JPS58165388A - 保護回路付半導体レ−ザ - Google Patents

保護回路付半導体レ−ザ

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Publication number
JPS58165388A
JPS58165388A JP4720782A JP4720782A JPS58165388A JP S58165388 A JPS58165388 A JP S58165388A JP 4720782 A JP4720782 A JP 4720782A JP 4720782 A JP4720782 A JP 4720782A JP S58165388 A JPS58165388 A JP S58165388A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser diode
fet2
diode
voltage
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4720782A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Sakaki
榊 重雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP4720782A priority Critical patent/JPS58165388A/ja
Publication of JPS58165388A publication Critical patent/JPS58165388A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/06825Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は保護回路付半導体レーダに関゛する。
半導体レーず(レーずダイオード)は発振条件。
利得(ゲイン)等の制約からPN接合面積が他の半導体
装置に比較して小さい。このため、静電破壊耐量が小さ
い欠点がある。そこで、ツェナーダイオード(定電圧ダ
イオード)からなる保護ダイオードt2個ハックトウバ
ック(Back to Back)で並列に接続するこ
とによって静電破壊を防止することが考えれる。しかし
、この構造では、逆方向の静電破壊は防止できるが、順
方向の静電破壊は肪止し罠(い。すなわち、レーザダイ
オードの順方向電流に対する光出力は第1図のグラフで
示すよ5に、閾電流値(Ith)を越えると光出力は急
激に増大する。そして、安全動作m口の最大光出力At
−越えると、レーずダイオードは破壊する。
最大光出力AK対応する動方向電流値Bは、第2図の順
方向電流−電圧ll#性で示すように、原方向電圧饋C
で決まるが、順方向電流−電圧餐性の相関が急峻である
ことから、脣性のバラツキの大きなツェナーダイオード
では所冒通りに規定できな(ゝO 一方、レーずダイオードの静電破壊な防止するために、
カーレント・り建ツタ−(Current ・Lim目
ter)、xa−axメタ−−(Slow 11Sta
+rter)、ノイズ−り電ツタ−(No量$・・Li
m1tter)を付加することが考えられるが、高備と
なるとともに、付加位置に制約があり、実際的でない。
したがって、本発明の目的は静電破壊を生じない安価か
つ小型の保護回路付半導体し−fを提供することにある
このような目的V達成するために本発明は、レーザダイ
オードに1列に接合形電界効果トランジスタを接続する
とともに、これらに並列にパックトウパックに2個の定
電圧ターイオードを接続して接合形電界効果トランジス
タでレーザダイオードの安全動作範囲の最大順方向電流
@を規足し、かつ2つの定電圧ダイオードによって順方
向および逆方向の過電圧によるレーザダイオードの破壊
な防止するものであって、以下実施例により本発明を説
明する。
#13図は本発明の一実施例による保饅回路付レーザダ
イオードを示す等価゛回路図である。同図に示すように
、この保饅回路付レーザダイオードは、レーザダイオー
ドlのアノ1−ド側に接合形電界効果トランジスタ2の
ドレイ>(D)電極を介して1層・。
列に接続する。この接合形トランジスタ2の飽和電流値
D〔ゲー)(G)、 ソース(S)間電圧零の場合〕は
レーザダイオードlの安全動作範囲の最大光出力AV生
じさせる順方向電流IIBと同等あるいは低くなるよう
にする。
一方、2個のツェナーダイオード(定電圧ダイオード)
3#4Yバツクトウバツク(両ツェナーダイオード3,
4のカソード同志t−接続した構造)として、レーザダ
イオードl#よび接合形電界効果トランジスタに並列に
!ll続する。この際、レーザダイオードlK願方向電
圧が印加されるように端子!、6にグラス(+)、マイ
ナス(−)を印加した場合において、逆バイアスが加わ
る一方のツェナーダイオード4の耐圧Eは、第4図に示
すように、接合形電界効果トランジスタ2のドレイン電
流が飽和した状l1l(飽和電mD)でかつブレークダ
ウンしない電圧taぶ。この結果、この回路1゜ の順方向に過電圧が加わった場合、接合形電界効11 果トランジスタ2・の定電流特性で、常に一定の1h1
: 電流りがレーザダイオードIK流れる。また、過1□が
逆2.イア、カー−6一方。ッ8+−5イオード4の耐
圧Eよりも大きくなると、ブレークダウンを起して電流
はこのツェナーダイオード4に流れることになる。よっ
てレーザダイオード1は順方向の過電圧、過電fILK
よる破壊から保護される。
また、レーザダイオードIKは、量大出力AV生じさせ
る順方向電流値BY越える電流が流れないこと、から、
レーザダイオード1の破壊は防止されることにな−る。
他方、順方向接続される他方のツェナーダイオード3の
耐圧はレーザダイオードlの耐圧よりも低(しておく。
この結果、逆方向lIc1a電圧が印加された場合、他
方のツェナーダイオード3がプレークタ゛ウンしてレー
ザダイオードlは保−される。
このような実細例によれば、保験回路付し−望タイオー
ドの與装後、セット電源からのサージによっても靜電破
1sv生じない。また、接合形電界効果トランジスタ2
のV。、における飽和電流値りを適当に選んでおけば、
光出力の増大によるレーザダイオードlの破壊も防止で
きる。
また、この実施例では、モノリシックに製造できること
から、安価かつ小型となる。また、製品となると同時に
保護回路が構成されることから、製品の取扱い上静電破
壊対策は不豐となる効果もある。
なお、本発明は前記実施例に限定されるものではなく、
本発明の技術思想に基いてその変形が可能である。
以上のよう罠、本発明によれば、静電破壊を起さない小
型かつ安価な保膜回路付半導体レーザを提供することが
できる。
【図面の簡単な説明】 第1図はレーザダイオードの光出カー電流lF#牲を示
すグラフ、第2図はレーザダイオードの順方向電流−電
圧特性を示すグラフ、第3図は本発明の一実施例による
保饅回路付レーザダイオードを示す等価回路図、第4図
は接合形電界効果トランジスタの静特性を示すグラフで
ある。 l・・・レーザダイオード、2・・・接合形電界効果ト
ランジスタ、3−4・・・ツェナーダイオード。 代理人 弁理士  薄 1)利 幸 第  1  図 第  3  図 第  2  図 第  4  図 と

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、レーザダイオードに直列に定電流素子vII絖する
    とともに、並列にバックトウバックに2儂の定電圧素子
    VW!続してなる保S回路付半導体レーザ。 2、定電流素子として、接合形電界効果トランジスタを
    用い、定電圧素子として定電圧ダイオードを用いること
    vq#黴とする特許請求の範囲第1項記載の保−回路付
    半導体レーザ。
JP4720782A 1982-03-26 1982-03-26 保護回路付半導体レ−ザ Pending JPS58165388A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4720782A JPS58165388A (ja) 1982-03-26 1982-03-26 保護回路付半導体レ−ザ

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4720782A JPS58165388A (ja) 1982-03-26 1982-03-26 保護回路付半導体レ−ザ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58165388A true JPS58165388A (ja) 1983-09-30

Family

ID=12768701

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4720782A Pending JPS58165388A (ja) 1982-03-26 1982-03-26 保護回路付半導体レ−ザ

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JP (1) JPS58165388A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6292500B1 (en) 1998-04-23 2001-09-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor laser device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6292500B1 (en) 1998-04-23 2001-09-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor laser device

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