JPS5826262A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS5826262A JPS5826262A JP56125110A JP12511081A JPS5826262A JP S5826262 A JPS5826262 A JP S5826262A JP 56125110 A JP56125110 A JP 56125110A JP 12511081 A JP12511081 A JP 12511081A JP S5826262 A JPS5826262 A JP S5826262A
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- ultrasonic probe
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- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は原子炉圧力容器中配管等の溶接部の検査κ好適
する超音波微傷装置に関する。
する超音波微傷装置に関する。
一般に＠音波探傷装置は超音波探触子から超音波をｌＩ
信ずるとと一に欠陥か６（｝反射波を受信して欠陥を検
出するようκ構成されている。
信ずるとと一に欠陥か６（｝反射波を受信して欠陥を検
出するようκ構成されている。
しかし、＃ｌ俵ＳＯ近傍を検査する場合κはビードと母
材とＯ墳界中濤接一近傍κ存在する微粒子Ｏえめκ超音
波が散糺され、第ｉｌｌκ示す如く欠陥からの欠陥エコ
ー▲が雑音の疑似エコー１に▼スフされ、ｓＮ比が大幅
κ低下する．このため溶＊＊近ｌ１メ黴小タラツタ等が
発見できない不為金があった。
材とＯ墳界中濤接一近傍κ存在する微粒子Ｏえめκ超音
波が散糺され、第ｉｌｌκ示す如く欠陥からの欠陥エコ
ー▲が雑音の疑似エコー１に▼スフされ、ｓＮ比が大幅
κ低下する．このため溶＊＊近ｌ１メ黴小タラツタ等が
発見できない不為金があった。
本実―祉以上Ｏ事情にもとづいてなされたもＯで、そＯ
ｌ的とするところは溶接部勢の雑音の多い部分でもＩＮ
比を上げ、精密な検査をなすζとができる超音ｆＩＩＬ
！ｌｌ傷装置を得るζとＫある。
ｌ的とするところは溶接部勢の雑音の多い部分でもＩＮ
比を上げ、精密な検査をなすζとができる超音ｆＩＩＬ
！ｌｌ傷装置を得るζとＫある。
以下本発明を図ＩＩＫ示す一実施例κしたがって説明す
る．図中１は超音波探触子であって、被検査物１内κ肉
けて超音波を発信し、その反射波を受信す為ようκ構成
されている．なお、ＪはＳｍ部Ｏｖ−ド、４は欠陥であ
る。そして、ζ０＠音掖一触子１は探触子走査機構５に
よって走査され為．１１た、ζの超音波探触子１は変調
発振器ｒからの発振信号によって超音波を発信するよう
に構成されている。ｔた、Ｃはり費ツクΔルス発ａＳで
あって、上記責調発振ＦＩｒおよび探触子走査機構５０
制御装ｆｇＫりｐツタ信号を送ル、超音波探触子１の走
査と同期して超音波を発信させるように構成されている
。
る．図中１は超音波探触子であって、被検査物１内κ肉
けて超音波を発信し、その反射波を受信す為ようκ構成
されている．なお、ＪはＳｍ部Ｏｖ−ド、４は欠陥であ
る。そして、ζ０＠音掖一触子１は探触子走査機構５に
よって走査され為．１１た、ζの超音波探触子１は変調
発振器ｒからの発振信号によって超音波を発信するよう
に構成されている。ｔた、Ｃはり費ツクΔルス発ａＳで
あって、上記責調発振ＦＩｒおよび探触子走査機構５０
制御装ｆｇＫりｐツタ信号を送ル、超音波探触子１の走
査と同期して超音波を発信させるように構成されている
。
そしてこの変調発振器１はｉｍｌの掬傷作動すなわち超
音波探触子１が＃を埋同−の位置にある間に複数のｍ回
の発振信号を出力し、超音波探触子１から一囮の発信を
なすように構成されている。そして、これら各回ＩＩＣ
おける超音波の発信は超音波を波形の発信波形で出力さ
せ、かつこれら発信波形８１ ｅ ａｍ ”８１１は第
３図（ｉ） 〜（ｃ） Ｋ示す如く各回毎にその波数１
周波数等が異なプ、ま丸鋼４図に示す如く各回毎に周波
数分布が異なるように構成されている。′＆お、上記発
信波形の変化は発信波形の減衰定数を各回毎に変えるこ
とによっておこなう、そして、これら発信された超音波
の反射波は超音波探触子１で受信され、その反射波信号
は増幅器夕、ムーＤ変換ｍｘｅを介して同期平均回路１
１＃ｃ送られるように構成されてｂる。そしてこの同期
平均回路１１では前記戸−ツクΔルス発ＩＩＡＩＩ ＃
からのり冑ツク信４＃にもとづいて６回の反射波信号を
時間的＃ｃＭＪＩｌさせ為とともにこれらを加算平均し
、雑音を＃書するようＫｌｌ成されてｂる。そして、ｅ
ｏｐｕａｔ平均回路１１からの信号ＦｉＤ−Ａ変換器１
２でアナーダ信号に変換されたＯち画像構成回踏ＪＪＫ
送られ為、１九この画像構成回路ＩＪには前記制御装置
１かも超音波探触子１の位置に対応しえ信号が入力する
。そしてこの画像構成回路１１ではこれらＯ信号をもと
くして被検査物ｘｏｗｔｗ曽を作威し、Ｃ凰Ｔ等の表示
器１４Ｅｌｌ示するように構成されている。
音波探触子１が＃を埋同−の位置にある間に複数のｍ回
の発振信号を出力し、超音波探触子１から一囮の発信を
なすように構成されている。そして、これら各回ＩＩＣ
おける超音波の発信は超音波を波形の発信波形で出力さ
せ、かつこれら発信波形８１ ｅ ａｍ ”８１１は第
３図（ｉ） 〜（ｃ） Ｋ示す如く各回毎にその波数１
周波数等が異なプ、ま丸鋼４図に示す如く各回毎に周波
数分布が異なるように構成されている。′＆お、上記発
信波形の変化は発信波形の減衰定数を各回毎に変えるこ
とによっておこなう、そして、これら発信された超音波
の反射波は超音波探触子１で受信され、その反射波信号
は増幅器夕、ムーＤ変換ｍｘｅを介して同期平均回路１
１＃ｃ送られるように構成されてｂる。そしてこの同期
平均回路１１では前記戸−ツクΔルス発ＩＩＡＩＩ ＃
からのり冑ツク信４＃にもとづいて６回の反射波信号を
時間的＃ｃＭＪＩｌさせ為とともにこれらを加算平均し
、雑音を＃書するようＫｌｌ成されてｂる。そして、ｅ
ｏｐｕａｔ平均回路１１からの信号ＦｉＤ−Ａ変換器１
２でアナーダ信号に変換されたＯち画像構成回踏ＪＪＫ
送られ為、１九この画像構成回路ＩＪには前記制御装置
１かも超音波探触子１の位置に対応しえ信号が入力する
。そしてこの画像構成回路１１ではこれらＯ信号をもと
くして被検査物ｘｏｗｔｗ曽を作威し、Ｃ凰Ｔ等の表示
器１４Ｅｌｌ示するように構成されている。
以上Ｏ如く構成された本発明の〜実施例は１ｌＩＯ細傷
作動すなわち超音波探触子１がほぼ同位置に＆る間に変
調発振器１かもパターンの異１に４ｍＦＩＩＯ発績信号
が出力され、超音波探触子１からは発信波形１！１１
＋ ８１・・・ａｍのそれぞれ異なる超音波がＩＩＢ
発線される。そしてこれら超音波σ欠陥４に反射して欠
陥エコームとして超音波探触子ＩＫ受信される。ｉ九、
この超音波探触子１から発信された超音波はビーＰ３と
母材の境界やその近傍に存在する微粒子等によって散乱
され、雑音や疑似ニブ−１として超音波探触子ＩＫ受信
されゐ、そして、この超音波探触子１からの反射波信号
は増幅器ｔ１ムーＤ変換器ｌ−を介して同期平均回路１
１＃ｃ送られる。そしてこの同期平均回路１１ではこれ
らの反射波信号を時間的に同期させて加算平均し、欠陥
エーームを除く確青戒分を除去すみ、以下この作用を説
明する。前記の欠陥４は比較的その表面が平滑であシ、
よってこの火陥４で反射した欠陥エツームの位相は発信
波形１１ｔ、Ｓ雪・・・８ｎに対して常に同じ対応関係
にある。これに対して母材とビード３の境界中材群中の
微粒子で散乱した雑音、疑似エコー３は複雑な径路で反
射、干渉したものであゐから、その波形の位相は発信波
形８１＋８１・・・Ｓｌの位相とは常に一定の関係とは
麦らず、発信波形！ｌｘ’ｓ禽・・・８Ｉｌが変るとこ
の発信波ｊｌｌＩ露凰、１重−ｇ、 ｏ位相と雑音、疑
似エコーＢＯ波形Ｏ位相とはランダムに変化する。よっ
て超音波−触子１かもの反射波信号を時間的に同期させ
、発信波形！ｉｔ ＊ ｌｈ −８Ｂ Ｏ位相と合せて
加算平均すると欠陥エー−ムの信号レベルは変ら１にい
が雑音中ｌＩＩ！値エコーＢの信号レベルは１７１に減
少し、８Ｎ比が向上する。よって溶接部分Ｏ近傍に６る
微小クツツク等の欠陥も容易に検出すゐことがで龜る。
作動すなわち超音波探触子１がほぼ同位置に＆る間に変
調発振器１かもパターンの異１に４ｍＦＩＩＯ発績信号
が出力され、超音波探触子１からは発信波形１！１１
＋ ８１・・・ａｍのそれぞれ異なる超音波がＩＩＢ
発線される。そしてこれら超音波σ欠陥４に反射して欠
陥エコームとして超音波探触子ＩＫ受信される。ｉ九、
この超音波探触子１から発信された超音波はビーＰ３と
母材の境界やその近傍に存在する微粒子等によって散乱
され、雑音や疑似ニブ−１として超音波探触子ＩＫ受信
されゐ、そして、この超音波探触子１からの反射波信号
は増幅器ｔ１ムーＤ変換器ｌ−を介して同期平均回路１
１＃ｃ送られる。そしてこの同期平均回路１１ではこれ
らの反射波信号を時間的に同期させて加算平均し、欠陥
エーームを除く確青戒分を除去すみ、以下この作用を説
明する。前記の欠陥４は比較的その表面が平滑であシ、
よってこの火陥４で反射した欠陥エツームの位相は発信
波形１１ｔ、Ｓ雪・・・８ｎに対して常に同じ対応関係
にある。これに対して母材とビード３の境界中材群中の
微粒子で散乱した雑音、疑似エコー３は複雑な径路で反
射、干渉したものであゐから、その波形の位相は発信波
形８１＋８１・・・Ｓｌの位相とは常に一定の関係とは
麦らず、発信波形！ｌｘ’ｓ禽・・・８Ｉｌが変るとこ
の発信波ｊｌｌＩ露凰、１重−ｇ、 ｏ位相と雑音、疑
似エコーＢＯ波形Ｏ位相とはランダムに変化する。よっ
て超音波−触子１かもの反射波信号を時間的に同期させ
、発信波形！ｉｔ ＊ ｌｈ −８Ｂ Ｏ位相と合せて
加算平均すると欠陥エー−ムの信号レベルは変ら１にい
が雑音中ｌＩＩ！値エコーＢの信号レベルは１７１に減
少し、８Ｎ比が向上する。よって溶接部分Ｏ近傍に６る
微小クツツク等の欠陥も容易に検出すゐことがで龜る。
１に訃、上記発信波形の変化は必らずしも減衰定数を変
えるもＯＫ限らない。
えるもＯＫ限らない。
九とえば館Ｓ■−）、Ｑｌ）Ｋは第１の変形例を示し、
仁のものは発信毎に発信波形８１＋８Ｂ”・Ｈ１０＊０
数を変え、発信波形Ｓｌ＃ ＢＢ ”ＪＩＢの周波数分
布を第５図偽）の如く変えるものである。
仁のものは発信毎に発信波形８１＋８Ｂ”・Ｈ１０＊０
数を変え、発信波形Ｓｌ＃ ＢＢ ”ＪＩＢの周波数分
布を第５図偽）の如く変えるものである。
また、第６図には第２０変形例を示す、このもＯは三角
形Ｏ包絡線を有する発信波形Ｊｕｇｓ−軸を用い、発信
毎にその立上ＩＪ４＄４！１！を習えるもＯである。
形Ｏ包絡線を有する発信波形Ｊｕｇｓ−軸を用い、発信
毎にその立上ＩＪ４＄４！１！を習えるもＯである。
まえ、第７図には菖３の変形例を示す。この−のは発信
波形８１ ＊ Ｂ＠ ”−”Ｂ墓としてバースト波を用
い、発信毎にその波数を変えるものである。
波形８１ ＊ Ｂ＠ ”−”Ｂ墓としてバースト波を用
い、発信毎にその波数を変えるものである。
さらに本発明は上記の一爽施例にも限定されない。
たとえば上記−実施例のものは超音波探触子からの反射
波信号を五−り変換器でデジタル化する５ｐジタル方式
であるが、これに限らずアナーダ方式またはΔターン識
別方式を用いてもよい。
波信号を五−り変換器でデジタル化する５ｐジタル方式
であるが、これに限らずアナーダ方式またはΔターン識
別方式を用いてもよい。
上述の如く本発明は変調発振器によって超音波探触子か
ら発信毎に発信波形の変る超音波を発信させ、その反射
波信号を同期平均回路で同期させて平均するものである
。し九がって、発信波形が変ってもその反射波との位相
関係が変らない欠陥エコーの信号レベルは変らないが、
波形が変ると反射波の位相がランダムに変化する雑音中
疑似ニブ−は信号レベルが低下する。
ら発信毎に発信波形の変る超音波を発信させ、その反射
波信号を同期平均回路で同期させて平均するものである
。し九がって、発信波形が変ってもその反射波との位相
関係が変らない欠陥エコーの信号レベルは変らないが、
波形が変ると反射波の位相がランダムに変化する雑音中
疑似ニブ−は信号レベルが低下する。
よって８Ｎ比が大幅に改善され、溶接部分の近傍にあゐ
微小タテツタ等の欠陥も確実に検出することがで龜る等
、その効果は大である。
微小タテツタ等の欠陥も確実に検出することがで龜る等
、その効果は大である。
第１閣は従来装置における超音波探触子の送・受信波形
図である。第２図ないし第７図は本実Ｗ１４０−夷麹例
を示し、第２図は概略構成図、第３図（ａ） 、 （ｂ
） 、 （＠）は超音波探触子Ｏ送・受信波形図、−１
図（船は同期平均された反射波信号の波形図、第４図は
各発信波形の周波数分布図、第！！ＩＩ（ａ）は第１の
変形例の発信波形の波形図、館ｓＷ！伽）はその周波数
分布図、第６図は第２の変形例の発信波形の波形図、第
７図は第３の変形例Ｏ発信波形の波形図である。 １−趨音ｔＩＬ！１ｌｌＩ触子、４・・・欠陥、１・・
・変調発振器、１１−画像構成回路、１４−・表示器。
図である。第２図ないし第７図は本実Ｗ１４０−夷麹例
を示し、第２図は概略構成図、第３図（ａ） 、 （ｂ
） 、 （＠）は超音波探触子Ｏ送・受信波形図、−１
図（船は同期平均された反射波信号の波形図、第４図は
各発信波形の周波数分布図、第！！ＩＩ（ａ）は第１の
変形例の発信波形の波形図、館ｓＷ！伽）はその周波数
分布図、第６図は第２の変形例の発信波形の波形図、第
７図は第３の変形例Ｏ発信波形の波形図である。 １−趨音ｔＩＬ！１ｌｌＩ触子、４・・・欠陥、１・・
・変調発振器、１１−画像構成回路、１４−・表示器。
Claims (2)
- （１） 超音波の発信および反射波の受信をなす超音
波探触子と、この超音波探触子を同一位置において複数
回発信させるとともに各回毎に発信波形を順次変化させ
る変調発振器と、上記超音波探触子からの反射波信号を
時間同期させて平均する同期平均回路とを具備したこと
を特徴とする超音波探傷装置。 - （２） 前記変調発振器は前記超音波探触子の発信毎
にその発信波形の減衰定数を変えることによ勤尭信ｆＩ
Ｉ／Ｌ形を蛮えるもＯ”ｔ”６ることを特徴とする特許 傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56125110A JPS5826262A (ja) | 1981-08-10 | 1981-08-10 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56125110A JPS5826262A (ja) | 1981-08-10 | 1981-08-10 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5826262A true JPS5826262A (ja) | 1983-02-16 |
Family
ID=14902088
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56125110A Pending JPS5826262A (ja) | 1981-08-10 | 1981-08-10 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5826262A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6092798U (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-25 | 東芝テック株式会社 | 電動送風機 |
| JPS6092796U (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-25 | 東芝テック株式会社 | 電動送風機 |
| JP2013246046A (ja) * | 2012-05-25 | 2013-12-09 | Nippon Steel & Sumitomo Metal | 電磁超音波検査装置及び鋼材の電磁超音波検査方法 |
-
1981
- 1981-08-10 JP JP56125110A patent/JPS5826262A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6092798U (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-25 | 東芝テック株式会社 | 電動送風機 |
| JPS6092796U (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-25 | 東芝テック株式会社 | 電動送風機 |
| JPH0444877Y2 (ja) * | 1983-11-30 | 1992-10-22 | ||
| JP2013246046A (ja) * | 2012-05-25 | 2013-12-09 | Nippon Steel & Sumitomo Metal | 電磁超音波検査装置及び鋼材の電磁超音波検査方法 |
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