JPS58204336A - 赤外線水分測定装置 - Google Patents
赤外線水分測定装置Info
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- JPS58204336A JPS58204336A JP57087331A JP8733182A JPS58204336A JP S58204336 A JPS58204336 A JP S58204336A JP 57087331 A JP57087331 A JP 57087331A JP 8733182 A JP8733182 A JP 8733182A JP S58204336 A JPS58204336 A JP S58204336A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明Ｕ被弁１足物中の水分率を求力る装置に関するも
のである。
のである。
近赤外線を利用した水分計としては、４＆測定物の水分
量によって、その吸収特性が変化する１１１１定波長と
、水分量にかかわらずその吸収特性が変化しな坏第１参
照波長と、被画定臂の一つの￥ｆ江（ｆｉＩえは仮測定
物の刷質）によって、その吸収物性が変化する第２参照
波長とを父互に仮測定物に照射し、複画足動全透過また
は反射した互いに波長の異なる透過光またに反射光を嵌
出し、参照波信号についてはｙｉ、具し、その信号と測
定波信号との九量比を求のることにより、一つの特性の
影響を補正して波曲」定粥の水分率を求める形式の赤外
疎水分計については特開昭４９−１０７８２号に記載さ
れておυ公知でめな。
量によって、その吸収特性が変化する１１１１定波長と
、水分量にかかわらずその吸収特性が変化しな坏第１参
照波長と、被画定臂の一つの￥ｆ江（ｆｉＩえは仮測定
物の刷質）によって、その吸収物性が変化する第２参照
波長とを父互に仮測定物に照射し、複画足動全透過また
は反射した互いに波長の異なる透過光またに反射光を嵌
出し、参照波信号についてはｙｉ、具し、その信号と測
定波信号との九量比を求のることにより、一つの特性の
影響を補正して波曲」定粥の水分率を求める形式の赤外
疎水分計については特開昭４９−１０７８２号に記載さ
れておυ公知でめな。
しかし便米の装置は、凹−′工程を異なる被廁定涼科が
充れる場合、例えばたばこの原料独類（黄色系、在来系
およびバーレ系）には同一水分でも出力信号が大きく異
なると言う欠点があった。本発明の主な目的は被測定原
料の種類による誤差を目標とする水分附近で最小にする
ことが可能な赤外線水分測定装置を提供することにある
っ 以下、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
充れる場合、例えばたばこの原料独類（黄色系、在来系
およびバーレ系）には同一水分でも出力信号が大きく異
なると言う欠点があった。本発明の主な目的は被測定原
料の種類による誤差を目標とする水分附近で最小にする
ことが可能な赤外線水分測定装置を提供することにある
っ 以下、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
第１図において１は水分検出部で、光源４、集光レンズ
５、回転ディスク６、反射ミラー８、凹面鏡９、光重変
換器１０．前置増幅器１１を含む、前記回転ディスク上
には第２図に示したように異なる波長のフィルタ７１，
７２．７３が同心円上に６けられている。該フィルタ７
１．７２．７３は、それぞれたばこ原料測定の場合１．
８０ ｐｍ、２．１０μｍ１１．９４μｍの波長が用い
られる。光源４からの光は来光レンズ５、フィルタ７１
，７２．７３および反射ミラー８を逍して、ベルト、コ
ンベヤ上の被測定物３に照射され、反射光を凹面鏡９よ
り光電変換器１０ｉ’（：来光されるように構成されて
いる。前記前置増幅器１１の後段に信号分離整流部１２
が設けられる。前記回転ディスク６０近くには同期信号
発生器１３が設けられ、該同期信号発生器１３からの各
フィルタ７１．７２．７３に同期した信号により動作す
る各信号分離器１２−１１．１２−２１．１２−３１と
各整流回路１２−１．１２−２．１２−３とで光電変換
器１０からの１．８０７ｍ波長の信号を第１信号１−Ｌ
１．２．１０μｍ波長の信号を第２信号島、および水分
に吸収される１、９４μｍ波長の信号を第３信号Ｓとし
て分離整流して出力する。該信号分離整流部１２の後段
にレベル調整部１７が設けられる。該レベル調整部１７
は、前記第１信号１％！、第２信号ｌ（２および第Ｊ信
号Ｓに、それぞれ接続される利得調整回路１７−１，１
７−２および１７−３を有している・該利得調整回路１
７−１を通した出力信号ル１１、および利得調整回路１
７−２を通した出力信号島１は加算部２０に接続される
。該加算部２０は、出力信号Ｌ（１１，および出力信号
部１の、それぞれの信号を可変抵抗器２０−２．２Ｏ−
３（５介して加算する加算回路２０−１を有している。
５、回転ディスク６、反射ミラー８、凹面鏡９、光重変
換器１０．前置増幅器１１を含む、前記回転ディスク上
には第２図に示したように異なる波長のフィルタ７１，
７２．７３が同心円上に６けられている。該フィルタ７
１．７２．７３は、それぞれたばこ原料測定の場合１．
８０ ｐｍ、２．１０μｍ１１．９４μｍの波長が用い
られる。光源４からの光は来光レンズ５、フィルタ７１
，７２．７３および反射ミラー８を逍して、ベルト、コ
ンベヤ上の被測定物３に照射され、反射光を凹面鏡９よ
り光電変換器１０ｉ’（：来光されるように構成されて
いる。前記前置増幅器１１の後段に信号分離整流部１２
が設けられる。前記回転ディスク６０近くには同期信号
発生器１３が設けられ、該同期信号発生器１３からの各
フィルタ７１．７２．７３に同期した信号により動作す
る各信号分離器１２−１１．１２−２１．１２−３１と
各整流回路１２−１．１２−２．１２−３とで光電変換
器１０からの１．８０７ｍ波長の信号を第１信号１−Ｌ
１．２．１０μｍ波長の信号を第２信号島、および水分
に吸収される１、９４μｍ波長の信号を第３信号Ｓとし
て分離整流して出力する。該信号分離整流部１２の後段
にレベル調整部１７が設けられる。該レベル調整部１７
は、前記第１信号１％！、第２信号ｌ（２および第Ｊ信
号Ｓに、それぞれ接続される利得調整回路１７−１，１
７−２および１７−３を有している・該利得調整回路１
７−１を通した出力信号ル１１、および利得調整回路１
７−２を通した出力信号島１は加算部２０に接続される
。該加算部２０は、出力信号Ｌ（１１，および出力信号
部１の、それぞれの信号を可変抵抗器２０−２．２Ｏ−
３（５介して加算する加算回路２０−１を有している。
該加算部ｇ２０−１からの出力信号に０１を被除算信号
とし、前記利得調整回路１７−３からの出力信号Ｓｌを
除算イ百号として、除算回路２３に入力する。該除算（
ロ）路２３からの出力信号２４は対数変換回路２５に入
力される。前記信号２４は対数変換回路２５で水分に対
してリニヤライズされた出力信号２６として出力される
。
とし、前記利得調整回路１７−３からの出力信号Ｓｌを
除算イ百号として、除算回路２３に入力する。該除算（
ロ）路２３からの出力信号２４は対数変換回路２５に入
力される。前記信号２４は対数変換回路２５で水分に対
してリニヤライズされた出力信号２６として出力される
。
次に、各部間回路の出力信号と水分羊との関係について
説明する。レベル調整部１７の出刃信号８１１ Ｓ脇お
よびＳｌは式（１）乃至（３）に示す関係かめる。
説明する。レベル調整部１７の出刃信号８１１ Ｓ脇お
よびＳｌは式（１）乃至（３）に示す関係かめる。
ル、１＝に、ｅ−１”、 （Ｗ−ｗｏｌ・・・・・・・
・・・・・・・（１）％ｌ＝胸ｅ−Ｐ、、（’”−％）
・・・・・・・・・・・・・・・ （２）Ｓ、 ＝＝
Ｓｅ ｐ、（Ｗ−ゝ゛０人・・・・−・・・・・・
・・・ （３〕ただし、鵠は工程中を見れる被測定原料
の平均水分率（＠、２１１％ Ｐｌｌ、ｐ、は仮測定原
料によって定まる出力信号ル、、ｔｔｈＳ の係数およ
びＷは被測定原料の水分単一）でめる０式（１）および
（２で示された出刃信号ＬＬ＋ｔおよび出力慣号凡２１
を加算部２０に人力し、出力信号ル＋ｔ ｌＩＣ−は可
変抵抗器２υ−２を調整し−Ｃγ、出刃信号Ｒ２１には
０Ｔ変抵抗器２０−３を調整してδの各重みを与え、加
算回路２０−１で加算すると、加算部２０の出力信号Ｒ
ｏｔ ＩＩま式（４）で示される。
・・・・・・・（１）％ｌ＝胸ｅ−Ｐ、、（’”−％）
・・・・・・・・・・・・・・・ （２）Ｓ、 ＝＝
Ｓｅ ｐ、（Ｗ−ゝ゛０人・・・・−・・・・・・
・・・ （３〕ただし、鵠は工程中を見れる被測定原料
の平均水分率（＠、２１１％ Ｐｌｌ、ｐ、は仮測定原
料によって定まる出力信号ル、、ｔｔｈＳ の係数およ
びＷは被測定原料の水分単一）でめる０式（１）および
（２で示された出刃信号ＬＬ＋ｔおよび出力慣号凡２１
を加算部２０に人力し、出力信号ル＋ｔ ｌＩＣ−は可
変抵抗器２υ−２を調整し−Ｃγ、出刃信号Ｒ２１には
０Ｔ変抵抗器２０−３を調整してδの各重みを与え、加
算回路２０−１で加算すると、加算部２０の出力信号Ｒ
ｏｔ ＩＩま式（４）で示される。
ｔ（ｎ＋＝ｙｌｔｌｌ＋Ｊ％１＝ｙｆＬ１ｅ ”””
”）＋ＪＲ４ｅ−”” ”＝（４）加算部２０の出力
信号に煽とレベル＃Ｉ４整ｓ１７の出力信号８．１に除
算回路２３に人力する。除算回１ｉ２３の出力信号２４
は式（５）で示されるＱただし、係数’１１％ ’１１
は第１１第２信号のｉ艮差が小さいため値が勢しいとみ
なすことができＰ、、−Ｐ、ｍＰ、とじた。除算回路２
３の出力信号２４を対数変換回路２５に人力し、対数変
換すると対数変換ただし、Ｂ”’ＰＩｋ、ｔ＝ｋＬ 、
／８．β＝島Ａで表わし、ｙ十Ｊ−＝ｌの関係がわる。
”）＋ＪＲ４ｅ−”” ”＝（４）加算部２０の出力
信号に煽とレベル＃Ｉ４整ｓ１７の出力信号８．１に除
算回路２３に人力する。除算回１ｉ２３の出力信号２４
は式（５）で示されるＱただし、係数’１１％ ’１１
は第１１第２信号のｉ艮差が小さいため値が勢しいとみ
なすことができＰ、、−Ｐ、ｍＰ、とじた。除算回路２
３の出力信号２４を対数変換回路２５に人力し、対数変
換すると対数変換ただし、Ｂ”’ＰＩｋ、ｔ＝ｋＬ 、
／８．β＝島Ａで表わし、ｙ十Ｊ−＝ｌの関係がわる。
本兄明装櫨における利得Ａ％用川用抵抗器１７−１１．
１７−２１および１７−３１１ユ、工ｉを織れる被測定
原料のうち、出力信号Ｓｌが中間的な出力を示す原料人
について第３図に点Ｐで示されるように工程の平均水分
率−で出力信号ル１１、島１．８．が等しくなるように
設定する〇この状態における出方信号２６は式（７）で
示される。
１７−２１および１７−３１１ユ、工ｉを織れる被測定
原料のうち、出力信号Ｓｌが中間的な出力を示す原料人
について第３図に点Ｐで示されるように工程の平均水分
率−で出力信号ル１１、島１．８．が等しくなるように
設定する〇この状態における出方信号２６は式（７）で
示される。
鴎！
１ｎ ■−ＢＨ（Ｗ−鴨）・曲り・・ ・曲・凹曲（７
）ただし、ＩＩＸ科Ａについての係数ＢをＢ、で表わし
た。次に加算部２ｏにおける１み河は可変蒙ｇ４２ｏ−
２，２Ｏ−３ｉ用いて’ｔｏｍｂｓ水分率ｗｌにおし・
て、被測定ＵＡ＊−＋の種類ｔこよる誤差が菫小になる
ような条件、すなわち、工程ｔ−處れる被測定原料のう
ち出力信号Ｓ１が大島な出方（示す原料Ｃの水分率１ｖ
ｌの試料と、小さな出方を示す原料Ｂの水分率Ｗｌの試
料とを用い、それぞれの出力信号２６が勢しくなるよう
可変抵抗６２０−２の１みγと、２０−３の重み−を設
定するＧ以下、ムみγおよびＪの関係について式（８）
乃至式（１７）で説明する。原料Ｂ、 Ｃの出力信号２
６は１ それぞれ式（８）、（９）で表わされる。
）ただし、ＩＩＸ科Ａについての係数ＢをＢ、で表わし
た。次に加算部２ｏにおける１み河は可変蒙ｇ４２ｏ−
２，２Ｏ−３ｉ用いて’ｔｏｍｂｓ水分率ｗｌにおし・
て、被測定ＵＡ＊−＋の種類ｔこよる誤差が菫小になる
ような条件、すなわち、工程ｔ−處れる被測定原料のう
ち出力信号Ｓ１が大島な出方（示す原料Ｃの水分率１ｖ
ｌの試料と、小さな出方を示す原料Ｂの水分率Ｗｌの試
料とを用い、それぞれの出力信号２６が勢しくなるよう
可変抵抗６２０−２の１みγと、２０−３の重み−を設
定するＧ以下、ムみγおよびＪの関係について式（８）
乃至式（１７）で説明する。原料Ｂ、 Ｃの出力信号２
６は１ それぞれ式（８）、（９）で表わされる。
１
ｌｎＴ＝Ｂｓ（Ｗ−％）＋Ｉｎ（ｒＱｚ ＋ ｄＡ ）
−−”−・（９）βをｆｉｘで、Ｗ科Ｃについての係
数ｋｌ ｆｔＢ、、αをα３、βをβ葛で表わした。原
料Ａ、ＢおよびＣのそれぞれの出力信号２６が管理目標
水分率％′１で等しくなるためには式（７）、（８）、
（９）が下記式（ＩＬＩ入（１１）の関係にあればよい
。
−−”−・（９）βをｆｉｘで、Ｗ科Ｃについての係
数ｋｌ ｆｔＢ、、αをα３、βをβ葛で表わした。原
料Ａ、ＢおよびＣのそれぞれの出力信号２６が管理目標
水分率％′１で等しくなるためには式（７）、（８）、
（９）が下記式（ＩＬＩ入（１１）の関係にあればよい
。
Ｂ１（ｗｒ−ｖ４＞−ｆ３ｇ（ｗｒ−％）−Ｉｎ（７＊
１＋ｄβｔ ）−Ｇ−−−−・−（ｌｕ）Ｂｌ（Ｗｌ
−Ｗ−Ｂｌ （ｗｒ−ｗｅ）−１ｎ（ｙｑ＋δＡ ＞＝
ｏ−−−−−・（１１）式（１０）、（ｕ＼を変形して
、式（１２）、（１３人が得られ（８１Ｂ１）（Ｗｌ
−％、 、＝ｌｎ Ｃｒｑ ”ｆｉｘ ）・・・−”・
聞・・（１２）（ｔ３．− Ｂ、）（ｗｒ−匍＝Ｉｎ（
ｙｑ ＋ｄＡ ） −・−−−−−−−−−−−−−（
１３）式（１２）から式（１３）を引くと式（］４）が
靭しれ（Ｂｓ Ｂｎ） （＊ＶＩ ’Ｎ・）＝ｋｎ餐腎
ル・−−−曲間（１４）式（１４） ｔ−指数関数にも
どすと式（１５）が得られる〇（ｒ町＋ＪＡ）ｅ
＝γ町十δβ。
１＋ｄβｔ ）−Ｇ−−−−・−（ｌｕ）Ｂｌ（Ｗｌ
−Ｗ−Ｂｌ （ｗｒ−ｗｅ）−１ｎ（ｙｑ＋δＡ ＞＝
ｏ−−−−−・（１１）式（１０）、（ｕ＼を変形して
、式（１２）、（１３人が得られ（８１Ｂ１）（Ｗｌ
−％、 、＝ｌｎ Ｃｒｑ ”ｆｉｘ ）・・・−”・
聞・・（１２）（ｔ３．− Ｂ、）（ｗｒ−匍＝Ｉｎ（
ｙｑ ＋ｄＡ ） −・−−−−−−−−−−−−−（
１３）式（１２）から式（１３）を引くと式（］４）が
靭しれ（Ｂｓ Ｂｎ） （＊ＶＩ ’Ｎ・）＝ｋｎ餐腎
ル・−−−曲間（１４）式（１４） ｔ−指数関数にも
どすと式（１５）が得られる〇（ｒ町＋ＪＡ）ｅ
＝γ町十δβ。
ｉ＜ ｒ −Ｊ）ａ＠ ＋Ｊ７％Ｊｅ”−”バＷ’ｉ
−Ｗｓ Ｌ−（１−リＭ ＋Ｊ７１１゜（Ｉｓ ＋Ｊ
ＣＡ −ａ、））ｓ（”ｌ−１１１）（” 鳴）＝ａ、
＋Ｊ （ｐ、−ａ、 ） ・・−（１５）従りて、重
み−およびｒの関係は式（１Ｇ）％ （１７）であるこ
とが理解されよう。
−Ｗｓ Ｌ−（１−リＭ ＋Ｊ７１１゜（Ｉｓ ＋Ｊ
ＣＡ −ａ、））ｓ（”ｌ−１１１）（” 鳴）＝ａ、
＋Ｊ （ｐ、−ａ、 ） ・・−（１５）従りて、重
み−およびｒの関係は式（１Ｇ）％ （１７）であるこ
とが理解されよう。
γ＝トＩ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（
１７）ただし、Ｆ＝ｅ（ｌ畠−Ｂｍ）（Ｗｉ−Ｗ、）と
した。コノヨウな条件に設定された場合の原料Ａ、 Ｂ
、 Ｃの出力信号２６は第４図に示されるごとく、管理
目標水分率Ｗｌにおいて原料が異っても、その誤差が小
さく、重み付は可変抵抗器２０−２．３０−３を有しな
い従来装置の場合の被＃Ｊ定鳳科Ａ、 Ｂ、 Ｃの出力
信号２６が第５図に示される場合と比較して管理目標水
分率ｗｔにおいてＪＩＡ科が異っても、その−差を最小
にすることができる。また、３原料以上ｏ、ｗ８−でも
代表的な３原料′ｆ７ｒ遺び、前記方法で計器Ｒ整すれ
ば、はぼ一様な結果を得ることができる。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（
１７）ただし、Ｆ＝ｅ（ｌ畠−Ｂｍ）（Ｗｉ−Ｗ、）と
した。コノヨウな条件に設定された場合の原料Ａ、 Ｂ
、 Ｃの出力信号２６は第４図に示されるごとく、管理
目標水分率Ｗｌにおいて原料が異っても、その誤差が小
さく、重み付は可変抵抗器２０−２．３０−３を有しな
い従来装置の場合の被＃Ｊ定鳳科Ａ、 Ｂ、 Ｃの出力
信号２６が第５図に示される場合と比較して管理目標水
分率ｗｔにおいてＪＩＡ科が異っても、その−差を最小
にすることができる。また、３原料以上ｏ、ｗ８−でも
代表的な３原料′ｆ７ｒ遺び、前記方法で計器Ｒ整すれ
ば、はぼ一様な結果を得ることができる。
以上述べたように、本発明はレベル調整部および加算部
によプ、被測定原料の種類による影響を管理目標とする
水分率附近で最小にすることが可能な水分調定装置でめ
る０従って、被−１定原料の種類による影響を予め調査
し、その結果で回路調整を行なえば、キャリブレインヨ
ンが容易で、かつ、常に正確な測定が可能となる。
によプ、被測定原料の種類による影響を管理目標とする
水分率附近で最小にすることが可能な水分調定装置でめ
る０従って、被−１定原料の種類による影響を予め調査
し、その結果で回路調整を行なえば、キャリブレインヨ
ンが容易で、かつ、常に正確な測定が可能となる。
Ｍ１図は本発明の−実り例を示すＩＰ！Ｊｗｒ徊成説明
図、第２図は本発明の一実施例に係るフィルタ構成図、
第３図は出力信号ル１１、−１Ｓ１対水分率（ホ）の関
係を示す図、縞４図は本発明装置ｙｃおける出力信号２
６対水分率（４）の関係を示すド、第す図は従来装置に
おける出力信号２６対水分率（イ）の関係を承す図。 ｌ：水分検出部 ２：被測定Ｗ科 １２：（＋！号分離整＋７ｔｆｓ１７ ： ｖ ヘルー
整部２０：加算部 ２３：除算回路 ２５：対数変換−路 才 ２ 図 才３肥
図、第２図は本発明の一実施例に係るフィルタ構成図、
第３図は出力信号ル１１、−１Ｓ１対水分率（ホ）の関
係を示す図、縞４図は本発明装置ｙｃおける出力信号２
６対水分率（４）の関係を示すド、第す図は従来装置に
おける出力信号２６対水分率（イ）の関係を承す図。 ｌ：水分検出部 ２：被測定Ｗ科 １２：（＋！号分離整＋７ｔｆｓ１７ ： ｖ ヘルー
整部２０：加算部 ２３：除算回路 ２５：対数変換−路 才 ２ 図 才３肥
Claims (1)
- 第１赤外−フィルタ、第２赤外−フィルタおよび第３赤
外線フイルタを有する回転ディスクと、該回転ディスク
および反射ミラーを介して−」足動に光を照射するラン
プと、被−」足動からの反射光を染める集光手段を介し
て電気信号に変換する充電変換器と、該光電変換器の出
方信号を回転ディスクの同期信号に基づいて第ｌ信号、
第２信号および第３侶号に分離整流する回路と、該第１
４ｒ号と第２信号をそれぞれ利得調整する回路および可
変抵抗器を介して入力信号とする加算回路と、腋加鼻回
路の出力信号を被除算信号とし、前記第３信号を利得調
整回路を介して除算信号として接続される除算１！ｌｌ
！Ｉｗ６と、Ｍ除算回路の出力信号ｙｃ接続される対数
変換回路とを具備することｔ待機とする赤外線水分−」
定装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57087331A JPS58204336A (ja) | 1982-05-25 | 1982-05-25 | 赤外線水分測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57087331A JPS58204336A (ja) | 1982-05-25 | 1982-05-25 | 赤外線水分測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58204336A true JPS58204336A (ja) | 1983-11-29 |
| JPH0330809B2 JPH0330809B2 (ja) | 1991-05-01 |
Family
ID=13911887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57087331A Granted JPS58204336A (ja) | 1982-05-25 | 1982-05-25 | 赤外線水分測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58204336A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60165846U (ja) * | 1984-04-11 | 1985-11-02 | 東芝テスコ株式会社 | 光学水分計のフイルタ装置 |
| JPH02115750A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-27 | Yokogawa Electric Corp | 坪量の影響を低減した赤外線水分計 |
| JP2012164440A (ja) * | 2011-02-03 | 2012-08-30 | Furukawa Battery Co Ltd:The | 鉛蓄電池用極板の製造方法 |
| US10527533B2 (en) | 2015-09-11 | 2020-01-07 | Cem Corporation | Moisture and volatiles analyzer |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4910782A (ja) * | 1972-04-10 | 1974-01-30 |
-
1982
- 1982-05-25 JP JP57087331A patent/JPS58204336A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4910782A (ja) * | 1972-04-10 | 1974-01-30 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60165846U (ja) * | 1984-04-11 | 1985-11-02 | 東芝テスコ株式会社 | 光学水分計のフイルタ装置 |
| JPH02115750A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-27 | Yokogawa Electric Corp | 坪量の影響を低減した赤外線水分計 |
| JP2012164440A (ja) * | 2011-02-03 | 2012-08-30 | Furukawa Battery Co Ltd:The | 鉛蓄電池用極板の製造方法 |
| US10527533B2 (en) | 2015-09-11 | 2020-01-07 | Cem Corporation | Moisture and volatiles analyzer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0330809B2 (ja) | 1991-05-01 |
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