JP3055339B2 - インバ−タにおけるスイッチング素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方法 - Google Patents
インバ−タにおけるスイッチング素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はインバ−タに使用され
るスイッチング素子または／およびスイッチング素子駆
動部の破損チェック方法に係り，特に破損チェックのた
めに作業員が技術知識を持つ必要のない，インバ−タに
おけるスイッチング素子または／およびスイッチング素
子駆動部の破損チェック方法に関する。
るスイッチング素子または／およびスイッチング素子駆
動部の破損チェック方法に係り，特に破損チェックのた
めに作業員が技術知識を持つ必要のない，インバ−タに
おけるスイッチング素子または／およびスイッチング素
子駆動部の破損チェック方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般的にインバ−タ回路には，インバ−
タ回路入力側の直流回路またはインバ−タ回路以降の各
誘導電動機等負荷装置に対する交流電力供給回路に電流
値検出手段を設け，これら電流値検出手段によって標準
電流値よりも大なる電流値を検出するか，または負荷の
作動が変動すると，電源を切った後次のような操作手段
によってインバ−タ回路を構成するスイッチング素子の
チェックを行っていた。 直流回路に並列に接続される濾波コンデンサの放電を
行う。 インバ−タ回路の出力配線を外す。 各スイッチング素子を順次テスタ等によってチェック
する。 破損スイッチング素子があれば交換する。 スイッチング素子駆動回路部品をチェックする。 破損スイッチング素子駆動回路部品があれば交換す
る。 各出力線の短絡または地絡をチェックする。 短絡または地絡があれば改善する。 インバ−タの動作チェックを行う。 また，インバ−タ回路を構成するスイッチング素子のチ
ェック手段に関しては，特開昭６２−１６０６３号公
報，特開平２−２０２３７６号公報に開示のものがあ
る。特開昭６２−１６０６３号公報に記載のものは，供
給直流電源電圧に２直列のそれぞれが相等しいコンデン
サまたは抵抗と，２直列に複数ア−ムのスイッチング素
子を接続して成るインバ−タ装置において，コンデンサ
または抵抗の中間点とスイッチング素子の中間点との間
にそれぞれ電流検出器を接続し，この電流検出器の導通
状態をチェックしてスイッチング素子の短絡状態または
開放状態を判別するようにしている。また，特開平２−
２０２３７６号公報に記載のものは，各ア−ムが並列す
る複数のスイッチング素子で構成される電流供給型フル
ブリッジインバ−タにおいて，直列接続される負荷側回
路上それぞれに設けた変流器，負荷を挟んで任意選択し
て対応させて対の変流器それぞれの出力が入力する差動
増幅器，差動増幅器の出力を整流平滑する全波整流器，
全波整流器の出力を基準値と比較する比較器より成り，
インバ−タの正常運転時には差動増幅器は０レベルを出
力し，比較器に入力する基準値を０レベルにしている。
タ回路入力側の直流回路またはインバ−タ回路以降の各
誘導電動機等負荷装置に対する交流電力供給回路に電流
値検出手段を設け，これら電流値検出手段によって標準
電流値よりも大なる電流値を検出するか，または負荷の
作動が変動すると，電源を切った後次のような操作手段
によってインバ−タ回路を構成するスイッチング素子の
チェックを行っていた。 直流回路に並列に接続される濾波コンデンサの放電を
行う。 インバ−タ回路の出力配線を外す。 各スイッチング素子を順次テスタ等によってチェック
する。 破損スイッチング素子があれば交換する。 スイッチング素子駆動回路部品をチェックする。 破損スイッチング素子駆動回路部品があれば交換す
る。 各出力線の短絡または地絡をチェックする。 短絡または地絡があれば改善する。 インバ−タの動作チェックを行う。 また，インバ−タ回路を構成するスイッチング素子のチ
ェック手段に関しては，特開昭６２−１６０６３号公
報，特開平２−２０２３７６号公報に開示のものがあ
る。特開昭６２−１６０６３号公報に記載のものは，供
給直流電源電圧に２直列のそれぞれが相等しいコンデン
サまたは抵抗と，２直列に複数ア−ムのスイッチング素
子を接続して成るインバ−タ装置において，コンデンサ
または抵抗の中間点とスイッチング素子の中間点との間
にそれぞれ電流検出器を接続し，この電流検出器の導通
状態をチェックしてスイッチング素子の短絡状態または
開放状態を判別するようにしている。また，特開平２−
２０２３７６号公報に記載のものは，各ア−ムが並列す
る複数のスイッチング素子で構成される電流供給型フル
ブリッジインバ−タにおいて，直列接続される負荷側回
路上それぞれに設けた変流器，負荷を挟んで任意選択し
て対応させて対の変流器それぞれの出力が入力する差動
増幅器，差動増幅器の出力を整流平滑する全波整流器，
全波整流器の出力を基準値と比較する比較器より成り，
インバ−タの正常運転時には差動増幅器は０レベルを出
力し，比較器に入力する基準値を０レベルにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで，従来の点検
方法によると，点検作業は人間が行うために，作業者に
技術的知識が必要である。また，点検に多くの時間を必
要とするので，作業効率が低下するという問題点があっ
た。また，特開昭６２−１６０６３号公報，特開平２−
２０２３７６号公報に開示のものはいずれも，チェック
用の部品類が必要であって回路構成が複雑になるという
問題点があった。本発明は上記従来の問題点(課題)を解
決するもので，インバ−タの制御装置の構成を複雑にせ
ずに短時間でチェックが実行でき，作業員に技術的知識
を必要としないインバ−タにおけるスイッチング素子ま
たは／およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方
法を提供することを目的としている。
方法によると，点検作業は人間が行うために，作業者に
技術的知識が必要である。また，点検に多くの時間を必
要とするので，作業効率が低下するという問題点があっ
た。また，特開昭６２−１６０６３号公報，特開平２−
２０２３７６号公報に開示のものはいずれも，チェック
用の部品類が必要であって回路構成が複雑になるという
問題点があった。本発明は上記従来の問題点(課題)を解
決するもので，インバ−タの制御装置の構成を複雑にせ
ずに短時間でチェックが実行でき，作業員に技術的知識
を必要としないインバ−タにおけるスイッチング素子ま
たは／およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方
法を提供することを目的としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に，本発明に基づくインバ−タにおけるスイッチング素
子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チェッ
ク方法においては，コンデンサに電荷を蓄電した状態に
おいて，直流電圧供給回路の電磁接触器を開放して各ス
イッチング素子を順次短時間駆動し，インバ−タ回路の
流通電流値またはコンデンサ両端電圧値が急変した場合
はこのスイッチング素子に直列に接続するスイッチング
素子が短絡状態であり，上記電流値または電圧値が徐々
に変化した場合はこのスイッチング素子と負荷装置を経
由して接続されるスイッチング素子が短絡状態であると
判定するようにした。また，コンデンサに電荷を蓄電し
た状態において，直流電圧供給回路の電磁接触器を開放
してスイッチング素子のうちの直列に接続されるスイッ
チング素子の組ごとに順次短時間駆動し，インバ−タ回
路の流通電流値またはコンデンサ両端電圧値が変動しな
い場合は直列に接続される各スイッチング素子のいずれ
か，またはいずれかのスイッチング素子駆動部が破損状
態であると判定するようにした。なお，上記二つの判定
方法を結合して実行するようにしても良い。
に，本発明に基づくインバ−タにおけるスイッチング素
子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チェッ
ク方法においては，コンデンサに電荷を蓄電した状態に
おいて，直流電圧供給回路の電磁接触器を開放して各ス
イッチング素子を順次短時間駆動し，インバ−タ回路の
流通電流値またはコンデンサ両端電圧値が急変した場合
はこのスイッチング素子に直列に接続するスイッチング
素子が短絡状態であり，上記電流値または電圧値が徐々
に変化した場合はこのスイッチング素子と負荷装置を経
由して接続されるスイッチング素子が短絡状態であると
判定するようにした。また，コンデンサに電荷を蓄電し
た状態において，直流電圧供給回路の電磁接触器を開放
してスイッチング素子のうちの直列に接続されるスイッ
チング素子の組ごとに順次短時間駆動し，インバ−タ回
路の流通電流値またはコンデンサ両端電圧値が変動しな
い場合は直列に接続される各スイッチング素子のいずれ
か，またはいずれかのスイッチング素子駆動部が破損状
態であると判定するようにした。なお，上記二つの判定
方法を結合して実行するようにしても良い。
【０００５】
【作用】本発明は，上述のような方法によって判定する
ようにしたので，従来のインバ−タ回路に対して特殊な
部品回路を追加することなくインバ−タ回路に使用する
スイッチング素子および／またはスイッチング素子駆動
部破損の有無を速やかに判定できる。また，担当作業員
は判定のための技術的知識を必要としない。
ようにしたので，従来のインバ−タ回路に対して特殊な
部品回路を追加することなくインバ−タ回路に使用する
スイッチング素子および／またはスイッチング素子駆動
部破損の有無を速やかに判定できる。また，担当作業員
は判定のための技術的知識を必要としない。
【０００６】
【実施例】本発明に基づくインバ−タにおけるスイッチ
ング素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損
チェック方法の実施例を図を参照して詳細に説明する。 第１の実施例：図１にスイッチング素子または／および
スイッチング素子駆動部の破損チェック方法を適用した
第１の実施例の構成ブロック図を示している。図１には
機能説明に直接関係のない装置や配線類及び図示すると
図面が複雑になるが了解容易な配線類の図示は省略して
いる。図１において，端子Ａ，Ｇ間に印加された直流電
圧は第１の電磁接触器１を経由して濾波コンデンサ２の
両端に印加し，また，６個のスイッチング素子３ａ1〜
３ａ6によって構成されるスイッチング機能を備えたイ
ンバ−タ回路に印加されている。各対のスイッチング素
子３ａ1と３ａ4，３ａ2と３ａ5，３ａ3と３ａ6との接続
点は負荷装置であるモ−タ，例えば三相誘導電動機（以
下誘導電動機と称す）４に接続されている。誘導電動機
４の周辺回路および誘導電動機４によって駆動される機
構装置等の図示は省略している。上述したスイッチング
素子は，例えば，所定の電力特性と応答特性を備えたト
ランジスタ，ＩＧＢＴ等の半導体を使用している。この
インバ−タ回路を含むインバ−タシステムまたは上位シ
ステムの主制御装置５から出力されるインバ−タ操作信
号によってインバ−タ制御装置６はインバ−タ制御信号
を出力する。また，インバ−タ制御装置６には詳細を後
述する電流値判定機能（図示せず）を備えている。イン
バ−タ制御装置６からは後述する所定条件で出力する信
号を伝送する信号線が主制御装置５に接続している。イ
ンバ−タ制御装置６から出力するインバ−タ制御信号は
スイッチング素子駆動回路７に入力して各スイッチング
素子３ａ1〜３ａ6の駆動信号を作成し，各スイッチング
素子３ａ1〜３ａ6の操作端子，即ち，スイッチング素子
として使用する半導体の種類に対応してゲ−ト端子また
はベ−ス端子等に入力している。スイッチング素子駆動
回路７から各スイッチング素子の操作端子まではスイッ
チング素子の駆動部を形成している。また，端子Ａから
入力する直流電源回路には電流値検出手段８が設けられ
ている。この電流値検出手段８には，例えば，磁気特性
を使用した直流変流器（ＤＣ・ＣＴ），直列接続した固
定抵抗器等を使用し，図示しない絶縁増幅器等を介し，
必要な場合は入力レベルを変換調節してインバ−タ制御
装置６に入力している。電流値検出手段８の検出電流値
はインバ−タ回路のフィ−ドバック信号として使用され
ている他，インバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機
能（図示せず）によって本発明に基づくスイッチング素
子または／およびスイッチング素子の駆動部の破損チェ
ックに使用している。即ち，電流値検出手段８は本発明
のために特に設けず，本来のインバ−タ機能に備えられ
ている電流値検出手段を使用することができる。前述し
た第１の電磁接触器１には第２の電磁接触器９ａと所定
の抵抗値を備えた固定抵抗器９ｂとを直列に接続して並
列に接続している。図１において，６ａはインバ−タ制
御装置６の表示部である。また，図１においては，主制
御装置５から第１の電磁接触器１，第２の電磁接触器９
ｂの操作部に接続する操作信号回路等の図示は省略して
いる。
ング素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損
チェック方法の実施例を図を参照して詳細に説明する。 第１の実施例：図１にスイッチング素子または／および
スイッチング素子駆動部の破損チェック方法を適用した
第１の実施例の構成ブロック図を示している。図１には
機能説明に直接関係のない装置や配線類及び図示すると
図面が複雑になるが了解容易な配線類の図示は省略して
いる。図１において，端子Ａ，Ｇ間に印加された直流電
圧は第１の電磁接触器１を経由して濾波コンデンサ２の
両端に印加し，また，６個のスイッチング素子３ａ1〜
３ａ6によって構成されるスイッチング機能を備えたイ
ンバ−タ回路に印加されている。各対のスイッチング素
子３ａ1と３ａ4，３ａ2と３ａ5，３ａ3と３ａ6との接続
点は負荷装置であるモ−タ，例えば三相誘導電動機（以
下誘導電動機と称す）４に接続されている。誘導電動機
４の周辺回路および誘導電動機４によって駆動される機
構装置等の図示は省略している。上述したスイッチング
素子は，例えば，所定の電力特性と応答特性を備えたト
ランジスタ，ＩＧＢＴ等の半導体を使用している。この
インバ−タ回路を含むインバ−タシステムまたは上位シ
ステムの主制御装置５から出力されるインバ−タ操作信
号によってインバ−タ制御装置６はインバ−タ制御信号
を出力する。また，インバ−タ制御装置６には詳細を後
述する電流値判定機能（図示せず）を備えている。イン
バ−タ制御装置６からは後述する所定条件で出力する信
号を伝送する信号線が主制御装置５に接続している。イ
ンバ−タ制御装置６から出力するインバ−タ制御信号は
スイッチング素子駆動回路７に入力して各スイッチング
素子３ａ1〜３ａ6の駆動信号を作成し，各スイッチング
素子３ａ1〜３ａ6の操作端子，即ち，スイッチング素子
として使用する半導体の種類に対応してゲ−ト端子また
はベ−ス端子等に入力している。スイッチング素子駆動
回路７から各スイッチング素子の操作端子まではスイッ
チング素子の駆動部を形成している。また，端子Ａから
入力する直流電源回路には電流値検出手段８が設けられ
ている。この電流値検出手段８には，例えば，磁気特性
を使用した直流変流器（ＤＣ・ＣＴ），直列接続した固
定抵抗器等を使用し，図示しない絶縁増幅器等を介し，
必要な場合は入力レベルを変換調節してインバ−タ制御
装置６に入力している。電流値検出手段８の検出電流値
はインバ−タ回路のフィ−ドバック信号として使用され
ている他，インバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機
能（図示せず）によって本発明に基づくスイッチング素
子または／およびスイッチング素子の駆動部の破損チェ
ックに使用している。即ち，電流値検出手段８は本発明
のために特に設けず，本来のインバ−タ機能に備えられ
ている電流値検出手段を使用することができる。前述し
た第１の電磁接触器１には第２の電磁接触器９ａと所定
の抵抗値を備えた固定抵抗器９ｂとを直列に接続して並
列に接続している。図１において，６ａはインバ−タ制
御装置６の表示部である。また，図１においては，主制
御装置５から第１の電磁接触器１，第２の電磁接触器９
ｂの操作部に接続する操作信号回路等の図示は省略して
いる。
【０００７】次に，図１に示した回路構成の動作を図
２，図３に示す動作フロ−を参照して説明する。先ず，
図２に動作フロ−を記す第１のテストを説明する。この
インバ−タシステムに予め設定された条件，即ち，この
インバ−タシステムが稼働中に主制御装置５またはイン
バ−タ制御装置６等に予め設定されている異常判定機能
によって異常状態を検知し，および／または，インバ−
タシステムに電源が投入された始業時に，または後述す
る第２のテストを完了した後，主制御装置５は第１の電
磁接触器１を開路して第１のテストを開始する。主制御
装置５から出力される操作信号によって第２の電磁接触
器９ａを閉路し，図示しない整流回路を機能させて得ら
れた端子Ａ，Ｇから入力する直流電圧を固定抵抗器９ｂ
を介してコンデンサ２に充電する。固定抵抗器９ｂの抵
抗値とコンデンサ２の容量値によって定まる充電時間後
に，主制御装置５から出力される信号によって，第２の
電磁接触器９ａを開路するとともにインバ−タ制御装置
６は操作信号を出力して第１のスイッチング素子３ａ1
を所定の短時間オンさせる。電流値検出手段８の出力電
流値をインバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機能
（図示せず）によって判定する。電流値検出手段８の出
力電流値が検知できないとインバ−タ制御装置６は第２
のスイッチング素子３ａ2を所定の短時間オンさせる。
電流値検出手段８の出力電流値が検知できないとインバ
−タ制御装置６は出力電流値が検知できるまで，また
は，全てのスイッチング素子に対するテストが完了する
まで順次各スイッチング素子３ａ3，３ａ4，３ａ5，３
ａ6を所定の短時間オンさせる。
２，図３に示す動作フロ−を参照して説明する。先ず，
図２に動作フロ−を記す第１のテストを説明する。この
インバ−タシステムに予め設定された条件，即ち，この
インバ−タシステムが稼働中に主制御装置５またはイン
バ−タ制御装置６等に予め設定されている異常判定機能
によって異常状態を検知し，および／または，インバ−
タシステムに電源が投入された始業時に，または後述す
る第２のテストを完了した後，主制御装置５は第１の電
磁接触器１を開路して第１のテストを開始する。主制御
装置５から出力される操作信号によって第２の電磁接触
器９ａを閉路し，図示しない整流回路を機能させて得ら
れた端子Ａ，Ｇから入力する直流電圧を固定抵抗器９ｂ
を介してコンデンサ２に充電する。固定抵抗器９ｂの抵
抗値とコンデンサ２の容量値によって定まる充電時間後
に，主制御装置５から出力される信号によって，第２の
電磁接触器９ａを開路するとともにインバ−タ制御装置
６は操作信号を出力して第１のスイッチング素子３ａ1
を所定の短時間オンさせる。電流値検出手段８の出力電
流値をインバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機能
（図示せず）によって判定する。電流値検出手段８の出
力電流値が検知できないとインバ−タ制御装置６は第２
のスイッチング素子３ａ2を所定の短時間オンさせる。
電流値検出手段８の出力電流値が検知できないとインバ
−タ制御装置６は出力電流値が検知できるまで，また
は，全てのスイッチング素子に対するテストが完了する
まで順次各スイッチング素子３ａ3，３ａ4，３ａ5，３
ａ6を所定の短時間オンさせる。
【０００８】上述した第１のテスト中においていずれか
のスイッチング素子をオンさせた時に，インバ−タ制御
装置６に設けた電流値判定機能（図示せず）が電流値検
出手段８による検出電流値が瞬間的に所定値以上流れる
のを検知すると，インバ−タ制御装置６に設けた表示部
６ａにそのスイッチング素子と直列接続するスイッチン
グ素子の番号を表示し，主制御装置５は操作信号を出力
して第２の電磁接触器９ａを閉路して再びコンデンサ２
を充電する。固定抵抗器９ｂの抵抗値とコンデンサ２の
容量値によって定まる充電時定数経過後に，主制御装置
５から出力される信号によって次のスイッチング素子を
オンさせる。
のスイッチング素子をオンさせた時に，インバ−タ制御
装置６に設けた電流値判定機能（図示せず）が電流値検
出手段８による検出電流値が瞬間的に所定値以上流れる
のを検知すると，インバ−タ制御装置６に設けた表示部
６ａにそのスイッチング素子と直列接続するスイッチン
グ素子の番号を表示し，主制御装置５は操作信号を出力
して第２の電磁接触器９ａを閉路して再びコンデンサ２
を充電する。固定抵抗器９ｂの抵抗値とコンデンサ２の
容量値によって定まる充電時定数経過後に，主制御装置
５から出力される信号によって次のスイッチング素子を
オンさせる。
【０００９】上述した第１のテストにおいて，いずれか
のスイッチング素子をオンさせた時に，インバ−タ制御
装置６に設けた電流値判定機能（図示せず）が電流値検
出手段８による検出電流値が所定の立上がり時間で所定
値以上流れるのを検知すると，インバ−タ制御装置６は
インバ−タ制御装置６に設けた表示部６ａにそのスイッ
チング素子と誘導電動機４の電機子巻線を介して直列に
接続されるスイッチング素子の番号を表示し，主制御装
置５は操作信号を出力して第２の電磁接触器９ａを閉路
して再びコンデンサ２を充電し，次のスイッチング素子
をオンさせテストを進行させる。
のスイッチング素子をオンさせた時に，インバ−タ制御
装置６に設けた電流値判定機能（図示せず）が電流値検
出手段８による検出電流値が所定の立上がり時間で所定
値以上流れるのを検知すると，インバ−タ制御装置６は
インバ−タ制御装置６に設けた表示部６ａにそのスイッ
チング素子と誘導電動機４の電機子巻線を介して直列に
接続されるスイッチング素子の番号を表示し，主制御装
置５は操作信号を出力して第２の電磁接触器９ａを閉路
して再びコンデンサ２を充電し，次のスイッチング素子
をオンさせテストを進行させる。
【００１０】以後上述と同様のテストを継続する。すべ
てのスイッチング素子のテストを完了すると，操作員は
表示部６ａを見て破損スイッチング素子またはスイッチ
ング素子駆動素子を交換し，予め設定された条件に従っ
て次の工程に移る。即ち，例えば，次に記す第２のテス
トを実行し，または実稼働に入る。上記第１のテストが
完了すると，自動的に第２のテストを実行するようにし
て破損スイッチング素子の交換作業を第２のテスト完了
後に行うようにしても良いことは勿論である。
てのスイッチング素子のテストを完了すると，操作員は
表示部６ａを見て破損スイッチング素子またはスイッチ
ング素子駆動素子を交換し，予め設定された条件に従っ
て次の工程に移る。即ち，例えば，次に記す第２のテス
トを実行し，または実稼働に入る。上記第１のテストが
完了すると，自動的に第２のテストを実行するようにし
て破損スイッチング素子の交換作業を第２のテスト完了
後に行うようにしても良いことは勿論である。
【００１１】このインバ−タ装置に予め設定された条
件，即ち，このインバ−タ装置が稼働中に主制御装置
５，インバ−タ制御装置６等が異常状態を検知し，およ
び／または，インバ−タに電源が投入された始業時に，
または，第１のテストを完了した後，主制御装置５は第
１の電磁接触器１を開路して第２のテストを開始する。
第２のテストを図３に示す動作フロ−を参照して説明す
る。主制御装置５は第１のテストと同様コンデンサ２を
充電後，インバ−タ制御装置６に指令し，それぞれ直列
に接続する２個のスイッチング素子，例えば，第１のス
イッチング素子３ａ1と第４のスイッチング素子３ａ4を
同時にオンさせる。電流値検出手段８とインバ−タ制御
装置６に設けた電流値判定機能（図示せず）によって出
力電流値が所定値以上流れるのを検知すると，主制御装
置５は第２の電磁接触器９ａを閉路し，再びコンデンサ
２を充電し，上述と同様に第２のスイッチング素子３ａ
2と第５のスイッチング素子３ａ5，および，第３のスイ
ッチング素子３ａ3と第６のスイッチング素子３ａ6のテ
ストを順次行う。
件，即ち，このインバ−タ装置が稼働中に主制御装置
５，インバ−タ制御装置６等が異常状態を検知し，およ
び／または，インバ−タに電源が投入された始業時に，
または，第１のテストを完了した後，主制御装置５は第
１の電磁接触器１を開路して第２のテストを開始する。
第２のテストを図３に示す動作フロ−を参照して説明す
る。主制御装置５は第１のテストと同様コンデンサ２を
充電後，インバ−タ制御装置６に指令し，それぞれ直列
に接続する２個のスイッチング素子，例えば，第１のス
イッチング素子３ａ1と第４のスイッチング素子３ａ4を
同時にオンさせる。電流値検出手段８とインバ−タ制御
装置６に設けた電流値判定機能（図示せず）によって出
力電流値が所定値以上流れるのを検知すると，主制御装
置５は第２の電磁接触器９ａを閉路し，再びコンデンサ
２を充電し，上述と同様に第２のスイッチング素子３ａ
2と第５のスイッチング素子３ａ5，および，第３のスイ
ッチング素子３ａ3と第６のスイッチング素子３ａ6のテ
ストを順次行う。
【００１２】上記テストにおいて電流値検出手段８とイ
ンバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機能（図示せ
ず）によって出力電流値が所定値以上流れるのを検知す
ると，主制御装置５は主制御装置５から出力される操作
信号によって第２の電磁接触器９ａを閉路し，再びコン
デンサ２を充電する。以降，さらに，誘導電動機の電機
子巻線を介して直列に接続される２個のスイッチング素
子を同時にオンし，電流値検出手段８によって出力電流
値が所定値以上流れるのを検知すると，上述と同様にテ
ストを継続する。すべての直列に接続されるスイッチン
グ素子のテストが完了しコンデンサ２の充電が完了する
と，主制御装置５から出力される信号によって第１の電
磁接触器１を閉路するとともに第２の電磁接触器９ａを
開路し，主制御装置５から出力される操作信号に従って
インバ−タ制御装置６はその正規動作を開始し，誘導電
動機４を駆動させる。
ンバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機能（図示せ
ず）によって出力電流値が所定値以上流れるのを検知す
ると，主制御装置５は主制御装置５から出力される操作
信号によって第２の電磁接触器９ａを閉路し，再びコン
デンサ２を充電する。以降，さらに，誘導電動機の電機
子巻線を介して直列に接続される２個のスイッチング素
子を同時にオンし，電流値検出手段８によって出力電流
値が所定値以上流れるのを検知すると，上述と同様にテ
ストを継続する。すべての直列に接続されるスイッチン
グ素子のテストが完了しコンデンサ２の充電が完了する
と，主制御装置５から出力される信号によって第１の電
磁接触器１を閉路するとともに第２の電磁接触器９ａを
開路し，主制御装置５から出力される操作信号に従って
インバ−タ制御装置６はその正規動作を開始し，誘導電
動機４を駆動させる。
【００１３】上述した第２のテスト中においていずれか
の直列に接続されるスイッチング素子をオンさせた時
に，インバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機能（図
示せず）が電流値を検出しないと，この２個のスイッチ
ング素子番号を記録して，テストを継続する。さらに，
誘導電動機４の電機子巻線を介して接続される２個のス
イッチング素子を同時にオンし，インバ−タ制御装置６
に設けた電流値判定機能（図示せず）が電流値を検出し
ないと，この２個のスイッチング素子番号を記録して，
テストを継続する。上記のテストを完了した後，記録さ
れたスイッチング素子の組み合わせからインバ−タ制御
装置６は真の破損スイッチング素子部を検知してインバ
−タ制御装置６に設けた表示部６ａにそのスイッチング
素子番号を表示する。上述のテスト完了後，操作員は表
示部６ａを見て破損表示スイッチング素子，または／お
よびそのスイッチング素子駆動素子等の駆動部を交換す
る。
の直列に接続されるスイッチング素子をオンさせた時
に，インバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機能（図
示せず）が電流値を検出しないと，この２個のスイッチ
ング素子番号を記録して，テストを継続する。さらに，
誘導電動機４の電機子巻線を介して接続される２個のス
イッチング素子を同時にオンし，インバ−タ制御装置６
に設けた電流値判定機能（図示せず）が電流値を検出し
ないと，この２個のスイッチング素子番号を記録して，
テストを継続する。上記のテストを完了した後，記録さ
れたスイッチング素子の組み合わせからインバ−タ制御
装置６は真の破損スイッチング素子部を検知してインバ
−タ制御装置６に設けた表示部６ａにそのスイッチング
素子番号を表示する。上述のテスト完了後，操作員は表
示部６ａを見て破損表示スイッチング素子，または／お
よびそのスイッチング素子駆動素子等の駆動部を交換す
る。
【００１４】上述の説明では端子Ａから入力される直流
電源回路に直流変流器等直流用の電流値検出手段を設け
るように説明したが，上述したようにコンデンサに蓄電
された電荷による短時間の電流値変化を検出するので，
交流電流検出用の計器用変流器等によって電流値変化を
検出しても良い。
電源回路に直流変流器等直流用の電流値検出手段を設け
るように説明したが，上述したようにコンデンサに蓄電
された電荷による短時間の電流値変化を検出するので，
交流電流検出用の計器用変流器等によって電流値変化を
検出しても良い。
【００１５】第２の実施例：図４によって第２の実施例
を説明する。第１の実施例のものが図１に示すように端
子Ａから入力される直流電源回路に電流値検出手段８を
設けているのに対して，本実施例のものではインバ−タ
回路から誘導電動機４に接続する三本の接続線の内の二
本に交流電流値検出手段３ｂ1，３ｂ2を接続した点にそ
の構成上の特徴がある。交流電流値検出手段は，例え
ば，計器用変流器（ＣＴ）を使用し，インバ−タ制御装
置６に設ける電流値判定機能（図示せず）にはこの交流
電流値検出手段に対応した機能を設ける。テスト方法は
第１の実施例と同様なので詳細説明は省略するが，電流
値検出の条件に対応してインバ−タ制御装置６に設けた
電流値判定機能（図示せず）が異なり，破損スイッチン
グ素子の検出条件も変化する。図１に示した電流値検出
手段８および交流電流値検出手段３ｂ1，３ｂ2と両方設
置して電流値判定に適切に使用しても良い。
を説明する。第１の実施例のものが図１に示すように端
子Ａから入力される直流電源回路に電流値検出手段８を
設けているのに対して，本実施例のものではインバ−タ
回路から誘導電動機４に接続する三本の接続線の内の二
本に交流電流値検出手段３ｂ1，３ｂ2を接続した点にそ
の構成上の特徴がある。交流電流値検出手段は，例え
ば，計器用変流器（ＣＴ）を使用し，インバ−タ制御装
置６に設ける電流値判定機能（図示せず）にはこの交流
電流値検出手段に対応した機能を設ける。テスト方法は
第１の実施例と同様なので詳細説明は省略するが，電流
値検出の条件に対応してインバ−タ制御装置６に設けた
電流値判定機能（図示せず）が異なり，破損スイッチン
グ素子の検出条件も変化する。図１に示した電流値検出
手段８および交流電流値検出手段３ｂ1，３ｂ2と両方設
置して電流値判定に適切に使用しても良い。
【００１６】第３の実施例：図５によって第３の実施例
を説明する。本実施例のものでは各スイッチング素子３
ａ1〜３ａ6に直列に交流電流値検出手段３ｃ1〜３ｃ6を
それぞれ接続した点にその構成上の特徴がある。交流電
流値検出手段３ａ1〜３ｃ6は，例えば，計器用変流器
（ＣＴ）を使用し，インバ−タ制御装置６に設けた電流
値判定機能（図示せず）にはこの交流電流値検出手段に
対応した機能を設ける。テスト方法は第１の実施例と同
様なので詳細説明は省略するが，電流値検出の条件に対
応してインバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機能
（図示せず）が異なり，破損スイッチング素子の検出条
件も変化する。
を説明する。本実施例のものでは各スイッチング素子３
ａ1〜３ａ6に直列に交流電流値検出手段３ｃ1〜３ｃ6を
それぞれ接続した点にその構成上の特徴がある。交流電
流値検出手段３ａ1〜３ｃ6は，例えば，計器用変流器
（ＣＴ）を使用し，インバ−タ制御装置６に設けた電流
値判定機能（図示せず）にはこの交流電流値検出手段に
対応した機能を設ける。テスト方法は第１の実施例と同
様なので詳細説明は省略するが，電流値検出の条件に対
応してインバ−タ制御装置６に設けた電流値判定機能
（図示せず）が異なり，破損スイッチング素子の検出条
件も変化する。
【００１７】第４の実施例：図６によって第４の実施例
を説明する。本実施例のものでは，端子Ａから入力され
る直流電源回路，即ち，コンデンサ２の両端電圧値を電
圧値検出手段１０（例えば適切な比率の分圧器）によっ
て検出し，インバ−タ制御装置６に入力するようにした
点にその構成上の特徴がある。インバ−タ制御装置６に
は，第１ないし第３の実施例において設けた電流値判定
機能に代えて電圧値判定機能（図示せず）を設けて，こ
の検出電圧レベルに対応した判定を行う。従って，第４
の実施例においては，第１の実施例が電流値変化によっ
てスイッチング素子またはスイッチング素子駆動部の破
損を検知したのに対し，電圧値変化によってスイッチン
グ素子またはスイッチング素子駆動部の破損を検知する
ようにした以外は第１の実施例と同様である。
を説明する。本実施例のものでは，端子Ａから入力され
る直流電源回路，即ち，コンデンサ２の両端電圧値を電
圧値検出手段１０（例えば適切な比率の分圧器）によっ
て検出し，インバ−タ制御装置６に入力するようにした
点にその構成上の特徴がある。インバ−タ制御装置６に
は，第１ないし第３の実施例において設けた電流値判定
機能に代えて電圧値判定機能（図示せず）を設けて，こ
の検出電圧レベルに対応した判定を行う。従って，第４
の実施例においては，第１の実施例が電流値変化によっ
てスイッチング素子またはスイッチング素子駆動部の破
損を検知したのに対し，電圧値変化によってスイッチン
グ素子またはスイッチング素子駆動部の破損を検知する
ようにした以外は第１の実施例と同様である。
【００１８】上述の説明は本発明の技術思想を実現する
ための基本手法と構成を示したものであって，種々応用
改変することができる。例えば，負荷装置はインバ−タ
によって作成される交流電力によって駆動されるならど
のような装置であっても良く，ベクトル制御インバ−タ
のどのような回路方式であってもその回路方式に対応し
た適切な回路信号検出手段を設けることによって実行で
きることは勿論である。また，各実施例における電流値
検出手段や電圧値検出手段は第１の実施例同様本来その
インバ−タシステムに設けられている制御のための電流
値または電圧値検出用の検出手段を使用することができ
る。即ち，その検出手段に対応した破損スイッチング素
子の判定手段を採用すれば良い。また，実施例に示した
各要素装置（機能）は，図に示した要素構成以外に，そ
のスイッチングシステムの条件に従って適切に使用すれ
ば良い。例えば，全てをアナログ処理によって行って
も，Ａ／Ｄコンバ−タ，Ｄ／Ａコンバ−タ等と組み合わ
せてディジタル処理を行うようにしたものであっても良
い。また，ディジタル処理の場合は，例えば，個々の機
能を個別のマイクロコンピュ−タ等のディジタル回路に
備えるようにしても良く，また，そのスイッチングシス
テムに備えたコンピュ−タ等一つのコンピュ−タによっ
て実行させるようにしても良い。
ための基本手法と構成を示したものであって，種々応用
改変することができる。例えば，負荷装置はインバ−タ
によって作成される交流電力によって駆動されるならど
のような装置であっても良く，ベクトル制御インバ−タ
のどのような回路方式であってもその回路方式に対応し
た適切な回路信号検出手段を設けることによって実行で
きることは勿論である。また，各実施例における電流値
検出手段や電圧値検出手段は第１の実施例同様本来その
インバ−タシステムに設けられている制御のための電流
値または電圧値検出用の検出手段を使用することができ
る。即ち，その検出手段に対応した破損スイッチング素
子の判定手段を採用すれば良い。また，実施例に示した
各要素装置（機能）は，図に示した要素構成以外に，そ
のスイッチングシステムの条件に従って適切に使用すれ
ば良い。例えば，全てをアナログ処理によって行って
も，Ａ／Ｄコンバ−タ，Ｄ／Ａコンバ−タ等と組み合わ
せてディジタル処理を行うようにしたものであっても良
い。また，ディジタル処理の場合は，例えば，個々の機
能を個別のマイクロコンピュ−タ等のディジタル回路に
備えるようにしても良く，また，そのスイッチングシス
テムに備えたコンピュ−タ等一つのコンピュ−タによっ
て実行させるようにしても良い。
【００１９】
【発明の効果】本発明は上述したように構成したので次
に述べるような優れた効果を有する。 インバ−タ制御装置の条件によっては部品類を追加す
る必要がない。 自動的にチェックが実行できる。 作業員に技術的知識を必要としない。
に述べるような優れた効果を有する。 インバ−タ制御装置の条件によっては部品類を追加す
る必要がない。 自動的にチェックが実行できる。 作業員に技術的知識を必要としない。
【図１】本発明に基づくインバ−タにおけるスイッチン
グ素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チ
ェック方法の第１の実施例を説明する概要構成ブロック
図である。
グ素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チ
ェック方法の第１の実施例を説明する概要構成ブロック
図である。
【図２】本発明の実施例における第１のテストの動作を
説明する概要フロ−図である。
説明する概要フロ−図である。
【図３】本発明の実施例における第２のテストの動作を
説明する概要フロ−図である。
説明する概要フロ−図である。
【図４】本発明に基づくインバ−タにおけるスイッチン
グ素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チ
ェック方法の第２の実施例を説明する概要構成ブロック
図である。
グ素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チ
ェック方法の第２の実施例を説明する概要構成ブロック
図である。
【図５】本発明に基づくインバ−タにおけるスイッチン
グ素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チ
ェック方法の第３の実施例を説明する概要構成ブロック
図である。
グ素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チ
ェック方法の第３の実施例を説明する概要構成ブロック
図である。
【図６】本発明に基づくインバ−タにおけるスイッチン
グ素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チ
ェック方法の第４の実施例を説明する概要構成ブロック
図である。
グ素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チ
ェック方法の第４の実施例を説明する概要構成ブロック
図である。
１，９ａ：電磁接触器 ２：コンデンサ ３ａ1〜３ａ6：スイッチング素子 ３ｂ1，３ｂ2，３ｃ1〜３ｃ6，８，：電流値検出手段 ４：誘導電動機 ６：インバ−タ制御装置 １０：電圧値検出手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H02M 7/48 H02M 1/00 H02M 7/5387
Claims (3)
- 【請求項１】 直流電源回路を電磁接触器を介して濾波
用コンデンサを並列に接続したスイッチング素子によっ
て構成したインバ−タ回路に接続し，インバ−タ制御装
置によって前記スイッチング素子を駆動するようにした
インバ−タにおいて，上記コンデンサに電荷を蓄電した
状態において，上記電磁接触器を開放して上記スイッチ
ング素子を順次短時間駆動し，当該インバ−タに設けた
インバ−タ回路の流通電流値またはコンデンサ両端電圧
値を検出する手段によって検出した計測電流値または電
圧値が急変した場合は当該スイッチング素子に直列に接
続されるスイッチング素子が短絡状態であり，該電流値
または電圧値が徐々に変化した場合は該スイッチング素
子と負荷装置を経由して接続されるスイッチング素子が
短絡状態であると判定するようにしたことを特徴とする
インバ−タにおけるスイッチング素子の破損チェック方
法。 - 【請求項２】 直流電源回路を電磁接触器を介して濾波
用コンデンサを並列に接続したスイッチング素子によっ
て構成したインバ−タ回路に接続し，インバ−タ制御装
置によって前記スイッチング素子を駆動するようにした
インバ−タにおいて，上記コンデンサに電荷を蓄電した
状態において，上記電磁接触器を開放して上記スイッチ
ング素子のうちの直列に接続されるスイッチング素子の
組ごとに順次短時間駆動し，当該インバ−タに設けたイ
ンバ−タ回路の流通電流値またはコンデンサ両端電圧値
を検出する手段によって検出した計測電流値または電圧
値が変動しない場合は該直列に接続される各スイッチン
グ素子のいずれか，またはいずれかのスイッチング素子
駆動部が破損状態であると判定するようにしたことを特
徴とするインバ−タにおけるスイッチング素子または／
およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方法。 - 【請求項３】 直流電源回路を電磁接触器を介して濾波
用コンデンサを並列に接続したスイッチング素子によっ
て構成したインバ−タ回路に接続し，インバ−タ制御装
置によって前記スイッチング素子を駆動するようにした
インバ−タにおいて，上記コンデンサに電荷を蓄電した
状態において，上記電磁接触器を開放して上記スイッチ
ング素子を順次短時間駆動し，当該インバ−タに設けた
インバ−タ回路の流通電流値またはコンデンサ両端電圧
値を検出する手段によって検出した計測電流値または電
圧値が急変した場合は当該スイッチング素子に直列に接
続されるスイッチング素子が短絡状態であり，上記電流
値が徐々に変化した場合は当該スイッチング素子と負荷
装置を経由して接続されるスイッチング素子が短絡状態
であると判定し，上記コンデンサに電荷を蓄電した状態
において，上記電磁接触器を開放して上記スイッチング
素子のうちの直列に接続されるスイッチング素子の組ご
とに順次短時間駆動し，上記計測電流値または電圧値が
変動しない場合は該直列に接続される各スイッチング素
子のいずれか，またはいずれかのスイッチング素子駆動
部が破損状態であると判定するようにしたことを特徴と
するインバ−タにおけるスイッチング素子または／およ
びスイッチング素子駆動部の破損チェック方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4358581A JP3055339B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | インバ−タにおけるスイッチング素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4358581A JP3055339B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | インバ−タにおけるスイッチング素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06205588A JPH06205588A (ja) | 1994-07-22 |
| JP3055339B2 true JP3055339B2 (ja) | 2000-06-26 |
Family
ID=18460055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4358581A Expired - Lifetime JP3055339B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | インバ−タにおけるスイッチング素子または／およびスイッチング素子駆動部の破損チェック方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3055339B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101595633B (zh) | 2007-04-16 | 2012-06-06 | 三菱电机株式会社 | 电动机控制装置 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP4358581A patent/JP3055339B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06205588A (ja) | 1994-07-22 |
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