JPS582033B2 - 砥石摩耗測定装置 - Google Patents
砥石摩耗測定装置Info
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- JPS582033B2 JPS582033B2 JP50051794A JP5179475A JPS582033B2 JP S582033 B2 JPS582033 B2 JP S582033B2 JP 50051794 A JP50051794 A JP 50051794A JP 5179475 A JP5179475 A JP 5179475A JP S582033 B2 JPS582033 B2 JP S582033B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は工作物を研削加工することによって生ずる砥石
摩耗を測定するための砥石摩耗測定装置に関するもので
、その目的とするところは、砥石摩耗をインプロセスで
、しかもきわめて高精度に測定し得る砥石摩耗測定装置
を提供することである。
摩耗を測定するための砥石摩耗測定装置に関するもので
、その目的とするところは、砥石摩耗をインプロセスで
、しかもきわめて高精度に測定し得る砥石摩耗測定装置
を提供することである。
一般に、砥石摩耗をインプロセスで高精度に測定できる
装置はあまり例がなく、一部において空気マイクロメー
タ等の検出装置を用いて砥石径の変化を直接検出してい
る程度である。
装置はあまり例がなく、一部において空気マイクロメー
タ等の検出装置を用いて砥石径の変化を直接検出してい
る程度である。
しかるにこ0のような空気マイクロメータ等を用いたも
のにおいては、温度変化等の外乱によって測定誤差を生
じ、高精度な測定ができない問題がある。
のにおいては、温度変化等の外乱によって測定誤差を生
じ、高精度な測定ができない問題がある。
本発明はかかる従来の問題点に鑑みてなされたもので、
オプチカルセンサを用いて砥石摩耗をインプロセスで高
精度に測定できるようにしたものである。
オプチカルセンサを用いて砥石摩耗をインプロセスで高
精度に測定できるようにしたものである。
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
10は砥石11を回転可能に装架した砥石台で、この砥
石台10は図略の工作物を研削加工するために、公知の
送り装置によって図の左右方向に前進後退されるように
なっており、この研削加工によって生ずる砥石11の摩
耗量は後述するようにしてインプロセスで測定される。
石台10は図略の工作物を研削加工するために、公知の
送り装置によって図の左右方向に前進後退されるように
なっており、この研削加工によって生ずる砥石11の摩
耗量は後述するようにしてインプロセスで測定される。
また砥石台10にはドレッシング装置12が装備され、
このドレッシング装置12は砥石11の摩耗量が設定量
に達する毎に起動されて砥石11をドレッシングするよ
うになっている。
このドレッシング装置12は砥石11の摩耗量が設定量
に達する毎に起動されて砥石11をドレッシングするよ
うになっている。
13はオプチカルセンサで、このオプチカルセンサ13
は前記砥石11の頂部を跨ぐようにして図の上下方向に
移動可能に案内され、デイジタルサーボモータ14によ
って上下動されるようになっている。
は前記砥石11の頂部を跨ぐようにして図の上下方向に
移動可能に案内され、デイジタルサーボモータ14によ
って上下動されるようになっている。
かかるオプチカルセンサ13には砥石11の頂部を境に
してレーザガン15と光分割検出体16が砥石11の接
線方向に相対向して配設され、このレーザガン15より
発せられたレーザ光線が砥石11の頂部を横切ってレン
ズ18により拡大され、これが前記光分割検出体16に
照射されるようになっている。
してレーザガン15と光分割検出体16が砥石11の接
線方向に相対向して配設され、このレーザガン15より
発せられたレーザ光線が砥石11の頂部を横切ってレン
ズ18により拡大され、これが前記光分割検出体16に
照射されるようになっている。
かかる光分割検出体16は前記レンズ18によって拡大
されたレーザ光線を分割して受ける多数の光電素子P1
1〜PNを前記オプチカルセンサ13の移動方向に沿っ
て連続して配列してなり、これら光電素子P11〜PN
がレーザ光線を受けて動作するようになっている。
されたレーザ光線を分割して受ける多数の光電素子P1
1〜PNを前記オプチカルセンサ13の移動方向に沿っ
て連続して配列してなり、これら光電素子P11〜PN
がレーザ光線を受けて動作するようになっている。
なお、前記オプチカルセンサ13は後述する説明で明ら
かなように、予め定められた数の光電素子にレーザ光線
が照射されないように、レーザ光線の一部が砥石11の
頂部によって遮られる位置に位置決めされる。
かなように、予め定められた数の光電素子にレーザ光線
が照射されないように、レーザ光線の一部が砥石11の
頂部によって遮られる位置に位置決めされる。
前記光分割検出体16の各光電素子P11〜PNの出力
は、増幅回路20に加えられて出力増幅されると共にイ
ンバータ21に加えられて出力反転され、このインバー
タ21によって反転された各出力が前記光電素子と同数
のアンド回路A11〜ANの一方の入力端子に与えられ
る。
は、増幅回路20に加えられて出力増幅されると共にイ
ンバータ21に加えられて出力反転され、このインバー
タ21によって反転された各出力が前記光電素子と同数
のアンド回路A11〜ANの一方の入力端子に与えられ
る。
22はきわめて高い周波数でパルスを発振する発振器で
、この発振器22より発振されたパルスは走査回路23
に与えられ、この走査回路23より前記各アンド回路A
11〜ANの他方の入力端子に順次走査信号が出力され
る。
、この発振器22より発振されたパルスは走査回路23
に与えられ、この走査回路23より前記各アンド回路A
11〜ANの他方の入力端子に順次走査信号が出力され
る。
各アンド回路A11〜ANの出力はオア回路01を介し
て加算カウンタ24に投与され、この加算カウンタ24
によって前記光分割検出体16の出力が計数される。
て加算カウンタ24に投与され、この加算カウンタ24
によって前記光分割検出体16の出力が計数される。
前記発振器22より発振されたパルスは同時に分周回路
25にも与えられて所定の割合に分周され、この分周さ
れたパルスがリングカウンタ26に投与される。
25にも与えられて所定の割合に分周され、この分周さ
れたパルスがリングカウンタ26に投与される。
リングヵウンタ26は分周回路25より所定数のパルス
が投与される毎にリセット信号RSを送出し、このリセ
ット信号RSが後述するフリツプフロツプに与えられる
と共に、遅延回路Dを介して前記加算カウンタ24に与
えられる。
が投与される毎にリセット信号RSを送出し、このリセ
ット信号RSが後述するフリツプフロツプに与えられる
と共に、遅延回路Dを介して前記加算カウンタ24に与
えられる。
これによってフリツプフロツプをリセットすると共に、
微少時間遅れて加算カウンタ24の計数内容をクリヤす
る。
微少時間遅れて加算カウンタ24の計数内容をクリヤす
る。
このようにして加算カウンタ24は一定時間毎にその内
容がクリヤされるようになっており、この加算カウンタ
24がクリヤされるまでの間に前記光分割検出体16の
出力が繰返し計数される。
容がクリヤされるようになっており、この加算カウンタ
24がクリヤされるまでの間に前記光分割検出体16の
出力が繰返し計数される。
前記加算カウンタ24は2進カウンタとして構成され、
その下位の各ビットは第2のオア回路02に、その上位
の各ビットは第3のオア回路03にそれぞれ接続されて
いる。
その下位の各ビットは第2のオア回路02に、その上位
の各ビットは第3のオア回路03にそれぞれ接続されて
いる。
また加算カウンタ24の下位の各ビットは第1のアンド
回路A1の各入力端子にそれぞれ接続され、このアンド
回路A1は下位の各ビットに全て“1”がセットされた
場合、すなわち加算カウンタ24の計数値が設定値に達
した場合に動作され、この動作出力によってフリツプフ
ロツプFFをセットするようになっている。
回路A1の各入力端子にそれぞれ接続され、このアンド
回路A1は下位の各ビットに全て“1”がセットされた
場合、すなわち加算カウンタ24の計数値が設定値に達
した場合に動作され、この動作出力によってフリツプフ
ロツプFFをセットするようになっている。
かかるフリツプフロツプFFのセット端子は第1のノッ
ト回路N1を介して第4のオア回路04に接続され、こ
のオア回路04にはまた前記第3のオア回路03の出力
端子が接続されている。
ト回路N1を介して第4のオア回路04に接続され、こ
のオア回路04にはまた前記第3のオア回路03の出力
端子が接続されている。
27は発振器で、この発振器27より発振されたパルス
は、それぞれ4つの入力端子を持つ第2および第3のア
ンド回路A2 ,A3の各1つの入力端子に与えられる
ようになっている。
は、それぞれ4つの入力端子を持つ第2および第3のア
ンド回路A2 ,A3の各1つの入力端子に与えられる
ようになっている。
これらアンド回路A2 ,A3の各入力端子には前記第
4のオア回路04の出力とスタート信号SSとがそれぞ
れ与えられ、また第2のアンド回路A2の入力端子には
前記第3のオア回路03の出力が第2のノット回路N2
を介して与えられ、更に第3のアンド回路A3の入力端
子には前記第3のオア回路03の出力が直接与えられる
ようになっている。
4のオア回路04の出力とスタート信号SSとがそれぞ
れ与えられ、また第2のアンド回路A2の入力端子には
前記第3のオア回路03の出力が第2のノット回路N2
を介して与えられ、更に第3のアンド回路A3の入力端
子には前記第3のオア回路03の出力が直接与えられる
ようになっている。
なお、前記発振器27は通常きわめて低い周波数(前記
リングカウンタ26の周期の所定倍)に設定されている
が、前記加算カウンタ24の内容が零の場合、換言すれ
ば前記光電素子P11〜PNの全てにレーザ光線が照射
されるような位置にオプチカルセンサ13が位置されて
いる場合には、周波数変換回路28により高い周波数に
変換され、これによってオプチカルセンサ13を測定位
置まで高速で移動せしめるようになっている。
リングカウンタ26の周期の所定倍)に設定されている
が、前記加算カウンタ24の内容が零の場合、換言すれ
ば前記光電素子P11〜PNの全てにレーザ光線が照射
されるような位置にオプチカルセンサ13が位置されて
いる場合には、周波数変換回路28により高い周波数に
変換され、これによってオプチカルセンサ13を測定位
置まで高速で移動せしめるようになっている。
前記第2のアンド回路A2を通して出力される発振器2
1からのパルスは、ドライブユニット29のプラス端子
に与えられ、また第3のアンド回路A3を通して出力さ
れる発振器27のパルスは、ドライブユニット29のマ
イナス端子に与えられる。
1からのパルスは、ドライブユニット29のプラス端子
に与えられ、また第3のアンド回路A3を通して出力さ
れる発振器27のパルスは、ドライブユニット29のマ
イナス端子に与えられる。
かかるドライブユニット29はこれに分配されたパルス
に応答して前述したデイジタルサーボモータ14を正逆
転駆動し、これによって前記オプチカルセンサ13を上
下動せしめるようになっている。
に応答して前述したデイジタルサーボモータ14を正逆
転駆動し、これによって前記オプチカルセンサ13を上
下動せしめるようになっている。
また前記第2のアンド回路A2を通して出力されるパル
スは、第4のアンド回路A4を介して加減算カウンタ3
0の加算端子に与えられ、前記第3のアンド回路A3を
通して出力されるパルスは、第5のアンド回路A5を介
して前記加減算カウンタ30の減算端子に与えられる。
スは、第4のアンド回路A4を介して加減算カウンタ3
0の加算端子に与えられ、前記第3のアンド回路A3を
通して出力されるパルスは、第5のアンド回路A5を介
して前記加減算カウンタ30の減算端子に与えられる。
かかる加減算カウンタ30はこれに与えられたパルスを
加減算し、その内容が設定値に達するとドレッシング開
始信号DSを出力するようになっており、これに基づい
てドレッシング装置12が起動されるとリセット信号R
Sが加減算カウンタ30に与えられてその内容がリセッ
トされるようになっている。
加減算し、その内容が設定値に達するとドレッシング開
始信号DSを出力するようになっており、これに基づい
てドレッシング装置12が起動されるとリセット信号R
Sが加減算カウンタ30に与えられてその内容がリセッ
トされるようになっている。
なお、前記第4および第5のアンド回路A4 ,A5に
はオンジョブ信号JSがそれぞれ与えられ、このオンジ
ョブ信号JSはドレッシングの開始から完了までの間ダ
ウンして各アンド回路A4,A5をブロツクするように
なっている。
はオンジョブ信号JSがそれぞれ与えられ、このオンジ
ョブ信号JSはドレッシングの開始から完了までの間ダ
ウンして各アンド回路A4,A5をブロツクするように
なっている。
次に上述した構成におけけ本発明装置の制御について説
明する。
明する。
図に示すようにレーザガン15より発せられたレーザ光
線の一部が砥石11の頂部によって遮られる位置にオプ
チカルセンサ13が位置決めされているものとすると、
この状態においては光分割検出体16を構成する多数の
光電素子P11〜PNのうちの所定数の光電素子にレー
ザ光線が照射されず、それら光電素子の出力はそれぞれ
“0”、その他の光電素子の出力はそれぞれ“1”とな
る。
線の一部が砥石11の頂部によって遮られる位置にオプ
チカルセンサ13が位置決めされているものとすると、
この状態においては光分割検出体16を構成する多数の
光電素子P11〜PNのうちの所定数の光電素子にレー
ザ光線が照射されず、それら光電素子の出力はそれぞれ
“0”、その他の光電素子の出力はそれぞれ“1”とな
る。
これら光電素子P11〜PNの各出力は増幅回路20に
より出力増幅されると共に、インバータ21によりそれ
ら出力が反転されてアンド回路A11〜ANにそれぞれ
与えられる。
より出力増幅されると共に、インバータ21によりそれ
ら出力が反転されてアンド回路A11〜ANにそれぞれ
与えられる。
これらアンド回路A11〜ANには発振器22より発振
された高周波数のパルスをスキャニングする走査回路2
3より走査信号が順次与えられているため、前述したよ
うにレーザ光線が照射されていない光電素子にそれぞれ
連なる各アンド回路に前記走査信号が与えられる毎に、
それらアンド回路よりオア回路01を介して加算カウン
タ24にパルスが投与され、このパルス数が加算カウン
タ24により計数される。
された高周波数のパルスをスキャニングする走査回路2
3より走査信号が順次与えられているため、前述したよ
うにレーザ光線が照射されていない光電素子にそれぞれ
連なる各アンド回路に前記走査信号が与えられる毎に、
それらアンド回路よりオア回路01を介して加算カウン
タ24にパルスが投与され、このパルス数が加算カウン
タ24により計数される。
一方、前記発振器22より分周回路26に所定数のパル
スが投与される毎に、リングカウンタ26よりリセット
信号RSが出力され、このリセット信号RSはフリツプ
フロツプFFに与えられてフリツプフロツプFFがリセ
ットされると共に、遅延回路Dを介して前記加算カウン
タ24に与えられ、これによって加算カウンタ24の計
数内容がクリヤされる。
スが投与される毎に、リングカウンタ26よりリセット
信号RSが出力され、このリセット信号RSはフリツプ
フロツプFFに与えられてフリツプフロツプFFがリセ
ットされると共に、遅延回路Dを介して前記加算カウン
タ24に与えられ、これによって加算カウンタ24の計
数内容がクリヤされる。
ここで今、砥石11の摩耗が全くないものと仮定すれば
、光分割検出体16の出力状態は不変であり、それゆえ
に前記加算カウンタ24がリセットされてから次にリセ
ットされるまでの一定時間の間に、加算カウンタ24に
は一定数のパルスが投与されることになり、加算カウン
タ24の下位の各ビットの全てに“1”がセットされる
。
、光分割検出体16の出力状態は不変であり、それゆえ
に前記加算カウンタ24がリセットされてから次にリセ
ットされるまでの一定時間の間に、加算カウンタ24に
は一定数のパルスが投与されることになり、加算カウン
タ24の下位の各ビットの全てに“1”がセットされる
。
これにより第1のアンド回路A1が動作され、このアン
ド回路A1の動作出力によってフリツプフロツプFFが
セットされる。
ド回路A1の動作出力によってフリツプフロツプFFが
セットされる。
これに対して、研削加工に伴なって砥石11が摩耗し、
これにより今までレーザ光線が照射していなかった光電
素子にもレーザ光線が照射されて光分割検出体16の出
力状態が変化すると、単位時間当りに加算カウンタ24
に投与されるパルス数が減少し、これによって加算カウ
ンタ24の計数値が設定値に到る前に、前記リングカウ
ンタ24からの信号RSによりその計数内容がクリヤさ
れ、フリツプフロツプFFはセットされない。
これにより今までレーザ光線が照射していなかった光電
素子にもレーザ光線が照射されて光分割検出体16の出
力状態が変化すると、単位時間当りに加算カウンタ24
に投与されるパルス数が減少し、これによって加算カウ
ンタ24の計数値が設定値に到る前に、前記リングカウ
ンタ24からの信号RSによりその計数内容がクリヤさ
れ、フリツプフロツプFFはセットされない。
従って砥石11に摩耗がない状態ないしはその摩耗がき
わめて僅かなうちは、前記リングカウンタ26からのリ
セット信号RSによって一旦リセットされたフリップフ
ロツプFFが、続く第1のアンド回路A1からの出力に
よって再びセット状態に反転復帰されるため、フリツプ
フロツプFFは実質的にセット状態に維持されることに
なる。
わめて僅かなうちは、前記リングカウンタ26からのリ
セット信号RSによって一旦リセットされたフリップフ
ロツプFFが、続く第1のアンド回路A1からの出力に
よって再びセット状態に反転復帰されるため、フリツプ
フロツプFFは実質的にセット状態に維持されることに
なる。
これによりフリツプフロツプFFのセット端子からの出
力が“1”になり、これが第1のノット回路N1により
“0”に反転されるため、発振器27より発振されたパ
ルスは第2および第3のアンド回路A2 .A3により
ブロツクされ、どこへも出力されない。
力が“1”になり、これが第1のノット回路N1により
“0”に反転されるため、発振器27より発振されたパ
ルスは第2および第3のアンド回路A2 .A3により
ブロツクされ、どこへも出力されない。
しかるに砥石11の摩耗が進行していくと、リングカウ
ンタ26からのリセット信号RSによってリセットされ
たフリツプフロツプFFがセットされず、このフリツプ
フロツプFFのセット端子より第1のノット回路N1を
介して第2および第3のアンド回路A2,A3にそれぞ
れ入力される信号が“1”に持続され、またこのとき第
3のオア回路03の出力が“0”であるため、第2のノ
ット回路N2を介して第2のアンド回路A2に“1”が
入力されている。
ンタ26からのリセット信号RSによってリセットされ
たフリツプフロツプFFがセットされず、このフリツプ
フロツプFFのセット端子より第1のノット回路N1を
介して第2および第3のアンド回路A2,A3にそれぞ
れ入力される信号が“1”に持続され、またこのとき第
3のオア回路03の出力が“0”であるため、第2のノ
ット回路N2を介して第2のアンド回路A2に“1”が
入力されている。
従ってこの状態で発振器27よりパルスが発振されると
、このパルスは第2のアンド回路A2を介してドライブ
ユニット29のプラス端子に分配され、これによりデイ
ジタルサーボモータ14を正転してオプチカルセンサ1
3を図の下方に移動せしめ、これによってオプチカルセ
ンサ13が砥石11の摩耗量だけ追随されると、フリツ
プフロツプFFがセット状態に復帰され、パルス分配を
停止する。
、このパルスは第2のアンド回路A2を介してドライブ
ユニット29のプラス端子に分配され、これによりデイ
ジタルサーボモータ14を正転してオプチカルセンサ1
3を図の下方に移動せしめ、これによってオプチカルセ
ンサ13が砥石11の摩耗量だけ追随されると、フリツ
プフロツプFFがセット状態に復帰され、パルス分配を
停止する。
この場合オプチカルセンサ13が砥石11の摩耗量に対
してより多く移動され、これによって砥石11により予
定された数以上の光電素子への照射が妨げられた場合に
は、単位時間当りに加算カウンタ24に投与されるパル
ス数が逆に増加し、これによって加算カウンタ24の上
位のビットに“1”がセットされると、その信号“1”
が第3のオア回路03を介して第3のアンド回路A3に
与えられると共に、第4のオア回路04を介して第3の
アンド回路A3に与えられる。
してより多く移動され、これによって砥石11により予
定された数以上の光電素子への照射が妨げられた場合に
は、単位時間当りに加算カウンタ24に投与されるパル
ス数が逆に増加し、これによって加算カウンタ24の上
位のビットに“1”がセットされると、その信号“1”
が第3のオア回路03を介して第3のアンド回路A3に
与えられると共に、第4のオア回路04を介して第3の
アンド回路A3に与えられる。
従って発振器21より発振されたパルスが第3のアンド
回路A3を通してドライブユニット29のマイナス端子
に分配され、デイジタルサーボモータ14が逆転される
。
回路A3を通してドライブユニット29のマイナス端子
に分配され、デイジタルサーボモータ14が逆転される
。
前記第2および第3のアンド回路A2 ,A3よりドラ
イブユニット29に分配されるパルスは同時に、第4お
よび第5のアンド回路A4,A5をそれぞれ介して加減
算カウンタ30の加算端子および減算端子に投与される
。
イブユニット29に分配されるパルスは同時に、第4お
よび第5のアンド回路A4,A5をそれぞれ介して加減
算カウンタ30の加算端子および減算端子に投与される
。
ここでドライブユニット29には砥石11の摩耗に応じ
てオプチカルセンサ13をその摩耗量だけ追随移動せし
めるべくパルスが分配されるため、前記加減算カウンタ
30には結局砥石11の摩耗量に応じたパルス数が投与
されることになり、この加減算カウンタ30の計数値に
基づいて砥石摩耗を測定できる。
てオプチカルセンサ13をその摩耗量だけ追随移動せし
めるべくパルスが分配されるため、前記加減算カウンタ
30には結局砥石11の摩耗量に応じたパルス数が投与
されることになり、この加減算カウンタ30の計数値に
基づいて砥石摩耗を測定できる。
このように砥石11が微少量づつ摩耗する毎に、発振器
27からのパルスがデイジタルサーボモータ駆動用のド
ライブユニット29に与えられてオプチカルセンサ13
が砥石11の摩耗に追随され、同時にそのパルスは加減
算カウンタ30に投与され、この加減算カウンタ30に
砥石11の摩耗量が累積記憶される。
27からのパルスがデイジタルサーボモータ駆動用のド
ライブユニット29に与えられてオプチカルセンサ13
が砥石11の摩耗に追随され、同時にそのパルスは加減
算カウンタ30に投与され、この加減算カウンタ30に
砥石11の摩耗量が累積記憶される。
しかして加減算カウンタ30の累積値が所定の値に達す
ると、加減算カウンタ30よりドレッシング開始信号D
Sが出力され、これが図略の制御装置に指令される。
ると、加減算カウンタ30よりドレッシング開始信号D
Sが出力され、これが図略の制御装置に指令される。
これに基づいて制御装置はドレッシング装置12を起動
し、このドレッシング装置12により砥石11がドレツ
シングされる。
し、このドレッシング装置12により砥石11がドレツ
シングされる。
同時に制御装置からのリセット信号RSによって加減算
カウンタ30がリセットされる。
カウンタ30がリセットされる。
かかるドレッシングにより砥石11が所定量消耗される
と、その消耗量だけオプチカルセンサ13が前述したと
同様にして移動されるようになるが、この場合において
は、前記ドレッシング開始信号DSに基づきオンジョブ
信号JSがダウンされるため、前記発振器21からのパ
ルスが第4および第5のアンド回路A4 ,A5により
ブロツクされ、それゆえに加減算カウンタ30にはパル
スが投与されない。
と、その消耗量だけオプチカルセンサ13が前述したと
同様にして移動されるようになるが、この場合において
は、前記ドレッシング開始信号DSに基づきオンジョブ
信号JSがダウンされるため、前記発振器21からのパ
ルスが第4および第5のアンド回路A4 ,A5により
ブロツクされ、それゆえに加減算カウンタ30にはパル
スが投与されない。
なお、かかるオンジョブ信号JSはドレッシングの完了
信号に伴なって再び復帰される。
信号に伴なって再び復帰される。
以上述べた説明で明らかなように、本発明は砥石摩耗に
応じて移動されるオプチカルセンサの移動量を砥石摩耗
量として検出するようにした構成であるので、砥石摩耗
をインプロセスで高精度に測定でき、しかもかかるオプ
チカルセンサの移動が、このセンサの出力を繰返し走査
した結果に基づいて制御されるようになっているので、
例えば砥石の振動等による誤差成分が互いに打消され、
測定精度の確保に有効である。
応じて移動されるオプチカルセンサの移動量を砥石摩耗
量として検出するようにした構成であるので、砥石摩耗
をインプロセスで高精度に測定でき、しかもかかるオプ
チカルセンサの移動が、このセンサの出力を繰返し走査
した結果に基づいて制御されるようになっているので、
例えば砥石の振動等による誤差成分が互いに打消され、
測定精度の確保に有効である。
なお、上述した実施例においてデイジタルサーボ系によ
って制御する態様について説明したが、これをアナログ
サーボに置換えて砥石摩耗の測定を行うようにすること
もできる。
って制御する態様について説明したが、これをアナログ
サーボに置換えて砥石摩耗の測定を行うようにすること
もできる。
図面は本発明の実施例を示す砥石摩耗測定装置の制御回
路図である。 10・・・・・・砥石台、11・・・・・・砥石、13
・・・・・・オプチカルセンサ、14・・・・・・デイ
ジタルサーボモータ、15・・・・・・レーザガン、1
6・・・・・・光分割検出体、P11〜PN・・・・・
・光電素子、22・・・・・・発振器、23・・・・・
・走査回路、24・・・・・・加算カウンタ、25・・
・・・・分周回路、26・・・・・・リングカウンタ、
27・・・・・・発振器、30・・・・・・加減算カウ
ンタ。
路図である。 10・・・・・・砥石台、11・・・・・・砥石、13
・・・・・・オプチカルセンサ、14・・・・・・デイ
ジタルサーボモータ、15・・・・・・レーザガン、1
6・・・・・・光分割検出体、P11〜PN・・・・・
・光電素子、22・・・・・・発振器、23・・・・・
・走査回路、24・・・・・・加算カウンタ、25・・
・・・・分周回路、26・・・・・・リングカウンタ、
27・・・・・・発振器、30・・・・・・加減算カウ
ンタ。
Claims (1)
- 1 砥石台に回転可能に装架された砥石の摩耗量をイン
プロセスで測定する装置であって、前記砥石の作用面を
境にして相対向された光源と該光源からの光を分割して
受ける複数個の光電素子からなる光分割検出体とを含み
前記砥石に対して移動可能に設けられたオプチカルセン
サ、前記光分割検出体の出力を検出するための走査信号
を出力する走査信号発生装置、該走査信号発生装置の走
査により検出された前記光分割検出体の出力を計数する
カウンタ、前記走査信号発生装置の走査信号の所定倍の
同期で前記カウンタの内容をクリヤする信号を発生する
リセット信号発生装置、前記カウンタの計数内容に応じ
て前記オプチカルセンサをそのカウンタの計数値が設定
値になる方向に移動せしめる駆動装置ならびに該駆動装
置によって前記オプチカルセンサが砥石に対して移動さ
れるときに該オプチカルセンサの移動量を摩耗量として
検出し記憶する砥石摩耗量記憶装置によって構成してな
る砥石摩耗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50051794A JPS582033B2 (ja) | 1975-04-29 | 1975-04-29 | 砥石摩耗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50051794A JPS582033B2 (ja) | 1975-04-29 | 1975-04-29 | 砥石摩耗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS51128095A JPS51128095A (en) | 1976-11-08 |
| JPS582033B2 true JPS582033B2 (ja) | 1983-01-13 |
Family
ID=12896834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50051794A Expired JPS582033B2 (ja) | 1975-04-29 | 1975-04-29 | 砥石摩耗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS582033B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6429596U (ja) * | 1987-08-12 | 1989-02-22 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5882676A (ja) * | 1981-11-10 | 1983-05-18 | Hitachi Ltd | 切込み量検出方法とその装置 |
| JPS58206376A (ja) * | 1982-05-26 | 1983-12-01 | Koubukuro Kosakusho:Kk | 研削砥石の周速度制御装置 |
| JPS6253803A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-09 | 株式会社 デイスコ | ブレ−ド監視方法および精密切削装置 |
| JPS63237867A (ja) * | 1987-03-23 | 1988-10-04 | Daisho Seiki Kk | 平面研削盤の砥石位置検出装置 |
-
1975
- 1975-04-29 JP JP50051794A patent/JPS582033B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6429596U (ja) * | 1987-08-12 | 1989-02-22 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS51128095A (en) | 1976-11-08 |
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