JPS58153157A - 磁気探傷装置の磁気検出器 - Google Patents
磁気探傷装置の磁気検出器Info
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- JPS58153157A JPS58153157A JP3561782A JP3561782A JPS58153157A JP S58153157 A JPS58153157 A JP S58153157A JP 3561782 A JP3561782 A JP 3561782A JP 3561782 A JP3561782 A JP 3561782A JP S58153157 A JPS58153157 A JP S58153157A
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は棒鋼、鋼管などの強磁性体被検査材の表面１
九はａｍに近い部分のキズやその他の欠陥を検出する磁
気探傷装置の磁気検出器に関するものである。
九はａｍに近い部分のキズやその他の欠陥を検出する磁
気探傷装置の磁気検出器に関するものである。
鉄鋼材料の品質管層における非破壊検査機器のうちキズ
などの欠陥部からの漏洩磁束を直接磁気検出器で検出す
る方式の自動連続磁気探傷装置は磁気探傷法のように目
視検査員が要らず、また欠陥の大きさが定量的ｋかつ高
感度で検出でき、さらに被検査材が黒皮の１１オンライ
ン検査ができるなどの特長を有し、広く用いられている
。この装置の磁気検出器には従来導線を巻回したボビン
状のサーチコイルが使用されていたが、巻＃密度を余シ
高くする仁とができず、したがってキズによって生ずる
漏洩磁束との鎖交性が嵐くなく、検出感度が低い欠点が
あり、またマグネットダイオードやホール素子などの感
磁性半導体による磁気検出器は特性にパラツ中があり、
さらに湿度その他の影響を受は中すい欠点があり、また
被検査材の全面走査を効率よく行うに当ってキズの発生
しやすい軸方向に上記小形の感磁げ半導体の検出器をき
わめて多数個配列しなければならず、その個々の検出器
に直結させるキズ信号処理回路も膨大なものとなる欠点
がある。まえ上記検出器の配列において、隣合う検出−
に間隔があれば上記被検査材を回転させながら直進させ
ても検出器の走査軌跡がスパイクル状のしま模様となシ
キズ検出の不感帯が生じキズの見落しが生じることがあ
る。
などの欠陥部からの漏洩磁束を直接磁気検出器で検出す
る方式の自動連続磁気探傷装置は磁気探傷法のように目
視検査員が要らず、また欠陥の大きさが定量的ｋかつ高
感度で検出でき、さらに被検査材が黒皮の１１オンライ
ン検査ができるなどの特長を有し、広く用いられている
。この装置の磁気検出器には従来導線を巻回したボビン
状のサーチコイルが使用されていたが、巻＃密度を余シ
高くする仁とができず、したがってキズによって生ずる
漏洩磁束との鎖交性が嵐くなく、検出感度が低い欠点が
あり、またマグネットダイオードやホール素子などの感
磁性半導体による磁気検出器は特性にパラツ中があり、
さらに湿度その他の影響を受は中すい欠点があり、また
被検査材の全面走査を効率よく行うに当ってキズの発生
しやすい軸方向に上記小形の感磁げ半導体の検出器をき
わめて多数個配列しなければならず、その個々の検出器
に直結させるキズ信号処理回路も膨大なものとなる欠点
がある。まえ上記検出器の配列において、隣合う検出−
に間隔があれば上記被検査材を回転させながら直進させ
ても検出器の走査軌跡がスパイクル状のしま模様となシ
キズ検出の不感帯が生じキズの見落しが生じることがあ
る。
この発明は、以上の現況に鑑みてなされえもので、従来
の漏洩磁束検出法による磁気探傷機の検出器の欠点を解
消するものである。すなわち磁気検出器を検出したい最
小のキズの長さたとえ゛ば１゜關とか２０鳳鳳とかに合
わせて、その大きさを自在に製作で龜、上記長さのキズ
を最大感度で検出できる１１１Ｈ形ｔ−チコイルとしえ
ものであ〕、これハ電気絶縁性部材としてたとえば合成
樹脂フィルムの片ＷＪ★えは両面に鋼・鎖などの導電性
金属の薄い層を付層し、この金属層にエツチングその他
の切り込み加工によって自わめて細くかつ高密度の渦巻
状金属層を形成し、その両端に９−ド線を付して、九と
えば巻線１００〜３００回の壱−密度の高い薄膜のす一
チコイルとし九磁気検出器にかかるものであ）、さらに
上記渦巻状金属層の上面に九とえばフェライトなどｏｌ
Ｉ４透磁率板状部材を接合することＫよって漏洩磁束検
出感度を向上させた検出器に４かかるものである。この
構成によって任意の形状で、検出感度が高く、シかもそ
の性能の均一した磁気検出器が容易に製作でき、とくに
全面走査の際にはそれを複数個互いにコイルが重複する
ように連結し、不感帯のない長尺の検出器が形成でき、
効率よく探傷できるものとなる。
の漏洩磁束検出法による磁気探傷機の検出器の欠点を解
消するものである。すなわち磁気検出器を検出したい最
小のキズの長さたとえ゛ば１゜關とか２０鳳鳳とかに合
わせて、その大きさを自在に製作で龜、上記長さのキズ
を最大感度で検出できる１１１Ｈ形ｔ−チコイルとしえ
ものであ〕、これハ電気絶縁性部材としてたとえば合成
樹脂フィルムの片ＷＪ★えは両面に鋼・鎖などの導電性
金属の薄い層を付層し、この金属層にエツチングその他
の切り込み加工によって自わめて細くかつ高密度の渦巻
状金属層を形成し、その両端に９−ド線を付して、九と
えば巻線１００〜３００回の壱−密度の高い薄膜のす一
チコイルとし九磁気検出器にかかるものであ）、さらに
上記渦巻状金属層の上面に九とえばフェライトなどｏｌ
Ｉ４透磁率板状部材を接合することＫよって漏洩磁束検
出感度を向上させた検出器に４かかるものである。この
構成によって任意の形状で、検出感度が高く、シかもそ
の性能の均一した磁気検出器が容易に製作でき、とくに
全面走査の際にはそれを複数個互いにコイルが重複する
ように連結し、不感帯のない長尺の検出器が形成でき、
効率よく探傷できるものとなる。
以下図面によってこの発明の詳細な説明する。
第１図［有］■■はこの発ｑ１４ｋかかる実施例磁気検
出器の薄膜コイルの正面ならびに側面図である。図■は
コイルの形状が長方形（１）のもの、図■は検出キズの
方向がいずれの場合にも適する丸形コイルωのもの、図
■は図■と＃ｔは同じ目的に用いる正方形コイルω０４
のである。ともに電気絶縁部材（りはたとえば耐熱性・
弾力性合成樹脂として開発され、太陽電池などの基板に
用いられる窒素系の合成樹脂ボリイ建ド（商品名Ｋａｐ
ｔｏｎ）などのたとえば２０μのフィルムとし、これに
！着積層する金属層はこれも同じ＜２０μ厚の銅箔とす
る。この鋼箔表面に形成しようとする渦巻状パターンを
スクリーン印刷し、非印刷部の鋼箔をエツチングして渦
巻状導体（３）の線幅をたとえば１０μとし、その巻線
ピッチのをＪμに仕上げ、総巻数１００〜３００回（図
は簡単の丸め数回で表示している）位の巻線密度の＾い
サーチコイル（４）Ｋ仕上げる。上記渦巻パターンの製
作法はスクリーン印刷に＠らず、パターンをフィルム原
版に作成して、鋼箔の表面に焼付け、現像し、それをエ
ツチングして仕上げるフォトエツチング法でもよい。ま
た金属層は鋼箔に隈らず銀箔・金箔などの電気良導体で
あればよい。
出器の薄膜コイルの正面ならびに側面図である。図■は
コイルの形状が長方形（１）のもの、図■は検出キズの
方向がいずれの場合にも適する丸形コイルωのもの、図
■は図■と＃ｔは同じ目的に用いる正方形コイルω０４
のである。ともに電気絶縁部材（りはたとえば耐熱性・
弾力性合成樹脂として開発され、太陽電池などの基板に
用いられる窒素系の合成樹脂ボリイ建ド（商品名Ｋａｐ
ｔｏｎ）などのたとえば２０μのフィルムとし、これに
！着積層する金属層はこれも同じ＜２０μ厚の銅箔とす
る。この鋼箔表面に形成しようとする渦巻状パターンを
スクリーン印刷し、非印刷部の鋼箔をエツチングして渦
巻状導体（３）の線幅をたとえば１０μとし、その巻線
ピッチのをＪμに仕上げ、総巻数１００〜３００回（図
は簡単の丸め数回で表示している）位の巻線密度の＾い
サーチコイル（４）Ｋ仕上げる。上記渦巻パターンの製
作法はスクリーン印刷に＠らず、パターンをフィルム原
版に作成して、鋼箔の表面に焼付け、現像し、それをエ
ツチングして仕上げるフォトエツチング法でもよい。ま
た金属層は鋼箔に隈らず銀箔・金箔などの電気良導体で
あればよい。
また図■で示す長方形コイル（１）の大きさは自在に作
シうるが通常幅υが約１０１１１１’ｔ：長さ０が１０
〜３０閣が多い。上記サーチコイル（４）の両端（６）
（６）に図示しないリード線を付して仕上げる。第２
図は絶縁フィルム（２）の両面に渦巻状コイルを形成し
、この２個のコイル（４） ＜４′＞を（６）の位置で
フィルム（２）を貫通して接続し、同一方向に巻かれた
２重のコイルにして端部の引出リード（・）（７）をフ
ィルム（２）の一方の縁部Ｋｍとめたものであり、この
薄膜両面コイル（ｉｖは後述の全面走査形検出器の素子
コイルに適するものである。第３図ムＢは上記薄膜コイ
ル（１） ｏ）（１）のいずれかを用いて、被検査材（
８）のキズを探傷する状況を示す図で、図ムは図示しな
い磁化装置によって矢印の方向に磁束（９）が通ってい
るキズのない被検査材（８）の外表面（８１Ｆ）Ｋ薄膜
コイル（１）を近接させ、かつ上記被検査材（８）と薄
膜コイルとの相対位置を移動させたときリード線（５バ
６）には検出電圧（・）は零であることを示している。
シうるが通常幅υが約１０１１１１’ｔ：長さ０が１０
〜３０閣が多い。上記サーチコイル（４）の両端（６）
（６）に図示しないリード線を付して仕上げる。第２
図は絶縁フィルム（２）の両面に渦巻状コイルを形成し
、この２個のコイル（４） ＜４′＞を（６）の位置で
フィルム（２）を貫通して接続し、同一方向に巻かれた
２重のコイルにして端部の引出リード（・）（７）をフ
ィルム（２）の一方の縁部Ｋｍとめたものであり、この
薄膜両面コイル（ｉｖは後述の全面走査形検出器の素子
コイルに適するものである。第３図ムＢは上記薄膜コイ
ル（１） ｏ）（１）のいずれかを用いて、被検査材（
８）のキズを探傷する状況を示す図で、図ムは図示しな
い磁化装置によって矢印の方向に磁束（９）が通ってい
るキズのない被検査材（８）の外表面（８１Ｆ）Ｋ薄膜
コイル（１）を近接させ、かつ上記被検査材（８）と薄
膜コイルとの相対位置を移動させたときリード線（５バ
６）には検出電圧（・）は零であることを示している。
図Ｂは被検査材（８）のキズＤＯＫよって上記磁束（９
）が外表ｌ１Ｉｉ（８Ｆ）Ｋ漏洩し、この漏洩磁束（荀
がサーチコイル（４）と鎖交した状況を示し、この状態
でコイルの両端リード線（６） （６）に誘起する電圧
（・）はつぎの式であられせる。
）が外表ｌ１Ｉｉ（８Ｆ）Ｋ漏洩し、この漏洩磁束（荀
がサーチコイル（４）と鎖交した状況を示し、この状態
でコイルの両端リード線（６） （６）に誘起する電圧
（・）はつぎの式であられせる。
・ニー１１１φ／（ｌｔここで■は磁束（ｄ）が鎖交し
ているサーチコイル（４）の巻数、Ｑ）は漏洩磁束数（
１）は磁束（９）の変化を）けている時間である。
ているサーチコイル（４）の巻数、Ｑ）は漏洩磁束数（
１）は磁束（９）の変化を）けている時間である。
第４図は薄膜コイル（１）の漏洩磁束量の磁束数（ロ）
を増大する丸めコイル（４）の上面に高透磁率材料九と
えばＦ＠、Ｏ，を主成分とする金属酸化物磁心材料（フ
ェライト）の圧縮焼結板状材Ｑ◇を接着剤などにて接合
させた磁気検出器（２）である。上記フェライ） （１
１は透磁率が高いが電気抵抗率が導電性金属の１０’−
、，１０”倍大きく電気絶縁体と見なせるのでこのよう
にコイル（４）Ｋ接合することができるのである。この
性質を利用して、第５図のようにフェライ） Ｑｌを絶
縁基板としてその片面または両面上に渦巻状金属層を形
成し、サーチコイル（４）を作るととＫよって第４図同
様の検出感度の高い検出器鶴となる。
を増大する丸めコイル（４）の上面に高透磁率材料九と
えばＦ＠、Ｏ，を主成分とする金属酸化物磁心材料（フ
ェライト）の圧縮焼結板状材Ｑ◇を接着剤などにて接合
させた磁気検出器（２）である。上記フェライ） （１
１は透磁率が高いが電気抵抗率が導電性金属の１０’−
、，１０”倍大きく電気絶縁体と見なせるのでこのよう
にコイル（４）Ｋ接合することができるのである。この
性質を利用して、第５図のようにフェライ） Ｑｌを絶
縁基板としてその片面または両面上に渦巻状金属層を形
成し、サーチコイル（４）を作るととＫよって第４図同
様の検出感度の高い検出器鶴となる。
つぎＫｊｌｌＥＭ図によって被検査材が丸棒鋼中鋼管な
どのばあい、その長尺方向のキズが発生しやすく、それ
を効率良く検出する全面走査形検出器（２）を説明する
。これは上記第１図■または第２図で示し丸長方形薄膜
コイル（１）または（イ５を複数個（この例では１４個
）、被検査材（２））の細心方向く配列したものであり
、との被検査材（８）はたとえば矢印（り方向に回転さ
せながら矢印ω）方向に移動させる。
どのばあい、その長尺方向のキズが発生しやすく、それ
を効率良く検出する全面走査形検出器（２）を説明する
。これは上記第１図■または第２図で示し丸長方形薄膜
コイル（１）または（イ５を複数個（この例では１４個
）、被検査材（２））の細心方向く配列したものであり
、との被検査材（８）はたとえば矢印（り方向に回転さ
せながら矢印ω）方向に移動させる。
こめ検出器（至）の１４個の薄膜コイル（１）は千鳥形
に積層することによってサーチコイル（４）が隣シ合う
コイルごとＫ（ΔＬ）だけ重複し、その全長ＣＩ＞がた
とえば１５０■とすればその間には全く漏洩磁束の不感
帯が存在しない。このことは従来の半導体磁気検出器で
は積層することが困難であシ、平面状に千鳥形配列とな
シ前述の如く検出器が非Ｉ、に多く要る以外に実現困難
な点である。を九この検出器（１１は個々の薄膜コイル
（１）ととに図示しない信号増幅器などのキズ信号処理
回路を有しており、それぞれたとえば長さ５０Ｈｍで深
さの同じキズに対しては同等の感度でそれを検出し、個
々の検出器には感度差がない特長を有している。このた
め信号処理回路における感度設定子信号処理が容易とな
る。今、被検査＄ｔｌｌ）Ｋその軸方向のキズαｑが上
記全長（１）の１／３存在し九とき図の関係位置で、サ
ーチコイル（ＩＡ） （ＩＢ）が１００−の感度で信号
を出し、サーチコイル（１の（１功（Ｉ Ｂ’）（１つ
はほぼ６０チの感度で信号を出してその位置ならびにキ
ズの深さを検知する。これに対し、今もし全長Ｃ１＞を
１個のサーチコイルで作つえとすると同じＣ１１５）の
キズＱＱＫ対して５５−の感度でしか信号が出ない。
に積層することによってサーチコイル（４）が隣シ合う
コイルごとＫ（ΔＬ）だけ重複し、その全長ＣＩ＞がた
とえば１５０■とすればその間には全く漏洩磁束の不感
帯が存在しない。このことは従来の半導体磁気検出器で
は積層することが困難であシ、平面状に千鳥形配列とな
シ前述の如く検出器が非Ｉ、に多く要る以外に実現困難
な点である。を九この検出器（１１は個々の薄膜コイル
（１）ととに図示しない信号増幅器などのキズ信号処理
回路を有しており、それぞれたとえば長さ５０Ｈｍで深
さの同じキズに対しては同等の感度でそれを検出し、個
々の検出器には感度差がない特長を有している。このた
め信号処理回路における感度設定子信号処理が容易とな
る。今、被検査＄ｔｌｌ）Ｋその軸方向のキズαｑが上
記全長（１）の１／３存在し九とき図の関係位置で、サ
ーチコイル（ＩＡ） （ＩＢ）が１００−の感度で信号
を出し、サーチコイル（１の（１功（Ｉ Ｂ’）（１つ
はほぼ６０チの感度で信号を出してその位置ならびにキ
ズの深さを検知する。これに対し、今もし全長Ｃ１＞を
１個のサーチコイルで作つえとすると同じＣ１１５）の
キズＱＱＫ対して５５−の感度でしか信号が出ない。
以上がこの発９１１Ｋかかる実施例検出器の構成と作用
であるが、この発明は図示や説明に＠定されるものでな
いことはいうまでもない。たとえば、電気絶縁性薄膜ｉ
ボリイ電ドでなくてもそれに近い性能の他の合成樹脂の
フィルムでもよいし、ま九ＩＩＩＰＫ耐熱性のものでな
くてもよい。その厚みなども２０μＫ１１Ｉらない０こ
の発明は以上のように構成されているので、従来の感磁
性半導体の磁気検出器の欠点を解消するものである。す
なわち最小検出キズ喪さに応じて自在に大きさを決めて
巻線重度の高い薄膜サーチコイルを容易に作り得るので
、とくに全長走査のばあいの検出器数を少くする仁とが
でき、信号Ｊ６壇囲路などを含め装置が簡単廉価とな）
、ま九そのす−チコイル製作法によって巻数その麹が均
一になるので、検出器側々の検出感度に差がなく、さら
に半導体検出器に見られるような温度・振動および衝撃
による影替のない信頼性の高い検出器を提供しえたもの
である。
であるが、この発明は図示や説明に＠定されるものでな
いことはいうまでもない。たとえば、電気絶縁性薄膜ｉ
ボリイ電ドでなくてもそれに近い性能の他の合成樹脂の
フィルムでもよいし、ま九ＩＩＩＰＫ耐熱性のものでな
くてもよい。その厚みなども２０μＫ１１Ｉらない０こ
の発明は以上のように構成されているので、従来の感磁
性半導体の磁気検出器の欠点を解消するものである。す
なわち最小検出キズ喪さに応じて自在に大きさを決めて
巻線重度の高い薄膜サーチコイルを容易に作り得るので
、とくに全長走査のばあいの検出器数を少くする仁とが
でき、信号Ｊ６壇囲路などを含め装置が簡単廉価とな）
、ま九そのす−チコイル製作法によって巻数その麹が均
一になるので、検出器側々の検出感度に差がなく、さら
に半導体検出器に見られるような温度・振動および衝撃
による影替のない信頼性の高い検出器を提供しえたもの
である。
縞１図ん■■はこの発明にかかる渦巻状コイルが兼方彫
、丸形および正方形の薄膜捜索コイルの正面ならびに側
面図、第２図は両面にコイルを形成し九薄膜捜索コイル
の正面、側面、背面図、第３図■は上記第１図の薄膜捜
索コイルによって、キズのない被検葺替探傷の状態を示
す断面図、図■は上記被検査材のキズを検出する状態を
示す同じく断面図、第４図はこの発明Ｋかかる実施例の
一つとしての高感度検出器の断面図、第５図は同じく別
の実施例の高感度検出器の側面図、第６図■は全面走査
用積層形検出器の正面図、図■は上記図■の検出器の側
面図ならびＫその作用を説明する図である。 （１） （１５（１）（ｉｉ ｈ−・・漏洩磁束捜索コ
イル（２）・・・電気絶縁性薄膜 （４）・・・渦巻状
導電金属層（渦巻状コイル） （５） （６） （７
）・・・上記渦巻状金属層の両端末（リード線引出部） （８）・・・磁性体被検査材 （８ＩＰ）・・・被検査
材の外表面 （９）・・・被検査材（８）内を通る磁束
（ｄ）・・・被検査材（旬の欠陥により表面（ＢＦ）４
Ｃあられれる漏洩磁束 ＱＯ・・・被検査材（船の表面または表面に近いキズや
欠陥 Ｑや・・・＾透磁率の板状部材
、丸形および正方形の薄膜捜索コイルの正面ならびに側
面図、第２図は両面にコイルを形成し九薄膜捜索コイル
の正面、側面、背面図、第３図■は上記第１図の薄膜捜
索コイルによって、キズのない被検葺替探傷の状態を示
す断面図、図■は上記被検査材のキズを検出する状態を
示す同じく断面図、第４図はこの発明Ｋかかる実施例の
一つとしての高感度検出器の断面図、第５図は同じく別
の実施例の高感度検出器の側面図、第６図■は全面走査
用積層形検出器の正面図、図■は上記図■の検出器の側
面図ならびＫその作用を説明する図である。 （１） （１５（１）（ｉｉ ｈ−・・漏洩磁束捜索コ
イル（２）・・・電気絶縁性薄膜 （４）・・・渦巻状
導電金属層（渦巻状コイル） （５） （６） （７
）・・・上記渦巻状金属層の両端末（リード線引出部） （８）・・・磁性体被検査材 （８ＩＰ）・・・被検査
材の外表面 （９）・・・被検査材（８）内を通る磁束
（ｄ）・・・被検査材（旬の欠陥により表面（ＢＦ）４
Ｃあられれる漏洩磁束 ＱＯ・・・被検査材（船の表面または表面に近いキズや
欠陥 Ｑや・・・＾透磁率の板状部材
Claims (1)
- １磁性体被検査材を畿化し、その表面にあられれる漏洩
磁束の強度を測定し、前記被検査材のキズその他の欠陥
を検出する検出器において、電気絶縁性薄膜の面に導電
性金属層を付層゛し、この金属層に化学的★九祉物場的
切り込み加工を施し、繊＃＆＃条が高密度に巻かれ九渦
巻′状金属層を形成し、これを前記漏洩磁束捜索−膜コ
イルとしてなる磁気探傷装置の磁気検出器０２表面に高
透磁率の板状部材を接合してなる特許請求ｏａｔｓ第１
項記載Ｏ磁気探傷装置の磁気検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3561782A JPS58153157A (ja) | 1982-03-05 | 1982-03-05 | 磁気探傷装置の磁気検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3561782A JPS58153157A (ja) | 1982-03-05 | 1982-03-05 | 磁気探傷装置の磁気検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58153157A true JPS58153157A (ja) | 1983-09-12 |
Family
ID=12446804
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3561782A Pending JPS58153157A (ja) | 1982-03-05 | 1982-03-05 | 磁気探傷装置の磁気検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58153157A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002033398A1 (fr) * | 2000-10-18 | 2002-04-25 | Kawasaki Steel Corporation | Capteur de fuites magnetiques d"un appareil de penetration magnetique |
| US7688067B2 (en) | 2002-01-17 | 2010-03-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Probe for electrical measurement methods and use of a flexible probe for production of a rigid probe |
| JP2017125709A (ja) * | 2016-01-12 | 2017-07-20 | 新日鐵住金株式会社 | 漏洩磁束探傷装置 |
| JP2018009873A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 株式会社Ihi | 探触子およびこれを備えた漏洩磁束探傷装置 |
| JP2018009874A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 株式会社Ihi | 磁気探触子 |
-
1982
- 1982-03-05 JP JP3561782A patent/JPS58153157A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002033398A1 (fr) * | 2000-10-18 | 2002-04-25 | Kawasaki Steel Corporation | Capteur de fuites magnetiques d"un appareil de penetration magnetique |
| JP2002195984A (ja) * | 2000-10-18 | 2002-07-10 | Kawasaki Steel Corp | 磁気探傷装置の漏洩磁気検出センサ |
| US6774627B2 (en) | 2000-10-18 | 2004-08-10 | Kawasaki Steel Corporation | Leak magnetism detection sensor for magnetic flaw detection system |
| US7688067B2 (en) | 2002-01-17 | 2010-03-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Probe for electrical measurement methods and use of a flexible probe for production of a rigid probe |
| JP2017125709A (ja) * | 2016-01-12 | 2017-07-20 | 新日鐵住金株式会社 | 漏洩磁束探傷装置 |
| JP2018009873A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 株式会社Ihi | 探触子およびこれを備えた漏洩磁束探傷装置 |
| JP2018009874A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 株式会社Ihi | 磁気探触子 |
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