JPS58187B2 - パツケ−ジ・モジユ−ル - Google Patents
パツケ−ジ・モジユ−ルInfo
- Publication number
- JPS58187B2 JPS58187B2 JP55066054A JP6605480A JPS58187B2 JP S58187 B2 JPS58187 B2 JP S58187B2 JP 55066054 A JP55066054 A JP 55066054A JP 6605480 A JP6605480 A JP 6605480A JP S58187 B2 JPS58187 B2 JP S58187B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- chip
- line
- power
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/14—Structural association of two or more printed circuits
- H05K1/144—Stacked arrangements of planar printed circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/58—Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
- H01L23/64—Impedance arrangements
- H01L23/642—Capacitive arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L24/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
- H05K7/06—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure on insulating boards, e.g. wiring harnesses
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
- H05K7/12—Resilient or clamping means for holding component to structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01014—Silicon [Si]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/0102—Calcium [Ca]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01068—Erbium [Er]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1203—Rectifying Diode
- H01L2924/12033—Gunn diode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12042—LASER
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3025—Electromagnetic shielding
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
- Multi-Conductor Connections (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高容量チップ・パッケージ構造体に係り、更に
具体的には本発明はVLSIチップに対する電気的結線
へ電力を供給するための並列電力供給導体を有する構造
体に係る。
具体的には本発明はVLSIチップに対する電気的結線
へ電力を供給するための並列電力供給導体を有する構造
体に係る。
パッドに対してチップ端子が電気的に接続されるところ
の表面に対して幾つかの平行な電力用のキャリヤ・プレ
ートが平行に重ねられるチップ・パッケージ・キャリヤ
が提案されている。
の表面に対して幾つかの平行な電力用のキャリヤ・プレ
ートが平行に重ねられるチップ・パッケージ・キャリヤ
が提案されている。
その表面は面積が大きく、プレート間の空間には誘電材
が存在する。
が存在する。
よってそのような構造体によって大きな容量が呈せられ
る。
る。
しかしながら、そのパッケージング・キャリヤの上部表
面上の接続パッドに対して、平行な金属プレートを介し
て多数の結線が設けられねばならないが故に、プレート
からチップに対して多数の結線を与えることは簡単なこ
とではない。
面上の接続パッドに対して、平行な金属プレートを介し
て多数の結線が設けられねばならないが故に、プレート
からチップに対して多数の結線を与えることは簡単なこ
とではない。
USP3562592においては、導体キャリヤ・プレ
ートとは区別される薄膜導体トラックに対して45°°
の角度にチップを配置する技術が示されている。
ートとは区別される薄膜導体トラックに対して45°°
の角度にチップを配置する技術が示されている。
本発明の目的はチップに対する電力供給導体の間におい
てチップに対してできるだけ近くに高い容量を与えるこ
とによって多数の回路の同時スイッチングが同時スイッ
チングによる電気的な雑音をできる限り小さくしなけれ
ばならず、また幾つかの電力供給導体を各チップに対し
て接続しなければならないような高密度の応用例におけ
るVLSIチップのための有効なパッケージング構造体
を与えることにある。
てチップに対してできるだけ近くに高い容量を与えるこ
とによって多数の回路の同時スイッチングが同時スイッ
チングによる電気的な雑音をできる限り小さくしなけれ
ばならず、また幾つかの電力供給導体を各チップに対し
て接続しなければならないような高密度の応用例におけ
るVLSIチップのための有効なパッケージング構造体
を与えることにある。
本発明の他の目的は高速度コンピュータにおける雑音を
防止する簡単な製造し得る実用的なパッケージング構造
体を与えることにある。
防止する簡単な製造し得る実用的なパッケージング構造
体を与えることにある。
第1図に示されるキャリヤ・モジュール7上に高速度V
LSIチップ8をパッケージする場合、チップ8の最大
スイッチング電流条件を満足させるためにそのパッケー
ジはその電力供給路におけるインダクタンスが非常に低
い値でなければならない。
LSIチップ8をパッケージする場合、チップ8の最大
スイッチング電流条件を満足させるためにそのパッケー
ジはその電力供給路におけるインダクタンスが非常に低
い値でなければならない。
第1図に示される種類のチップ・キャリヤ・モジュール
7において基板22はモジュール7の構造体が構成され
る機械的支持基板であ名。
7において基板22はモジュール7の構造体が構成され
る機械的支持基板であ名。
更に基板22は接地面を与える重要な電気的な機能を与
えることができる。
えることができる。
第3図において基板22の斜視図が示されている。
基板22を蓬して10本の溝部23が設けられている。
各々の溝部23の中に、誘電絶縁層13、及びシールド
されたリボン導体ケーブル24(第5図)とともに積層
された電力用シート11の積層体10が挿入される。
されたリボン導体ケーブル24(第5図)とともに積層
された電力用シート11の積層体10が挿入される。
各々の積層体10において相互に積層された12枚の電
力用シート11と1つのシールドされたリボン導体ケー
ブル層24が含まれている。
力用シート11と1つのシールドされたリボン導体ケー
ブル層24が含まれている。
そうしてその積層体は溝部23を通して伸びている。
第2A図及び第2B図に示される各々の電力用シート1
1にはDCブス・バー棒状部30(図においては便宜上
一般的にしか示されていない)に対する接続のための接
続用タブ21並びに減結合コンデンサ32(第6図)の
ための接続タブ15が含まれている。
1にはDCブス・バー棒状部30(図においては便宜上
一般的にしか示されていない)に対する接続のための接
続用タブ21並びに減結合コンデンサ32(第6図)の
ための接続タブ15が含まれている。
電力用シート11は互い違いに設けられた接続タブ21
(説明を簡単にするためにその一部しか示されていない
)によって種々のブス・バー棒状部30へ接続される。
(説明を簡単にするためにその一部しか示されていない
)によって種々のブス・バー棒状部30へ接続される。
積層体10は基板22に対して機械的に固定されるが、
直接電流が流れないように電気的に絶縁されている。
直接電流が流れないように電気的に絶縁されている。
シート11の大きな平行な表面はそれらの間の誘導結合
が最小限であることによって非常に大きな容量値を与え
る。
が最小限であることによって非常に大きな容量値を与え
る。
積層体10はチップ8によって必要とされる種々のブス
・バー棒状部30に対して個々に接続される。
・バー棒状部30に対して個々に接続される。
機械的に平担にされた基板22の上部の金属表面18上
に、第7図に関して詳細に示されるように薄膜相互結線
41が多層状に付着される。
に、第7図に関して詳細に示されるように薄膜相互結線
41が多層状に付着される。
第3図に示される基板22はミリングによって10本の
溝部23が設けられる約90mm平方及び厚さ12mm
の金属シートから作られる。
溝部23が設けられる約90mm平方及び厚さ12mm
の金属シートから作られる。
各々の溝部23は基準位置から正確に0.0254mm
以内に配置される2つの面を含む。
以内に配置される2つの面を含む。
溝部23は中心間距離7.62mm、幅約3.81mm
である。
である。
チップ8は基板22の上部表面上に10×10のアレイ
状に配列される。
状に配列される。
第1図においては説明の便宜上2列のチップのみが示さ
れている。
れている。
チップの配列状態については第4図を参照されたい。
第5図に示されるように、リボン導体ケーブル24は正
確にミリングで形成された2つの表面によって形成され
る隅部16内に結合され、よって信号導体は0.025
4mmの精度で配置される。
確にミリングで形成された2つの表面によって形成され
る隅部16内に結合され、よって信号導体は0.025
4mmの精度で配置される。
電力用シート11は厚さおよそ0.254mmで、絶縁
体13は厚さがおよそ0.0127mmである。
体13は厚さがおよそ0.0127mmである。
半田ボール(C−4)チップ相互結線パッド(第7図に
おいて参照番号42で示される)は例えばチップ8に関
して中心間距離0.1905mmである。
おいて参照番号42で示される)は例えばチップ8に関
して中心間距離0.1905mmである。
しかしながらもしもチップが45°の角度に回転される
ならば、約半数のC−4パツドが正確に電力用シート1
1上に中心合わせされ、よってシート11の上部表面3
1に対するC−4半田ボール・パッドの直接的なボンデ
ィング技法を用い得ることができる。
ならば、約半数のC−4パツドが正確に電力用シート1
1上に中心合わせされ、よってシート11の上部表面3
1に対するC−4半田ボール・パッドの直接的なボンデ
ィング技法を用い得ることができる。
リボン導体ケーブル24は0.0254mmの数倍の整
列公差でもって第7図に示される薄膜メタラージイに対
して接続される。
列公差でもって第7図に示される薄膜メタラージイに対
して接続される。
積層体10が位置合せされ且つボンディングされる溝部
23の2つの正確に機械加工された表面を含む溝部23
の1つの隅部の拡大された図を示す。
23の2つの正確に機械加工された表面を含む溝部23
の1つの隅部の拡大された図を示す。
これによって信号導体27は相互結線層12に対して十
分な精度でもって接続されるように配置される。
分な精度でもって接続されるように配置される。
リボン・ケーブル24はフィールド部材25および28
の間に絶縁体26とともに信号導体27を含む。
の間に絶縁体26とともに信号導体27を含む。
電力用シートのあるものもしくは全てが層14によって
基板22からまた層13によって相互に絶縁されねばな
らない。
基板22からまた層13によって相互に絶縁されねばな
らない。
そのようなリボン・ケーブル24並びに他のケーブル及
びコネクターに対してそれらを成端させるための技法が
公知である。
びコネクターに対してそれらを成端させるための技法が
公知である。
積層体10は基板22に対してガラスを用いて結合され
てもよいしあるいはボンディングされてもよい。
てもよいしあるいはボンディングされてもよい。
第6図を参照する。
リボン・ケーブル33は一端においてリボン導体ケーブ
ル24に接続され、更に信号配送板35(その下面に接
続ピン36を有する)へ接続される。
ル24に接続され、更に信号配送板35(その下面に接
続ピン36を有する)へ接続される。
リボン・ケーブル33は剛性のものでもあるいは可撓性
のものでもよい。
のものでもよい。
金属は銅であってもよくあるいは下に示すように膨張係
数整合材が用いられる。
数整合材が用いられる。
再び第2A図及び第2B図を参照する。
電力用シート11はDCブス・バー棒状部30への接続
のための接続タブ21を有し、そのシートの下の面上に
減結合コンデンサの取りつけのための付加的な接続タブ
15を有する。
のための接続タブ21を有し、そのシートの下の面上に
減結合コンデンサの取りつけのための付加的な接続タブ
15を有する。
第5図において、Vl乃至V4として示されるように各
々タイプのシート11が独自の位置においてタブ15及
び21を有するような一区切りになった4枚のシート1
1(交互に配置される)が用いられる。
々タイプのシート11が独自の位置においてタブ15及
び21を有するような一区切りになった4枚のシート1
1(交互に配置される)が用いられる。
リボン導体ケーブル24は通常のタイプの可撓性のリボ
ン・ケーブルに対する半田結合部における背面において
成端される。
ン・ケーブルに対する半田結合部における背面において
成端される。
そしてもしもリボン導体ケーブル24が十分に可撓性の
ものであるならばそれは第6図に示されるように90°
に曲げられそしてプリント回路板に対して結合され得る
。
ものであるならばそれは第6図に示されるように90°
に曲げられそしてプリント回路板に対して結合され得る
。
この設計を用いる場合各ブス・バー30においてチップ
当り約20cm2の表面積が存在する。
当り約20cm2の表面積が存在する。
これによって10乃至25ミクロンの絶縁体を用いるこ
とが可能となる。
とが可能となる。
この絶縁体は製造が容易であってしかもチップ8に対す
る電力接続点における好ましくない高い周波数の電気的
な過渡的状態を抑止するに十分高い面間容量構造体が導
電層及び絶縁層を交互に例えば真空蒸着によって付着さ
せることによって形成されるような場合にピンホールが
短絡回路を生じたが、電力用シート11は絶縁層13に
おけるピンホールが必ずしも短絡回路を生じないように
仕上げられた表面を有する。
る電力接続点における好ましくない高い周波数の電気的
な過渡的状態を抑止するに十分高い面間容量構造体が導
電層及び絶縁層を交互に例えば真空蒸着によって付着さ
せることによって形成されるような場合にピンホールが
短絡回路を生じたが、電力用シート11は絶縁層13に
おけるピンホールが必ずしも短絡回路を生じないように
仕上げられた表面を有する。
図に示される減結合コンデンサ32は電力用シート11
及び誘電体13において形成される1μF程度の容量に
加えて更に用いられるものであって主として低周波数過
渡現象用である。
及び誘電体13において形成される1μF程度の容量に
加えて更に用いられるものであって主として低周波数過
渡現象用である。
それらのコンデンサは更により高い周波数における減衰
を与える。
を与える。
1つのリボン・ケーブル33当り160乃至200の信
号線を得るために、リフロー半田付は技法のような方法
によって容易に結線し得るところの導体が中心間距離0
.508mmの間隔で配置される。
号線を得るために、リフロー半田付は技法のような方法
によって容易に結線し得るところの導体が中心間距離0
.508mmの間隔で配置される。
チップ・キャリヤ・モジュール7はチップ8に対して熱
的に整合されるべきである。
的に整合されるべきである。
よって基板22としてはモリブデンの利用が考えられる
。
。
しかしながら、このことはキャリヤがシリコンと同じ温
度に達するものと仮定した上のことであって、これは低
温導体に関してのみ真実である。
度に達するものと仮定した上のことであって、これは低
温導体に関してのみ真実である。
第6図において、基板22内に冷却体管40が示される
。
。
冷却体の通路は基板22を通して機械的に形成される。
温度の立ち上りは基板22において工作が容易な銅もし
くは真鍮のような高い膨張率の金属を用いることを容易
ならしめるべく制御することができる。
くは真鍮のような高い膨張率の金属を用いることを容易
ならしめるべく制御することができる。
その代りにその金属ブロックは膨張がほぼゼロであるよ
うに冷却することができる。
うに冷却することができる。
チップ8に対する全ての結線は薄膜導体41等を通して
設けることができる。
設けることができる。
もしもそのような線の各々は、薄膜とも1回90°曲げ
られた状態で配置されるならば、シリコンの熱膨張(約
1ミクロン)は銅線及び有機絶縁体の屈曲によって容易
に吸収することができる。
られた状態で配置されるならば、シリコンの熱膨張(約
1ミクロン)は銅線及び有機絶縁体の屈曲によって容易
に吸収することができる。
C−4結合部には応力は存在せず、疲労問題は存在しな
い。
い。
第7図は、平担な金属表面18の上に付着されるところ
の第6図に示される内部相互結線メタラージイ層12に
おいて用いるための実際の伝送線構造体の設計を示す。
の第6図に示される内部相互結線メタラージイ層12に
おいて用いるための実際の伝送線構造体の設計を示す。
チップ8は層12の上に設けられるが、これらC−4半
田ボール42及びバイア44及び45上の半田ボール4
3が接続されることによって外部的に相互結線され且つ
指示される。
田ボール42及びバイア44及び45上の半田ボール4
3が接続されることによって外部的に相互結線され且つ
指示される。
バイア44及び45は層12の上部表面において円錐状
の凹所内に形成される。
の凹所内に形成される。
バイア45はV型の導電体によって上部伝送線46に対
して接続される。
して接続される。
伝送線46はバイア47を経て図の右端を越えて1個も
しくはそれ以上の他のチップが接続されたバイア44と
同様のバイアへと伸び得る。
しくはそれ以上の他のチップが接続されたバイア44と
同様のバイアへと伸び得る。
線46の下の伝送線48もまたバイア47へ接続される
。
。
線48は便宜上線46の真下にあるように示されている
が、線48は第7図の面の内部へと伸び、その面の下方
において線48までバイア49によって接続された線5
0が図示されるように線46に対して平行に伸びること
が好ましい。
が、線48は第7図の面の内部へと伸び、その面の下方
において線48までバイア49によって接続された線5
0が図示されるように線46に対して平行に伸びること
が好ましい。
この配列はx、y直線座標マツピング・システムに適し
ている。
ている。
この場合x方向における線は線48のレベル上にあり、
y方向における線は線50のレベルにありそして最上部
のレベル(線46を含む)テストに技術変更のための層
を与える。
y方向における線は線50のレベルにありそして最上部
のレベル(線46を含む)テストに技術変更のための層
を与える。
図示の便宜上1個だけが示されている開口66を通して
レーザー等の通常の方法を用いて接続を切断することが
できる。
レーザー等の通常の方法を用いて接続を切断することが
できる。
伝送線56、58 。及び60並びにバイア57.59
及び61はC−4半田ボール43の電力用シートV1(
11)への結線を与える。
及び61はC−4半田ボール43の電力用シートV1(
11)への結線を与える。
第7図において相互結線層12内に含まれる個個の層は
明瞭に示すために垂直方向に誇張して示されている。
明瞭に示すために垂直方向に誇張して示されている。
バイア44は導体用シートV1(11)と直接接触した
状態で製造することが可能である。
状態で製造することが可能である。
更に半田ボール42及び43は溶解し始める状態で示さ
れている。
れている。
リフロー半田付は後はそれらのボールは単一のより大き
なボールとなる。
なボールとなる。
線46,48及び50並びに紙56,58及び60はそ
れらを絶縁し且つ支持するところのポリイミド、プラス
チックもしくはガラスのようなものからなる誘電体55
の中に密封される。
れらを絶縁し且つ支持するところのポリイミド、プラス
チックもしくはガラスのようなものからなる誘電体55
の中に密封される。
一番下の線50はバイア51によってリボン導体29(
第5図)の導体27へ電気的に接続される。
第5図)の導体27へ電気的に接続される。
接地面22と結合された線46,48及び50は高速度
の信号パルスを伝搬させ一方で反射を減衰させるのに設
計される個々の条片伝送線よりなる。
の信号パルスを伝搬させ一方で反射を減衰させるのに設
計される個々の条片伝送線よりなる。
基板22の上部表面を通して結合された電力用シートV
1は線56,58及び60等に最少量のパッケージ・イ
ンダクタンスでもって電力を供給し、このパッケージの
ための入力及び出力信号路を与える。
1は線56,58及び60等に最少量のパッケージ・イ
ンダクタンスでもって電力を供給し、このパッケージの
ための入力及び出力信号路を与える。
この設計を用いる場合、線56,58及び60を非常に
細くすることができるが故に、より高度なワイアリング
密度(46,48,50)を達成することができ、そし
てそれらの線の薄膜特性によって最少量のインダクタン
スしか加えられることなく基板22及び線を介してチッ
プ8に対して電力を供給することができる。
細くすることができるが故に、より高度なワイアリング
密度(46,48,50)を達成することができ、そし
てそれらの線の薄膜特性によって最少量のインダクタン
スしか加えられることなく基板22及び線を介してチッ
プ8に対して電力を供給することができる。
第7図に示されるように線46,48及び50等及び基
板22によって与えられる接地面が薄膜条片伝送線を形
成することに注目されたい。
板22によって与えられる接地面が薄膜条片伝送線を形
成することに注目されたい。
これはモジュール7の製造を高度に促進させるところの
公知の薄膜付着技術(VSLIチップを作る場合に用い
られるフォトレジスト・フォトリソグラフィック・マス
キングの技術及び蒸着及びスパッタリングのような真空
付着技術並びに電気めっき等)によって作られるバッチ
製造されたパターンである。
公知の薄膜付着技術(VSLIチップを作る場合に用い
られるフォトレジスト・フォトリソグラフィック・マス
キングの技術及び蒸着及びスパッタリングのような真空
付着技術並びに電気めっき等)によって作られるバッチ
製造されたパターンである。
メタライゼーション及びバイアはバッチ製造モードで一
時にルベルずつ第7図における構造体を形成するために
連続した層において形成される。
時にルベルずつ第7図における構造体を形成するために
連続した層において形成される。
X方向にあるメタライゼーション線50は誘電層55の
上に付着され、これを通してバッチ処理段階においてバ
イア・ホールがあけられる。
上に付着され、これを通してバッチ処理段階においてバ
イア・ホールがあけられる。
次にメタライゼーション50は更に誘電層55でもって
被覆され、X方向に伸びるメタライゼーション層48が
付着されるといった方法で形成される。
被覆され、X方向に伸びるメタライゼーション層48が
付着されるといった方法で形成される。
図面に示された実施例は均質な金属パッケージ基板22
及びリボン・ケーブル24のみを示している。
及びリボン・ケーブル24のみを示している。
しかしながら基板22として金属が被覆された絶縁体を
用いることができること並びに相互結線層12の設計上
の融通性によってモジュール7から信号を取り出すため
に通常のピン接続を用いることが可能であることはいう
までもない。
用いることができること並びに相互結線層12の設計上
の融通性によってモジュール7から信号を取り出すため
に通常のピン接続を用いることが可能であることはいう
までもない。
第1図はモジュールの斜視図である。
第2A図は電力用シートを説明する図である。
第2B図は第2A図に示される電力用シートとして働く
基板の図である。 第3図は第1図に示されるパッケージング構造体の基板
の図である。 第4図は第1図に示される基板、チップ並びに電力用シ
ート・サンドインチ構造体を示す図である。 第5図は第1図及び第4図に示される電力用シート、誘
電層並びにリボン導電体の破断面図である。 第6図は第1図に示される構造体の立面図である。 第7図は第4図及び第5図における線7−7に沿う断面
図である。 7・・・・・・モジュール、8・・・・・・チップ、1
0・・・・・・積層体、11・・・・・・電力用シート
、15・・・・・・接続タブ、18・・・・・・金属表
面、21・・・・・・接続タブ、22・・・・・・基板
、23・・・・・・溝部、24・・・・・・リボン導体
ケーブル、30・・・・・・DCCススバー棒状部、4
1・・・・・・薄膜相互結線。
基板の図である。 第3図は第1図に示されるパッケージング構造体の基板
の図である。 第4図は第1図に示される基板、チップ並びに電力用シ
ート・サンドインチ構造体を示す図である。 第5図は第1図及び第4図に示される電力用シート、誘
電層並びにリボン導電体の破断面図である。 第6図は第1図に示される構造体の立面図である。 第7図は第4図及び第5図における線7−7に沿う断面
図である。 7・・・・・・モジュール、8・・・・・・チップ、1
0・・・・・・積層体、11・・・・・・電力用シート
、15・・・・・・接続タブ、18・・・・・・金属表
面、21・・・・・・接続タブ、22・・・・・・基板
、23・・・・・・溝部、24・・・・・・リボン導体
ケーブル、30・・・・・・DCCススバー棒状部、4
1・・・・・・薄膜相互結線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 対向する表面を有する平担な基板内に、上記対向す
る表面の間に形成された少くとも1つの溝部と、 該溝部を通して伸びる様に配置された、誘電体層を介在
させた複数の大きな平行表面を有する導電性金属シート
よりなる積層体であって、少くとも上記複数の金属シー
トのいくつかが上記基板から電気的に絶縁されてなるも
のとからなり、上記溝部を通して上記基板の一方の表面
付近に呈せられる、上記積層体に於ける上記複数の導電
性金属シートの各層の部分を回路チップ用結線部を接続
するために用いた事を特徴とするパッケージ・モジュー
ル。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/053,660 US4237522A (en) | 1979-06-29 | 1979-06-29 | Chip package with high capacitance, stacked vlsi/power sheets extending through slots in substrate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS567458A JPS567458A (en) | 1981-01-26 |
JPS58187B2 true JPS58187B2 (ja) | 1983-01-05 |
Family
ID=21985743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55066054A Expired JPS58187B2 (ja) | 1979-06-29 | 1980-05-20 | パツケ−ジ・モジユ−ル |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4237522A (ja) |
EP (1) | EP0022176B1 (ja) |
JP (1) | JPS58187B2 (ja) |
BR (1) | BR8004063A (ja) |
CA (1) | CA1137646A (ja) |
DE (1) | DE3061605D1 (ja) |
DK (1) | DK277580A (ja) |
ES (1) | ES492742A0 (ja) |
FI (1) | FI802059A (ja) |
IT (1) | IT1150994B (ja) |
NO (1) | NO801801L (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6012095U (ja) * | 1983-06-29 | 1985-01-26 | 黒崎窯業株式会社 | 熱交換器 |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4295183A (en) * | 1979-06-29 | 1981-10-13 | International Business Machines Corporation | Thin film metal package for LSI chips |
US4281361A (en) * | 1980-03-17 | 1981-07-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Simplified multilayer circuit board |
US4328530A (en) * | 1980-06-30 | 1982-05-04 | International Business Machines Corporation | Multiple layer, ceramic carrier for high switching speed VLSI chips |
US4349862A (en) * | 1980-08-11 | 1982-09-14 | International Business Machines Corporation | Capacitive chip carrier and multilayer ceramic capacitors |
US4453176A (en) * | 1981-12-31 | 1984-06-05 | International Business Machines Corporation | LSI Chip carrier with buried repairable capacitor with low inductance leads |
US4535388A (en) * | 1984-06-29 | 1985-08-13 | International Business Machines Corporation | High density wired module |
JPS6156493A (ja) * | 1984-08-28 | 1986-03-22 | 日本電気株式会社 | 多層回路基板の電源配線構造 |
US4945399A (en) * | 1986-09-30 | 1990-07-31 | International Business Machines Corporation | Electronic package with integrated distributed decoupling capacitors |
US4744008A (en) * | 1986-11-18 | 1988-05-10 | International Business Machines Corporation | Flexible film chip carrier with decoupling capacitors |
US4907068A (en) * | 1987-01-21 | 1990-03-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Semiconductor arrangement having at least one semiconductor body |
US4868634A (en) * | 1987-03-13 | 1989-09-19 | Citizen Watch Co., Ltd. | IC-packaged device |
US4855809A (en) * | 1987-11-24 | 1989-08-08 | Texas Instruments Incorporated | Orthogonal chip mount system module and method |
US5025306A (en) * | 1988-08-09 | 1991-06-18 | Texas Instruments Incorporated | Assembly of semiconductor chips |
US5027253A (en) * | 1990-04-09 | 1991-06-25 | Ibm Corporation | Printed circuit boards and cards having buried thin film capacitors and processing techniques for fabricating said boards and cards |
US5343366A (en) * | 1992-06-24 | 1994-08-30 | International Business Machines Corporation | Packages for stacked integrated circuit chip cubes |
DE4237083C2 (de) * | 1992-11-03 | 2002-11-28 | Diehl Stiftung & Co | Anordnung von miteinander verschalteten Baugruppen |
JPH0828244B2 (ja) * | 1993-04-28 | 1996-03-21 | 日本電気株式会社 | マルチチップパッケージの給電構造 |
US5765279A (en) * | 1995-05-22 | 1998-06-16 | Fujitsu Limited | Methods of manufacturing power supply distribution structures for multichip modules |
US5657537A (en) * | 1995-05-30 | 1997-08-19 | General Electric Company | Method for fabricating a stack of two dimensional circuit modules |
US9054094B2 (en) | 1997-04-08 | 2015-06-09 | X2Y Attenuators, Llc | Energy conditioning circuit arrangement for integrated circuit |
US7336468B2 (en) | 1997-04-08 | 2008-02-26 | X2Y Attenuators, Llc | Arrangement for energy conditioning |
US7321485B2 (en) | 1997-04-08 | 2008-01-22 | X2Y Attenuators, Llc | Arrangement for energy conditioning |
US6657313B1 (en) * | 1999-01-19 | 2003-12-02 | International Business Machines Corporation | Dielectric interposer for chip to substrate soldering |
WO2006104613A2 (en) | 2005-03-01 | 2006-10-05 | X2Y Attenuators, Llc | Conditioner with coplanar conductors |
US7983024B2 (en) * | 2007-04-24 | 2011-07-19 | Littelfuse, Inc. | Fuse card system for automotive circuit protection |
US9275966B2 (en) * | 2012-06-21 | 2016-03-01 | Freescale Semiconductor, Inc. | Semiconductor device apparatus and assembly with opposite die orientations |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2995686A (en) * | 1959-03-02 | 1961-08-08 | Sylvania Electric Prod | Microelectronic circuit module |
US3243661A (en) * | 1963-06-25 | 1966-03-29 | United Aircraft Corp | Enhanced micro-modules |
US3312870A (en) * | 1964-03-13 | 1967-04-04 | Hughes Aircraft Co | Electrical transmission system |
US3353070A (en) * | 1965-12-13 | 1967-11-14 | Bunker Ramo | Molded sandwich electrical connector with improved connector pins and encapsulating structure |
US3437882A (en) * | 1966-01-14 | 1969-04-08 | Texas Instruments Inc | Circuit board structure with interconnecting means |
US3436604A (en) * | 1966-04-25 | 1969-04-01 | Texas Instruments Inc | Complex integrated circuit array and method for fabricating same |
FR1520294A (fr) * | 1966-04-25 | 1968-04-05 | Texas Instruments Inc | Perfectionnements aux réseaux de circuits intégrés et à leurs procédés de fabrication |
US3418535A (en) * | 1967-01-23 | 1968-12-24 | Elco Corp | Interconnection matrix for dual-in-line packages |
US3522485A (en) * | 1967-11-21 | 1970-08-04 | Automatic Radio Mfg Co | Modular circuit construction |
GB1152809A (en) * | 1968-05-07 | 1969-05-21 | Standard Telephones Cables Ltd | Electric Circuit Assembly |
US3671812A (en) * | 1970-07-01 | 1972-06-20 | Martin Marietta Corp | High density packaging of electronic components in three-dimensional modules |
GB1278380A (en) * | 1970-08-13 | 1972-06-21 | Standard Telephones Cables Ltd | Electrical circuit assembly |
US3949274A (en) * | 1974-05-30 | 1976-04-06 | International Business Machines Corporation | Packaging and interconnection for superconductive circuitry |
US4109298A (en) * | 1976-07-26 | 1978-08-22 | Texas Instruments Incorporated | Connector with printed wiring board structure |
-
1979
- 1979-06-29 US US06/053,660 patent/US4237522A/en not_active Expired - Lifetime
-
1980
- 1980-04-14 CA CA000349745A patent/CA1137646A/en not_active Expired
- 1980-05-20 JP JP55066054A patent/JPS58187B2/ja not_active Expired
- 1980-06-03 DE DE8080103083T patent/DE3061605D1/de not_active Expired
- 1980-06-03 EP EP80103083A patent/EP0022176B1/de not_active Expired
- 1980-06-17 NO NO801801A patent/NO801801L/no unknown
- 1980-06-23 IT IT22957/80A patent/IT1150994B/it active
- 1980-06-25 ES ES492742A patent/ES492742A0/es active Granted
- 1980-06-27 DK DK277580A patent/DK277580A/da not_active Application Discontinuation
- 1980-06-27 BR BR8004063A patent/BR8004063A/pt unknown
- 1980-06-27 FI FI802059A patent/FI802059A/fi not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6012095U (ja) * | 1983-06-29 | 1985-01-26 | 黒崎窯業株式会社 | 熱交換器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES8102417A1 (es) | 1980-12-16 |
NO801801L (no) | 1980-12-30 |
IT1150994B (it) | 1986-12-17 |
EP0022176A1 (de) | 1981-01-14 |
FI802059A (fi) | 1980-12-30 |
ES492742A0 (es) | 1980-12-16 |
DK277580A (da) | 1980-12-30 |
BR8004063A (pt) | 1981-01-21 |
US4237522A (en) | 1980-12-02 |
IT8022957A0 (it) | 1980-06-23 |
CA1137646A (en) | 1982-12-14 |
JPS567458A (en) | 1981-01-26 |
DE3061605D1 (en) | 1983-02-17 |
EP0022176B1 (de) | 1983-01-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS58187B2 (ja) | パツケ−ジ・モジユ−ル | |
US5132613A (en) | Low inductance side mount decoupling test structure | |
US4560962A (en) | Multilayered printed circuit board with controlled 100 ohm impedance | |
US5272600A (en) | Electrical interconnect device with interwoven power and ground lines and capacitive vias | |
US4498122A (en) | High-speed, high pin-out LSI chip package | |
US4553111A (en) | Printed circuit board maximizing areas for component utilization | |
US5426563A (en) | Three-dimensional multichip module | |
US6239485B1 (en) | Reduced cross-talk noise high density signal interposer with power and ground wrap | |
US5050039A (en) | Multiple circuit chip mounting and cooling arrangement | |
JP3732927B2 (ja) | 多層配線基板 | |
US4871316A (en) | Printed wire connector | |
US5375042A (en) | Semiconductor package employing substrate assembly having a pair of thin film circuits disposed one on each of oppositely facing surfaces of a thick film circuit | |
US4295183A (en) | Thin film metal package for LSI chips | |
US5093708A (en) | Multilayer integrated circuit module | |
US6081026A (en) | High density signal interposer with power and ground wrap | |
US5185502A (en) | High power, high density interconnect apparatus for integrated circuits | |
CN100464973C (zh) | 多层基板及使用了该多层基板的半导体装置 | |
JPH0715969B2 (ja) | マルチチツプ集積回路パツケージ及びそのシステム | |
JPH0697362A (ja) | 多層配線基板、この基板を用いた半導体装置及び多層配線基板の製造方法 | |
JPS6366993A (ja) | 多層配線基板 | |
US4958258A (en) | Modular hybrid microelectronic structures with high density of integration | |
US6638077B1 (en) | Shielded carrier with components for land grid array connectors | |
US6310392B1 (en) | Stacked micro ball grid array packages | |
JPH0710005B2 (ja) | 超伝導体相互接続装置 | |
US5067004A (en) | Module for interconnecting integrated circuits |