JPS58155357A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS58155357A JPS58155357A JP3827082A JP3827082A JPS58155357A JP S58155357 A JPS58155357 A JP S58155357A JP 3827082 A JP3827082 A JP 3827082A JP 3827082 A JP3827082 A JP 3827082A JP S58155357 A JPS58155357 A JP S58155357A
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- signal
- liquid crystal
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
- G01N29/0627—Cathode-ray tube displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/26—Scanned objects
- G01N2291/269—Various geometry objects
- G01N2291/2695—Bottles, containers
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、原子炉格納容器において、原子炉圧力容器及
び配管などの溶接部を、超音波探傷する装置に関するも
のである。
び配管などの溶接部を、超音波探傷する装置に関するも
のである。
従来の超音波探傷装置は超音波探触子で受信した反射波
形をＣＲＴ上に表示するように構成されてい友。
形をＣＲＴ上に表示するように構成されてい友。
従来のものは大形のＣＲＴを用いてい友丸め、原子炉格
納容器内等複雑で狭い空間で検査をおこなう場合、この
ＣＲＴの取扱いが面倒であった。
納容器内等複雑で狭い空間で検査をおこなう場合、この
ＣＲＴの取扱いが面倒であった。
また、従来のものはＣＲＴ上に超音波探触子からの反射
波形が表示されるだけであシ、検査結果の判定が面倒で
６つ九。
波形が表示されるだけであシ、検査結果の判定が面倒で
６つ九。
小形で取扱いが容易であり、かつ反射波形以外に断面投
影１ｉｉｉ像、平向投影ｍｓ等も表示することができる
超音波探傷装置を得ることにある。
影１ｉｉｉ像、平向投影ｍｓ等も表示することができる
超音波探傷装置を得ることにある。
本発明は被検査部材内に超音波を発信するとともにその
返射波を受信する超音波探触子と、この超音波探触子か
もの信号を受けこの信号から被検査部材の断面投影像信
号および平面投影像信号を作成する信号処理回路と、上
記超音波探触子からの反射波信号および上記断面投影像
信号および平面投影像信号を受けこれら反射嫂儂、断面
投影像および平面投影像を表示する液晶表示機構とを具
備したものである。
返射波を受信する超音波探触子と、この超音波探触子か
もの信号を受けこの信号から被検査部材の断面投影像信
号および平面投影像信号を作成する信号処理回路と、上
記超音波探触子からの反射波信号および上記断面投影像
信号および平面投影像信号を受けこれら反射嫂儂、断面
投影像および平面投影像を表示する液晶表示機構とを具
備したものである。
そして、この液晶表示機構は小形軽量のものであシ、原
子炉格納容器内等の狭い場所での取扱が容易である。ｉ
良信号処理回路によって皺検査部材の断面投影像および
平面投影像を表示することができるものである。
子炉格納容器内等の狭い場所での取扱が容易である。ｉ
良信号処理回路によって皺検査部材の断面投影像および
平面投影像を表示することができるものである。
図を参照して本発明の一実施例を説明する。
図中１は超音波探触子であって・臂ルサ２により駆動さ
れる。そして、この超音波探触子１で受信された反射波
はレシーバ１により受信される。
れる。そして、この超音波探触子１で受信された反射波
はレシーバ１により受信される。
レシーバ３で受信され九アナログ信号は、増幅検出器４
，５で増巾され検出される。一方ｒ −トロの発信した
信号は、加算回路１で合体され、時間的に遅い信号と早
い信号を消して信号をととのえるように構成されている
。
，５で増巾され検出される。一方ｒ −トロの発信した
信号は、加算回路１で合体され、時間的に遅い信号と早
い信号を消して信号をととのえるように構成されている
。
この信号を ネアナログ／ディジメル変換器（Ａ力変換
器）１２で、ｋΦ変換して信号処理また、発信器Ｊ１か
らの信号は、φ変換器１２と、カウンター１３に送られ
るように構成されている。このカウンターＩＪからの信
号は、信号処理回路Ｊ４で演算処理されている。そして
演算処理した信号はメモリ１５で記憶するように構成さ
れている。次にメモリ１５から、アナログマルチ！し、
サー１９により信号を１本化して、サンプルホールドＪ
＃に送シ、サンプルホールド２０は、信号を一定の時間
保持する。
器）１２で、ｋΦ変換して信号処理また、発信器Ｊ１か
らの信号は、φ変換器１２と、カウンター１３に送られ
るように構成されている。このカウンターＩＪからの信
号は、信号処理回路Ｊ４で演算処理されている。そして
演算処理した信号はメモリ１５で記憶するように構成さ
れている。次にメモリ１５から、アナログマルチ！し、
サー１９により信号を１本化して、サンプルホールドＪ
＃に送シ、サンプルホールド２０は、信号を一定の時間
保持する。
ｔｉ、ＨＤ （水平ＦＩ１信号）、ＶＤ（ｌｉ直同期信
号）同期カウンター１６は、液晶テレビの同期信号に合
せて、メモリ１５から順次すべてのデータを必要に応じ
て抽出して液晶テレビ表ホ・昔ネル２１に表示させるよ
うに構成されている。
号）同期カウンター１６は、液晶テレビの同期信号に合
せて、メモリ１５から順次すべてのデータを必要に応じ
て抽出して液晶テレビ表ホ・昔ネル２１に表示させるよ
うに構成されている。
次に上記液晶テレビ表示パネル２１の構成を説明する。
この液晶テレビ表示ノ譬ネルは、応答性・階調性などの
嵐好なりｓ形波晶を用いて、アクティブマトリクスアド
レス形反射式テレビ表示ノｆネルである。
嵐好なりｓ形波晶を用いて、アクティブマトリクスアド
レス形反射式テレビ表示ノｆネルである。
この・譬ネルの一方の基板には周辺回路との接続線数を
減らす丸めにｅ−）パスドライバ２４゜２５付のＭＯＳ
ＦＥＴ ／キャノ４シタアレイを用いている。を九、表
示コントラストの向上を図るためにＭＯ８プレイ上の表
示電極には金ニツケル合金を、層間絶縁膜には４リイミ
ド樹脂を用いている。このアレイは、２２０ （ＩＩ直
）Ｘ２４０（水平）個の画素Ｃｇ、２２０本のゲートパ
スドライバ２４．２５および２個のモーター嵩ｉｔ；、
ｘｉより構成されている。
減らす丸めにｅ−）パスドライバ２４゜２５付のＭＯＳ
ＦＥＴ ／キャノ４シタアレイを用いている。を九、表
示コントラストの向上を図るためにＭＯ８プレイ上の表
示電極には金ニツケル合金を、層間絶縁膜には４リイミ
ド樹脂を用いている。このアレイは、２２０ （ＩＩ直
）Ｘ２４０（水平）個の画素Ｃｇ、２２０本のゲートパ
スドライバ２４．２５および２個のモーター嵩ｉｔ；、
ｘｉより構成されている。
ｒ−）パスドライバ２４．２１はｒ−）ノ櫂スの左右両
端に同一回路構成の二二、トがそれぞれ設けられて冗長
性が付与されておシ、一方の二二、トに欠陥を生じた場
合には、他方を用いてダートノ苛スを順次アドレスする
ことができる。
端に同一回路構成の二二、トがそれぞれ設けられて冗長
性が付与されておシ、一方の二二、トに欠陥を生じた場
合には、他方を用いてダートノ苛スを順次アドレスする
ことができる。
通常は消費電力の点からいずれか一方を用いるが、両ユ
ニ、ト共に欠陥が無い場合には両方を用いることもでき
、ｒ−）パスの断線救済にも有効である。
ニ、ト共に欠陥が無い場合には両方を用いることもでき
、ｒ−）パスの断線救済にも有効である。
ドレインパス＃ｐツイパのＭＯＩＩアレイ上への集積は
、歩留低下の心配から控えられている。
、歩留低下の心配から控えられている。
２４０本のドレイ／・苛スの両端にはそれぞれ一ンダイ
ンダΔ、ドを設け、断−を生じ丸場金の救済を可能にし
ている。
ンダΔ、ドを設け、断−を生じ丸場金の救済を可能にし
ている。
２個のモニタ画素１−９２−は画面下側Ｏ左右にそれぞ
れ設けられてお９、液蟲層に印加される実際の電圧波形
勢を観測す：ｈ九め０％のである。
れ設けられてお９、液蟲層に印加される実際の電圧波形
勢を観測す：ｈ九め０％のである。
ｒ−ドパスト２イパ１４．１１（Ｄ各エエ、トは、２２
０ビ、トスタ、クシフトレゾス！、２２０個の）青、フ
ァ／ド２イパおよびシフトレジスタの九めＯクロ、りぜ
ネレーメ／ドライノ櫂より成り、Ｅ／ｂ形Ｍ０８インΔ
−！およびプツシ−！ル出力回路で構成畜れている。
０ビ、トスタ、クシフトレゾス！、２２０個の）青、フ
ァ／ド２イパおよびシフトレジスタの九めＯクロ、りぜ
ネレーメ／ドライノ櫂より成り、Ｅ／ｂ形Ｍ０８インΔ
−！およびプツシ−！ル出力回路で構成畜れている。
第３図は、１本のｒ−）パス０４に関連するｆ−１バス
トフイバの刷路構成園である。シフトレジスタＤ−およ
びタロ、クゼネレーメ／Ｐライ／Ｊ Ｄ ｌは低電圧Ｖ
ＤＤＩ （５〜ｌ０Ｖ）テ動作し、入力のクロ、クパル
スＤＩｋよびスタ−ト／譬ルＪＫ基づいて低電圧のアド
レスパルスヲ発生する。ノ中、ファ／ドライノ曹ＤＩは
高電圧ＶＤＤ２ （〜２３ｖ）で動作し、低電圧アドレ
ス・臂ルスをドレインパスに供給されるビデオ信号のス
イッチ制御に必要な振幅まで増幅し九後ダートパスに供
給する。
トフイバの刷路構成園である。シフトレジスタＤ−およ
びタロ、クゼネレーメ／Ｐライ／Ｊ Ｄ ｌは低電圧Ｖ
ＤＤＩ （５〜ｌ０Ｖ）テ動作し、入力のクロ、クパル
スＤＩｋよびスタ−ト／譬ルＪＫ基づいて低電圧のアド
レスパルスヲ発生する。ノ中、ファ／ドライノ曹ＤＩは
高電圧ＶＤＤ２ （〜２３ｖ）で動作し、低電圧アドレ
ス・臂ルスをドレインパスに供給されるビデオ信号のス
イッチ制御に必要な振幅まで増幅し九後ダートパスに供
給する。
スイッチＬ／Ｒは左右２つの二二、トのうち１つを選択
する丸めのもめである。ｒ−）パスドライバは各エニｙ
ト０電源電圧が供給され先方のユニ、トがイネ−ゾルと
なり、接地電位を供給するとＤメイ！トランジスタがイ
ネ−ゾルユニ、トからのアドレスパルスに対して負荷と
なるので、開放状態にするかまえは第３図に示すように
常に電源電圧を印加しておく必要がある。
する丸めのもめである。ｒ−）パスドライバは各エニｙ
ト０電源電圧が供給され先方のユニ、トがイネ−ゾルと
なり、接地電位を供給するとＤメイ！トランジスタがイ
ネ−ゾルユニ、トからのアドレスパルスに対して負荷と
なるので、開放状態にするかまえは第３図に示すように
常に電源電圧を印加しておく必要がある。
着た、第２図に示すように４１ｍ素はスイツナ嵩子とし
てのＭＯ８ＦＩＴＣＦ 、信号蓄積素子としてのキヤ・
ダシメＣ＃および反射表示電極ＣＩで構成される。
てのＭＯ８ＦＩＴＣＦ 、信号蓄積素子としてのキヤ・
ダシメＣ＃および反射表示電極ＣＩで構成される。
第４図は画素を構成する素子のレイアウトで下の原因と
なるＦＷ？領域への外光入射中段差部等からの不必要な
反射光を防ぐために、で自る限シ下にある素子をカバー
するようＫｌ＆けられる。表示電＠ｍｙ材料として会二
、ケル合金を、層間絶縁属として４リインド樹脂を用い
る仁とＫより表示電１ｉ表面の平滑化を閣っている０表
示電極は／１フイミｒ層にあけられ九スルーホールを介
してキャパシタ電極と電気的に鐘続される。
なるＦＷ？領域への外光入射中段差部等からの不必要な
反射光を防ぐために、で自る限シ下にある素子をカバー
するようＫｌ＆けられる。表示電＠ｍｙ材料として会二
、ケル合金を、層間絶縁属として４リインド樹脂を用い
る仁とＫより表示電１ｉ表面の平滑化を閣っている０表
示電極は／１フイミｒ層にあけられ九スルーホールを介
してキャパシタ電極と電気的に鐘続される。
第５図はモニタ画素２＃の回路構成Ｉｌおよび代表的な
入出力電圧波形図である。４！！画嵩２６は前述の画素
および２りＯＤメイグＦＭＴＭｌ、Ｍｌより成るソース
フォロア回路で構成され、−案の蓄積キャパシタＦＪＫ
蓄えられた信号電圧を外部よ如（ニタするためのもので
ある。
入出力電圧波形図である。４！！画嵩２６は前述の画素
および２りＯＤメイグＦＭＴＭｌ、Ｍｌより成るソース
フォロア回路で構成され、−案の蓄積キャパシタＦＪＫ
蓄えられた信号電圧を外部よ如（ニタするためのもので
ある。
Ｈ０８７Ｌ／イは、態形単結晶シリフンクエへＧ−を用
いて製作しえ、Ｉ２用し九フォトマスタはＥｌ描画によ
ｐ作成された。
いて製作しえ、Ｉ２用し九フォトマスタはＥｌ描画によ
ｐ作成された。
第６図はＭＯ８アレイの画素部Ｏ！ＩＲ函構造図である
。ウェハゾロセスは、表示電＠形成ｆａ七スを除いて、
通常のＰチャンネル−アルｔｒ−） Ｇ Ｊ Ｍ（Ｍｌ
プロセスである０画素のスイッチトランジスタおよびｒ
−）パスドライバＯパ、ファ／ドツイパを構成するトラ
ンジスメは、イオン打込みによるオフセラ）ｒ−）構造
を用いて、耐圧をＳＯＶ以上高めている。
。ウェハゾロセスは、表示電＠形成ｆａ七スを除いて、
通常のＰチャンネル−アルｔｒ−） Ｇ Ｊ Ｍ（Ｍｌ
プロセスである０画素のスイッチトランジスタおよびｒ
−）パスドライバＯパ、ファ／ドツイパを構成するトラ
ンジスメは、イオン打込みによるオフセラ）ｒ−）構造
を用いて、耐圧をＳＯＶ以上高めている。
表示電極は、ダートパスドライバ、画素のスイ、チトラ
ンジスメ、キャΔシメおよびパス配線の形成しであるウ
ェハ上に、ｌリイｔド絶縁層Ｇ２を塗布し、スルーホー
ルをあけ丸ものＯ上に反射電極材としてのチタンＧＪ及
び金＝ｙケル合金Ｇ１をタンダステンＩ−ドによる抵抗
加熱により蒸着し反射表示電極にＩり一ン二ングする。
ンジスメ、キャΔシメおよびパス配線の形成しであるウ
ェハ上に、ｌリイｔド絶縁層Ｇ２を塗布し、スルーホー
ルをあけ丸ものＯ上に反射電極材としてのチタンＧＪ及
び金＝ｙケル合金Ｇ１をタンダステンＩ−ドによる抵抗
加熱により蒸着し反射表示電極にＩり一ン二ングする。
第７図は前述のＭｏ１ｌアレイを用いた液晶テレビ表示
・々ネルの断面構造図である。ＭＯ８アレイが形成され
たシリコン基板Ｈ８は薄く、破損しやすいので、補強用
のガラス基板１１１１に貼付けた俵透明対向電極ＨＪ
（ｒ（ｏｎ ）を有する前面ガラス基板Ｈ４と周遍部で
ス（−すＨ２を介して封着し液晶／ダネルを作成する。
・々ネルの断面構造図である。ＭＯ８アレイが形成され
たシリコン基板Ｈ８は薄く、破損しやすいので、補強用
のガラス基板１１１１に貼付けた俵透明対向電極ＨＪ
（ｒ（ｏｎ ）を有する前面ガラス基板Ｈ４と周遍部で
ス（−すＨ２を介して封着し液晶／ダネルを作成する。
透明対向電極Ｈ５ｄ導電ペース）１７により、シリコン
基板Ｈ８上の対向電極ソー１’ＨＪＫ接続される。液晶
層の厚さは約ｌＯ■である。そして、このような液晶表
示ノ々ネルは次のような特性を有する。
基板Ｈ８上の対向電極ソー１’ＨＪＫ接続される。液晶
層の厚さは約ｌＯ■である。そして、このような液晶表
示ノ々ネルは次のような特性を有する。
第１表は、金工、ケル表示電極と、アル建表示電極、鏡
および白い紙の表面平滑度に関する比較を行なったもの
である。表中の値は各表面を、はｔ’！４５１１の斜方
向から照し走時Ｏ法一方向における散乱光強ｊｌｊの相
対値である。金工。
および白い紙の表面平滑度に関する比較を行なったもの
である。表中の値は各表面を、はｔ’！４５１１の斜方
向から照し走時Ｏ法一方向における散乱光強ｊｌｊの相
対値である。金工。
ゲルおよびアル建表示電極では、電極の格子構造の影響
で単一の値を持たず、照明光が表示電極の一辺に垂直に
入射する時最大とな９．４５度で入射する時に最小とな
る。
で単一の値を持たず、照明光が表示電極の一辺に垂直に
入射する時最大とな９．４５度で入射する時に最小とな
る。
１１ キ
この表かられかるように、金工、ケル表示電極では、ア
ル建表示電極に比較して電極表面平滑度が大幅に改善さ
れる。さらに格子構造Ｏ影響が最小となる照Ｔ７ＩＡ条
件でＯ値（−４）から、金ニツケル表示電極の表面は、
鏡に近いことがわかる。このことは、反射式Ｄｇ４−Ｐ
表示に好ましい鏡面反射電極を得る仁とになる。
ル建表示電極に比較して電極表面平滑度が大幅に改善さ
れる。さらに格子構造Ｏ影響が最小となる照Ｔ７ＩＡ条
件でＯ値（−４）から、金ニツケル表示電極の表面は、
鏡に近いことがわかる。このことは、反射式Ｄｇ４−Ｐ
表示に好ましい鏡面反射電極を得る仁とになる。
ツタネルは、−１０Ｖ（ＤＤＩ）、−２３ｖ（ＶＤＤ２
）をよび０〜Ｂｙ（対向電極電圧）の３種の電圧を有す
る直流電源とドレイン・臂ストライパ、同期・制御回路
、テレビ信号源および映像増幅器等にょシ駆動される。
）をよび０〜Ｂｙ（対向電極電圧）の３種の電圧を有す
る直流電源とドレイン・臂ストライパ、同期・制御回路
、テレビ信号源および映像増幅器等にょシ駆動される。
第８図は、テレビ動作でのツタネルの光散乱特性図であ
る。黒レベルに和尚する散乱光強度（相対値）は０．３
であるので、６．０の散乱光強度（相対値）を与えるド
レイ／・ぐスミ圧１３Ｖ、対向電極電圧５ｖｔ九はドレ
インノ譬ス電圧１８ｖ１対向電極電圧ＯＶにおいて、２
０：１のコントラスト比を得ることかで１／ｊ石。
る。黒レベルに和尚する散乱光強度（相対値）は０．３
であるので、６．０の散乱光強度（相対値）を与えるド
レイ／・ぐスミ圧１３Ｖ、対向電極電圧５ｖｔ九はドレ
インノ譬ス電圧１８ｖ１対向電極電圧ＯＶにおいて、２
０：１のコントラスト比を得ることかで１／ｊ石。
第９図はテレビ動作での／４ネルの応Ｓｗ性である。立
上が参時間はドレインパス電圧によシ、数ｍ−から２０
０〜３００ ａｓの間で表化す為。
上が参時間はドレインパス電圧によシ、数ｍ−から２０
０〜３００ ａｓの間で表化す為。
表示−倫のコントラスト比および、解像度は良好である
。階−は５段階以上得られる。これらのことよシ、ＣＲ
Ｔに比較して液晶は、面会が兇やすく、画像ノイ／が少
ないｌｌｉ像が得られゐ。
。階−は５段階以上得られる。これらのことよシ、ＣＲ
Ｔに比較して液晶は、面会が兇やすく、画像ノイ／が少
ないｌｌｉ像が得られゐ。
また、パネルの消費電力が約２８０ｍＶ＆ので、ＣＲＴ
よりも、はるかに少ない消費電力ですむ。
よりも、はるかに少ない消費電力ですむ。
液晶層の厚さが、約１０ｊ調であり、液晶テレビが小さ
くでき、ＣＲＴＯふ九Ｓ＊のスペースで十分である。
くでき、ＣＲＴＯふ九Ｓ＊のスペースで十分である。
また、本発明の大暑な特徴であるムスコープ（探傷波、
波形表示）、Ｂスコープ（断面投影像信号）、Ｃスコー
ｆ（平面投影像信号）の各ｍ表示ができる。それは、演
算装置及びメ４９−などからなる回路構成をしていると
とによる。
波形表示）、Ｂスコープ（断面投影像信号）、Ｃスコー
ｆ（平面投影像信号）の各ｍ表示ができる。それは、演
算装置及びメ４９−などからなる回路構成をしていると
とによる。
を九、メモリーを利用することにより、板厚（探傷物）
を表示で龜る。
を表示で龜る。
轟然、演算装置を遍宣組み合わせるととによシ、必要な
好みに合う九表示が可能である。
好みに合う九表示が可能である。
上述の如く、本発明は被検査部材内に超音波を発信する
とともにその返射波を受信する超音波探触子と、この超
音波探触子からの信号を受けこの信号から被検査部材の
断面投影像信号および平面投影像信号を作成する信号処
ｌ１ｒｊＡ路と、上記超音波探触子からの反射波信号お
よび上記断面投影像信号および平面投影像信号を受けこ
れら反射波倫、断面投影像および平面投影像を表示する
液晶表示機構とを具備し九４ｈＯである。
とともにその返射波を受信する超音波探触子と、この超
音波探触子からの信号を受けこの信号から被検査部材の
断面投影像信号および平面投影像信号を作成する信号処
ｌ１ｒｊＡ路と、上記超音波探触子からの反射波信号お
よび上記断面投影像信号および平面投影像信号を受けこ
れら反射波倫、断面投影像および平面投影像を表示する
液晶表示機構とを具備し九４ｈＯである。
そして、との液晶表示機構祉小形軽量の−のであり、よ
って原子炉格納容器内等の狭い場所での取扱が容易であ
る。また信号処理圏ＩＩＫよって被検査部材の断面投影
響および平画投影響を表示することができるので検査結
果の判定が容易となるものである。
って原子炉格納容器内等の狭い場所での取扱が容易であ
る。また信号処理圏ＩＩＫよって被検査部材の断面投影
響および平画投影響を表示することができるので検査結
果の判定が容易となるものである。
図は本発明の一実施例を示し、第１Ｅは全体の概略構成
図、第２図は液晶表示・臂ネルの構成図、第３図はデー
トパスドライ・肴回路の構成図、第４図は画素を構成す
る素子の配置図、第５図第８図は液晶表示ｚ４ネルの一
部の断面図、第８図および第９図は液晶画素の特性を示
す１１図でおる。 １・・・超音波探触子、３・・・レジ−ｚ＋、７４・・
・信号処理回路、１５・・・メモリ、２１・・・液晶テ
レビ表示ツクネル、２４．１１５・・・ｒ−）ノ譬スＰ
ｌイΔ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第４図 第５図 （ａ） （ｂ） 第６図 １ 第８図 ドレインバス電圧（Ｖｏｃ） 第９図 ドレインバス電圧（ＶＤＣ）
図、第２図は液晶表示・臂ネルの構成図、第３図はデー
トパスドライ・肴回路の構成図、第４図は画素を構成す
る素子の配置図、第５図第８図は液晶表示ｚ４ネルの一
部の断面図、第８図および第９図は液晶画素の特性を示
す１１図でおる。 １・・・超音波探触子、３・・・レジ−ｚ＋、７４・・
・信号処理回路、１５・・・メモリ、２１・・・液晶テ
レビ表示ツクネル、２４．１１５・・・ｒ−）ノ譬スＰ
ｌイΔ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第４図 第５図 （ａ） （ｂ） 第６図 １ 第８図 ドレインバス電圧（Ｖｏｃ） 第９図 ドレインバス電圧（ＶＤＣ）
Claims (1)
- 被検査部材内に超音波を発信するとともにその返射波を
受信する超音波探触子と、この超音探触子からの信号を
受けとの信号から被検査部材の断面投影像信号および平
面投影像信号を作成する信号処理回路と、上記超音波探
触子からの反射波信号および上記断面投影像信号および
平面投影像信号を受けこれら反射波儂、断面投影像およ
び平面投影像を表示する液晶表示機構とを具備したこと
を特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3827082A JPS58155357A (ja) | 1982-03-11 | 1982-03-11 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3827082A JPS58155357A (ja) | 1982-03-11 | 1982-03-11 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58155357A true JPS58155357A (ja) | 1983-09-16 |
| JPH0244025B2 JPH0244025B2 (ja) | 1990-10-02 |
Family
ID=12520618
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3827082A Granted JPS58155357A (ja) | 1982-03-11 | 1982-03-11 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58155357A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59163958U (ja) * | 1983-04-20 | 1984-11-02 | 株式会社トキメック | リニア・アレイ形超音波検査装置 |
| JPS62115106U (ja) * | 1985-11-29 | 1987-07-22 | ||
| JPH08482U (ja) * | 1995-08-25 | 1996-03-08 | 株式会社島津製作所 | 測定機器 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4977478A (ja) * | 1972-11-29 | 1974-07-25 |
-
1982
- 1982-03-11 JP JP3827082A patent/JPS58155357A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4977478A (ja) * | 1972-11-29 | 1974-07-25 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59163958U (ja) * | 1983-04-20 | 1984-11-02 | 株式会社トキメック | リニア・アレイ形超音波検査装置 |
| JPS62115106U (ja) * | 1985-11-29 | 1987-07-22 | ||
| JPH0524006Y2 (ja) * | 1985-11-29 | 1993-06-18 | ||
| JPH08482U (ja) * | 1995-08-25 | 1996-03-08 | 株式会社島津製作所 | 測定機器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0244025B2 (ja) | 1990-10-02 |
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