JPS58161126A - 薄膜磁気ヘツド - Google Patents
薄膜磁気ヘツドInfo
- Publication number
- JPS58161126A JPS58161126A JP4538282A JP4538282A JPS58161126A JP S58161126 A JPS58161126 A JP S58161126A JP 4538282 A JP4538282 A JP 4538282A JP 4538282 A JP4538282 A JP 4538282A JP S58161126 A JPS58161126 A JP S58161126A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- film layer
- coil
- groove
- resist
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
- G11B5/3163—Fabrication methods or processes specially adapted for a particular head structure, e.g. using base layers for electroplating, using functional layers for masking, using energy or particle beams for shaping the structure or modifying the properties of the basic layers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
- G11B5/3109—Details
- G11B5/313—Disposition of layers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気ヘッド特に蒸着やスパッタリングのf法を
用いて製作する薄膜磁気ヘッドに関する薄膜磁気ヘッド
は第4図に示す如く、磁性基板(1)と被覆磁性膜11
i f5+との間に、被覆非磁性膜層(4)によって包
囲されたコイル(3)を配備しており、被覆非磁性膜層
(4)中へのコイル(3)の埋設及び被覆磁性膜層(5
)の形成に際し、蒸着、スパッタリング等の薄膜形成法
、エツチングによるパターン形成法が用いられる。
用いて製作する薄膜磁気ヘッドに関する薄膜磁気ヘッド
は第4図に示す如く、磁性基板(1)と被覆磁性膜11
i f5+との間に、被覆非磁性膜層(4)によって包
囲されたコイル(3)を配備しており、被覆非磁性膜層
(4)中へのコイル(3)の埋設及び被覆磁性膜層(5
)の形成に際し、蒸着、スパッタリング等の薄膜形成法
、エツチングによるパターン形成法が用いられる。
L記薄膜磁気ヘッドでは、コイル近傍部分での磁束の漏
洩が問題となっている。即ち、コイル(3)に流れる電
流によって発生する磁束が磁性層内を通るだけでなく、
一部はコイル近傍部分を磁性基板山面に略垂直方向に通
り、そのため記録ヘッドては肝心のギャップ(G)部近
傍での漏洩磁界が小さくなって効率が悪くなり、同様に
して再生ヘッドにおいても再生効率が悪くなる。
洩が問題となっている。即ち、コイル(3)に流れる電
流によって発生する磁束が磁性層内を通るだけでなく、
一部はコイル近傍部分を磁性基板山面に略垂直方向に通
り、そのため記録ヘッドては肝心のギャップ(G)部近
傍での漏洩磁界が小さくなって効率が悪くなり、同様に
して再生ヘッドにおいても再生効率が悪くなる。
記録・再生効率を向丑させるにはコイル(3)近傍での
磁気抵抗(リラクタンス)を大きくすれば可く、このた
め第5図に示す如く、磁性基板(1)のコイル(3)と
の対応部分に予め溝u□□□を形成して該溝(13)に
ガラス121)を充填しておき、コイル近傍部分の磁気
抵抗を高めた磁気ヘッドも提案されている。
磁気抵抗(リラクタンス)を大きくすれば可く、このた
め第5図に示す如く、磁性基板(1)のコイル(3)と
の対応部分に予め溝u□□□を形成して該溝(13)に
ガラス121)を充填しておき、コイル近傍部分の磁気
抵抗を高めた磁気ヘッドも提案されている。
しかし、上記磁気ヘッドの場合、溝(]3)の機械加工
及びガラス21)の充填は蒸着、スパッタリング、エツ
チング等、所謂ICの薄膜加工法とは異質の加工法であ
って、精度的にも生産性の点からも問題があった。
及びガラス21)の充填は蒸着、スパッタリング、エツ
チング等、所謂ICの薄膜加工法とは異質の加工法であ
って、精度的にも生産性の点からも問題があった。
本発明は上記実情に鑑み精度、生産性、性能の何れの点
に於ても優れた磁気ヘッドを提供することを目的とする
。
に於ても優れた磁気ヘッドを提供することを目的とする
。
以下図面に示す実施例に基づき本発明を具体的に説明す
る。
る。
磁気ヘッド(H)は公知の如く磁性基板(1)上の溝(
13)に非磁性材(:2)が充填され、非磁性材、2)
Lに複数の渦巻状コイル!3+(3a)がヘッド(H)
のテープ摺動面(]41に沿って隣設配備されている。
13)に非磁性材(:2)が充填され、非磁性材、2)
Lに複数の渦巻状コイル!3+(3a)がヘッド(H)
のテープ摺動面(]41に沿って隣設配備されている。
各コイル+3+(3a)には、磁気テープ(T)との摺
接面(]4)側にテ、−プ(T)のトラック幅に対応す
る幅で被覆非磁性膜層(4)が被さり、更に該被覆非磁
性膜層(4)上に被覆磁性膜層(5)が積層されている
。
接面(]4)側にテ、−プ(T)のトラック幅に対応す
る幅で被覆非磁性膜層(4)が被さり、更に該被覆非磁
性膜層(4)上に被覆磁性膜層(5)が積層されている
。
flL覆非磁性膜層(4)の中、ヘッド(H)のテープ
摺接面圓に延びる部分が、ヘッドのギャップ(G)を形
成している。
摺接面圓に延びる部分が、ヘッドのギャップ(G)を形
成している。
本願の特徴は、上記磁性基板(1)を、磁性基板主体(
11)と該主体(11)上に蒸着、スパッタリング、メ
ッキ等によって積層した補助磁性膜層(121とで構成
し溝(13)は補助磁性膜層(1りをフォトエツチング
、リアクティブイオンエツチング、イオンエツチング等
の種々のエツチングにより不要部を除去して形成され、
又、溝(1■への非磁性材(2)の充填にはりフトオフ
法等のIC製造技術を使用した点である。
11)と該主体(11)上に蒸着、スパッタリング、メ
ッキ等によって積層した補助磁性膜層(121とで構成
し溝(13)は補助磁性膜層(1りをフォトエツチング
、リアクティブイオンエツチング、イオンエツチング等
の種々のエツチングにより不要部を除去して形成され、
又、溝(1■への非磁性材(2)の充填にはりフトオフ
法等のIC製造技術を使用した点である。
補助磁性膜層(12+は、テープ(T)の1つのトラッ
ク分に対して2つの領域に分けられる。1つは前記ギャ
ップ(G)部分の非磁性膜層(4)に接する領域(12
a)であり、他の1つは須接或は非磁性膜層(4)を介
して被覆磁性膜層(2)と接する領域(12b)である
。
ク分に対して2つの領域に分けられる。1つは前記ギャ
ップ(G)部分の非磁性膜層(4)に接する領域(12
a)であり、他の1つは須接或は非磁性膜層(4)を介
して被覆磁性膜層(2)と接する領域(12b)である
。
両領域(12a) (12b)は磁性基板主体(11)
を通じて磁気的につながっている。
を通じて磁気的につながっている。
補助磁性膜層口2、特にギャップ(G)側の領域(12
a)は磁束か集中するため、磁気的飽和が起り易く、そ
のため補助磁性膜層@はパーマロイ、センダスト、アモ
ルファスさ金等、高い飽和磁束密度の材料が用いられる
。
a)は磁束か集中するため、磁気的飽和が起り易く、そ
のため補助磁性膜層@はパーマロイ、センダスト、アモ
ルファスさ金等、高い飽和磁束密度の材料が用いられる
。
磁性基板主体1ll)は補助磁性膜層LIZIに比べて
磁路が長く、且つ断面積が大きくて磁気的に飽和する危
険性が殆んど無い。従って飽和磁束密度の大きさはさほ
ど要求されないか、信号周波数域で高透磁率を有するこ
とが要求されるため、Mn−Znフェライト等の高透磁
率材料が用いられる。
磁路が長く、且つ断面積が大きくて磁気的に飽和する危
険性が殆んど無い。従って飽和磁束密度の大きさはさほ
ど要求されないか、信号周波数域で高透磁率を有するこ
とが要求されるため、Mn−Znフェライト等の高透磁
率材料が用いられる。
尚、磁性基板主体・11)と補助磁性膜@ 1121と
の接合部に於て、疑似ギャップが生じることがあるが、
補助磁性膜層、12側をテープl入側とし、被覆磁性膜
層、2)側をテープ退出側、即ち第2図に於てテープ(
T)が下から上へ移行する様にすれは疑似ギャップは全
(問題1こならないことを確認した。
の接合部に於て、疑似ギャップが生じることがあるが、
補助磁性膜層、12側をテープl入側とし、被覆磁性膜
層、2)側をテープ退出側、即ち第2図に於てテープ(
T)が下から上へ移行する様にすれは疑似ギャップは全
(問題1こならないことを確認した。
第3図(a)乃至(k)は上記薄膜磁気ヘッドの製作工
程の一例を示している。
程の一例を示している。
先ず基板illのL面に蒸着、スパッタリング或はメッ
キによって補助磁性膜層uzを形成する(a図)。
キによって補助磁性膜層uzを形成する(a図)。
補助磁性膜層1.12上に前記溝に対応する部分を残し
てレジスト(6)を塗布し、露光、現像を行なう(b図
)。
てレジスト(6)を塗布し、露光、現像を行なう(b図
)。
次にエツチングを行なってレジスト(6)の塗布されて
いない補助磁性膜層04の一部を除去して溝(13)を
形成する(0図)。
いない補助磁性膜層04の一部を除去して溝(13)を
形成する(0図)。
リフトオフ法によりレジスト(6)の上面及び溝t13
1に非磁性材+21(2a)の膜層を形成する(d図)
。
1に非磁性材+21(2a)の膜層を形成する(d図)
。
レジスト16)Lの非磁性材(2a)をレジストごと除
去し、補助磁性膜層O2及び溝(13)に充填した非磁
性材(2)の両者の高さを揃える(e図)。
去し、補助磁性膜層O2及び溝(13)に充填した非磁
性材(2)の両者の高さを揃える(e図)。
次に非磁性材(2)及び補助磁性膜層II2上に蒸着、
スパッタリング、或はメッキによって導電箔(3a)を
積層形成し、史に導電磁(3a)上には形成すべきコイ
ルの渦巻パターンに対応してレジスト(61)を塗布す
る(f図)。
スパッタリング、或はメッキによって導電箔(3a)を
積層形成し、史に導電磁(3a)上には形成すべきコイ
ルの渦巻パターンに対応してレジスト(61)を塗布す
る(f図)。
エツチングして導電i (3a)の不必要部分を除去し
て渦巻コイル(3)を形成する(g図)。
て渦巻コイル(3)を形成する(g図)。
補助磁性膜層(]2及びコイル(3)上にスパッタリン
グ等によって非磁性膜層(4)を形成する(h図)。
グ等によって非磁性膜層(4)を形成する(h図)。
fJIJ記被覆磁性模層(5)の被覆範囲に対応して非
磁性膜層14)にレジストt6Zを塗布する(1図)。
磁性膜層14)にレジストt6Zを塗布する(1図)。
エツチングを施し被覆非磁性膜層(4)の不要部分をひ
レジスト+62)を除去する(」図)。
レジスト+62)を除去する(」図)。
?II覆非磁性膜層、4)L及び補助磁性膜層t12)
hに被覆磁性膜層(5)を一体に形成する(k図)。
hに被覆磁性膜層(5)を一体に形成する(k図)。
被覆磁性膜層(5)は前記補助磁性膜j傍、1シと同じ
材質のもので可い。
材質のもので可い。
被覆磁性膜層15)の形成に際しては、削記尋電箔(3
a)からコイル、3)を形成する場合と同様、レジスト
塗布から始まって所望の形状にパター二/グ及びエツチ
ングする工程が必要であるが、周知技術であるから詳細
は省略する。
a)からコイル、3)を形成する場合と同様、レジスト
塗布から始まって所望の形状にパター二/グ及びエツチ
ングする工程が必要であるが、周知技術であるから詳細
は省略する。
尚、本発明の実施に際し、磁性基板本体は非磁性基板の
上に磁性1−を積層したものを使用することか出来る。
上に磁性1−を積層したものを使用することか出来る。
本発明は上記の如(、磁性基板(1)に溝113)を形
成して非磁性材を充填し、コイル下方の磁性基板本体(
11)とコイル上方の被覆磁性膜層15)との間隙を大
きくしたから、磁気的抵抗が増大して効率が旨(なる。
成して非磁性材を充填し、コイル下方の磁性基板本体(
11)とコイル上方の被覆磁性膜層15)との間隙を大
きくしたから、磁気的抵抗が増大して効率が旨(なる。
又、溝加工及び該溝への非磁性材(2)の充填を蒸着、
スパッタリング、メッキ、エツチング等のrc技術を一
連に実施して製造出来、生産能率か向ヒし、又、高精度
のものが得られる等、優れた効果を有す。
スパッタリング、メッキ、エツチング等のrc技術を一
連に実施して製造出来、生産能率か向ヒし、又、高精度
のものが得られる等、優れた効果を有す。
尚、本発明は上記構成Iこ限定されることはなく特ff
−請求の範囲に記載の技術範囲内で種々の変形か可能で
あるのは勿論である。
−請求の範囲に記載の技術範囲内で種々の変形か可能で
あるのは勿論である。
第1図は薄膜磁気ヘッドの要部を示す正面図、第2図は
第1図II−n線に沿う拡大断面図、第3図(a)乃至
第3図(k)は製造法の説明図、第4図、第5図は従来
例の斜面図である。 (1)・・・磁性基板 (+1)・・・磁性基板
本体i1Z・・・補助磁性膜層 (13)・・・溝(
4)・・・非磁性材 手続補正書θ方式〉 昭打157年4月20日 持許庁長宮殿 1、事件の入示 特願昭57−453822、発明の
名称 薄膜磁気ヘッド :3.補正をする者 出願人 氏名・名称 (]88)三洋電機株式会社5、補正
の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 「フォトエツチング」を、 「ケミカルエツチング」に補正。 (2)明細書箱5頁4行目 「用いられる」を、 「適している」に補正。 (3) 明細書第5頁10行目 「用いられる」を、 「適している」に補正。 (4) 明細書第7頁3〜4行目 r不要部分をひ」を、 「不要部分及び」に補正。
第1図II−n線に沿う拡大断面図、第3図(a)乃至
第3図(k)は製造法の説明図、第4図、第5図は従来
例の斜面図である。 (1)・・・磁性基板 (+1)・・・磁性基板
本体i1Z・・・補助磁性膜層 (13)・・・溝(
4)・・・非磁性材 手続補正書θ方式〉 昭打157年4月20日 持許庁長宮殿 1、事件の入示 特願昭57−453822、発明の
名称 薄膜磁気ヘッド :3.補正をする者 出願人 氏名・名称 (]88)三洋電機株式会社5、補正
の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 「フォトエツチング」を、 「ケミカルエツチング」に補正。 (2)明細書箱5頁4行目 「用いられる」を、 「適している」に補正。 (3) 明細書第5頁10行目 「用いられる」を、 「適している」に補正。 (4) 明細書第7頁3〜4行目 r不要部分をひ」を、 「不要部分及び」に補正。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■ 磁性基板11)上の溝(13)に非磁性材(2)が
充填され、該非磁性材12)上に被覆非磁性膜層14)
で包囲されたコイル1.3)が配備され、被覆非磁性膜
層+41及び磁性基板(1)上に被覆磁性膜層(5)が
積層された磁気ヘッドに於て、磁性基板(月は磁性基板
主体1υ上に補助磁性膜層(12を積層して形成され、
溝(13)は補助磁性膜層tlZの一部が除去して形成
されており、コイル3)は非磁性材(2)上に積層した
躊電溶(3a) iこよって形成′されている薄膜磁気
ヘッド。 ■ 補助磁性膜層11りは磁性基板主体・11)よりも
飽和磁束密度の高い磁性材料で形成されている特許請求
の範囲第1項に記載の薄膜磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4538282A JPS58161126A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 薄膜磁気ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4538282A JPS58161126A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 薄膜磁気ヘツド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58161126A true JPS58161126A (ja) | 1983-09-24 |
JPH0370284B2 JPH0370284B2 (ja) | 1991-11-07 |
Family
ID=12717714
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4538282A Granted JPS58161126A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 薄膜磁気ヘツド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58161126A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0546929A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-02-26 | Tdk Corp | 薄膜磁気ヘツド |
JPH0546928A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-02-26 | Tdk Corp | 薄膜磁気ヘツド |
-
1982
- 1982-03-19 JP JP4538282A patent/JPS58161126A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0546929A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-02-26 | Tdk Corp | 薄膜磁気ヘツド |
JPH0546928A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-02-26 | Tdk Corp | 薄膜磁気ヘツド |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0370284B2 (ja) | 1991-11-07 |
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