JPS58151515A - 試験装置 - Google Patents

試験装置

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Publication number
JPS58151515A
JPS58151515A JP57034842A JP3484282A JPS58151515A JP S58151515 A JPS58151515 A JP S58151515A JP 57034842 A JP57034842 A JP 57034842A JP 3484282 A JP3484282 A JP 3484282A JP S58151515 A JPS58151515 A JP S58151515A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
lamp
display
routine
test item
Prior art date
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Pending
Application number
JP57034842A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Murata
均 村田
Noriaki Hirose
弘瀬 憲章
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP57034842A priority Critical patent/JPS58151515A/ja
Publication of JPS58151515A publication Critical patent/JPS58151515A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D21/00Measuring or testing not otherwise provided for

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Indicating Measured Values (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本実−は試験装at、*Kll[数の試験対象を順次自
動試験するに尚り、試験の進行状況を適確に把握するの
に好適な試験装置に閣するものである。
〔発明の技術的背景〕
第1図は従来の試験装置の一例を示すブロック図である
。同図構成に於いて、試論装置2は被試験装置IKm[
接または測定回路7を介して接続される針gas、試験
開始を入力するスイッチ4、試験項目等の条件を入力す
るディジタルスイッチ。
スイッチ4及びディジタルスイッチno状態を計算機3
に接続する入力インターフェースtO,lKM−始を表
示するランプ、試験終了を表示するランプ6、試験項目
に対応した項目番号を表示する数字表示器、ランプ5,
6及び数字表示1112に計算機3の出力を接続する出
力インターフェース11゜ORT上にキャラク/fi示
を行う中ヤツクタ表示器9、キャラクタ表示器9に計算
機3及びS*回路70出力データを表示させる表示出力
インター7エース8かも構成されるものである。
かかる構成に1にいて、試験装置2は計算機3により試
験の奥行を制御される。、つまり、計算機3は入力イン
ターフェースlOを通じてゲイジタルスイッチ13から
入力された試験項目蓋びに条件に基いて、スイッチ4か
らの試験開始指令を受けて被試験装置lの自動試験を行
う。
試験中の被試験*to状態はlIl定關賂テで測定され
、計算機3に入力されると共に表示出力インターフェー
ス8を通じて今ヤラクタ表示SS上に表示される。また
、試験結果は計算@Sで**され、これも表示出力イン
ター7エース8を通じてキャラクタ表示器9上Kll示
される。
一方、試験開始及び終了はそれでれ出力インター7エー
ス11を通じてランプ5.6Klk示される。
また、試験項目も出力インター7エーヌ11を介して数
字表示1)LtKIK示される。
〔背景技術の問題点〕
ところが、第1図の構成に於いては、奥行中の試験項目
の表示を各試験項目に対応した項目番号で数字表示51
2よに表示したり、キャラクタ表示器9上に表示したり
してI/hた訳であるが、かかる表示方式では試験の進
行状況の判定が困難であるという問題がある。
〔発明の目的〕
従って本発明の目的は上記従来技術の欠点を解消し、各
試験項目毎に対応して設けられたスイッチと2状態点灯
する項目ランプにより、多数の試験項目の設定、奥行中
の表示、終了の表示を行なわせることKより、試験の進
行状況の判定を容易にした試験装置を提供することKあ
る。
〔発明の概要〕
上記目的を構成するために、本実1jllK於いては、
試験装置を複数憤の試験項目を奥行する制御手段と、各
試験項目毎に対応して設けられ、対応する試験項目の実
行中に第101!!示状態となり、実行終了時に第2の
表示状態となる複数儂の表示手段とで構成している。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
fl/E2図は本発明の−l!施例に係る試験装置のブ
ロック図で、被試験装置1に接続され大試験装旨2は試
験の奥行を制御する計算I13、被試験装置lからの信
号を測定する測定回路7、試験開始を入力するスイッチ
4、試験開始及び実行中を示すう/プ5、試験の終了を
示すランプ6、試験項目を入力する入力スイッチ14.
、〜14□と試験項目の実行中であることを表示するラ
ンプ14□N)〜14nbと試験項目の奥行終了を表示
するランプ14.。〜14n0を内蔵して成ゐ照光式押
しボタンスイッチ14、〜14n、試験項目の入力スイ
ッチ14.a〜14n&の状態をコード信号に変換する
エンコード回路15、計算機3からの試験項目の奥行中
及び終了表示のためのコード信号をデコードするデコー
ド回路16、デコード回路16の出力信号と計算Ia3
の出力信号により、試験項目の実行中及び終了のランプ
14.1)〜14n1)* 14.。〜14n0を切換
えるための切換回路17.111111曽呆を中ヤラタ
J#!示するキャラクタ表示器9等から構成される。な
お、計算機3とスイッチ4及びエンコード回路15の間
には入力インタ−フェースlOが介在し、計算機3とデ
コード回路16、切換回路17.ランプ5,6の関には
出力インターフェース11が介在し、更に計算機3とキ
ャラクタ表示器90関には表示出力インターフェース8
が介在する。
第3WJ#i鮪2図の構成に於いて、各照光式押しlタ
ンスイッチ14.〜14n、スイッチ4、ランプ5゜6
の配置を示すと共にモードスイッチ18を示す説明図で
ある。なお、モードスイッチ18は1叡を行うに幽って
 nlIめ試験項目を予め定められfc販序に従って順
次自動的に実行する自動モードと試験開始スイッチ4を
押す毎に順次試験項目を実行するステップモードと、任
意に試験項目を選択してこれを順次奥行する半自動峰−
ドを自由に選択可能に設5&される。一方、スイッチ4
はランプ5により照光式の構成とされ、試験開始の入力
と表示を兼ね*vamを有する。
tlN2m、第atlJt)#1M、FC111イて、
今モードヌイツチ18が自動モードにある場合の動作を
第41EIのフローチャートに従って*例する。
今、試験開始スイッチ4を押すと、この信号は入力イン
ターフェース10を介して計算機3に入力され、ルーチ
ン41ての判定に基′#!賦験試験始される。同時に1
計算機3より出力インター7エース11を介して試験I
i蛤表示偏信号出力畜れ、ルーチン々に示す如く、試験
開始ランプ5が点灯する。
試験は第10試験項目より層状実行されることとなるが
、ルーチン41に示す如く、嬉10試験項目の実行lI
麺と同時に、計算機3より奥行1れ1第1の試験頂目を
示すコード信号が出力インターフェース11を介してデ
コード回路16に出力される。
t7t、同時に計算機3より轟#試験l[目の奥行中を
示す信号が出力インターフェース111介して切換回路
170リレー17aK出力される。デコード−路麺から
の第1の試験項目を選択する信号はリレ−17aO動作
により、ルーチン44に示す如く嬉1の試験項10夷行
中を示すランプ14.b  を点灯す次に、ルーチン4
5に示す如く、$111の試験項目の実行が終了すると
、計算機3から出力インターフェース11を介して出力
されゐ偏量Ktili切換回路17のリレー17mがオ
フし、リレー17bがオンする、その結果、ルーチン4
6に示す如く、第1の試験項目の奥行中を示すランプ1
4.。か消灯し、ルーチン47に示す如<@ICI試験
項目の奥行終了を示すランプ14.。が点灯する。しか
る後に、ルーチン48に示す如く測定結果が表示出力イ
ンターフェ−XJ!を介してキャラタメ表示111に出
力され。
出刃完了と同時に針Jil13からのJi!1の試験項
目の選択信号と切換回踏17のリレー17bのドライブ
信号はオフとなる。その結果、ルーチン49に示す如<
、[1の試験項目の奥行終了を示すランプ14、。が消
灯する。
次ニ、計算機30作1llKより、ルーチン410に示
す如く第2の試験項目の奥行が開始されるが、先に述べ
良と同様にしてルーチン411に示f如く、第2の試験
項目の奥行中を示すランプ141m、が点灯する。
以下、同様にして最終試験項目までの試験の実行がルー
チン411 K示す如く終了すると、ルーチン413 
K示す如く最終試験項目の奥行中を示すランプ14nb
が消灯し、次にルーチン414に示す如く最lII試験
項目の終了を示すランプ14n、が点灯する。
次に、ルーチン415に示す如く、キャラクタ表示1!
ilK対する測定結果の出力が行なわれ、ルーチン41
6 K示す如く最終試験項目の奥行終了を示すランプ1
4n0が消灯する。
上に述べた如き動作を通じて、全ての試験項目に関する
試験を終了すると、ルーチン417に示す如く、計算機
3から出力インターフェースUを遍じて出力される信号
に基いて点灯していた試験開始ランプ器が消灯する1、
併せて、ルーチン411 K示す如く、試lkl/Il
了ランプ6が点灯して一連O試験を終了することとなる
−1 次に、sz図、第3図の構成に於いて、今モードスイッ
チ堕がステップモードに&る場合の動作をIIs図のフ
ローチャートに従って説明する。
ステップ毫−ドに於いて、スイッチ4が押され第1の試
験項目の試験が奥行畜れ、そ0結果がキャ50表示−9
に出力されるまでのルーチン51からルーチン郭で示さ
れる動作は、自動モードでルーチン41からルーチン−
で示された動作と倉〈同じでああ。一方、嬉10試験項
目の試験終了を示すランプ141゜Fi測定結果の出方
が終了し食後も継続される。
次に、スイッチ4が押され、ルーチン51aK示す如く
これが計算機3で受は付けられると、第1の試験項目の
試験終了を示すランプ141QがルーチンBIGに示す
如く消灯する5PJ時に、ルーチン511に示す如く、
第2の試験項目0IIi行が開始され、併せてルーチン
51! K示す如<、*SO試験項目の試験が奥行中で
あることを示すランプ14.bが点灯する。以降、ルー
チンS13〜515 Kit如く、@!の試験項@O夷
行終了に伴なって、*2t)試験項目の負行中を示すラ
ンプ141bが消灯し、奥行終了を示すランプ14.。
が点灯する。
1にシ、最終試験項目にクーでも、ルーチン516から
ルーチン523に至るまでは、ルーチン51からルーチ
ン57に示すと金〈同様にラン力’nb’ ”naが点
灯及び消灯制偶されるが、この場合、最終であるので測
定結果の出力か終了すると、ルーチン524に示す如く
、スイッチ4の操作を待九ずに実行終了を示すランプ1
4n0が消灯し、併せてルーチン525に示す如く、試
験開始ランプ5が消灯する。
次に、ルーチン526に示す如く、試験終了ランプ6を
点灯して、一連のステップモードによるKMを終了する
次に、第2図、第3WJの構成に焚いて、今七−ドスイ
ッチ18が中自動モードにある場合の動^を第6図の7
a−チャートに従って説−する。
半自動峰−ドに於いては、任意の試験項目を試験項目ス
イッチ14,1L−1〜□のいずれかを押すことKよっ
て選択し、当峡項目だりの試験を実行する、 ルーチン61に於いて、試験項目1を示すスイッチ14
1.Lが押されると、二ンコード回路ルを通じて試験項
目に対応するコード信号が入力インターフェース10を
介して計算93に入力される。針jI機3は試験項目1
を示すコード信号と試験項目の実行中を示す信号を出力
インターフェース11を介してデコード回路16と切換
回路17に出力する。その結果、ルーチン62に示す如
く、スイッチ14□あて選択された試験項目1の奥行中
を示すランプ14□ゎが点灯する。但し、この場合、ラ
ンプ14□ゎは試験項目1が選択された事を示すもので
あって、試験が奥行中であることを示すものではない。
次に、試験開始スイッチ4を押すと、ルーチン63に示
す如く、計算機3でこれが受は付けられ、ルーチン64
に示す如く、試験開始を示すランプ5が点灯して、ルー
チン65に示す如く、試験項目1の実行が開始される。
次に、ルーチン66に示す如く、試験項目1の実行が終
了すると、ルーチン67に示す如く試験項目1の実行中
を示すう77’14.bが消灯し、次にルーチン68に
示す如く同項目1の奥行終了を示すランプ141゜が点
灯する。しかる後に1ルーチン69に示す如くキャラク
タ表示119に側室結果の出力が行なわれ、試験項目1
の測定を終了するが、この場合試験項目1の実行終了を
示すランプ141oの点灯は継続される。次に、ルーチ
ン610に示す如く、試験開始ランプ5が消灯し、ルー
チン611 K示す如く、試験終了ランプ6が点灯して
一連の動作を終了する。
なお、試験項目1の実行終了を示すランプ141cは、
次にスイッチ14.a〜14na  で新光な試験項目
を選択するか、1+は図示しないリセットスイッチを押
すまで点灯し続ける。
上述の如く、第2図、第3図に示した本実施例の構成に
よれば、自動的tたは手動でステップ的に実行される試
験項目の実行中及び実行終了をラン力411)〜14n
b 及び14.。〜14n0  で項目毎に容易に把握
することが出来るばかりでなく、スイッチ14,1〜1
4nl!L  により任意の試験項目を選択してこれを
実行させることが出来るものである。
なお、ランプ14.b〜14n1)として赤色、ランプ
141゜〜14n0  として緑色という様に、各試験
項目の実行中と奥行終了の表示を色分けすることにより
、両者の区別をより明確にすることが出来るものである
。!た、スイッチ141〜14n+’!必ずし本照党弐
にする必要はなく、スイッチ14,1〜14na、ラン
プ141.〜14nbt t4. 。〜14n0を儂別
KI&けて龜同様効果を遅成し得為ことは云うまて4な
い、更に、試験項目スイッチの入力備考や試験項目を示
す出力個号はエンコード、デコード等の処塩を加えるこ
となく、直接インターフェースヲ介シて計算機に縁続し
て4よい。
〔発明の効果〕 以上述べえ如く、本発111によれば複数情の試験項目
のそれぞれに対応して、試験の奥行中及び終了を異なる
状態で表示する表示手段を設けることKより、各試験モ
ードに於ける試験の進行状況を適確に把握することを可
能ならしめ、IIIIKflA定中に出力が分離して表
示され為こととなる光め、試験装置1に故障が生じた場
合も、測定系の故障か表示系の故障かを容ToK判定出
来、従って保守性の向上の上でも効果的な試験装置を得
る事が出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の試験装置の一例を示すプロッタ図、 第2図は本発明の一実施例に係る試験装置のブロック図
、 第3図は第2図のスイッチ及びランプの配置を示す説明
図、 第4図、第S図、嬉6図は第2図、第3閣の構成に於け
る動作を説明するフローチャートである。 1・・・被試験装置、2・・試験装置、3・・・計算機
、14、〜14m1・・・照光式押ボタンスイッチ、1
5・・・エンコード回路、16・・・デコード回路、1
7・・・切換回路。 出願人代理人  躍  股     清興 ― 美 イ 薯− 硼1 ヲ ヨー イ ! 馬2図    (2 一−−−−−’m 目1      スイッチ         lOI゛
″  ・ ta                も目
1       1  ン             
 イ)フ・       l:l ;  ド                 θ目1 
:   : 回        イーン      ゛
 発  (1”フ イ 目2                77・ソナー↓
−− ” 1  “  ゛ テ゛    男    ゛目2 
      ’+    コ   イラソフ     
      1 工    1      ン2b  
          、        ド     
   タ目2:      、j  : 回   3刃
    :工:  降 6 鳳 目几 ツチ 、/4na                 
          被i目rl          
               富士        
      宮代フシ               
                  ・  町屹鼻 
     装 ;目n’                     
   !°ランプ       Cη丈      ;
只11゜985       ″゛ 回 ブ    −粛壬中hI!各 第3図 第4図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数儒の試験項目を実行する制御手段と、各試験
    項目毎に対応して設けられ、対応する試験項目の奥行中
    に第1の表示状態となり、実行終了時に第2の表示状態
    と危る複数慎の表示手段とから成ることを**とする試
    験装置。
  2. (2)各表示手段が館1の表示状態と嬉20表示状鰺を
    互いに異な為表示色を用いて表示することを特徴とする
    特許請求の範囲第1]JlK記駿の試験装置1゜
  3. (3)各表示手段が表示色の異なる2憫の尭光手段で#
    l威されることを特徴とする特許請求の範囲第2項に記
    蒙の試験装置。
  4. (4)制御手段で実行すべき試験項目を般弯すゐスイッ
    チを各表示手段毎に対応して配し大ことを特徴とする特
    許請求の範@I鎮1項に記軟の試験装置、
JP57034842A 1982-03-05 1982-03-05 試験装置 Pending JPS58151515A (ja)

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JP57034842A JPS58151515A (ja) 1982-03-05 1982-03-05 試験装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP57034842A JPS58151515A (ja) 1982-03-05 1982-03-05 試験装置

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JPS58151515A true JPS58151515A (ja) 1983-09-08

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ID=12425440

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5322757A (en) * 1976-08-13 1978-03-02 Mitsubishi Electric Corp Testing apparatus of electric a ppliances
JPS5421376A (en) * 1977-07-13 1979-02-17 Suisse Horlogerie Electronic timepiece

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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