JPS58198015A - 光フアイバ接続損失測定方法 - Google Patents

光フアイバ接続損失測定方法

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JPS58198015A
JPS58198015A JP8223982A JP8223982A JPS58198015A JP S58198015 A JPS58198015 A JP S58198015A JP 8223982 A JP8223982 A JP 8223982A JP 8223982 A JP8223982 A JP 8223982A JP S58198015 A JPS58198015 A JP S58198015A
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optical fiber
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power
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Giyu Kashima
加島 宜雄
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/35Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is transversely coupled into or out of the fibre or waveguide, e.g. using integrating spheres
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/26Optical coupling means
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/36Mechanical coupling means
    • G02B6/38Mechanical coupling means having fibre to fibre mating means
    • G02B6/3801Permanent connections, i.e. wherein fibres are kept aligned by mechanical means
    • G02B6/3803Adjustment or alignment devices for alignment prior to splicing

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は例えば光通信網における電柱上やマンホール
内で使用することを可能とする光フアイバ接続損失の測
定方法に関するものである。
〔従来技術〕
光フアイバケーブルを使用する光通信が実用に供される
に従い、布設された光フアイバケーブル内の光ファイバ
をマンホール内や電柱上で接続する必要が多数生じてい
る。このような接続工事において、接続損失を測定しな
がら接続を行なうのが通常の方法である。従来、このた
めに第1図に示すような構成をとっていた。即ち光源1
と、接続すべき光ファイバ2A、2Bと、受光器3とを
用いる。通常光源の設置場所(イ)と光ファイバの接(
2) 続場所(ロ)と受光器3の設置場所(ハ)とは異なり、
これらは数100s以上離れるのが常である。近年光フ
アイバケーブルの細径軽量性を生かして、ケーブルの布
設単長が伸びるに従い、これら場所(イ)、(ロ)、(
ハ)間の距離は長くなる傾向にある。
このような構成で接続損失を測定するには従来において
は、まず第2図(a)に示すように光源1からの光を光
フアイバ2人に通し、接続場所(ロ)で光フアイバ2人
よシ出射される光パワーQ 1 (dBm)を受光器3
によシ測定する。 次、(第)2図(blに示すように
接続場所(ロ)で、光ファイバ2A、2Bを接続したの
ち、場所(ハ)で光ファイバ2Bから出射される光パワ
ーQi(dBm)を測定する。こ\で光ファイバ2Bの
単位長当シの損失αB (d B/P[m)が予め測定
されてあシ、かつ光ファイバ2Bの長さt員)が知られ
ている。この時の接続損失はQl−Qz−dBmt/1
000      (dB)で求まる。
以上説明したように、従来法で接続損失を測定するには
、光源の設置場所(イ)と、接続場所(ロ)と、受光器
の設置場所(ハ)とが互に遠く離れていた。このため、
工事に従事する要員が多くかかシ、工事費の上昇をまね
くという欠点がある。また、交通量の多い場所等では同
時に(イ)、(ロ)、(ハ)の3ケ所を専有することが
困難であり、工事の施行が困難であるという欠点もある
。また、この従来の方法では光フアイバ2人の横6失を
測定しなければならなかった。
〔発明の概要〕
この発明は光ファイバを曲げ、その曲げ部分に光を照射
することによシその光フアイバ内に光を入射させ、仮接
続工程と本接続工程とを行ない、これら2回の接続工程
における光フアイバ接続部からのもれ光パワーを測定す
ることを特徴とし、その目的は接続する場所で光ファイ
バの接続損失を測定することを可能とし、これに伴い接
続工事費の低減、簡便な接続工事方法の低減を可能とし
  、iようとするものである。
〔実施例〕
第3図にこの発明の測定方法の構成を示す。この発明に
おいては接続場所(ロ)に光源1が設けられ、またこの
場所(ロ)に受光器3が用意される。
この発明による接続損失の測定法においては第4図(&
)に示すように、光フアイバ2人を曲げ治具によシ曲げ
、その曲げ部2Aaに光源1からの光を照射することで
、光フアイバ2人に光を入射させる。曲げ部2Aaは接
続部PifT(ロ)で形成され、光フアイバ2人の接続
端から、数悔程度離れた個所とされる。この長さは接続
場所の環境によシ、あまり長くできない状況も起きるが
、できれば2m以上が好ましい。また、この曲げ部2A
aは以下の工程中において固定して光源1と光フアイバ
2人との結合効率が変化しガいようにする。光源1とし
て半導体レーザや気体レーザ、白色ランプ、キセノンラ
ンプ等が考えられ、連続光でもパルス状発光でもよい。
光源1と光フアイバ2人との結合効率は、光フ験した結
果、−4OdB程度の結合が可能であった。この値は光
源1と曲げ部2Aaとの幾何学形状や、被覆材料、被覆
の色等に依存するが、この程度の結合が期待できる。
光フアイバ2人の接続端からの光出力P1を受光器3で
測定する。
その後、第4図(blに示すように光フアイバ2人と2
Bを仮接続しく仮接続工程)、その接続部からのもれ光
のパワーP2を、光ファイバの軸にそって受光器3を動
かすことにより測定する。第4図(a) 、 (b)で
の各測定に用いる受光器3は同一のものでも、異なるも
のでも良い。第4図(blに受光器3を動かす方向を矢
印A−A’で示す。
次に第4図(e)に示すように、光ファイバ2Bを接続
点に近い所で切断する。図では接続点かrtnのところ
で光ファイバ2Bを切断しているが、とのαは1〜2惰
程度である。この切断後、光ファイバ2Bの切断点よシ
出射される光のパワー出力Pgを測定する。光ファイバ
2Bが当初tmであれば、この切断によシ本接続される
光ファイバ2Bは(t−α)情となる。
psの測定後、第4図(d)に示すように仮接続した所
を切断し、光フアイバ2人と、(t−α)rnとなった
光ファイバ2Bとを再び接続する(本接続工程)。その
後、第4図(e)に示すように接続部からのもれ光のパ
ワーP4を、第4図(b)に示した方法と同一の方法に
よシ測定する。
以上の作業によシ、本接続の接続損失りを次のようにし
て求める。
P4 L=−iokto(1)         (dB) 
     (1)1 である。Kは受光器3と光ファイバ2A、2Bとの距離
等に依存する値である。仮接続の接続損失Llは L’ =  101ssoK(1”” )  (dB)
  (2)l ともとまるが、LLはまた P’       (dB)  (31L’=−101
ogto(pv−) と表わされる。式(2)と式(3)からKをもとめ、式
(1)に代入することで、Lは次式となる。
L=−101og[1−伊一髪=]   (dB)  
+41P*Pm ガお、光源1と光フアイバ2人との結合効率を上けるた
め、第5図、第6図に示す方法が考えられる。第3図、
第4図では曲げ部2A&は手回の曲げであるが、給5図
に示すようにn回の波状曲げ及び第6図に示すようにn
回のコイル状曲げが考えられる。第5図はn=3の波状
曲げ、第6図はn = 2のコイル状曲げである。
また、接続部からのもれ光を受光器3で測定する方法と
して、第4図に示すようにA −A’力方向受光器3を
移動させる他に、第7図に示すように光ファイバ2A、
2Bを軸とするらせんに沿ったB−B’力方向受光器3
を移動させることも可能である。
また、この発明の方法にもとづく、接続損失測定装置は
、曲げ治具と、受光器と、受光器を光ファイバの軸にそ
って移動させる機構とからなる。
曲げ治具は、例えばM8図に示すように円柱4の周面に
周方向に沿って光フアイバ2人をそわせるものである。
第6図に示したコイル状曲げにするには、例えば円柱4
0回シに光フアイバ2人を巻きつけることで可能である
。また、第5図に示した波状曲げとするには、第9図に
示すように等間隔で平行に配された複数の円柱4A〜4
Eに対し、その円柱4を順次ジグザグに光フアイバ2人
を通すと共にその円柱の局面にそわせる。または如。
図に示すように平行に配された半円柱状突起5A〜5D
のある板6に光フアイバ2人を押しつけることで波状曲
げが可能となる。受光器3を光ファイバの軸にそって移
動させる機構は、受光器をモータ等で移動させれば実現
できる。
以上の説明では単心光ファイバを例にとった。
しかし、第11図に示すような複数心の光ファイバでも
、曲げ部で入射する光の波長をそれぞれ変え、各々の光
ファイバに異なる波長の光を入射させ、受光部でフィル
ターによシ分離させることで接続損失の同時測定が可能
である。なお第11図の7は被覆である。光パワーPl
、Pg、Pgの測定は前記の順に限らない。例えば光パ
ワーP1を沖」定後、光フアイバ2人と光ファイバ2B
とを切離した時に光パワーP1を測定してもよい、また
光パワーPgを測定後、元パワーPgを測定してよい。
〔効 果〕
以上説明したように、この発明の方法は光ファイバを曲
げ、その曲げ部分に光を照射することで光フアイバ内に
光を入射させ、仮接続工程と本接続工程との2回の接続
を行ない、それぞれにおける光フアイバ接続部からのも
れ光パワーを測定するものであるから、接続する場所で
元ファイバの接続損失を測定することができ、工事に必
要々要員数の減少、接続損失を算出するための連絡の不
要等の利点があ)、工事費の著しい低下、工事作業の著
しい簡素化が図れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の接続損失測定のための構成図、第2図は
従来の接続損失測定法の測定順を示す図、第3図はこの
発明の接続損失測定法のための構成図、第4図はこの発
明の接続損失測定法の測定順を示す図、第5図及び第6
図はそれぞれ光ファイバの曲げ部の他の例を示す斜視図
、第7図はもれ光の測定における受光器の移動方向の他
の例ゆす図、第8図乃至第10図はそれぞれ光ファイバ
の曲げ治具の例を示す斜視図、第11図は複数心の光フ
アイバ心線を示す斜視図である。 1:光源、2:光ファイバ、3:受光器、4:円柱、6
:突起板、7:被覆。 特許出願人 日本電信電話公社 代理人草野 卓 (11) 64− A74  図(d) ル 4 図(e) AA′ 定5図 1八 16図 尤7図 井 8図 手続補正書(自発) %許庁長宮 殿 1、事件の弄示  %軌間57−822392、発明の
名称 光フアイバ接続損失測定方法3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 日本電信電話公社 4、代 理 人  東京都新宿区新宿4−2−21  
相撲ビル6615 弁理士 草 野    卓・、・ 
・)5、補正の対象  特許請求の範囲の欄及び発明の
詳細な説明の欄及び図面の簡単な説明の欄及び図面 6、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の如く訂正する。 (2)明細書中鎖6頁9行「パワーPgを、」を「パワ
ーP2を測定する。この測定を正しく行うには例えば」
と訂正する。 (3)回書第8頁16行〜18行「ある。拳・・・受光
器を光フ」を次の如く訂正する。 「ある。或は第12図に示すように接続部の近傍におい
て光ファイバ2A、2Bに沿って複数の受光器3を配列
し、これら受光器3の出力を加算してもよい。更にこれ
ら受光器3の配列を第13図に示すように光ファイノ5
の局面において複数列設け、これらすべての受光器の出
力を加算してもよい。 また、この発明の方法にもとすく、接続損失測定装置け
、曲げ治具と、受光器と、必要に応じて受光器を光フ」 (4)同書第11頁6行「斜視図である。」を次の如く
訂正する。 「斜視図、第12図はファイバ接続部からのもれ光を測
定する他の例を示す図、第13図は第12図の変形例を
示す図である。」 (5)図面中に添付第12図及び第13図を加入する。 以   上 特Tjlf請求の範囲 (1)光ファイバAを曲げ、その光ファイバAの曲げ部
に光を照射することによシ光ファイバAK光を入射させ
、その光ファイバAの端面より出射する光パワーP1を
測定する第1工程と、前記光ファイバAの端面と接続さ
れるべき光ファイバBの端面とを接続し、その光ファイ
バA及び光ファイバBの接続部からのもれ光のパワーP
2を測定する第2工程と、光ファイバBを接続点に近い
所で短尺と長尺の2本に切断し、短尺の光ファイバBの
端面からの出射する光パワーP1を測定する第3工程と
、その後、光ファイバAと短尺光ファイバBの接続点を
切断し、再び光ファイバAと長尺の光ファイバBとを接
続し、その光ファイバ人と光ファイバBの接続部からの
もれ光のパワーP4を測定する第4工程とを備え、光フ
ァイバAと光ファイバBの接続損失L(dB)を、 の式によシ算出する光フアイバ接続損失測定方法。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光ファイバAを曲げ、その光ファイバAの曲げ部
    に光を照射するととによシ光ファイバAK光を入射させ
    、その光ファイバAの端面よシ出射する光パワーPlを
    測定する第1工程と、前記光ファイバAの端面と接続さ
    れるべき光ファイバBの端面とを接続し、その光ファイ
    バA及び光ファイバBの接続部からのもれ光のパワーP
    2を光ファイバの軸にそって受光器を動かすことによシ
    測定する第2工程と、光ファイバBを接続点に近い所で
    短尺と長尺の2本に切断し、短尺の光ファイバBの端面
    からの出射する光パワーPsを測定する第3工程と、そ
    の後、光ファイバ人と短尺光ファイバBの接続点を切断
    し、再び光ファイバAと長尺の光ファイバBとを接続し
    、その光ファイバAと光ファイバBの接続部からのもれ
    光を前記第2工程で行なったのと同一の方法によシ光フ
    ァイバの軸に(1) そって受光器を動かすことにより、もれ光パワーP4を
    測定する第4工程とを備え、光ファイバAと光ファイバ
    Bの接続損失L(dB)を、の式によシ算出する光フア
    イバ接続損失測定方法。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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