JPS58181796A - 結晶成長方法 - Google Patents

結晶成長方法

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Publication number
JPS58181796A
JPS58181796A JP6591882A JP6591882A JPS58181796A JP S58181796 A JPS58181796 A JP S58181796A JP 6591882 A JP6591882 A JP 6591882A JP 6591882 A JP6591882 A JP 6591882A JP S58181796 A JPS58181796 A JP S58181796A
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JP
Japan
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tube
reaction tube
reaction
crystal
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP6591882A
Other languages
English (en)
Inventor
Mototsugu Ogura
基次 小倉
Yuzaburo Ban
雄三郎 伴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP6591882A priority Critical patent/JPS58181796A/ja
Publication of JPS58181796A publication Critical patent/JPS58181796A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/10Heating of the reaction chamber or the substrate

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、結tlf+成長方法に関するものである。
従来の気相成長法を第1図とともに述べる。反応管1の
中に設置されたボート2の−Lにサセプター3をおき、
その上に結晶成長用の基板4をおく。
基板周辺の加熱方式は、高周波加熱、抵抗加熱方式等が
あるが、基板4近傍の温度検知として熱電対5を設ける
。反応管1の両端はエンドキャップ6.7で閉じられ、
片方端のたとえば2つのガス導入管8,9より、反応ガ
ス10.11をそれぞれ反応管1の中に導入する。反応
を終えたガスは他端の排気管12より外部に排出される
。反応管1内に導入された反応ガス10.1 tは反応
し、所望の結晶が基板4上に結晶成するが、それ以外の
領域例えば反応管1の内壁13にも反応生成物14が付
着する。通常反応管1は透明な石英でできているので、
付着物14が付着すると中の状態が見えなくなる。通常
、結晶結成を行なう時は、その度ごとに、サセプタ3、
ポート2を外にとり出し、サセプタ3上に新しい基板を
置いて、元の正規の反応管1内の位置にセットする。し
かし、反応管1の内壁の付着物14のため反応管1内の
様子が見えず、正規の位置へのセットが難しくなる。結
晶成長の度に反応管1を新しい反応管と交換することは
エンドキャップをはずす等極めて自制である。又、結晶
成長時に付着物140基板上への汚染等、結晶成長上問
題が多い。
本発明はかかる従来の問題点を鑑みなされたもので、反
応管内の様子がよく見え、正規の所望の位置に基板を容
易にセットできること、反応管内壁付着物による基板成
長層への汚染をなくすこと、及び反応管を取りはずすこ
となく常に新しいりセット状態に結晶成長系をおくこと
を可能とする方法を提供するものである。第2図に本発
明の一実施例に用いる成長装置を示す。第1図と同一番
号は同一物を示す。
反応管1の内に、これとほぼ同じ大きさで第2の反応管
として筒状のたとえば石英管15を入れる。その」二に
ボート2、サセプター3及び結晶成長用のたとえば結晶
基板4をおく。筒状の石英管16は反応管1より径が小
さく、反応管1丙から着脱が容易であるものとする。こ
の状態で、ガス導入管8,9より反応ガス10.11を
、反応管1内に導入すると、基板4上に結晶が成長する
だけでなく、石英管16の内壁にも付着物14が付着す
る。それ故、石英管16は汚れるが、次の結晶成長時に
必要ならばこの石英管16を反応管1内より取りはずし
、新しい石英管15を反応管1内に設置すればよい。こ
うすることにより、外部からは基板4の設定位置は、は
っきり見え、基板4の設定位置を正確にする必要がある
時、あるいは基板近傍での設定位置を正確にする必要が
ある治具を設置する場合などに極めて有効である。更に
、ドーパントとしての不純物を用いた時は、石英管16
の内壁は汚れるが、次にun−dope  の結晶を成
長したい時は、この石英管16を新しいものと交換する
と共にサセプタ3を交換すれば容易にundopeの結
晶成長を行なうことが可能となる。
以上のように、本発明によれば、特に気相成長の難点の
一つである反応管内壁への反応生成物の付着の問題点す
なわち内が見えなくなる成長層への汚染等が解決され、
今後の気相成長法には欠くことのできないすぐれた方法
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の成長に用いる反応装置の概略構成図、第
2図は本発明の一実施例にかかる成長に用いる反応装置
の概略構成図である。 1・・・・・・反応管、4・・・・・・基板、10.1
1・・・・・・反応ガス、15・・・・・・石英管。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1の反応管内に着脱可能な第2の反応管を設置し、i
    ff記第2の反応管内に反応ガスを導入して前記第2の
    反応管内に設置された基板上に結晶成長を行うことを特
    徴とする結晶成長方法。
JP6591882A 1982-04-19 1982-04-19 結晶成長方法 Pending JPS58181796A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04114571U (ja) * 1991-03-27 1992-10-08 三菱マテリアル株式会社 人工ダイヤモンド析出装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5319181A (en) * 1976-08-06 1978-02-22 Hitachi Ltd Low pressure reaction apparatus
JPS5539630A (en) * 1978-09-13 1980-03-19 Fujitsu Ltd Vapor phase growth device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5319181A (en) * 1976-08-06 1978-02-22 Hitachi Ltd Low pressure reaction apparatus
JPS5539630A (en) * 1978-09-13 1980-03-19 Fujitsu Ltd Vapor phase growth device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04114571U (ja) * 1991-03-27 1992-10-08 三菱マテリアル株式会社 人工ダイヤモンド析出装置

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