JPS58190788A - Ｘ線測定装置用監視装置 - Google Patents
Ｘ線測定装置用監視装置Info
- Publication number
- JPS58190788A JPS58190788A JP7353282A JP7353282A JPS58190788A JP S58190788 A JPS58190788 A JP S58190788A JP 7353282 A JP7353282 A JP 7353282A JP 7353282 A JP7353282 A JP 7353282A JP S58190788 A JPS58190788 A JP S58190788A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- operational activity
- reference value
- channel
- activity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＸ線エネルギー分光分析におけるパルス増幅器
の動作活性を監視する装置に関する。
の動作活性を監視する装置に関する。
Ｘ線分光分析の分野では分析感度の向上及び分析能率向
上の要求の絶える時がない。Ｘ線エネルギー分光方式は
分析能率の面で分光結晶を用いた波長分散方式よりも有
利であるので、この方式における分析感度２分析精度向
上の要求が強く、それに伴って比例計数管等のＸ線検出
器及びパルス増幅並びにパルス計数等の計測系の性能、
信頼性の向上も著るしい。しかし分析精度及び感度の向
上の要求が強いのでパルス増幅器等は常にその性能、信
頼性のギリギリの所で使われていると云った状況である
。従ってパルス増幅器等の動作活性のチェックと云うこ
とは常に必要なのであるが、従来適当な随時チェックの
方法がなかった。本発明はこのような状況に鑑み、計測
系の空き時間を利用し簡単な切換え操作によって計測系
の動作活性をチェックできるようにした装置を提供しよ
うとするものである。
上の要求の絶える時がない。Ｘ線エネルギー分光方式は
分析能率の面で分光結晶を用いた波長分散方式よりも有
利であるので、この方式における分析感度２分析精度向
上の要求が強く、それに伴って比例計数管等のＸ線検出
器及びパルス増幅並びにパルス計数等の計測系の性能、
信頼性の向上も著るしい。しかし分析精度及び感度の向
上の要求が強いのでパルス増幅器等は常にその性能、信
頼性のギリギリの所で使われていると云った状況である
。従ってパルス増幅器等の動作活性のチェックと云うこ
とは常に必要なのであるが、従来適当な随時チェックの
方法がなかった。本発明はこのような状況に鑑み、計測
系の空き時間を利用し簡単な切換え操作によって計測系
の動作活性をチェックできるようにした装置を提供しよ
うとするものである。
本発明は自然雑音を利用してＸ線測定装置の動作活性を
チェックすることを要旨とするものである。以下実施例
によって本発明を説明する。
チェックすることを要旨とするものである。以下実施例
によって本発明を説明する。
図は本発明の一実施例を示す。ｌは比例計数管、２．２
’＃はパルス波高分析器で夫々異る高さにウィンドウレ
ベルが設定されておシ、比例計数管］−の出力から夫々
設定された波高範囲のパルスを選別して、夫々対応する
パルス増幅器３，３１等に入力する。４，４′等はパル
ス計数装置で夫々対応するパルス増幅器３，３′等の出
力パルスを計数する。
’＃はパルス波高分析器で夫々異る高さにウィンドウレ
ベルが設定されておシ、比例計数管］−の出力から夫々
設定された波高範囲のパルスを選別して、夫々対応する
パルス増幅器３，３１等に入力する。４，４′等はパル
ス計数装置で夫々対応するパルス増幅器３，３′等の出
力パルスを計数する。
５は制御装置で監視モードに設定すると次のようなチェ
ック動作をする。まず波高分析器２のウィンドウをエネ
ルギーレベルの低い自然雑音が取出せるように設定し、
ゲート回路６を閉じ、パルス計数装置４をリセットし、
次に一定時間ゲート回路６を開いて、自然雑音のパルス
をパルス計数装置４で計数させ、ゲート回路６を閉じた
後、パルス計数装置４の計数値をメモリ７に記憶させで
ある基準値と比較し、計数値が基準値以上であればパル
ス増幅器３を含むチャンネルの動作活性は良告 と判定し、以下であるときは不良と判定して警造動作を
行って一つのチャンネルの監視を終了し、次に波高分析
器２＋、パルス増幅器３＋、パルス計数装置４１ゲー）
６１のチャンネルに対して上述した所と同じ動作を繰返
す。チャンネル数は測定しようとする元素数に応じて設
けられており、順次上述した動作を実行して行く。一つ
のチャンネルについてチェック動作が行わｉでいる間他
のチャンネルでは測定動作を行っていることができる。
ック動作をする。まず波高分析器２のウィンドウをエネ
ルギーレベルの低い自然雑音が取出せるように設定し、
ゲート回路６を閉じ、パルス計数装置４をリセットし、
次に一定時間ゲート回路６を開いて、自然雑音のパルス
をパルス計数装置４で計数させ、ゲート回路６を閉じた
後、パルス計数装置４の計数値をメモリ７に記憶させで
ある基準値と比較し、計数値が基準値以上であればパル
ス増幅器３を含むチャンネルの動作活性は良告 と判定し、以下であるときは不良と判定して警造動作を
行って一つのチャンネルの監視を終了し、次に波高分析
器２＋、パルス増幅器３＋、パルス計数装置４１ゲー）
６１のチャンネルに対して上述した所と同じ動作を繰返
す。チャンネル数は測定しようとする元素数に応じて設
けられており、順次上述した動作を実行して行く。一つ
のチャンネルについてチェック動作が行わｉでいる間他
のチャンネルでは測定動作を行っていることができる。
自然雑音は統計的に一定しているので、これを計数して
基準値と比較することにより計測系の動作活性のチェッ
クができるのである。
基準値と比較することにより計測系の動作活性のチェッ
クができるのである。
本発明によれば上述したように制御装置を監視モードに
設定するだけで、後は自然雑音を利用して自動的に計測
系の動作活性のチェックができ、測定開始前、試料交換
中等測定系の空いている時間中にチェックができるので
、随時監視が可能となり計測系の信頼性が高められる。
設定するだけで、後は自然雑音を利用して自動的に計測
系の動作活性のチェックができ、測定開始前、試料交換
中等測定系の空いている時間中にチェックができるので
、随時監視が可能となり計測系の信頼性が高められる。
図面は本発明の一実施例装置の構成を示すブロック図で
ある。 １・・・比例計数管、２，２１・・・パルス波高分析器
、３．３１・・・パルス増幅器、４，４１・・・パルス
計数装置、５・・・制御装置、６，６′・・・ゲート、
７・・・メモリ。 代理人 弁理士 軽 浩 介 手 続 補 正 書（自発） １、事件の表示 昭和５７年特許願第７３ら３２−７
デ ２、発明の名称 ×縁便ｊ２伎置吊監視笈ｉ ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 ４、代理人 ６、補正の対象 Ｂ目細書金文 ｉ 訂 正 明 細 書 １０発明の名称 Ｘ線測定装置用監視装置 ２、特許請求の範囲 監視モードに設定したとき、パルス波高分析器のウィン
ドウを自然雑音を取出せるように設定し、一定時間パル
ス増幅器の出力を計数してその計数値を基準値と比較す
る動作を各チャンネル毎に実行するようにした制御装置
よりなるＸ線測定装置用監視装置。 ３、発明の詳細な説明 本発明はＸ線エネルギー分光分析におけるパルス増幅器
の動作活性を監視する装置に関する。 Ｘ線分光分析の分野では分析感度の向上及び分析能率向
上の要求の絶える時がない。それに伴って比例計数管等
のＸ線検出器及びパルス増幅並びにパルス計数等の計測
系の性能、信頼性の向上も著るしい。しかし分析精度及
び感度の向上の要求が強いのでパルス増幅器等は常にそ
の性能、信頼性のギリギリの所で使われていると云った
状況である。従ってパルス増幅器等の動作活性のチェッ
クと云うことは常に必要なのであるが、従来適当な随時
チェックの方法がなかった。本発明はこのような状況に
鑑み、計測系の空き時間を利用し簡単な切換え操作によ
って計測系の動作活性をチェックできるようにした装置
を提供しようとするものである。 本発明は自然雑音を利用してＸ線測定装置の動作活性を
チェックすることを要旨とするものである。以下実施例
によって本発明を説明する。 図は本発明の一実施例を示す。１，１′は比例計数管〔
Ｘ線検出器）の出力を対応する２、２′のパルス増幅器
で増幅し３，３′の夫々異る高さにウィンドウレベルが
設定されているパルス波高分析器（Ｐ、Ｈ，Ａ）に送り
込むおり、比例計数管ｌの出力から夫々設定された波高
範囲のパルスを選別して、夫々対応するパルス増幅器３
．３′等に入力する。４．４′等はパルス計数装置で夫
々対応する設定された波高範囲のパルスを計数する。５
は制御装置で監視モードに設定すると次のようなチェッ
ク動作をする。まず波高分析器２のウィンドウをエネル
ギーレベルの低い自然雑音が取出せるように設定し、ゲ
ート回路６を閉じ、パルス計数装置４をリセットし、次
に一定時間ゲート回路６を開いて、自然雑音のパルスを
パルス計数装置４で計数させ、ゲート回路６を閉じた後
、ノ灼レス計数装置４の計数値をメモリ７に記憶させで
ある基準値と比較し、計数値が基準値以上であればＸ線
検出器１パルス増幅器２を含むチャンネルの動作活性は
良と判定し、以下であるときは不良と判定して警告動作
を行って一つのチャンネルの監視を終了し、次にパルス
増幅器２′、波高分析器３’ 、 ｉＲパルス数装置４
′ゲート６１のチャンネルに対して上述した所と同じ動
作を繰返す。チャンネル数は測定しようとする元素数に
応じて設けられており、順次上述した動作を実行して行
く。自然雑音は統計的に一定しているので、これを計数
して基準値と比較することにより計測系の動作活性のチ
ェックができるのである。なおＸ線検出器は半導体を用
いたものでもよいことはいうまでもない。 本発明によれば上述したように制御装置を監視モードに
設定するだけで、後は自然雑音を利用して自動的に計測
系の動作活性のチェックができ、測定開始前、試料交換
中等測定系の空いている時間中にチェックができるので
、随時監視が可能となり計測系の信頼性が高められる。 生 図面の簡単な説明 図面は本発明の一実施例装置の構成を示すブロック図で
ある。 １．１’＝−・比例計数管ｃＸ線検出器〕、２．２′・
・・パルス増幅器、３．３１・・・パルス波高分析器、
４゜４′・・・パルス計数装置、５・・・制御装置、６
．６′・・・ゲート、７・・・メモリ。
ある。 １・・・比例計数管、２，２１・・・パルス波高分析器
、３．３１・・・パルス増幅器、４，４１・・・パルス
計数装置、５・・・制御装置、６，６′・・・ゲート、
７・・・メモリ。 代理人 弁理士 軽 浩 介 手 続 補 正 書（自発） １、事件の表示 昭和５７年特許願第７３ら３２−７
デ ２、発明の名称 ×縁便ｊ２伎置吊監視笈ｉ ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 ４、代理人 ６、補正の対象 Ｂ目細書金文 ｉ 訂 正 明 細 書 １０発明の名称 Ｘ線測定装置用監視装置 ２、特許請求の範囲 監視モードに設定したとき、パルス波高分析器のウィン
ドウを自然雑音を取出せるように設定し、一定時間パル
ス増幅器の出力を計数してその計数値を基準値と比較す
る動作を各チャンネル毎に実行するようにした制御装置
よりなるＸ線測定装置用監視装置。 ３、発明の詳細な説明 本発明はＸ線エネルギー分光分析におけるパルス増幅器
の動作活性を監視する装置に関する。 Ｘ線分光分析の分野では分析感度の向上及び分析能率向
上の要求の絶える時がない。それに伴って比例計数管等
のＸ線検出器及びパルス増幅並びにパルス計数等の計測
系の性能、信頼性の向上も著るしい。しかし分析精度及
び感度の向上の要求が強いのでパルス増幅器等は常にそ
の性能、信頼性のギリギリの所で使われていると云った
状況である。従ってパルス増幅器等の動作活性のチェッ
クと云うことは常に必要なのであるが、従来適当な随時
チェックの方法がなかった。本発明はこのような状況に
鑑み、計測系の空き時間を利用し簡単な切換え操作によ
って計測系の動作活性をチェックできるようにした装置
を提供しようとするものである。 本発明は自然雑音を利用してＸ線測定装置の動作活性を
チェックすることを要旨とするものである。以下実施例
によって本発明を説明する。 図は本発明の一実施例を示す。１，１′は比例計数管〔
Ｘ線検出器）の出力を対応する２、２′のパルス増幅器
で増幅し３，３′の夫々異る高さにウィンドウレベルが
設定されているパルス波高分析器（Ｐ、Ｈ，Ａ）に送り
込むおり、比例計数管ｌの出力から夫々設定された波高
範囲のパルスを選別して、夫々対応するパルス増幅器３
．３′等に入力する。４．４′等はパルス計数装置で夫
々対応する設定された波高範囲のパルスを計数する。５
は制御装置で監視モードに設定すると次のようなチェッ
ク動作をする。まず波高分析器２のウィンドウをエネル
ギーレベルの低い自然雑音が取出せるように設定し、ゲ
ート回路６を閉じ、パルス計数装置４をリセットし、次
に一定時間ゲート回路６を開いて、自然雑音のパルスを
パルス計数装置４で計数させ、ゲート回路６を閉じた後
、ノ灼レス計数装置４の計数値をメモリ７に記憶させで
ある基準値と比較し、計数値が基準値以上であればＸ線
検出器１パルス増幅器２を含むチャンネルの動作活性は
良と判定し、以下であるときは不良と判定して警告動作
を行って一つのチャンネルの監視を終了し、次にパルス
増幅器２′、波高分析器３’ 、 ｉＲパルス数装置４
′ゲート６１のチャンネルに対して上述した所と同じ動
作を繰返す。チャンネル数は測定しようとする元素数に
応じて設けられており、順次上述した動作を実行して行
く。自然雑音は統計的に一定しているので、これを計数
して基準値と比較することにより計測系の動作活性のチ
ェックができるのである。なおＸ線検出器は半導体を用
いたものでもよいことはいうまでもない。 本発明によれば上述したように制御装置を監視モードに
設定するだけで、後は自然雑音を利用して自動的に計測
系の動作活性のチェックができ、測定開始前、試料交換
中等測定系の空いている時間中にチェックができるので
、随時監視が可能となり計測系の信頼性が高められる。 生 図面の簡単な説明 図面は本発明の一実施例装置の構成を示すブロック図で
ある。 １．１’＝−・比例計数管ｃＸ線検出器〕、２．２′・
・・パルス増幅器、３．３１・・・パルス波高分析器、
４゜４′・・・パルス計数装置、５・・・制御装置、６
．６′・・・ゲート、７・・・メモリ。
Claims (1)
- 監視モードに設定したとき、パルス波高分析器のウィン
ドウを自然雑音を取出せるように設定し、一定時間パル
ス増幅器の出力を計数してその計数監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7353282A JPS58190788A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Ｘ線測定装置用監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7353282A JPS58190788A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Ｘ線測定装置用監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58190788A true JPS58190788A (ja) | 1983-11-07 |
| JPH0454193B2 JPH0454193B2 (ja) | 1992-08-28 |
Family
ID=13520930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7353282A Granted JPS58190788A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Ｘ線測定装置用監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58190788A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005321274A (ja) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 線量検出器および線量計 |
| JP2008292245A (ja) * | 2007-05-23 | 2008-12-04 | Toshiba Corp | 放射線検出器 |
| US9839794B2 (en) | 2014-07-14 | 2017-12-12 | Mitsubishi Electric Corporation | Particle beam therapy apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5432184U (ja) * | 1977-08-05 | 1979-03-02 |
-
1982
- 1982-04-30 JP JP7353282A patent/JPS58190788A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5432184U (ja) * | 1977-08-05 | 1979-03-02 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005321274A (ja) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 線量検出器および線量計 |
| JP4501523B2 (ja) * | 2004-05-07 | 2010-07-14 | 富士電機システムズ株式会社 | 線量検出器および線量計 |
| JP2008292245A (ja) * | 2007-05-23 | 2008-12-04 | Toshiba Corp | 放射線検出器 |
| US9839794B2 (en) | 2014-07-14 | 2017-12-12 | Mitsubishi Electric Corporation | Particle beam therapy apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0454193B2 (ja) | 1992-08-28 |
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