JPS58210561A - 四重極質量分析計 - Google Patents

四重極質量分析計

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Publication number
JPS58210561A
JPS58210561A JP57093666A JP9366682A JPS58210561A JP S58210561 A JPS58210561 A JP S58210561A JP 57093666 A JP57093666 A JP 57093666A JP 9366682 A JP9366682 A JP 9366682A JP S58210561 A JPS58210561 A JP S58210561A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
mass
circuit
output
mass scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57093666A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsunezo Takeda
武田 常蔵
Norito Inatsugi
稲継 範人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP57093666A priority Critical patent/JPS58210561A/ja
Publication of JPS58210561A publication Critical patent/JPS58210561A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は複数種の質量走査軌跡が選択できるようにした
四重極質量分析計(QPMSと略記する)に関する。
QPMSは四重極電極(QPと略記する)に直流電圧U
と高周波電圧■とを重畳して印加し、両方の電圧を変化
させることによって質量走査を行う。第1図で横軸はQ
、Pに印加する高周波電圧■、縦軸は同じく直流電圧U
を示し、三角状のカーブMl、M、2.M3等は夫々の
カーブの下側の領域が質量数M 1. M 2. M 
3 (M 1〈M 2(M 3の順)のイオンに対する
安定軌道が得られる安定領域で、これらの領域の頂点を
連ねる直線IOと略平行な直線aK沿ってU及びVを変
化させるときはΔMが一定の状態で質量走査が行われ、
aをIOに近づける程分解能は高くなる。この質量走査
態様では感度は質量数が大になる程低下する。これに対
して第1図で直線すで示すような直線aと交わる任意直
線に沿ってU、  Vを変化させる質量走査態様では分
解能は上述した直線aで示される走査態様より低くなる
が、感度は質量数に関係なく略一定となシ、この点では
磁界型質量分析計と似た特性を示す。
ガスクロマトグラフ質量分析計では質量分析計は各試料
成分について質量分析を行うと共にクロマトグラフの検
出器として全イオン検出信号によりクロマトグラムを記
録させると云う2つの機能を有する。このようなガスク
ロマトグラフ質量分析計で質量分析計にQPMSを用い
た場合、質量分析を行うには第1図でU−V軌跡aに沿
って質量走査を行うのがよいが、この質量走査態様では
全イオン検出出力によシクロマドグラムを記録する場合
、高質量側で感度が下っているのでクロマトグラムの各
ピーク面積が試料成分の濃度と比例しないことになる。
他方第1図でU、−V軌跡すに沿う質量走査を行うと分
解能は低くてもイオン検に 出感度は高くかつ質量数蜘関係せず検出感度が略一定で
あるからクロマトグラムを記録するのには都合がよい。
本発明は、QP M Sで質量に走査におけるU−V軌
跡を複数種選択可能にし、上述したような試料成分の分
析或は試料成分の検出と云った目的に応じて最適の質量
走査モードが選択できるようにしようとするものである
。以下実施例によって本発明を説明する。
第2図は本発明の一実施例を示す。図でOSCは高周波
発振器、AMは振幅変調器で発振器O8Cの出力を振幅
変調する。QはQ、Pを含む共振回路で振幅変調器AM
とトランス結合されている。
QPに印加されている高周波電圧は整流平滑回路Deで
高周波の振幅前記Vに相当する電圧を出力しエラ−アン
プEAに印加している。エラーアンプEAにはまた質量
艦走査シーケンス制御回路COmから電圧■0の信号が
与えられている。エラーアンプEAは■とVoとを比較
し、両者の差で振幅変調器AMを制御し、V=Voにな
るようにしである。vOは鋸歯状波信号でVOの変化に
より質量走査が行われる。UAはQ、Pに印加する直流
電圧Uを発生するアンプで整流平滑回路Deの出力電圧
VをポテンショメータP1或はP2で分割した信号に一
定電圧を加算した信号が印加され、U=kV−1−eな
る直流電圧を出力してQ、Pに印加している。hdは加
算器でアンプTJAに入力する上記信号を形成する。P
3.P4はVを分割した信号に加算する一定電圧を発生
するポテンショメータである。Kl、に2.に3.に4
はリレーで制御回路COmによって制御される。制御回
路ComはvOを鋸歯状に変化させることによって質量
走査を繰返し、例えば質量分析と全イオン信号記録とを
交互に行っている。上記したU=kV+eにおいて、k
は第1図でU−V軌跡の傾きを与え、θはU−V軌跡を
平行移動させるものであシ、制御回路COmは全イオン
信号記録のモードではリレーKl、に3を作動させ、第
1図のU−V軌跡aに沿って質量走査を行い、質量分析
モードでは第1図のU−V軌跡bIICGって質量走査
を行う。
Mは質量分析計のイオン検出器で電子増倍管が用いられ
ている。イオン検出信号はプリアンプFAを経て積分回
路工に入力される。積分回路工においてSはリセットス
イッチでリレーに6により、全イオン検出信号記録モー
ドの質量走査の期間中だけ開放され、積分回路工はその
期間中のイオン検出信号を積分し、積分出力は全イオン
検出信号レコーダRiに送られて記録される。プリアン
プFAの出力はまた質量スペクトルレコーダRmに送ら
れ質量スペクトルが記録される。この場合記録動作は制
御回路Comからの指令で質量分析モードの走査期間中
だけ行われるようにしである。
本発明QPMSは上述したような構成で、質量昏走査に
おけるU−V軌跡を目的に応じて切換えることができ、
ガスクロマトグラフと結合した場合、質量分析と全イオ
ンモータの両機能を夫々好適に果すことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図はQPMSでQPに印加する電圧と安定領域との
関係を示すグラフ、第2図は本発明の一実施例の回路部
分の回路図である。 代理人 弁理士  蒜   浩  介

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 四重極電極に印加する直流電圧Uと高周波電圧Vとの関
    係グラフにおいて各質量数のイオンについて安定軌道が
    得られる安定領域の頂点を連らねる直線と平行な直線に
    沿ってU及び■を変化させる質量走査と、上記質量数走
    査におけるUV軌跡と交叉する直線に沼ってU及びVを
    変化させる質量走査の2態様の質量走査モードを選択可
    能にした四重極質量分析計。
JP57093666A 1982-05-31 1982-05-31 四重極質量分析計 Pending JPS58210561A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57093666A JPS58210561A (ja) 1982-05-31 1982-05-31 四重極質量分析計

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JP57093666A JPS58210561A (ja) 1982-05-31 1982-05-31 四重極質量分析計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58210561A true JPS58210561A (ja) 1983-12-07

Family

ID=14088717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57093666A Pending JPS58210561A (ja) 1982-05-31 1982-05-31 四重極質量分析計

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JP (1) JPS58210561A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS513239A (ja) * 1974-05-28 1976-01-12 Minnesota Mining & Mfg

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS513239A (ja) * 1974-05-28 1976-01-12 Minnesota Mining & Mfg

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