JPS5831689B2 - 接点の製造方法 - Google Patents

接点の製造方法

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JPS5831689B2
JPS5831689B2 JP50019241A JP1924175A JPS5831689B2 JP S5831689 B2 JPS5831689 B2 JP S5831689B2 JP 50019241 A JP50019241 A JP 50019241A JP 1924175 A JP1924175 A JP 1924175A JP S5831689 B2 JPS5831689 B2 JP S5831689B2
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JP
Japan
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metal
current switching
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metal material
gold
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Expired
Application number
JP50019241A
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JPS5193362A (en
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洋一 横山
孝 高田
久嘉 山本
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は接点の製造方法に関するものである。
従来のある種の接点は、銅等の基材の上にロジウム等の
高硬度高融点金属をめっきし、その上に銀等の低硬度高
導電率耐腐蝕性金属をめっきしている。
そして、後者の金属で小電流の開閉釦よび腐蝕防止を行
なうが、大電流開閉では後者の金属が消耗してし1うの
でこれを前者の金属で行なう。
このようにして小電流から大電流までの開閉が可能とな
るが、基材の上に2層の金属を形成するために2工程が
必要となり製造が容易でない。
曾た、第1の金属層から第2の金属層への急激な特性変
化があるため好1しくない。
したがって、この発明の目的は、急激な特性変化がなく
、しかも小電流から大電流1での開閉が可能な接点を簡
単に得ることができる接点の製造方法を提供することで
ある。
要約すれば、この発明では必要な複数種類の金属を同時
に導電性基村上にスパッタして混合層を形成する。
この場合、混合層の基材に近い部分は高融点高硬度すな
わち大電流開閉に適した金属材料の配合度合を多くし、
接点表面に近づくにしたがって高導電率低硬度耐腐蝕性
すなわち小電流開閉に適しれ金属材料の配合度合を多く
する。
前者の金属材料としてはタングステン、モリブデン、ロ
ジウム、ルテニウム、パラジウム等であり、後者の金属
材料は金於よび銀である。
例えば、第1図に示すようにパーマロイの基材1上にモ
リブデンおよび金を同時にスパッタする場合、スパッタ
初期はモリブデン20%および金80饅の割合でスパッ
タし、この配合比を連続的または微小段階的に変化して
スパッタ終期はモリブデン5%釦よび金95優として3
〜5μmの混合層2を得る。
な釦、高価な耐腐蝕性金属(金寸たは白金等)と安価な
腐蝕性金属(銀)との組合せも考えられる。
つぎに、金(小電流開閉用金属)釦よび金属X(大電流
開閉用金属)の混合層を得る具体例について説明する。
(1)金属Xが高融点金属で単一ターゲットによる場合
:第2図1こ示すように、金属Xで作ったターゲットT
上に適当なパターンの金を載置し、直流または高周波ス
パッタを行なう。
このとき、スパック電圧卦よび電流を加減することによ
り、スパック速度を制御することによって基材S上のス
パッタ混合層の厚み方向の成分比を変える。
すなわち、金に比べて高融点金属Xのスパッタ送度は低
く、基材S、!、−よびターゲツI−T間の印加電圧が
低い場合にはスパッタ混合層のXの含有率が小さいが、
印加電圧の上昇とともにXの含有率が増大する。
(2)金属Xが高融点金属で複数ターゲットを用いる場
合:第3図に示すように、あらかじめ金属Xで作ったタ
ーゲットT1〜T3の上に面積の異なる金を載置し、一
定のスパッタ条件でこれらのターゲットT1〜T3を順
次切替えることにより、基材S上の混合層の金属Xの含
有率を段階的に変える。
(1)、 (2)に釦いて、金属Xのターゲットの上面
の表面積(実効表面積)をSTとし、金の上面の表面積
(実効表面積)をsAとし、印加電圧をEとすると、い
ずれの場合もE/(SA/ST)はスパッタ工程中減少
することとなる。
すなわち、(1)の場合はSA/STが一定でEが時間
の経過とともに減少し、(2)の場合はEが一定でSA
/STか時間の経過とともに増加(段階的増加)するか
らである。
以上のように、この発明によれば、急激な特性変化がな
く、小電流から大電流1での開閉が可能な接点をきわめ
て簡単に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による接点の構成説明図、第2図計よ
び第3図はその製造方法の説明図である。 1・・・・・・基材、2・・・・・・混合層、T、T1
〜T3・・・・・・ターゲット、S・・・・・・基材。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 導電性基材の近傍に大電流開閉用金属材料を多く含
    み、導電性基材から遠ざかるにつれて小電流開閉用金属
    材料を多く含む接点の製造方法であって、大電流開閉用
    金属材料のターゲット上に小電流開閉用金属材料を載置
    して導電性基材に対面配置し、E/(SA/ST)を減
    少させながらスパッタすることを特徴とする接点の製造
    方法(ただし、Eは導電性基材とターゲット間の印加電
    圧、SAは小電流開閉用金属材料の実効表面積、sTは
    大電流開閉用金属材料の実効表面積である)。
JP50019241A 1975-02-14 1975-02-14 接点の製造方法 Expired JPS5831689B2 (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4920129A (ja) * 1972-06-23 1974-02-22

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS4920129A (ja) * 1972-06-23 1974-02-22

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