JPS5816588B2 - 走査電子顕微鏡等の自動焦点合わせ装置 - Google Patents

走査電子顕微鏡等の自動焦点合わせ装置

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JPS5816588B2
JPS5816588B2 JP52124789A JP12478977A JPS5816588B2 JP S5816588 B2 JPS5816588 B2 JP S5816588B2 JP 52124789 A JP52124789 A JP 52124789A JP 12478977 A JP12478977 A JP 12478977A JP S5816588 B2 JPS5816588 B2 JP S5816588B2
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JP
Japan
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automatic focusing
signal
defocus
focusing device
circuit
Prior art date
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JP52124789A
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English (en)
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JPS5457948A (en
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生江隆男
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Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は走査電子顕微鏡等の自動焦点合わせ装置の改良
に関する。
走査電子顕微鏡等の焦点合m−tは対物レンズの励磁電
流を手動で調整して、ブラウン管面に現れている画像の
ピントを合わせるという操作が一般的である。
しかし、この焦点合わせ操作は繁雑でありかなりの熟練
を要するものである。
このような点を改善すべく自動焦点装置があるが、この
装置においても画像がボケたときは手動でスタートボタ
ンを押して焦点探索動作をスタートさせなければならな
い。
画像がボケる原因としては通常試料移動、倍率切換え、
観察条件(加速電圧、照射電流等)の変更などがあり、
その都度、自動焦点装置のスタートボタンを押さねばな
らず、かなり繁雑な動作であり且つ自動焦点装置の効果
を半減させるものである。
本発明は、斯かる従来装置の欠点をなくすべく画像のボ
ケを電気的に検出して自動的に焦点探索動作をスタート
させて走査電子顕微鏡等の操作性を良くすることを目的
としている。
、以下図面を用いて本発明を詳説する。
第1図は本卑明の二実施例を示す略図である。
同図において図示しない電子銃から放射された電子線1
は対物レンズ2によって試料3上に細く集束されると共
に走査回路4からの水平及び垂直走査信号か供給されて
いる水平及び垂直偏向コイル5X、5Yによって試料上
で二次元的に走査さむる。
電子線走査によ“つて試料3から発生する二次馬子等の
電子は検出器6−によって検出され、得られた検出信号
は増巾器7によって増巾された後前記電子線走査に同期
しt走査される陰極線管等の表示装置8及び自動焦点合
わせ装置9に送られると共に、ゲート回路10を介して
信号レベル検出回路11に送られる。
該レベル検出回路11の出力信号はピークホールド回路
12へ送られると共に、ゲート回路13を介してコンパ
レータ14の一方の入力端子う送鯵るが、該入力端子に
ci越接抗19介して電源電圧Vが印加されている。
又ピークホールド回路12の出力信号はボケ吟容度設定
用のポテンショメータ15を介して上記コンパレータ1
4の他方の入力端子に送られる。
16は上記コンパレータ14の出力信号に基づいて作動
開始を指令する始動パルスを作成し前記自動焦点合わせ
装置9に送るためのパルス作成回路である。
17は前記レベル検出回路11及びゲート回路13へ送
るタイミングパルスを作成するタイミングパルス発生回
路であり、該発生回路11には前記走査回路4から前記
表示装置8及び自動焦点合わせ装置9へ送られる水平ブ
ランキング信号がゲート回路18を介して供給される。
該ゲート回路18及び前記ゲート回路10は自動焦点合
わせ装置9からの制御信号によって該装置9が作動して
いる期間開じられ、作動していない期間開かれる。
上述の如き構成において検出器6より得られた検出信号
は電子線1の走査と同期して走査される表示装置8に輝
度信号として送られるため、該表示装置8の画面には試
料の走査電子顕微鏡像が表示される。
ここで操作者は観察に先立ち適宜なトリが手段によりパ
ルス作成回路16をトリガして始動パルスを発生させる
自動焦点合わせ装置9は該始動パルスにより動作を開始
する。
即ち該自動焦点合わせ装置9は水平ブランキング信号に
同期して言い換えれば1水平走査毎に対物レンズ電流を
適宜なステップで増大又は減少させると共に、例えば−
水平走査毎に得られる検出信号の変化分を積算し、該積
算値が最も大きくなる時の対物レンズ電流値を求め、求
め終った時点で該対物レンズ電流値を保持する。
従ってこの時点で表示装置8に表示される像は正確に焦
点があったものとなる。
この焦点合わせ動作中ゲート回路10及び18は閉じら
れており、それ以降の回路は動作していない。
そして焦点合わせ動作が終了するとゲート回路10及び
18は自動焦点合わせ装置9からの制御信号によって開
かれる。
そのためゲート回路18を介して第2図aK示す水平ブ
ランキング信号がタイミングパルス発生回路17へ送ら
れる。
該発生回路17は水平ブランキング信号を第2図す。
Cに示す様な2つのタイミングパルスTPI。
TP2に分け、TPIをシグナルレベル検出器11へ、
TP2tゲート回路13へ夫々送る。
シグナルレベル検出器11は該タイミングパルスTPI
によってリセットキれた後第2図d(こ示すよりに1水
平走査期間中検出信号の変化分の大きさを積算する。
この積算値は焦点が合った時に最大となり焦点がずれる
に従って小さくなるため、該積算値をモニターすること
により焦点のずれを監視することができる。
そしてピークホールド回路12は自動焦点合わせ装置に
より正確に焦点が合った直後における最大の積算値例え
ばS。
を保持し、該積算値はポテンショメータ15によって例
えば1/2に分圧されてコンパレータ14に送られる。
更に該コンパレータ14にはゲート回路13を介して1
水平走査毎の積算値S1.S2゜S3に対応する第2図
eに示す様な信号が送られる。
そして全試料移動等何らかの原因によって焦点ずれが発
生すると、ゲート回路13を介してコンパレータ14に
送られる積算値は減少する。
ここでずれの程度がひどくなって該積算値がポテンショ
メータ15から送られる最大の積算値S。
の例えば1/2の値よりも小さくなると、その時刻tに
おいてコンパレータ14は反転してパルス作成回路IL
E−)IJガーし第2図fに示す始動パルスを発生させ
る。
該始動パルスによって自動焦点合わせ回路9が焦点合わ
せ動作を開始すると共にピークホールド回路12はクリ
アされる。
この様にすれば焦点が最初に合わせた状態からポテンシ
ョメータで規定された許容範囲を超えて悪化する毎に焦
点合わせ装置が自動的に作動するため、常に焦点の合っ
た良質な像を観察することができる。
又上述した実施例では画像のボケのチェックタイミング
を水平走査の終了毎としたが、これに限らず垂直走査毎
としてもよいし、或いは任意の一定時間毎としても良い
更に上述した実施例では信号レベル検出器において信号
の変化分の積算を行って一定期間における画像のボケを
検出したが、これに限らず画像のボケをチェックできる
情報、例えば一定期間の信号の平均値、実効値或いは振
巾値等を検出するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図であり、第2図はそ
の動作を説明するための波形図である。 2:対物レンズ、3:試料、4:走査回路、5x、5y
:偏向コイル、9:自動焦点合わせ装置、10,13,
18:ゲート回路、11:信号レベル検出回路、12:
ピークホールド回路、14:コンパレータ、15:ポテ
ンショメータ、17:タイミングパルス発生回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 試料上における電子線走査(こより得られる検出信
    号に基づいて対物レンズ電流を設定する自動焦点合わせ
    手段を備えた装置において、試料上における電子線走査
    (こより得られる検出信号に基づいて焦点ずれに対応す
    る信号レベルを常に検出する焦点ずれ横巾手段と、両射
    自動焦点合わせ手段による焦点合わせ完了時における前
    記焦点ずれ検出手段の出力信号レベルを保持する信号保
    持手段と、該信号保持手段の出力に基づいて設定亭れる
    基準信号と前記焦点ずれ検出手段の出力との比較に基づ
    いて前記自動焦点合わせ手段の動作1を開始させる手段
    を設けた。 こ六5を特徴とする走査電子顕微鏡等の自動焦点合わせ
    装置。
JP52124789A 1977-10-18 1977-10-18 走査電子顕微鏡等の自動焦点合わせ装置 Expired JPS5816588B2 (ja)

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JPS5457948A JPS5457948A (en) 1979-05-10
JPS5816588B2 true JPS5816588B2 (ja) 1983-03-31

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2118009B (en) * 1982-03-02 1985-09-04 Cambridge Instr Ltd Improvements in and relating to electron beam focussing

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5047561A (ja) * 1973-08-15 1975-04-28

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JPS5047561A (ja) * 1973-08-15 1975-04-28

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