JPS5818959A - Memory cell arrangement - Google Patents

Memory cell arrangement

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JPS5818959A
JPS5818959A JP56117322A JP11732281A JPS5818959A JP S5818959 A JPS5818959 A JP S5818959A JP 56117322 A JP56117322 A JP 56117322A JP 11732281 A JP11732281 A JP 11732281A JP S5818959 A JPS5818959 A JP S5818959A
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JP
Japan
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parallel
series
transistors
memory
contact
Prior art date
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JP56117322A
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JPH0447464B2 (en
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Takaaki Hayashi
孝明 林
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Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10BELECTRONIC MEMORY DEVICES
    • H10B20/00Read-only memory [ROM] devices

Abstract

PURPOSE:To obtain an ROM cell alley of large capacitance without lagging access time by a method wherein, in the case of ROM IC, the memory element consisting of MOS transistors is connected in series and in parallel to row selective lines or column selective lines. CONSTITUTION:The diffusion layers 6-9 having a column signal is connected in parallel to the contact 10 which constitutes an MOS cell alley, the MOS transistors of the polycrystalline Si on the row selective line 2 are connected in eight- stage series, and the ROM cell alley of four-parallel and eight-stage series connection is formed. The memory cell is constituted as above, and the column signal lines 6-9 on the diffusion layer which were connected in parallel to the contact 10 are selected by column signal selective lines 3 and 4. At this point, the interval in the column direction is determined by the channel width of the transistors and the metal width which is equal to the former, but the interval at the contact part 10 is provided wider than the above, because a hole is provided there. Also, the row interval is determined in accordance with the arragement of the series connection of the eight-stage transistors as shown by 2 in the diagram and the arrangement of the transistor to be used for two-step switching as shown by 3 and 4 in the diagram.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、リードオンメモ!J(ROM)集積回路の記
憶回路に関する。本発明は、リードオンリメモリ集積回
路(以後ROMと呼ぶ)の記憶回路部が、Mo1)ラン
ジスタからなる記憶素子(以後メモリ・セルと呼ぶ)の
直列かつ並列接続(以後直並列接続と呼ぶ)により構成
される事を特徴とする。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides Read-on Memo! The present invention relates to a memory circuit of a J(ROM) integrated circuit. The present invention provides that the storage circuit section of a read-only memory integrated circuit (hereinafter referred to as ROM) is constructed by serially and parallelly connecting (hereinafter referred to as series-parallel connection) memory elements (hereinafter referred to as memory cells) consisting of Mo1 transistors. It is characterized by being composed of

最近の大規模集積回路(bs工)の発展は目覚ましく、
ffイクロプロセッサの高性能化及び半導体メモリの高
速化、高密度化に対する進歩は著しい。この様な状況に
おいて、マイクロプロセッサ応用製品が数多く開発され
、それに伴い小型で大容量のROMが要求されている。
Recent developments in large-scale integrated circuits (BS engineering) have been remarkable.
There has been remarkable progress in improving the performance of FF microprocessors and increasing the speed and density of semiconductor memories. Under these circumstances, many microprocessor-applied products have been developed, and as a result, small-sized, large-capacity ROMs are required.

一般的なROMの構成は、第1図に示される。The configuration of a typical ROM is shown in FIG.

この中において、ROMチップ面積を一番多く専有する
部分は、メモリ・セルから構成される、第1図(5)の
メモ母・セル・マトリクス配列部(以後、セル・アレー
と呼ぶンである。ゆえに、メそりの大容量化に際し、こ
のセル・アレーの叩積を小さくすることが要求されてい
る。
Among these, the part that occupies the largest area of the ROM chip is the memory cell matrix array section (hereinafter referred to as the cell array) shown in FIG. 1 (5), which is composed of memory cells. Therefore, when increasing the capacity of mesori, it is required to reduce the stacking capacity of this cell array.

従来のROMセルセル−−は、MOSトランジスタで構
成する場合、基本的に、アドレス信号をROMチップ内
部において2分割し、行選択信号と列選択信号にデコー
ドし、各行列の交点に配置したメモリ・セル用のMOS
)ランジスタに固定された1ビツトデータを選択する方
法がとられている。図2は、基本的な、メモリ・セル1
個とコンタクト1個で構成されるセル・アレーである。
When a conventional ROM cell is constructed with MOS transistors, the address signal is basically divided into two parts inside the ROM chip, decoded into a row selection signal and a column selection signal, and then a memory cell is placed at the intersection of each matrix. MOS for cells
) A method is used in which 1-bit data fixed in a transistor is selected. FIG. 2 shows a basic memory cell 1
This is a cell array consisting of one contact and one contact.

このセル・アレーは、メモリ・セル1個に対してコンタ
クト部1個が使われる為、メモリ・セルと同容量数のコ
ンタクトが使われセル・アレーの面積は大きい。第3図
は、コンタクト1個に対して、メモリ・セル2個を並列
に接続した場合である。□このセル・アレーは、第2図
のセル・アレーに比較して、1個のメモリ・セルの占め
るコンタクト部の面積が半分になり、第2図よりは、セ
ル・アレー面積は小さくなるが、メモリ・セル容量数の
半分のコンタクトが使われ、まだチップの面積は大きい
In this cell array, one contact portion is used for one memory cell, so contacts with the same capacity as the memory cell are used, and the area of the cell array is large. FIG. 3 shows a case where two memory cells are connected in parallel to one contact. □This cell array has half the area of the contact area occupied by one memory cell compared to the cell array shown in Figure 2, and although the cell array area is smaller than that shown in Figure 2. , half the number of contacts as memory cell capacity is used, and the chip area is still large.

タクト1個に対して、直列に接続されている場合である
。この直列に接続されたMOS)ランジスタの段数は一
般的には、1段(露==1.2.!。
This is a case in which they are connected in series for one takt. The number of stages of these MOS transistors connected in series is generally one stage (1.2.!).

・・・)となり、メモリ・セルfimの占めるコンタク
ト面積は、’/”2” で、直列段数を増やせば、メモ
リ・セルのすイズは、はぼMOS)ランジスタの、占有
するサイズのみとなる。この直列接続方式は、第3図の
並列接続方式に比べて、メモリ・セル−サイズが、小さ
くなり、大量のROMデータを高密度に集積できるが、
反面アクセスタイムがM(Ml)ランジスタの直列個数
に依存し、直列個数の増加と共に遅くなる欠点を有して
いる。
), the contact area occupied by the memory cell fim is '/2'', and if the number of series stages is increased, the size of the memory cell becomes only the size occupied by the MOS transistor. . This series connection method has a smaller memory cell size than the parallel connection method shown in FIG. 3, and can integrate a large amount of ROM data with high density.
On the other hand, it has the disadvantage that the access time depends on the number of M (Ml) transistors connected in series and becomes slower as the number of transistors in series increases.

本発明は、このようなアクセスタイムの速い、メモリ・
セル並列接続回路と、高密度化の可能な、メモリ・セル
直列接続回路を適切に組合わせる事によりアクセスタイ
ムが速くかつチップサイズも小さい。効率的なメモリ・
セル・アレーを提供するものである。
The present invention provides such a memory with fast access time.
By appropriately combining a cell parallel connection circuit and a memory cell series connection circuit capable of increasing density, access time is fast and the chip size is small. Efficient memory
It provides a cell array.

第5図は、本発明による直並列聾ROMセル・アレーで
ある。第5図(10)のコンタクトに、(6)e (7
)、(s)、(9)の列信号を持つ拡散層が並列に接続
し、(2)の行信号線のポリシリコンによるMOI9)
ランジスタが8段直列に接続されている、4並列8段直
列接続のROMセル・アレーである。(10)のコンタ
クトに並列に接続された(6)e C7”)# (8)
#(9)の拡散層による列信号線は、(5)# (4)
の列信号選択線により選択される。例えば、(12)の
MCI)ランジスタが、ディプレジ冒ン型、(13)の
MOS)ランジスタがエンノ1ンスメント型の場合、(
’14 )の行選択線と(3)の列選択線が選択された
場合、コンタク)(10)は、(ア)の拡散層が、選択
され接続される。
FIG. 5 is a series-parallel deaf ROM cell array according to the present invention. (6) e (7
), (s), and (9) column signals are connected in parallel, and the row signal line (2) has an MOI of 9) made of polysilicon.
This is a ROM cell array with 4 parallel and 8 stages connected in series, in which 8 stages of transistors are connected in series. (6)e C7”) # (8) connected in parallel to the contact of (10)
The column signal line using the diffusion layer #(9) is (5) # (4)
is selected by the column signal selection line. For example, if the (MCI) transistor in (12) is a depletion expansion type, and the MOS) transistor in (13) is an enhancement type, then (
When the row selection line (14) and the column selection line (3) are selected, the diffusion layer (A) is selected and connected to the contact (10).

メそり・セルアレーについては、列方向のfi[は、メ
毫り・セルを構成するM08トランジスタのチャンネル
巾とメタル巾は等しいが、コンタクト部のメタルは、コ
ンタクト・ホールをあけるため、チャネル巾より広くな
り、この部分のメタル間隔で決定される。それゆえに、
第5図の根に、C6)、(7)の2本の拡散層に1つの
コンタク)(10)を入れ、さらに第3図に示した考え
方と同様な、対向する(8)# (9)の拡散層を(1
0)のコンタクトに入れると、4つの拡散層が並列に入
り、効率的なセル・アレーとなる。次に行間隔について
は、一般的な0M0Sプロセツサ等のアクセスタイムを
考慮して、第5e(2)の様な8段のMOS)ランジス
タの直列接続と、(3)#(4)O様な2段の拡散層切
り換え用MOSトランジスタで構成するのが効率的なセ
ル・アレーとなる。この様にして、第5図の様な、2つ
の並んだ拡散層が、1個のコンタクトに対向して配列し
、その各拡散層には、メモリ“・セルが8段直列に接続
され、さらに2本の列信号選択線により、拡散層が選択
される、直並列接続のセル・アレーが発明された。
Regarding the mesori cell array, fi[ in the column direction is equal to the channel width and metal width of the M08 transistor constituting the mesori cell. It becomes wider and is determined by the metal spacing in this part. Hence,
At the root of Figure 5, put one contact (10) in the two diffusion layers C6) and (7), and then add (8) # (9 ) diffusion layer (1
0), four diffusion layers are inserted in parallel, resulting in an efficient cell array. Next, regarding the line spacing, considering the access time of a general 0M0S processor, etc., we will use a series connection of 8 stages of MOS transistors like 5e (2) and a series connection like (3) #(4) O. An efficient cell array is constructed with two stages of diffusion layer switching MOS transistors. In this way, as shown in FIG. 5, two side-by-side diffusion layers are arranged facing one contact, and eight memory cells are connected in series to each diffusion layer. Furthermore, a series-parallel connected cell array was invented in which the diffusion layers were selected by two column signal selection lines.

以上述べた様に、本発明による直並列接続のメモリ・セ
ルアレーを使用すれば、アクセスタイムを遅くせずに大
容量のROMセル・アレーが実現できる。
As described above, by using the series-parallel connected memory cell array according to the present invention, a large capacity ROM cell array can be realized without slowing down the access time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、一般的なROMのブロックΦダイヤグラムな
示す図 1・・・・・・アドレス信号 2・・・・・・アドレスバッファ 3・・・・・・アドレス列デコーダ 4・・・・・・アドレス行デコーダ 5・・・・・・記憶素子マ) IJソックス配列6・・
・・・・列セレクタとセンスアンプ部7・・・・・・出
力バッファ 8・・・・・・出力信号 第2図は、メモリ・セル1個につきコンタクト1個の基
本的なメモリ・セル・アレーを示す図1・・・・・・メ
タル(列選択線) 2・・・・・・ポリシリコン(行選択り3・・・・・・
コンタクト部 4・・・・・・拡散層 5・・・・・・メモリ・セル中サイズ 6・・・・・・フィールド部 第3図は、2個のメモリ・セルが1個のフンタフFに並
列に入るメモリ・セル・アレーを示す図1・・・・・・
メタル(列選択It) 2・・・・・・ポリシリコン(行選択ttS>5・・・
・・・コンタクト部 4・・・・・・拡散層 5・・・・・・メモリ・セル・サイズ 6・・・・・・フィールド部 第4図は、1個のコンタクトにメモリ・セルが直列に接
続する場合を示す図 1・・・・・・メタル(列選択線) 2・・・・・・ポリシリコン(行選択1ll)3・・・
・・・コンタクト部 4・・・・・・拡散層 5・・・・・・メモリーセル・サイズ 6・・・・・・フィールド部 第5図は、直並列型メモリ・セル・アレーを示す図 1・・・・・・メタル(列選択線) 2・・・・・・ポリシリコ、ン(行選択線)5・・・・
・・ポリシリコン(列信号拡散層選択l1iI)4・・
・・・・ポリシリコン(列信号拡散層選択、l)5・・
・・・・拡散層(ソース側) 6・・・・・・拡散層(列信号拡散層)7・・・・・・
拡散層(列信号拡散層)8・・・・・・拡散層(列信号
拡散層)9・・・・・・拡散層(列信号拡散層)10・
・・コンタクト部 11・・・コンタクト部 12・・・ディプレジラン形MO8)ランジスタ13・
・・エンハンスメント1M03)ランジスタ 14・・・フィールド部 以上 出願人 株式会社睡訪精工舎 代理人 弁理士 最上  務 第1図 114図 第5図 260− +4 1
FIG. 1 is a block Φ diagram of a general ROM.・Address row decoder 5...Storage element) IJ sock array 6...
... Column selector and sense amplifier section 7 ... Output buffer 8 ... Output signal Figure 2 shows a basic memory cell with one contact per memory cell. Figure 1 showing the array...Metal (column selection line) 2...Polysilicon (row selection 3...
Contact part 4...Diffusion layer 5...Memory cell medium size 6...Field part In Fig. 3, two memory cells are combined into one Funtuff F. Figure 1 shows a memory cell array that goes in parallel...
Metal (column selection It) 2...Polysilicon (row selection ttS>5...
... Contact section 4 ... Diffusion layer 5 ... Memory cell size 6 ... Field section In Fig. 4, memory cells are connected in series to one contact. Figure 1 shows the connection to...Metal (column selection line) 2...Polysilicon (row selection 1ll) 3...
...Contact section 4...Diffusion layer 5...Memory cell size 6...Field section Fig. 5 is a diagram showing a series-parallel memory cell array. 1... Metal (column selection line) 2... Polysilicon (row selection line) 5...
... Polysilicon (column signal diffusion layer selection l1iI) 4...
...Polysilicon (column signal diffusion layer selection, l)5...
... Diffusion layer (source side) 6 ... Diffusion layer (column signal diffusion layer) 7 ...
Diffusion layer (column signal diffusion layer) 8... Diffusion layer (column signal diffusion layer) 9... Diffusion layer (column signal diffusion layer) 10.
...Contact part 11...Contact part 12...Diplegiran type MO8) transistor 13.
...Enhancement 1M03) Langister 14...Field Department and above Applicant Suiwa Seikosha Co., Ltd. Agent Patent Attorney Tsutomu Mogami Figure 114 Figure 5 260- +4 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】 t リードオンメモリ(ROM)集積回路において、M
o8)ランジスタにより構成される記憶素子が、行選択
線あるいは、列選択線に対して、直列かつ並列に接続さ
れていることを特徴とするり−ドオンメモリのメモリ・
セル配列。 2.1つのコンタクトに対し゛て、2つの並んだ拡散層
が互いに対向して接続され、その各々の拡散層上には、
8個のMOf9)ランジスタが直列に、記憶素子として
構成され、その各拡散層を、前記8個のMo5)ランジ
スタにさらに直列に入った2個のトランジスタで、選択
する事を特徴とする特許請求の範囲第1項記載のリード
オンメモリのメモリ・セル配列。
[Claims] t In a read-on-memory (ROM) integrated circuit, M
o8) A memory element of a ride-on memory characterized in that a storage element constituted by a transistor is connected in series and parallel to a row selection line or a column selection line.
Cell array. 2. For one contact, two side-by-side diffusion layers are connected facing each other, and on each of the diffusion layers,
A patent claim characterized in that eight MOf9) transistors are configured in series as a memory element, and each diffusion layer is selected by two transistors further connected in series with the eight Mof9) transistors. The memory cell arrangement of the read-on memory according to item 1.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63226060A (en) * 1986-10-27 1988-09-20 Seiko Epson Corp Semiconductor storage device

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5477543A (en) * 1977-12-02 1979-06-21 Toshiba Corp Reading exclusive memory unit
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