JPS5821570A - 電気機器の試験装置 - Google Patents

電気機器の試験装置

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Publication number
JPS5821570A
JPS5821570A JP56120105A JP12010581A JPS5821570A JP S5821570 A JPS5821570 A JP S5821570A JP 56120105 A JP56120105 A JP 56120105A JP 12010581 A JP12010581 A JP 12010581A JP S5821570 A JPS5821570 A JP S5821570A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
voltage
electrical equipment
load short
load
Prior art date
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Pending
Application number
JP56120105A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriaki Hirose
弘瀬 憲章
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP56120105A priority Critical patent/JPS5821570A/ja
Publication of JPS5821570A publication Critical patent/JPS5821570A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はインバータ装置等の電気機器の試験装置に係わ
)、特に電気機器が誤配線されて装置からの供給電源が
負荷短絡される場合の対策機能を備えた試験装置に関す
る。
従来、インバータ装置、整流装置、チ、、・9装置等の
電気機器においてLlその信頼性向上を目的とし試験装
置によシ、該電気機器に試験電圧を印加して試験が行な
われている。例えば、インバータ装置においては規定入
力に対して許容範囲内の出力が得られるかどうかの試験
により、装置の異常の有無の確認が行なわれている。
第1図は、上記試験に使用される試験装置の概要を示し
たものである。図において、破線で囲まれた1が試験装
置、2が被試験対象としての電気機器を夫々示している
。3は試験用電圧を印加するための電源でと、−ズ4、
接点5mを介して電気機器2内の負荷6を接続している
また、5は上記接点5aをその出力接点とする補助リレ
ーであす、電気機器2の試験内容に基づいて制御装置と
してのマイクロ・コンビ、−タ(以下、マイコンと称す
る)1からの指令によ抄、シーケンス的に励磁制御され
るものである。
そして、かかる試験装置では負荷6が誤配線により短絡
されている場合、マイコン1から試験電圧印加指令が補
助リレー5に与えられて接点51が閉路して電源Sが短
絡された時、試験装置1および電気機器lを保護するた
め、と、−ズ4によりし中断する方式を採用している。
しかしながら、かかると、−ズによるし中断方式を採用
した試験装置においては、と、−ズしゃ断によるヒ、−
Je4の交換等を伴ない、かつこの交換は電気機器2が
誤配線のたびに行なわなければならず保守が大変である
。まえ、ヒ、−ノ4の断動作が試験装置1側、電気機器
(被試験体)2側のいずれの側の異常によるものである
かどうかが不明でラシ、その切分けに時間を要して試験
時間が長く表シ、装置としての信頼性が低いというよう
表問題がある。
木菟明は上記のよう翫問題を解決するために成され丸も
ので、その目的は被試験対象としての電気機器に試験電
圧を印加するに際し、その負荷短絡チ、、り(配線チェ
、り)を行ない誤配線による短絡がないことを確認した
ことを条件に試験電圧を印加するととkよシ、試験装置
自体の異常と電気機器の異常の切分けを明確に行ない得
ると共に試験時間のぜ縮化を図ることができる保守性、
信頼性の高い電気機器の試験装置を提供するととにある
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。第2図は、本発明の実施例の構成例をプロ、り的に
示したものである。なお、分についてのみ述べる。図に
おいて、負荷短絡チェ、り(配線チェ、り)電圧を印加
するための電源8を設け、短絡防止用抵抗9、被試験体
接続箇所切換用補助リレー10の接点1oaを介して上
記負荷6に接続する。ζこで、接点s o sawイコ
ン1′からの負荷短絡チェック電圧印加指令により、シ
ーケンス的に補助リレー10が励磁制御されて開閉する
接点である。また11は、負荷短絡検出器としての電圧
レベル検出器で前記、負荷dと短絡防止抵抗9との抵抗
比を電圧比に変換して検出して負荷インビーとで@01
ならば負荷インピーダンスが短絡状態でToり、−1″
ならば負荷が規定値以上であることを判定し、その結果
″″1mならば電気機器2に電圧を印加し、°01なら
ば電圧を印加しない。
すなわち°1“ならばマイコン7’によりまず補助リレ
ー10をオフした後、被試験体電圧印加指令を補助リレ
ー5に与え、接点5aをオンさせて電源電圧を電気機器
2に印加するように構成する。
なお、ヒユーズ4は試験装置1側が故障した場合、例え
ば電圧レベル検出器11が故障して被試験体の負荷チェ
ックを誤りた時、或いは電源3の電圧設定値が異常に上
昇し、大電流が流れる等の保護のためのものであシ、こ
のと、−ズが遮断された場合は試験装置1の異常である
と判断することができる。
次に1かかる構成の作用について第3図に示すフローチ
ャート図を用いて説明する。いま試験項目毎に試験が開
始されると、まず被試験体としての電気機器2の電圧印
加端子のインピーダンスを測定するために1負荷短絡チ
エツクを行なうための電圧を接点10aをオンして印加
する。つぎにマイコ/1′において試験装置1内の負荷
電圧が規定電圧以上であるかを判定し、規定値以下であ
る場合には電気機器2が誤配線または低インピーダンス
負荷が接続されていると判定して被試験体異常処理を行
危う。一方規定レベル以上である場合には電気機器2に
試験電圧を印加し、測定ルーチンに従うて測定を行なう
。そして測定結果が規定値内に入りていれば電気機器2
は正常であり、規定値外であれば異常と判定して異常処
理を行ない試験終了となる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではない。第
4図は、第1図における電源8および短絡防止抵抗9、
電圧レベル検出器11に代えてインピーダンス測定器1
2(例えば抵抗針。
Cメータ等)を設けてこれKよシ、負荷インピーダンス
を測定し、その測定結果をマイコン7′部で判定し、規
定値以上であれば負荷短絡なしとし電源Sから電圧を供
絡して試験を行なう。
その他、本発明はその要旨を変更しない範囲で、種々に
変形して実施することができるものである。
以上説明したように本発明によれば、被試験対象として
の電気機器に試験電圧を印加するに際し、その負荷短絡
チェック(配線チェック)を行ない誤配線による短絡が
ないことを確認したことを条件に試験電圧を印加するよ
うKしたので、試験装置自体の異常と電気機器の異常の
切分社を明確に行ない得ると共に試験時間の短縮化を図
ることができる極めて保守性、信頼性の高い電気機器の
試験装置が提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の試験装置を示すブロック図、第2図は本
発明の一実施例を示すプロ、り図、第3図は第2図の試
験装置の試験フローチャート図、第4図は本発明の他の
実施例を示すブ■ツタ図である。 1・・・試験装置、2・・・被試験体(電気機器)、3
・・・被試験体インピーダンスチェ、り用電源、6・・
・被試験体負荷インピーダンス、9・・・抵抗器、11
・・・電圧レベル検出器、12・・・インピーダンス測
定器。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦才1 a Ip211 才3図 t41m 昭叱e船・19  日 特許庁長官 島田春樹  殿 1、事件の表示 特願昭56−120105 号 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (307)  東京芝浦電気株式会社 4、代理人 5、自発補正

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  電源よりヒ、−tを介して電気機器に試験用
    電圧を印加し、電気機器の異常の有無を所定の試験内容
    に基づいて試験する試験装置において、前記電気機器の
    負荷短絡の有無を検出し、誼負荷短絡が無い仁とを判定
    したことを条件にのみ前記電気機器に対する試験電圧の
    印加を許容する負荷短絡検出装置を備えたことを特徴と
    する電気機器の試験装置。
  2. (2)電源と抵抗器の直列回路により負荷短絡チェ、り
    用電圧を印加し、電気機器に印加され判定するようにし
    た特許請求の範囲第(1)項記載の電気機器の試験装置
  3. (3)  インーーダンス測定器により電気機器のイン
    ーーダンスが規定値以上である場合に負荷短絡無しと判
    定するようにした特許請求の範囲第(1)°項記載の電
    気機器の試験装置。
JP56120105A 1981-07-31 1981-07-31 電気機器の試験装置 Pending JPS5821570A (ja)

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JP56120105A JPS5821570A (ja) 1981-07-31 1981-07-31 電気機器の試験装置

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JPS5821570A true JPS5821570A (ja) 1983-02-08

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ID=14778045

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JP56120105A Pending JPS5821570A (ja) 1981-07-31 1981-07-31 電気機器の試験装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04331473A (ja) * 1991-04-30 1992-11-19 Japan Servo Co Ltd 異常検出機構を有する電力変換装置
KR20020095931A (ko) * 2001-06-18 2002-12-28 엘지이노텍 주식회사 통화합된 계측기
CN104133123A (zh) * 2013-05-02 2014-11-05 上海工程技术大学 一种低压电器测试实验室数据处理系统

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KR20020095931A (ko) * 2001-06-18 2002-12-28 엘지이노텍 주식회사 통화합된 계측기
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