JPS58162861A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS58162861A JPS58162861A JP57046040A JP4604082A JPS58162861A JP S58162861 A JPS58162861 A JP S58162861A JP 57046040 A JP57046040 A JP 57046040A JP 4604082 A JP4604082 A JP 4604082A JP S58162861 A JPS58162861 A JP S58162861A
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- ultrasonic
- probe
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- ultrasonic probe
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
- G01N29/0627—Cathode-ray tube displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は小欠陥部の検出も可能にする超音波探傷装置（
ｔ：関する◎ 〔発明の技術的背景とその問題点〕 超音波探傷法の原理は次の通りである・被検体の表面ミ
ニ超音波探触子を配置し、この超音波探触子より超音波
を被検体の内部へ向けて発信すると、その超音波は被検
体と気相との境界面で反射する。したがって被検体の底
面から反射波を生ずるほか、被検体内部Ｃ：空洞状の欠
陥部があるとその欠陥部からも反射波な生ずることにな
る。そこでその反射波を検出することぽ二より、超音波
発信位置及び発信時から反射波の受信時までの所要時間
等Ｃ；より欠陥部の位置を知ることができ、また欠陥部
の大きさは反射波が得られる超音波探触子の移動範囲及
び反射波の振幅の大きさ等ｌ：より算出することができ
る◎ ところで従来の超音波探傷装置にあっては。
ｔ：関する◎ 〔発明の技術的背景とその問題点〕 超音波探傷法の原理は次の通りである・被検体の表面ミ
ニ超音波探触子を配置し、この超音波探触子より超音波
を被検体の内部へ向けて発信すると、その超音波は被検
体と気相との境界面で反射する。したがって被検体の底
面から反射波を生ずるほか、被検体内部Ｃ：空洞状の欠
陥部があるとその欠陥部からも反射波な生ずることにな
る。そこでその反射波を検出することぽ二より、超音波
発信位置及び発信時から反射波の受信時までの所要時間
等Ｃ；より欠陥部の位置を知ることができ、また欠陥部
の大きさは反射波が得られる超音波探触子の移動範囲及
び反射波の振幅の大きさ等ｌ：より算出することができ
る◎ ところで従来の超音波探傷装置にあっては。
欠陥部からの反射波の振幅の大きさが欠陥部の大きさに
：依存し、欠陥部が小さいと反射波の振幅も小さくなる
ため検出されない欠点があった。
：依存し、欠陥部が小さいと反射波の振幅も小さくなる
ため検出されない欠点があった。
また欠陥部の大きさの評価Ｉ：反射波の大きさを用１・
・ているため、振幅の安定した反射波を得る必要かある
。そこで超音波探触子と被検体の表面との間口音饗的な
結合材である水、グリース等の液体又は粘看性の物質を
介挿して、超音波探触子な被検体にほぼ一定の力で押付
けるようにしている。ところが被検体の表面ｉ：凹凸な
どがあると音響的結合が不安定となり、そのため超音波
が一定の強さで被検体の内部へ発信されないことがあり
、その結果１反射波の振幅が欠陥部の大ささとは無関係
（−変動し、欠陥部の検出が不能となったり欠陥部の大
きさが適正５二評価されない事態が生ずるおそれもあっ
たー〔発明の目的〕 本発明は以上の事情にもとづいてなされたもので、その
目的は１反射波の振幅の大きさＣ；依存することなく欠
陥部の検出及びその大きさの評価を行なうことができ、
小さな欠陥部も見落すことのない超音波探傷装置を提供
することｇ二ある。
・ているため、振幅の安定した反射波を得る必要かある
。そこで超音波探触子と被検体の表面との間口音饗的な
結合材である水、グリース等の液体又は粘看性の物質を
介挿して、超音波探触子な被検体にほぼ一定の力で押付
けるようにしている。ところが被検体の表面ｉ：凹凸な
どがあると音響的結合が不安定となり、そのため超音波
が一定の強さで被検体の内部へ発信されないことがあり
、その結果１反射波の振幅が欠陥部の大ささとは無関係
（−変動し、欠陥部の検出が不能となったり欠陥部の大
きさが適正５二評価されない事態が生ずるおそれもあっ
たー〔発明の目的〕 本発明は以上の事情にもとづいてなされたもので、その
目的は１反射波の振幅の大きさＣ；依存することなく欠
陥部の検出及びその大きさの評価を行なうことができ、
小さな欠陥部も見落すことのない超音波探傷装置を提供
することｇ二ある。
９ｉ４１の発明に係る超音波探傷装置は超音波パルスを
発生する超音波パルス発生器と、この発生器より発生さ
れた一定周波数の超音波Ｖ複数の測定点において被検体
の表面からその内部へ向けて発信するととも６二その反
射波を受信する超音波探触子と、この超音波探触子によ
り受信された反射波を周波数分析しその周波数成分信号
及び各周波数成分に対応したエネルギー信号を出力する
周波数分析器と、前記超音波探触子を前記被検体の表面
≦：沿って走査させる走査装置と、この走査装置からの
信号≦；もとづいて前記超音波探触子の位置を検出しそ
の位置信号を出力する探触子位置検出器と、この探触子
位置検出器からの位置信号をＸ軸５ユ入力するとともに
前記周波数分析器からの周波数成分信号及び欠陥部の大
きさＣ：対応するエネルギ信号をそれぞれＹ紬及び２軸
Ｃ；入力して欠陥部の大きさを色別表示するカラー表示
器とを具備して構成されている・ また第２の発明−二係る超音波探傷装置は、超音波パル
スな発生する超音波パルス発生器と。
発生する超音波パルス発生器と、この発生器より発生さ
れた一定周波数の超音波Ｖ複数の測定点において被検体
の表面からその内部へ向けて発信するととも６二その反
射波を受信する超音波探触子と、この超音波探触子によ
り受信された反射波を周波数分析しその周波数成分信号
及び各周波数成分に対応したエネルギー信号を出力する
周波数分析器と、前記超音波探触子を前記被検体の表面
≦：沿って走査させる走査装置と、この走査装置からの
信号≦；もとづいて前記超音波探触子の位置を検出しそ
の位置信号を出力する探触子位置検出器と、この探触子
位置検出器からの位置信号をＸ軸５ユ入力するとともに
前記周波数分析器からの周波数成分信号及び欠陥部の大
きさＣ：対応するエネルギ信号をそれぞれＹ紬及び２軸
Ｃ；入力して欠陥部の大きさを色別表示するカラー表示
器とを具備して構成されている・ また第２の発明−二係る超音波探傷装置は、超音波パル
スな発生する超音波パルス発生器と。
この発生器より発生された一定周波数の超音波を複数の
測定点Ｃ−おいて被検体の表「からその内部鑑−向けて
発信するとともＣ；その反射波を受働する超音波探触子
と、前記被検体の無欠陥部情報を記憶しておくメモリー
と、 ＩＴＪ紀の超音波探触子により受信された反射波
を周波数分析しその周波数成分信号及び各周波数成分≦
；対応したエネルギ４ｓ号を出力する周波数分析器と、
前記超音波探触子の各周波数成分番＝対応したエネルギ
信号が前記メモＪ１．−１：記憶された情報と異なると
きはそれらの信号を出力する周波数分新湯と、前記超音
波探触子を前記被検体の表面６；沿って走査させる走査
装置と、こみ走査装置からの信号にもとづいて前記超音
波探触子の位置を検出しその位置信号を出力する採触子
位・置検出器と、この探触子位置検出器からの位置信号
をＸ軸に入力するとともに前記周波数分析器からの周波
数成分信号及び欠陥部の大きさに対応するエネルギ信号
をそれぞれＹ軸及びｚＩＩＩＡ≦二人力して欠陥部の大
きさを色別表示するカラー表示器とを具備して構成され
ている・ 〔発明の実施例〕 第１因は本発明の一実施例を示すもので、図中ｌは被検
体、２はこの被検体ｌ内に存在する空洞状の欠陥部であ
り、Ｓは超音波探傷装置の超音波探触子である・この超
音波探触子１は走査装置４に躯動され、被検体ｌの表面
に沿って矢印Ｘ方向へ走査する。そしてこの走査装ｆｉ
１ｍからの信号ｇ二もとづいて探触子位置検出ａＳでは
超音波探触子１の位置を検出するようｉ：構成されてい
る・また図中６は時間コントロール部テコｒｎ Ｎ 間
コントロール部６は前記探触子位置検出１１４５ｖＦｆ
ｒ足のタイミングで作動させるようｇ；構成されている
・また超音波パルス発生器７も時間コントロール部６Ｉ
−制御されて所定のタイミングで超音波パルスを発生し
、前記超音波探触子３より被検体１の内部に同けて超音
波を発信させるものである。一方、超音波探触子３は自
・−・発信した超音波の反射波を受働する−そしてその
９： ４ｍ ４Ａ号はエコー増幅器８で増幅され送信パ
ルスを除去するゲート回路９ケ介して。
測定点Ｃ−おいて被検体の表「からその内部鑑−向けて
発信するとともＣ；その反射波を受働する超音波探触子
と、前記被検体の無欠陥部情報を記憶しておくメモリー
と、 ＩＴＪ紀の超音波探触子により受信された反射波
を周波数分析しその周波数成分信号及び各周波数成分≦
；対応したエネルギ４ｓ号を出力する周波数分析器と、
前記超音波探触子の各周波数成分番＝対応したエネルギ
信号が前記メモＪ１．−１：記憶された情報と異なると
きはそれらの信号を出力する周波数分新湯と、前記超音
波探触子を前記被検体の表面６；沿って走査させる走査
装置と、こみ走査装置からの信号にもとづいて前記超音
波探触子の位置を検出しその位置信号を出力する採触子
位・置検出器と、この探触子位置検出器からの位置信号
をＸ軸に入力するとともに前記周波数分析器からの周波
数成分信号及び欠陥部の大きさに対応するエネルギ信号
をそれぞれＹ軸及びｚＩＩＩＡ≦二人力して欠陥部の大
きさを色別表示するカラー表示器とを具備して構成され
ている・ 〔発明の実施例〕 第１因は本発明の一実施例を示すもので、図中ｌは被検
体、２はこの被検体ｌ内に存在する空洞状の欠陥部であ
り、Ｓは超音波探傷装置の超音波探触子である・この超
音波探触子１は走査装置４に躯動され、被検体ｌの表面
に沿って矢印Ｘ方向へ走査する。そしてこの走査装ｆｉ
１ｍからの信号ｇ二もとづいて探触子位置検出ａＳでは
超音波探触子１の位置を検出するようｉ：構成されてい
る・また図中６は時間コントロール部テコｒｎ Ｎ 間
コントロール部６は前記探触子位置検出１１４５ｖＦｆ
ｒ足のタイミングで作動させるようｇ；構成されている
・また超音波パルス発生器７も時間コントロール部６Ｉ
−制御されて所定のタイミングで超音波パルスを発生し
、前記超音波探触子３より被検体１の内部に同けて超音
波を発信させるものである。一方、超音波探触子３は自
・−・発信した超音波の反射波を受働する−そしてその
９： ４ｍ ４Ａ号はエコー増幅器８で増幅され送信パ
ルスを除去するゲート回路９ケ介して。
対ｆ４１範囲から得られた反射波の周波数を分析する周
波数分析器１０へ出力される・なお、これらゲート回路
９及び周波数分析器１０も前記時間コントロールｓｃｉ
二よってその作動タイミングを制御されている・また図
中７７は被検体ｌが健全状態にあるときのデータを比較
用基準データとして記憶しておくメモリーであり、その
基準データは適宜Ｏσ記局周波数分析器０へ入力される
ｏよた周波数分析器１０Ｃ二よる周波数分析結果はカラ
ー表示器（カラーｃＲ’ｒ）ｌｚ＆二よって表示される
ように構成されている。
波数分析器１０へ出力される・なお、これらゲート回路
９及び周波数分析器１０も前記時間コントロールｓｃｉ
二よってその作動タイミングを制御されている・また図
中７７は被検体ｌが健全状態にあるときのデータを比較
用基準データとして記憶しておくメモリーであり、その
基準データは適宜Ｏσ記局周波数分析器０へ入力される
ｏよた周波数分析器１０Ｃ二よる周波数分析結果はカラ
ー表示器（カラーｃＲ’ｒ）ｌｚ＆二よって表示される
ように構成されている。
次Ｃ：このよう（：構成された超音波探傷装置の作用を
説明する・ 前記時間コントロール部６からのパルスによって超音波
パルス発生器１はトリガされ、これ（；よって超音波探
触子３が励信される・そしてこの超音波探触子３から超
音波パルスが被検体ｌの内部へ向けて発信され欠陥部２
に達すると。
説明する・ 前記時間コントロール部６からのパルスによって超音波
パルス発生器１はトリガされ、これ（；よって超音波探
触子３が励信される・そしてこの超音波探触子３から超
音波パルスが被検体ｌの内部へ向けて発信され欠陥部２
に達すると。
その欠陥部で反射し反射波が探触子３ｇ−おいて子Ｓは
、！＠２図Ｃ二示すように矢印Ｘ方向へ被検体ｌに沿っ
て走査しながら反射波を受信すると。
、！＠２図Ｃ二示すように矢印Ｘ方向へ被検体ｌに沿っ
て走査しながら反射波を受信すると。
ＳＳａのようｉ：その探触子位ｉｉ Ｘ ａ 、−・Ｘ
、、−Ｘｌｌ、・・・、Ｘｓｇ二対応して、エコー増幅
器８より欠陥エコー及び底面エコーが出力される・なお
欠陥エコーは前記欠陥ｓｚからの反射波によって得られ
るものであり、底面エコーは被検体ｌの底面からの反射
波によって得られるものである・まだ超音波探触子１よ
り発信される送信パルスは信号処理ｉ：は不要な信号で
あり、このような不要な送信パルスはゲート回路りを通
すこと鑑：よって除去され、ゲート回路通過時間（ゲー
ト時間）Ｔｇの間に生じた信号のみが、前記周波数分析
ｆ＃ｒｌＯに対し出力されるＣなお。
、、−Ｘｌｌ、・・・、Ｘｓｇ二対応して、エコー増幅
器８より欠陥エコー及び底面エコーが出力される・なお
欠陥エコーは前記欠陥ｓｚからの反射波によって得られ
るものであり、底面エコーは被検体ｌの底面からの反射
波によって得られるものである・まだ超音波探触子１よ
り発信される送信パルスは信号処理ｉ：は不要な信号で
あり、このような不要な送信パルスはゲート回路りを通
すこと鑑：よって除去され、ゲート回路通過時間（ゲー
ト時間）Ｔｇの間に生じた信号のみが、前記周波数分析
ｆ＃ｒｌＯに対し出力されるＣなお。
このようなゲート時間ＴｇはＪ底面エコーが得られる１
；充分な時間幅として設定されるものである・ここで、
デー４回路９より出力されたエコーは１周波数分析＠ｔ
ａｔ二てフーリエ変換などＩ：よって周波数領域へ変
換される・その結果＄４図に示すような超音波探触子１
の位１ｉｉＣ；対応した周波数スペクトルが得られる。
；充分な時間幅として設定されるものである・ここで、
デー４回路９より出力されたエコーは１周波数分析＠ｔ
ａｔ二てフーリエ変換などＩ：よって周波数領域へ変
換される・その結果＄４図に示すような超音波探触子１
の位１ｉｉＣ；対応した周波数スペクトルが得られる。
そこで周波数成分信号はカラー表示器１２の２軸へ入力
される・そこでカラー表示器１２の１ｉｉＦｆｉ上穫；
はそれらのエネルギの大きさ一二応じた色別表示がなさ
れることｇ二なる・一方、探触子Ｉの位置は走査装置４
からの信号が与えられる探触子位置検出ａＳによって検
出され、その位置信号はカラー表示器１１のＸ軸へ入力
される・その結果。
される・そこでカラー表示器１２の１ｉｉＦｆｉ上穫；
はそれらのエネルギの大きさ一二応じた色別表示がなさ
れることｇ二なる・一方、探触子Ｉの位置は走査装置４
からの信号が与えられる探触子位置検出ａＳによって検
出され、その位置信号はカラー表示器１１のＸ軸へ入力
される・その結果。
カラー表示器１２の画面上５；はｔｓ５ｓｔ二示すよう
な周波数スペクトルの２次元表示がなされることＣ：な
る。ここで周波数スペクトルのエネルギの最大値を１と
して表示される・そしてこの表示から超音波探触子３が
Ｘ、〜Ｘｉの間（：位置するときの周波数スペクトルが
、欠陥部ｌの存在しないＸａ、Ｘｉなどの位ＲＣ−ある
ときの周波数スペクトルと異なることがヤ目で理解でき
るものとなる・また、欠陥部２の大き′８に関する情報
は１色の変るとツテｉ−よって表わされるので、このピ
ップから欠陥部２の大きさを評価することができる・ なおメモ９−ｔｘｔ二無欠陥位置での周波数スペクトル
を基準スペクトルとして記憶させておき、これと異なる
周波数スペクトルのみを表示させるようにすることｇ；
よって、欠陥部検出の能率同上をはかることができる・ 以上のようにカラー表示器１２の画面上に周波数スペク
トルの２次元表示を行うこと１；よって対傘範囲全体を
パターン化することができ。
な周波数スペクトルの２次元表示がなされることＣ：な
る。ここで周波数スペクトルのエネルギの最大値を１と
して表示される・そしてこの表示から超音波探触子３が
Ｘ、〜Ｘｉの間（：位置するときの周波数スペクトルが
、欠陥部ｌの存在しないＸａ、Ｘｉなどの位ＲＣ−ある
ときの周波数スペクトルと異なることがヤ目で理解でき
るものとなる・また、欠陥部２の大き′８に関する情報
は１色の変るとツテｉ−よって表わされるので、このピ
ップから欠陥部２の大きさを評価することができる・ なおメモ９−ｔｘｔ二無欠陥位置での周波数スペクトル
を基準スペクトルとして記憶させておき、これと異なる
周波数スペクトルのみを表示させるようにすることｇ；
よって、欠陥部検出の能率同上をはかることができる・ 以上のようにカラー表示器１２の画面上に周波数スペク
トルの２次元表示を行うこと１；よって対傘範囲全体を
パターン化することができ。
従来、Ｎ触子位置４ａ Ｃ周波数スペクトルを求めて欠
陥部を評価していたのに比べてより小さい欠陥部の検出
が可能ｇ；なり、また対象範囲内の探傷時間が短縮され
るととζ；なる・ 〔発明の効果〕 襖１の発明に係る超音波探傷装置は超音波パルスを発生
する超音波パルス発生器と、この発生器−り発生された
一定周波数の超音波を複数の測定点と二ｇいて被検体の
表面からその内部へ向けて発信するとともＣユその反射
波を受信する超音波探触子と、この超音波探触子により
受信された反射波を周波数分析し゛その周波数成分信号
及び各周波数成分−二対応したエネルギ信号を出力する
周数数分析器とｓｖＪ記超音波探触子な前記被検体の表
面Ｃ：沿って走査させる走査装置と、この走査装置から
の信号１；もとづいて前記超音波探触子の位置を検出し
その位置信号を出力する探触子位置検出器と、この探触
子位置検出器からの位置信号なＸ軸に入力するとともＣ
二前記周波数分析器からの周波数成分信号及び欠陥部の
大きさに対応するエネルギ信号をそれぞれＹ軸及びＺ軸
に入力して欠陥部の大きさな色別表示するカラー表示器
とを具備して構成されるものであるから、欠陥部が大き
さに応じて色分けされた状態で容具に検出され、かつ小
さな欠陥部をも検出することができる・また、エコーレ
ベル（−依存することなく欠陥部の検出及びその大きさ
の評価がなされるので、従来のようｇ；カッブラントの
不安定供給や被検体表面の凹凸によるエコーレベルの不
安定Ｃ：影響されることはなく、探傷精度の同上並びｉ
：探傷時間の短縮がはかられる０ ざらｔ二＊２の発明はＩ％ｌの発明で述べた周波数分析
器Ｃ：比較機能をもたせるとともＣ：被検体の無欠陥部
情報を記憶しておくメモリーを設け。
陥部を評価していたのに比べてより小さい欠陥部の検出
が可能ｇ；なり、また対象範囲内の探傷時間が短縮され
るととζ；なる・ 〔発明の効果〕 襖１の発明に係る超音波探傷装置は超音波パルスを発生
する超音波パルス発生器と、この発生器−り発生された
一定周波数の超音波を複数の測定点と二ｇいて被検体の
表面からその内部へ向けて発信するとともＣユその反射
波を受信する超音波探触子と、この超音波探触子により
受信された反射波を周波数分析し゛その周波数成分信号
及び各周波数成分−二対応したエネルギ信号を出力する
周数数分析器とｓｖＪ記超音波探触子な前記被検体の表
面Ｃ：沿って走査させる走査装置と、この走査装置から
の信号１；もとづいて前記超音波探触子の位置を検出し
その位置信号を出力する探触子位置検出器と、この探触
子位置検出器からの位置信号なＸ軸に入力するとともＣ
二前記周波数分析器からの周波数成分信号及び欠陥部の
大きさに対応するエネルギ信号をそれぞれＹ軸及びＺ軸
に入力して欠陥部の大きさな色別表示するカラー表示器
とを具備して構成されるものであるから、欠陥部が大き
さに応じて色分けされた状態で容具に検出され、かつ小
さな欠陥部をも検出することができる・また、エコーレ
ベル（−依存することなく欠陥部の検出及びその大きさ
の評価がなされるので、従来のようｇ；カッブラントの
不安定供給や被検体表面の凹凸によるエコーレベルの不
安定Ｃ：影響されることはなく、探傷精度の同上並びｉ
：探傷時間の短縮がはかられる０ ざらｔ二＊２の発明はＩ％ｌの発明で述べた周波数分析
器Ｃ：比較機能をもたせるとともＣ：被検体の無欠陥部
情報を記憶しておくメモリーを設け。
このメモリーＣ；記憶された情報と異なる情報のみを欠
陥部情報として前記カラー表示器１；表示するものであ
るから、欠陥部の有無が一層明確Ｉ：なる効果が得られ
る。
陥部情報として前記カラー表示器１；表示するものであ
るから、欠陥部の有無が一層明確Ｉ：なる効果が得られ
る。
１１１１１は、本発明（第１ｍ！ｇｚの発ＢＡ）の一実
施例を示す概略因、襖２因ないし纂５因は同！−例の作
用を説明する図である。 ｌ・・・被検体、２−・欠陥部、ト・・超音波探触子。 ４・・・走査装置、５・・・探触子位置検出器、７・・
・超音波パルス発生器、１０・・・周波数分析器、ｌｌ
・・・メ リー、１２・−カラー表示器Ｏ出願人代理人
弁理士 峠 江 武 彦第１図 ｓ２図 第３図 井関
施例を示す概略因、襖２因ないし纂５因は同！−例の作
用を説明する図である。 ｌ・・・被検体、２−・欠陥部、ト・・超音波探触子。 ４・・・走査装置、５・・・探触子位置検出器、７・・
・超音波パルス発生器、１０・・・周波数分析器、ｌｌ
・・・メ リー、１２・−カラー表示器Ｏ出願人代理人
弁理士 峠 江 武 彦第１図 ｓ２図 第３図 井関
Claims (2)
- （１）超音波パルスを発生する超音波パルス発生器と、
この発生器より発生された一定周波数の超音波を複数の
測定点Ｃ：おいて被検体の表面からその内部へ向けて発
信するとともにその反射波を受（ｉｑする超音波探触子
と、この超音波探触子≦：より受信された反射波を周波
数分析しその周波数成分信号及び各周波数成分に対応し
たエネルギ信号を出力する周波数分析器と、前記超音波
探触子を前記被検体の表面に沿って走査させる走査装置
と、この走査装置からの信号にもとづいて前記超音波探
触子の位置を検出しその位置信号を出力する探触子位置
検出器と、この°探触子位置検出器からの位置信号をＸ
軸に入力するとともＣ二前記周波数分析器からの周波数
成分信号及び欠陥部の大きさに対応するエネルギー信号
をそれぞれＹ軸及び２軸５二人力して欠陥部の大きさを
色別表示するカラー表示器とを具備したことを特徴とす
る超音波探傷装置。 - （２） 超音波パルスを発生する超音波パルス発生器
と、この発生器より発生された一足周波数の超音波を複
数の測定点（−おいて被検体の表面からその内部へ向け
て発信するとともにその反射波を受信する超音波探触子
と、前記被検体の無欠陥部情報を記憶しておくメモリー
と、前記超音 探触子Ｃ二より受信された反射波を周波
数分析しその周波数成分信号及び分周波数成分！：対応
したエネルギー信号が前記メモリーに記憶された情報と
異なるときはそれらの信号を出力する周波数分析器と、
１１Ｎ記超音波探触子を前記被検体の表Ｉｉ］（−沿っ
て走査させる走査装置と。 この走査装置からの信号Ｃ：もとづいて前記超音波探触
子の位置を検出しその位置信号を出力する探触子位に検
出器と、この探触子位置検出器からの位に、信号をＸ
＠ Ｃ入力するとともに１記周波数分析器からの周波数
成分信号及び欠陥部の大きさ≦：対応するエネルギ信号
をそれぞれＹ軸及び２軸Ｃ：入力して欠陥部の大きさを
色別表示するカラー表示器とを具備したことを特徴とす
る超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57046040A JPS58162861A (ja) | 1982-03-23 | 1982-03-23 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57046040A JPS58162861A (ja) | 1982-03-23 | 1982-03-23 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58162861A true JPS58162861A (ja) | 1983-09-27 |
| JPH0526140B2 JPH0526140B2 (ja) | 1993-04-15 |
Family
ID=12735913
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57046040A Granted JPS58162861A (ja) | 1982-03-23 | 1982-03-23 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58162861A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3964061B2 (ja) * | 1998-10-23 | 2007-08-22 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 磁気計測による探傷方法及び装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56125662A (en) * | 1980-03-10 | 1981-10-02 | Rigaku Denki Kk | Ultrasonic flaw detecting apparatus |
| JPS578445A (en) * | 1980-06-20 | 1982-01-16 | Hitachi Ltd | Method and device of non-destructive inspection by frequency spectral analysis |
-
1982
- 1982-03-23 JP JP57046040A patent/JPS58162861A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56125662A (en) * | 1980-03-10 | 1981-10-02 | Rigaku Denki Kk | Ultrasonic flaw detecting apparatus |
| JPS578445A (en) * | 1980-06-20 | 1982-01-16 | Hitachi Ltd | Method and device of non-destructive inspection by frequency spectral analysis |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0526140B2 (ja) | 1993-04-15 |
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