す如(大きく拡がり
、[1つ、制御可能な分布が実現される様になる。尚、
第6図の構成の場合にはレンズ13.14に直接、必要
に応じてフレネル構造を持たせる様にしても良いもので
ある。
以上ir:述した様に、本発明によれば、結像光学系と
、該か一1像光学系により形成される像を受ける一次元
M; ′iLL変換素子アレイとを有する光学装置とし
て−)’Is電変換糸子アレイによる像の採取範囲を格
段に拡大出来、しかも、シリンドリカルレンズに見られ
る工作上の難しさやその性能上の制約を打破して安1曲
で簡単に構成出来るもので、191えば、実施例のが)
明中で述べた如き測距装置に利用してその効果、甚だ犬
なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の適用f・uとしての測距装置の一例の
4;1j距の原3J!を曲間するための図、第2Nは第
1 rr/l示構成によりぞJられる物体距離に応じた
受光素子列出力を示す図、 第6し≧」は第1図で説明した測距装置の光学系部分の
具体的構成例を示す斜視図、 第4[Vlは第5図示光学部分の構成において光学系要
素に位置調整不良があった場合の受光素子列とぞtlが
受容する像及びその出力の関係を示す1ツ1、第5図及
び第6図は第4図で説明した不都合を解消させることを
意図して従来提案されている第3図示イ、′々成に対す
る2つの改良例を示す胴?lI!1′ど1、第7図は第
5.6図の改1り一例によってイ;Lら才する受光素子
列とそれが゛受容する害j及びその出力の関係を示す図
、 第8図は本発明の実施例を示す図で、!;)る。 1.2;8,9・・・・・結像光学系、5;11;20
・・・・・−次元光電変換素子アレイ、21・・・・・
フレネル状構造を有する光学手段。 特許出願人 キャノン株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 結イま光学系と、該結イ!3:光学系により形成さ才す
    る像を受ける一次元光電変]ψ累子アレイを有する光の 学装置ηにおいて、lN+、光電g 4qH素子アレイ
    方向とはぼ平行な像11k分を採取し圧縮して該−次元
    うし1b、変換素子アレイ上に形成′1−るフレネル状
    1’fri造を有する光学手段を備えたことを特徴とす
    る光学装置N、。
JP13315181A 1981-08-25 1981-08-25 光学装置 Pending JPS5834412A (ja)

Priority Applications (1)

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JP13315181A JPS5834412A (ja) 1981-08-25 1981-08-25 光学装置

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JP13315181A JPS5834412A (ja) 1981-08-25 1981-08-25 光学装置

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JPS5834412A true JPS5834412A (ja) 1983-02-28

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ID=15097896

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07330329A (ja) * 1994-06-09 1995-12-19 Kosaka Seiren Kk 硫酸液からの板状二水石膏の連続製造法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07330329A (ja) * 1994-06-09 1995-12-19 Kosaka Seiren Kk 硫酸液からの板状二水石膏の連続製造法
JP2614602B2 (ja) * 1994-06-09 1997-05-28 小坂製錬株式会社 硫酸液からの板状二水石膏の連続製造法

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