JPS58207628A - テ−ブル駆動機構 - Google Patents

テ−ブル駆動機構

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Publication number
JPS58207628A
JPS58207628A JP57089654A JP8965482A JPS58207628A JP S58207628 A JPS58207628 A JP S58207628A JP 57089654 A JP57089654 A JP 57089654A JP 8965482 A JP8965482 A JP 8965482A JP S58207628 A JPS58207628 A JP S58207628A
Authority
JP
Japan
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heads
motor
fine
rough
height detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57089654A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuzo Taniguchi
雄三 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP57089654A priority Critical patent/JPS58207628A/ja
Publication of JPS58207628A publication Critical patent/JPS58207628A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はウェーハ、ホトマスクの検査用として好適なテ
ーブル駆動機構に関するものである。
一般に半導体装置の製造工程の一部では、所足ノハター
ンカ形成すれたウェーハやマスクのパターン形状を検査
する必要がある。このような検査は、通常顕微鏡な用い
又パターンを拡大しながら行なうことが多(、したがっ
てウェーハやマスクを載置するテーブルはこれを上下に
駆動して顕微鏡等の検査機に焦点合せを行なわせる必要
がある。
従来、この柚のテーブルとしては第1図示のものが多用
されている。このテーブル駆動機構は、ウェーハ等1を
載置した平板状テーブル2の一側辺を板ばね3にて固足
部4に支持させる一部、他側辺の下側には基盤5との間
にテーパブロック6を介装し、このテーパブロック6を
モータ7にて軸転される送りねじ8にて矢印方向に移動
できるようにしたものである。この機構によれば、送り
ねじ8に又テーパブロック6を移動させればその移動位
置に応じてテーブル2の他側辺が上下動され、−側辺に
おける板ばね3の変形に伴なってテーブル2が略全体伯
に上下動されることになる。
しかしながら、この機構ではテーブル2を厳密に平行上
下動することは不可能であり、テーブルの上下動に伴な
ってテーブル面、即ちウェーハ等が若干傾斜されること
は否定できない。このため、例えば、ウェーハ表面の異
なる位置に夫々形成した2個以上のパターンを顕微鏡等
にて対比観察してパターンの良否を検査するような検査
機を用いる場合には、これら2個所のパターンを夫々各
顕微鏡に同時に焦点合せすることは極めて困難になり、
実際には検査を行なうことができなくなるという問題が
ある。
また、前述した機構では、テーブルの上下動の粗動と微
動とは、送りねじ8、つまりモータ7の回転速度を制御
することにより行なっているが、モータの速就を制御す
ることは電気回路やモータ構造に複雑なものが要求され
る等の問題が生ずることになる。
したがり又本発明の目的は、ウェーハ等を載1aするテ
ーブルを3個の減速機構付回転−軸動変換ヘッドにて支
承すると共に、これら力ヘッドの夫々に微動モータを連
結しかつ全ヘッドに一体的に粗動モータを連結するよう
に構成することにより、テーブルの平行十王動を可能に
すると共に、その粗動、微動を容易に行なうことができ
るデープル駆動機構を提供することにある。
以下、本発明を第2区1および第3図の実施例により説
明する。
第2図は−も1を破断平面図、第3図は正面図であり、
図におい′c11はウェーハやマスク(ウェーハ等と称
する)10をMI置するテーブルで、i)す、例えばウ
ェーハ等10の異なる2個所のパターンを拡大観察する
一対の顕微鏡12.12を備えた検査機13の下方位置
に配置される。このテーブル11の下方にはXYテーブ
ル14と一体の支持フレーム15を配設し、3個の減速
機構付回転−軸動変換ヘッド(以下、ヘッドと林する)
16A。
16B、160を平面上で正三角形位置に固だ支持し、
これらヘッドl 6A、  16B、  I 6(、)
にて前記テーブル1】を支持している。これらヘッド1
6A、  16B、  160は、例えば既存のマイク
ロメータに使用されているマイクロへノドと同・−若し
くは同様な構成が用いられ、外軸17と円軸18のいず
れを回転させ又も上側先端の突軸19が軸方向(土工方
向)に移動することができる。
そして、外軸17.、、を回転させた場合には回転数に
□ 対する軸移動址の比(便宜的に減速比とい’l)が大き
く、内IIIII]18を回転させたときには減速比が
小さくなるようになっている。
一方、前記各ヘッド16A、16B、160の外軸17
には、夫々1個づつの微動モータ20A。
20B、200を対応配置しており、その回転出力1l
IllIに固着したプーリ21A、21B、210と各
外軸17との間にはベルト22 A、 22B、 22
0を捲回して外軸17をモータ21 A、  21B、
210にて夫々個別)L回転駆動し得るようにしている
他方、各ヘッド16A、16B、160の円軸18に夫
々固着したプーリ23A、  23B、  230には
一括してベルト24を捲回すると共に、このベルト24
の一部は単一の粗動モータ25の回転軸に固着したブー
 1326に捲回し、との粗動モータ25にて全部のヘ
ッド16A、16B、160の各内軸を一度に回転駆動
し得るようにしている。
更に、前記テーブル11の側万十万位置には3点接触型
の旨さ検出器27を設置し、この旨さ検出器27の出力
を制御部28に人力させるよりにしている。そして、こ
の制御部28では前記各モータ2OA−(3,25の電
源回路29を制御してモータの各回転量を個別に制御す
るようにしているのである。
以上の構成によれば、テーブル11つまりテーブル上に
載置したウエーノ・等10の上下位置は次のように設定
することができる。先ず、XYテーブル14を移動して
テーブル11を高さ検出器27の真下に移動させ、そこ
で粗動モータ25を駆動して各ヘッド16A、16B、
160の円軸18を回転し、突軸19を迅速に突出させ
てテーブル11を上動させる。そして、テーブル(ウェ
ーハ等)11が昼さ検出器27に接触ないし当接する位
置でこれを停止させる。高さ検出器27では3点に鱒け
る接触状態からテーブル(ウェー・・等)11の水平状
態を検出し、その信号を制御部28に出力する。すると
、制御部28ではこの44号に基づいてテーブル11の
傾き状態を認識し、この結果から微動モータ2OA、2
0B、200の一部または全部を駆動する。これにより
駆動された微動モータに対応するヘッドはその外軸17
が回転され、突軸19を低速度で進退させてテーブル全
体の傾きを修正し、テーブル11を水平状態に設足する
。そして、このとき高さ検出器27の高さを検査機13
における焦点位置に一致させておけば、この操作によっ
て検査機13に対する焦点合せも完了されることになる
。したかつ又、XYテーブル14によりテーブル11を
右方へ移動して検査機の下方に位置すれは、ウェーハ等
10の2個所のパターン対比検査を顕微fM12.12
によって良好な条件の下で行なうことができる。この場
合、微動モータ20A、20B、200を同時に作動さ
せ或いは1個、2個だけを作動させて更に微細な焦点合
せを行なうようにしてもよい。勿論、高さ検出器27を
利用せずに顕微鏡12.12を見ながら手動にて各モー
タ2OA。
20B、200.25を制御させ又焦点合せを行なうよ
うにしてもよい。
したがって、この機構によれば、テーブルの[下動はも
とよりその平面度の調整もできるので、特に前例のよう
にウェーハ等の異なる2個所のパターンを対比観察する
場合にも両所を夫々正確に焦点合せすることができるよ
うになり、検査を容易にすると共に検査の信頼性を昼め
ることができる。また、粗動モータや微動モータを用い
てテーブルを上下動するので、テーブルの位置FA整を
モータの切換或いは同時的な操作によって迅速かつ高1
ff1度に行なうことができ、検査時間を短縮すること
ができるという利点もある。
ここで、本発明に係るヘッド16A、16B。
160の構造は前述したものに限られるものではなく、
種々の変形が可能である。
以上のように本発明のテーブル駆動機構によれば、ウェ
ーハ等を載置するテーブルを3個の減速機構付回転−軸
動変換ヘッドにえ支承すると共に、これらのヘッドを微
動モータにて個別にまた粗動モータにて一体的に駆動で
きる15にしているので、テーブルの上下動はもとより
その平面出しをも行なうことができ、しかもこれらの操
作を迅速かつ高精度に行なうこと、ができるという効果
を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来+J11構の斜視図、 第2図は本発明の破断平面図、 第3図は正面図である。 10・・・ウェーハ等、11・・・テーブル、13・・
・検査機、14 ・・−XYチー7’/I/、16A、
16B、160・・・減速機構付回転−軸動変換ヘッド
、17・・・外軸、18−・・内軸、19−・・突軸、
2OA、20B、200・・・微動モータ、25・・・
粗動モータ、27・・・冒さ検出器、28・・・制御部
。 代理人 弁理士  薄 1)利 辛 121

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、 ウェーハ等を載置するテーブルを3個の減速機構
    付回転−軸動変換ヘッドにて上下に移動できるよう支承
    すると共に、これらのヘッドには微動モータを夫々個別
    に連結する一部、粗動モータを全体的に連結し、これら
    微動モータと粗動モータとを個別におよび一体的に作動
    し得るように構成したことを特徴とするテーブル駆動機
    構。
JP57089654A 1982-05-28 1982-05-28 テ−ブル駆動機構 Pending JPS58207628A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57089654A JPS58207628A (ja) 1982-05-28 1982-05-28 テ−ブル駆動機構

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57089654A JPS58207628A (ja) 1982-05-28 1982-05-28 テ−ブル駆動機構

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58207628A true JPS58207628A (ja) 1983-12-03

Family

ID=13976742

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57089654A Pending JPS58207628A (ja) 1982-05-28 1982-05-28 テ−ブル駆動機構

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58207628A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6482541A (en) * 1987-09-25 1989-03-28 Hitachi Ltd Method and device for measuring semiconductor surface
US5323712A (en) * 1987-08-26 1994-06-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Table moving apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5323712A (en) * 1987-08-26 1994-06-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Table moving apparatus
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