JPS58190783A - Inspector for electronic appliance - Google Patents
Inspector for electronic applianceInfo
- Publication number
- JPS58190783A JPS58190783A JP57072684A JP7268482A JPS58190783A JP S58190783 A JPS58190783 A JP S58190783A JP 57072684 A JP57072684 A JP 57072684A JP 7268482 A JP7268482 A JP 7268482A JP S58190783 A JPS58190783 A JP S58190783A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- inspection
- test
- signal
- electronic device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、電子機器を構成する複数の回路を順次検査
し、補修等の後で特定される回路を再度検査する電子機
器検査装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an electronic device testing device that sequentially tests a plurality of circuits constituting an electronic device and retests identified circuits after repair or the like.
電子機器を構成する複数の回路を検査する場合、通常次
のように行なわれている。すなわち、検査の対象となる
電子機器に組み込まれた電子回路が正常に動作するか確
かめるには、まず検査装置から電子機器内の各回路に対
して特定された順位にしたがって検査信号を出力すみ。When inspecting a plurality of circuits that constitute an electronic device, it is usually carried out as follows. In other words, in order to confirm whether the electronic circuits incorporated in the electronic device to be tested are operating normally, the testing device first outputs test signals to each circuit in the electronic device according to a specified order.
そして、電子機器内の各回路は、この検査信号に対応し
て応答信号を発生するようになる。ここで、検査装置は
、検査信号を正常に動作する電子機器内の回路に送つた
場合に推定できる基準応答信号を、あらかじめ記憶して
いるものでらシ、したがって回路部からの応答信号と基
準信号を比較することで回路動作の良否確認ができる。Each circuit within the electronic device then generates a response signal in response to this test signal. Here, the test device does not have a pre-memorized reference response signal that can be estimated when a test signal is sent to a normally operating circuit in an electronic device. By comparing the signals, it is possible to check whether the circuit is operating properly.
そして、この検査装置は、検査項目に対応した各種の検
査信号を検査番号順に電子機器へ送りて、上記のような
比較動作を繰シ返し、各検査結果を記憶設定する。すべ
ての検査を終了すると、この記憶された結果をディスグ
レイ装置に表示させるようになっている。Then, this inspection device sends various inspection signals corresponding to the inspection items to the electronic device in the order of inspection numbers, repeats the comparison operation as described above, and stores and sets each inspection result. When all tests are completed, the stored results are displayed on the display device.
ここでｎ個の検査項目に対して、検査番号Ｎ１ 、Ｎ
ｌ ＃Ｎｌ・・・Ｎｏを付けたとすると、先頭におる
特定の検査番号Ｎｌから常圧検査が開始されてＮ、、！
ｉ、・・・というように、連続した検査番号の順に検査
を行なっていた。Here, for n inspection items, inspection numbers N1, N
l #Nl...If No is added, the normal pressure test will start from the specific test number Nl at the beginning, and N...!
Inspections were performed in the order of consecutive inspection numbers, such as i, . . . .
すなわち、特定される先頭の検査番号Ｎ１から検査が開
始され、最後の検査番号Ｎｆｌで検査が終了して、その
検査結果がディスプレイ装置に表示される。そして、こ
の検査結果で不良項目を発見した場合には、これの修理
等を行なった後に再び検査を行なうものであるが、この
場合もやはり先頭の検査項目Ｎ】から開始される。That is, the test is started from the first test number N1 identified, and ends at the last test number Nfl, and the test results are displayed on the display device. If a defective item is found as a result of this inspection, it is repaired and then inspected again, but in this case as well, the inspection starts from the first inspection item N].
したがって、例えば不良項目が検査番号Ｎ１であった場
合、検査を必要としないＮｘ−Ｎ１−１１での項目を無
駄に再検査することになる。Therefore, for example, if the defective item is inspection number N1, the items at Nx-N1-11 that do not require inspection will be re-inspected in vain.
この発明は上記のような問題点を解決するためＫなされ
たもので、特に再検査等の場合に、不易ｉｎ検査項目を
できるだけ削減して、検査効軍を向上させるようにした
電子機器検査装置を提供することを目的とする。This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and is an electronic equipment inspection device that reduces the number of difficult inspection items as much as possible and improves the inspection effectiveness, especially in the case of re-inspection etc. The purpose is to provide
すなわち、この発明に係る電子機器検査装置は、複数の
検査項目のそれぞれに対応する検査番号にもとづを組み
合わされる検査信号および基準応答信号を記憶する回路
と、検査を開始する任意の検査番号を設定する検査番号
設定回路と、上記検査番号設定回路で設定される検査番
号と上記記憶回路内の検査番号を照合する比較照合回路
と、この比較照合回路で照合され電数した検査番号にも
とづき検査対象となる電子機器に検査信号を送出してこ
れに対する応答信号により回路動作の良否を決定する判
断回路と、上記判断回路からの検査結果を表示する手段
とを具備したことを特徴とする。That is, the electronic device testing device according to the present invention includes a circuit that stores test signals and reference response signals that are combined based on test numbers corresponding to each of a plurality of test items, and an arbitrary test number for starting the test. An inspection number setting circuit that sets the inspection number, a comparison verification circuit that matches the inspection number set by the inspection number setting circuit with the inspection number in the storage circuit, and a comparison verification circuit that compares and digitizes the inspection number by this comparison and verification circuit. The present invention is characterized by comprising a judgment circuit that sends a test signal to an electronic device to be tested and determines whether the circuit operation is good or bad based on a response signal thereto, and means for displaying the test results from the judgment circuit.
以下図面を参照してこの発明の一実施例を脱明する。添
付図面はその構成を示したもので、検査装置１０に対し
て、信号線によシミ子機器１１が接続される。そして、
検査装置１０から電子機器１１に検査信号を送シ、この
電子機器１１からの応答信号を検査装置１０に伝送する
ようになりている。ここで上記検査装置１０は、各検査
項目に対応した検査番号Ｉ２、検査信号１３および基準
応答信号１４を、番号単位に１組となるようにして、こ
の検査項目の数だけ順位性をもりて記憶回路１５にあら
かじめ格納しである。ｔた、検査を開始する番号を指定
する検査番号設定回路１６を備え、ここで設定された番
号は比較照合回路１７に供給し、上記記憶回路１６から
読み出された検査番号１２と照合踵その結果を判断回路
１８に供給する。この判断回路１８には、検査の開始お
よび終了を指令する操作回路１９からの信号を供給する
。すなわち、この操作回路１９で開始の指示をすると、
上記検査番号設定回路１６に設定されている開始番号と
なる検査番号１２に対応した検査信号１３を判断回路１
８に転送するようＫしである。この判断回路１８から送
られてくる検査信号１３は出力回路２０を介して電子機
器１１に伝送し、また電子機器１１から送られてくる応
答信号は入力回路２１を介して判断回路１８に入力する
。この出力回路２０および入力回路２１は、異なる入出
力信号処理系を判断回路１８に結合できるように信号調
整を行なうもので、また判断回路１８では、各伝送され
る信号の中央処理制御を行なう。この各検査結果は、全
項目の検査が終了するまで検査結果記憶回路ｘｚＶｃ格
納され、最後にディスグレイ装置２３で結果の表示をす
るようにしである。An embodiment of the present invention will be explained below with reference to the drawings. The attached drawings show the configuration, and a stain device 11 is connected to the inspection device 10 by a signal line. and,
A test signal is transmitted from the test device 10 to the electronic device 11, and a response signal from the electronic device 11 is transmitted to the test device 10. Here, the inspection device 10 sets the inspection number I2, inspection signal 13, and reference response signal 14 corresponding to each inspection item into one set for each number, and ranks them by the number of inspection items. It is stored in the memory circuit 15 in advance. In addition, an inspection number setting circuit 16 is provided for specifying a number to start the inspection, and the number set here is supplied to a comparison and verification circuit 17, and the inspection number 12 read from the storage circuit 16 and the verification heel are supplied. The result is supplied to the judgment circuit 18. This judgment circuit 18 is supplied with a signal from an operation circuit 19 that instructs the start and end of the test. That is, when a start instruction is given using this operation circuit 19,
The judgment circuit 1 outputs the test signal 13 corresponding to the test number 12, which is the starting number set in the test number setting circuit 16.
K told me to transfer it to 8. The test signal 13 sent from the judgment circuit 18 is transmitted to the electronic device 11 via the output circuit 20, and the response signal sent from the electronic device 11 is input to the judgment circuit 18 via the input circuit 21. . The output circuit 20 and the input circuit 21 perform signal adjustment so that different input/output signal processing systems can be coupled to the judgment circuit 18, and the judgment circuit 18 performs central processing control of each transmitted signal. The test results are stored in the test result storage circuit xzVc until all the items have been tested, and finally the results are displayed on the display device 23.
すなわち、上記のように構成される装置において、通常
の検査工程で使用する場合には、検査番号設定回路ｚ６
で先頭の検査番号Ｎ１を指定し、検査番号Ｎ１から最後
のＮｎまでの各検査工程を連続的に実行する。そして、
その結果をディスグレイ族ｆ２ｓで表示し、例えば故障
個所等をピ、クア、プし、電子機器１１の補修、調整等
を実行する。そして、その後に再びその補修結果叫をチ
ェックする時には次のように行なう・
例えば、上記検査の結果、再チエツクの必要な項目が検
査番号Ｎ１１２であった場合、まずこの開始番号Ｎｌを
検査番号設定回路１６に設定して、操作回路１９で検査
開始を指示する・すると、設定した開始番号Ｎ、と記憶
回路Ｉｓ内の検査番号Ｎ、 １２が比較照合回路１７で
照合され。That is, in the apparatus configured as described above, when used in a normal inspection process, the inspection number setting circuit z6
The first inspection number N1 is specified, and each inspection process from inspection number N1 to the last inspection number Nn is executed continuously. and,
The results are displayed in the display gray family f2s, and, for example, a faulty location is identified, and the electronic device 11 is repaired or adjusted. Then, when checking the repair result again after that, do the following. For example, if the result of the above inspection is that the item that needs to be checked again is inspection number N112, first set this starting number Nl as the inspection number. When the test number is set in the circuit 16 and the operation circuit 19 is used to instruct the start of the test, the comparison and verification circuit 17 compares the set start number N with the test number N, 12 in the memory circuit Is.
この検査番号Ｎ１ｚ２に対応する検査信号８ｉ１３が判
断回路１１に転送される。ここで判断回路１８は、この
検査信号８ｉ１３を出力回路２０を介して電子機器１１
に伝送し、検査の対象回路の動作を促す、こうして供給
された検査信号も１う
拘連」Ｋより、この回路は応答信号を発生し、この応答
信号は検査装置１０に設けられた入力回路２１を介して
判断回路１８に伝送される。The test signal 8i13 corresponding to this test number N1z2 is transferred to the determination circuit 11. Here, the determination circuit 18 outputs this test signal 8i13 to the electronic device 11 via the output circuit 20.
This circuit generates a response signal, and this response signal is transmitted to the input circuit provided in the inspection device 10. 21 to the judgment circuit 18.
そして、判断回路１８は、配憶回路１５内に格ｇ□１３
納されていて、上記の検査信号町４４に対応する基準応
答信号Ｒ１１４を取り出し、この応答信号と比較して決
定した検査結果を検査結果記憶回路２２に転送する。Then, the judgment circuit 18 takes out the reference response signal R114 stored in the storage circuit 15 and corresponds to the above-mentioned inspection signal line 44, and compares it with this response signal to determine the determined inspection result. The test results are transferred to the test result storage circuit 22.
以上が検査番号ＮＩＺＪＫ対する処理であるが、これに
続く番号Ｎｌ＋４．Ｎｌ＋２ ”・・・、Ｎｎの検査項
目は以後順次に上記と同じような処理がなされる。そし
て、全項目の検査が終了すると、判断回路１８はディス
プレイ装置２３に検査結果を表示させる。The above is the processing for inspection number NIZJK, and the following number Nl+4. Nl+2'', . . . , Nn inspection items are thereafter sequentially subjected to the same processing as above. Then, when all the items have been inspected, the judgment circuit 18 causes the display device 23 to display the inspection results.
以上のようにこの発明に係る電子機器検査装置は・複数
の検査項目のそれぞれに対応する検査番号にもとづき組
み合わされる検査信号および基準応答信号を記憶する回
路と、検査を開始する任意の検査番号を設定する検査番
号設定回路と、上記検査番号設定回路で設定される検査
番号と上記記憶回路内の検査番号を照合する比較照合回
路と、この比較照合回路で照合され一致した検査番号に
もとづき検査対象となる電子機器に検査信号を送出して
これに対する応答信号により回路動作の良否を決定する
判断回路と、上記判断回路からの検査結果を表示する手
段とを具備したことを特徴とするもので、従来のように
、常に検査番号Ｎ、からＮｎ′ｔでのすべての検査を実
行するようなことなく、希望する任意の検査番号Ｎ、を
設定して検査を開始することがで断る。ゆえに検査番号
Ｎ１−Ｎ１−４までの不要な検査を省略して検査時間を
短縮することになる。As described above, the electronic device testing device according to the present invention includes: a circuit that stores test signals and reference response signals that are combined based on test numbers corresponding to each of a plurality of test items; and a circuit that stores an arbitrary test number for starting a test. An inspection number setting circuit to be set; a comparison and verification circuit that compares the inspection number set by the inspection number setting circuit with the inspection number in the storage circuit; It is characterized by comprising a judgment circuit that sends a test signal to an electronic device and determines whether the circuit operation is good or bad based on a response signal thereto, and means for displaying the test result from the judgment circuit, Instead of always executing all the tests from test number N to Nn't as in the past, it is possible to set any desired test number N and start the test. Therefore, unnecessary tests up to test numbers N1-N1-4 are omitted, thereby shortening the test time.
図面はこの発明の一実施例を説明するためのもので、電
子機器検査装置のブロック図である・１０・・・電子機
器検査装置、１１・・・電子機器、１２・・・検査番号
、１３・・・検査信号、Ｉ４・・・基準応答信号、１５
・・・記憶回路、１６・・・検査番号設定回路、１７・
・・比較照合回路、１ｇ・・・判断回路、１９・・・操
作回路、ＪＯ・・・出力回路、２１・・・入力回路、２
２・・・検査結果記憶回路、２３・・・ディスプレイ装
置。The drawing is for explaining one embodiment of the present invention, and is a block diagram of an electronic device inspection device. 10...Electronic device inspection device, 11...Electronic device, 12...Inspection number, 13 ...Inspection signal, I4...Reference response signal, 15
...Memory circuit, 16...Inspection number setting circuit, 17.
... Comparison and verification circuit, 1g ... Judgment circuit, 19 ... Operation circuit, JO ... Output circuit, 21 ... Input circuit, 2
2... Test result storage circuit, 23... Display device.
Claims (1)
き組み合わされる検査信号および基準応答信号を記憶す
る回路と、検査を開始する任意の検査番号を設定する検
査番号設定回路と、上記検査番号設定回路で設定される
検査番号と上記記憶回路内の検査番号を照合する比較照
合回路と、この比較照合回路で照合され一致した検査番
号にもとづき検査対象となる電子機器に検査信号を送出
してこれに対する応答信号により回路動作の良否を決定
する判断回路と、上記判断回路からの検査結果を表示す
る手段とを具備したことを特徴とする電子機器検査装置
。A circuit that stores test signals and reference response signals that are combined based on test numbers corresponding to each of a plurality of test items, a test number setting circuit that sets an arbitrary test number for starting a test, and the test number setting circuit described above. A comparison and verification circuit that compares the set inspection number with the inspection number in the storage circuit, and a response to the comparison and verification circuit that sends a test signal to the electronic device to be tested based on the matched test number. An electronic device testing device comprising: a judgment circuit that determines the quality of circuit operation based on a signal; and means for displaying the test results from the judgment circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57072684A JPS58190783A (en) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Inspector for electronic appliance |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57072684A JPS58190783A (en) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Inspector for electronic appliance |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58190783A true JPS58190783A (en) | 1983-11-07 |
Family
ID=13496443
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57072684A Pending JPS58190783A (en) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Inspector for electronic appliance |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58190783A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000515662A (en) * | 1996-08-07 | 2000-11-21 | マイクロン、テクノロジー、インコーポレーテッド | System for optimizing test and repair times of defective integrated circuits |
-
1982
- 1982-04-30 JP JP57072684A patent/JPS58190783A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000515662A (en) * | 1996-08-07 | 2000-11-21 | マイクロン、テクノロジー、インコーポレーテッド | System for optimizing test and repair times of defective integrated circuits |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS58190783A (en) | Inspector for electronic appliance | |
| US4647846A (en) | Method and means for testing multi-nodal circuits | |
| JPS5946561A (en) | Inspector for electronic appliance | |
| JPH10300812A (en) | Semiconductor testing device | |
| JPH09178807A (en) | Automatic handler for ic inspection | |
| JPH0855498A (en) | Control circuit for write-in of memory tester | |
| JPS61266973A (en) | Checking device for burn-in testing machine | |
| KR100305762B1 (en) | Device test device on board | |
| JP2933028B2 (en) | Semiconductor integrated circuit inspection equipment | |
| JP2980695B2 (en) | How to print inspection data on a measuring device | |
| JPH04369045A (en) | Method for inspecting microcomputer | |
| JP2504947B2 (en) | Display device inspection device | |
| JPS5853839A (en) | Integrated circuit | |
| JPS63269238A (en) | Inspection equipment for control unit | |
| JPH01134278A (en) | Test method for lsi and lsi tester | |
| JPH0530778U (en) | Faulty LSI detection system | |
| JPH08315597A (en) | Ic test equipment | |
| JPS61150029A (en) | Inspection device of crt pattern program | |
| JPS59173853A (en) | Testing device | |
| JPH10275835A (en) | Wafer test device | |
| JPH0245778A (en) | Device and method for inspecting semiconductor integrated circuit | |
| JPH07128400A (en) | Self-inspection equipment for semiconductor device | |
| JPH01274079A (en) | Apparatus for checking control circuit | |
| JPS63159772A (en) | Semiconductor testing device | |
| JPS59132377A (en) | Inspection device for integrated circuit |