JPS5816550B2 - 磁気バブル検出回路 - Google Patents

磁気バブル検出回路

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JPS5816550B2
JPS5816550B2 JP9505277A JP9505277A JPS5816550B2 JP S5816550 B2 JPS5816550 B2 JP S5816550B2 JP 9505277 A JP9505277 A JP 9505277A JP 9505277 A JP9505277 A JP 9505277A JP S5816550 B2 JPS5816550 B2 JP S5816550B2
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JP
Japan
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detector
output
magnetic
mode
peak
Prior art date
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Application number
JP9505277A
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JPS5429933A (en
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岩清水忠
広島実
二見利男
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5429933A publication Critical patent/JPS5429933A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はデータパターンに依存してS/N比が悪化する
恐れを無くした磁気バブル検出回路に関する。
磁気バブルの有無を検出して電気信号に変換するバブル
検出器として、磁気抵抗効果を利用した厚膜形検出器が
従来よく用いられてきた。
この厚膜形検出器として第1図に例示したような多段に
重ねたシェブロンパターンを直列接続した多段シェブロ
ン形厚膜検出器が一般に用いられている。
第1図に示したパターンは、一軸磁気異方性を有しその
中に磁気バブルが形成される磁性材料薄板上に、ホトリ
ソグラフィ等の微細加工技術によって、パーマロイ等の
軟強磁性体薄膜で形成される。
図中りが検出器で、その上下に図示されているシェブロ
ンパターンを横に多段に重ねて配列したS;は、図の左
すみに示す様な回転磁界HRが加えられている場合に、
磁気バブルBを、図の下から上へ(図中Pと示す方向)
転送すると共に、横方向(図中Qと示す)に引き延ばし
て帯状のバブルに拡大スるシェブロンストレッチャとよ
ばれるもの1である。
通常のシェブロンストレッチャSは磁気バブルを始めの
大きさの百〜数百倍に拡大する。
磁気バブルBは、シェブロンストレッチャSで拡大され
た後、検出器りに入り、ここで電気信号に変換される。
; 実際の磁気バブル検出回路では、前記の様な検出器
りを2本組合せて用い、1本をメイン検出器Dm、他の
1本をダミー検出器Ddとして使う。
これら2本の検出器Dm’、Ddの二つの出力の差Vが
検出出力信号となる。
2本の検出器Dm1Ddの配設法には、第2図aに示す
様に、1列に配列されたシェブロンストレッチャSの中
間の隣り合った位置に設ける場合と、第2図すに示す様
に、2列のシェブロンストレッチャ群S1.S2の中の
対応する位置に設ける場合とがある。
aの場合は、2本の検出器D1、D2のいずれかをメイ
ン検出器Dmと定めて使用して差支えないが、一度決定
すれば変わらない。
bの場合は、ある時には検出器D1がメイン検出器Dm
になり、また別の時には検出器D2がメイン検出器Dm
として用いられる。
第3図は検出出力信号■を得るための検出回路の一例を
示す図である。
2つの検出器Dm1Ddにはそれぞれ定電流源から一定
の検出電流Idが供給される。
メイン検出器Dmの出力電圧とダミー検出器Ddの出力
電圧とは、それぞれ前置増幅器PAを通った後、差動増
幅器DAに入り、差動増幅器DAの出力側に検出出力信
号■が得られる。
なお磁気バブルの性質上、たとい検出すべき情報が”1
111”の様な場合でも、メイン検出器Dmとダミー検
出器Ddとの双方の下に同時に磁気バブルが存在するこ
とはない。
第4図は検出出力信号Vの波形の一例を示す図である。
第2図について述べた2本の検出器D1、D2から、磁
気バブルの有無(情報の”1”、”O″)に対応して”
1”(S”)出力と0”(H″)出力とが得られる。
検出器D1と検出器D2との”1”出力波形は第4図に
示したように同様であって、それぞれ第1ピークP1〜
第4ピークP4とよばれる4種類のピークを持つO この様な4種類のピークを持つ検出出力波形Vから、”
1”、0”の識別を行うことができも”1”、0”の識
別には、4種類のピークのすべてのピーク(対応時点)
を利用できる。
実際には、この1”、0″の識別は、4種類のピークの
中のいずれか一つを選択、利用して行うのが普通である
また最近はこの1”、′0”の識別に、互いに隣り合っ
ている2つのピークを利用する方式が一般的になってき
た。
第5図は、第4図について述べた検出出力波形Vの一部
分のピークを利用して1”、0”の識別を行うところを
示す図で、4種類のピークの一つ第1ピークP1を用い
た場合の例を示す図である。
′1”、0”の識別は、ストローブパルスStb、Pに
よって定められるある時点tb(ストローブポイントと
よぶ)における検出出力波形Vの大きさを、あらかじめ
設定されている一定の設定値Vtb (シきい値)と比
較し、Vがvthより太きければ′1”と認識し、小さ
ければ0”と判別する。
第5図において出力波形■の第1ピークP1の特性の良
否は、しきいfJ t hの許容変動範囲(Vth(0
)、Vth(1) )トすルトき、Vth(1)/Vt
h(0)(7)比テアられされる。
この比は出力特性のS/N比とよれば、このS/N比が
大きいほど特性がすぐれた望ましいものであり、実用上
受なくとも3以上のS/N比が要求されている。
本発明者は第4図、第5図に例示した検出出力波形■が
、検出すべき磁気バブル列の1”、0”パターンすなわ
ちデータパターンに依存して大きく変化し、前記4種類
のピークのいずれを利用するかによって、出力特性のS
/N比の良否が非常に大きく異なることを見出した。
第5図中に破線で示した波形は前記データパターンに依
存して変化した出力で、1”(S”)出力が小さくなり
、′0”(N”)出力が大きくなっている。
その結果、変化後の出力波形のS/N比は、変化しない
場合のS/N比の半分以下に悪化することがわかった。
すなわち従来の磁気バブル検出回路は、出力特性のデー
タパターン依存性のために、不適切なピーク(対応時点
)においてデータを識別しようとした場合にはS/N比
が悪くなり、誤りを生ずる恐れがあるという欠点があっ
た。
本発明は前記従来の磁気バブル検出回路の欠点を除き、
データパターンに依存してS/N比が悪化することのな
い磁気バブル検出回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明者が出力波形のデータ
パターン依存性を詳細に検討した結果、データパターン
6・・・1111・・・”と1・・・0000・・・”
とは出力波形をほとんど変化させないが、データパター
ン”・・・1010・・・”は出力波形に最も大きな変
化を与え、出力波形Vの第1ピークP1 から第4ピー
クP4にいたる4種類のピークのすべてがデータパター
ンに依存して変化することがわかった。
さらに出力波形Vのデータパターン依存性には2種類の
モードしかなく、4種類のピークの、データパターンに
依存する変化は、どれも、いつも必らず、前記2種類の
モードのうちの一方のモードをとることがわかった。
すなわち各ピークが2種類のモードのいずれをとるかは
一意的に定まっている。
第6図は、出力波形変化のデータパターン依存性の前記
2種類のモードを示す図である。
1つのモードは、第6図aに示すように、データパター
ンが”・・・1111・・・”あるいは6・・・ooo
o・・・”から”・・・1010・・・”になると、′
1”(S”)出力が小さくなり、”0”(”N”)出力
が大きくなるモードである。
このモードをαモードとよぶこととする。
αモードでは前記の様にS/N比が悪くなって半分以下
となる。
他の一つのモードは第6図すに示すようにデータパター
ンが6・・・1111・・・”あるいは“・・・ooo
o・・・”から”・・・1010・・・″になった時に
、αモードとは逆に1”(”S”)出力が大きくなり、
”0”(N”)出力が小さくなってS/N比が良くなる
モードで、以後βモードとよぶことにする。
なおデータパターンカげ・・・1010・・・”に変化
した時の出力波形変化のモードとして第6図a、bに示
すα、βモードの様にそれぞれ′1”、0”出力の変化
が逆方向に生ずるモードだけでなく、”■”、0”の出
力が同方向に変化する場合も出力変化の組合せとしては
考えられるが、しかしこの様な変化のモードは実在しな
いことが確認されている。
第7図は第4図に例示した実際の出力波形Vのデータパ
ターンによる変化の様子を示す図である1検出器D1.
D2それぞれの出力波形Vの第1ピークP1から第4ピ
ークP4までの合計8個のピークは、第6図について述
べたαとβの2種類のモードのいずれかになっている。
第8図は、これら8個のピークがデータパターンに依存
して変化するモードが、α、βモードのいずれに相当し
ているかを示す図である。
この第8図に示した、出力波形の各ピークと、α、βモ
ードとの関係は、常にこの図に示す通りで一定であり、
変わることはない。
本発明の骨子は、出力波形変化のデータパターン依存性
がαモードになるかβモードになるかは、バブル検出器
D1、D2のいずれを用い、かつその出力波形のどのピ
ーク対応時点で判明するかによって一意的に定まること
、およびβモードではS/N比が悪化しないことに着目
し、βモードの変化をするピークに相当する時点で”■
”、”0”の識別を行うようにしたことにある。
また、′1”、”0”の識別に利用する出力波形のピー
クの数として、P1〜P2の中の1つのピークを利用す
る場合と、互いに隣り合っている2つのピークを用いる
場合とがあることはすでに述べた。
互いに隣り合っている2つのピークを用いる場合にも、
第8図に示しである互いに隣り合う2つのβモードの変
化をするピークを選んで利用すればよい。
データの識別にピークを1つだけ用いる場合も隣り合う
2つのピークを用いる場合にも、本発明の検出回路では
βモードのピークを利用するため、S/N比がデータパ
ターンに依存して低下することはない。
第9図はバブル検出器の一例を示す図である。
検出器パターンの形状、寸法は図示の通りで、パターン
膜厚は3,500人、パターン材質は81係Ni−19
%Feのパーマロイである。
この検出器を周波数100KH2で強度39〜450e
の回転磁界、周囲温度10〜60℃の条件下で動作;さ
せた。
αモードのピークを用いて識別しようとするとS/N−
5,0/2.5=2となるのに対し、本発明によって必
ずβモードのピークを利用した場合S/N=5.0/1
.0=5となり、S/N比が2倍以上に向上した。
以上の説明においては、説明の便宜上、検出器のパター
ンが第10図aの様な場合について説明したが、検出器
のパターンとしては、この他に第10図b−dに例示し
たようなものその他があり、本発明がそれらのいずれの
パターンの検出器に対しても同様に適用できることは言
うまでもない。
なお、データパターンによってS/Hの劣化しないβモ
ードのピークを利用して1”、′0”を検知する回路構
成及びその時に磁気バブルの有無を検出する回路構成を
示す利用回路構成例を第11図に示す。
同図における回路構成においては、例えば第3図のDA
の後にコンパレータ、ラッチ回路を設け、コンパレータ
の基準電圧に第5図のvth 1 ラッチ回路のタイミ
ングに第5図のStb、Pを用いることにより構成でき
る。
そして5tb−pの位相を例えば第7図のDlのP3ピ
ークに設定すればよい。
以上説明した様に本発明によれば、磁気バブルの検出に
際しデータパターンに依存した検出器出力特性のS/N
比の大幅な減少を防止できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は多段シェブロン形厚膜検出器のパターンの一例
を示す図、第2図は2本の検出器の配設例を示す図、第
3図は検出回路の例を示す図、第4図は検出出力信号の
波形の例を示す図、第5図は出力特性のS/N比の説明
図、第6図は出力特性がデータパターンに依存して変化
する際のモード説明図、第7図は実際の出力波形のデー
タパターンによる変化の様子を示す図、第8図は第7図
に示した出力波形の各ピークの変化のモードをα、βに
分類して示す図、第9図はバブル検出器パターンの一例
を示す平面寸法図、第10図は検出器の各種パターンを
例示する図、第11図は利用回路構成例を示す図である

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 磁気バブルの有無を検出し、情報の”1”、“0″
    を判別する磁気バブル検出回路において、磁気バブルの
    有無を電気信号に変換する1対の磁気バブル検出器を備
    え、検出器出力波形のピークがデータパターンにβモー
    ドで依存して変化するのに対応する時点で、磁気バブル
    の有無を検出するようにしたことを特徴とする磁気バブ
    ル検出回路。
JP9505277A 1977-08-10 1977-08-10 磁気バブル検出回路 Expired JPS5816550B2 (ja)

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JP9505277A JPS5816550B2 (ja) 1977-08-10 1977-08-10 磁気バブル検出回路

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JP9505277A JPS5816550B2 (ja) 1977-08-10 1977-08-10 磁気バブル検出回路

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JPS5429933A JPS5429933A (en) 1979-03-06
JPS5816550B2 true JPS5816550B2 (ja) 1983-03-31

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ID=14127274

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JP9505277A Expired JPS5816550B2 (ja) 1977-08-10 1977-08-10 磁気バブル検出回路

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6017428U (ja) * 1983-07-14 1985-02-06 日本電色工業株式会社 色差計
JPS62129726A (ja) * 1985-11-29 1987-06-12 Kurabo Ind Ltd 分光光度計
JPH01195343A (ja) * 1988-01-29 1989-08-07 Shimadzu Corp 光学的分析装置
JPH08110302A (ja) * 1993-12-22 1996-04-30 Shinetsu Quartz Prod Co Ltd スペクトロフォトメータ及びライトガイドを有する装置

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JPS6237285U (ja) * 1985-08-21 1987-03-05

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