JPS5814610Y2 - semiconductor equipment - Google Patents

semiconductor equipment

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JPS5814610Y2
JPS5814610Y2 JP1978156820U JP15682078U JPS5814610Y2 JP S5814610 Y2 JPS5814610 Y2 JP S5814610Y2 JP 1978156820 U JP1978156820 U JP 1978156820U JP 15682078 U JP15682078 U JP 15682078U JP S5814610 Y2 JPS5814610 Y2 JP S5814610Y2
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JP
Japan
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cover
substrate
solder
resin adhesive
epoxy resin
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JPS5574048U (en
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純一 河西
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富士通株式会社
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    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、半導体装置に関するものであり、特にその半
導体素子を内部に封入する密封容器を基板とカバーによ
り構成するとともに、一度該基板とカバーを密着して密
封容器を完成させたあとでも、該カバーと基板とを取外
しできるように構成したものに関する。
[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to a semiconductor device, and in particular, a sealed container in which a semiconductor element is enclosed is constituted by a substrate and a cover, and once the substrate and the cover are brought into close contact with each other, the sealed container is constructed. The present invention relates to a device configured such that the cover and the board can be removed even after completion.

従来、集積回路素子は次のような手段により密封容器中
に封入され、湿気や汚染物を含む外部雰囲気から保護さ
れていた。
Conventionally, integrated circuit devices have been encapsulated in sealed containers to protect them from external atmospheres containing moisture and contaminants by the following means.

即ち、アルミナや合成樹脂の如き絶縁性基板上に上記集
積回路素子を固着したあとで、あらかじめ上記基板に形
成された導電パターンまたは上記基板に設けられた導電
ピンと上記集積回路素子間を、例えばワイヤボンデグに
より電気的に接続する。
That is, after the integrated circuit element is fixed on an insulating substrate such as alumina or synthetic resin, a conductive pattern previously formed on the substrate or a conductive pin provided on the substrate is connected between the integrated circuit element and the integrated circuit element, for example, by wire bonding. Connect electrically.

それから、(1)基板と同様な絶縁材料により構成され
たカバーもしくは金属製カバーを上記基板と接着させる
か、(2)上記基板が合成樹脂で構成されている場合に
は同材料の合成樹脂でモールド的に密封する等の手段に
より、上記集積回路素子を密封していた。
Then, (1) glue a cover made of the same insulating material or metal cover as the board to the board, or (2) if the board is made of synthetic resin, use a synthetic resin of the same material. The integrated circuit element has been hermetically sealed by means such as molding.

しかしながら、上記(2)の場合は勿論、上記(1)の
場合も一度接着した基板とカバーとを後で分離すること
は非常に困難であった。
However, not only in case (2) above, but also in case (1) above, it is extremely difficult to separate the substrate and cover once they have been bonded together.

即ち、上記(1)の場合には、通常カバーが絶縁物製で
あっても金属製であっても、該カバーはエポキシ樹脂系
接着剤により基板と接着されている。
That is, in the case of (1) above, whether the cover is made of an insulating material or a metal, the cover is usually bonded to the substrate with an epoxy resin adhesive.

エポキシ樹脂系接着剤は熱硬性樹脂のために、一度接着
に際し熱硬化したあとは、簡単にこれを溶解したりまた
は軟化させて、上記カバーと基板とを分離することは不
可能であった。
Since the epoxy resin adhesive is a thermosetting resin, once it has been thermally cured during adhesion, it has been impossible to easily dissolve or soften it and separate the cover from the substrate.

しかるに、最近、■個の密封容器中に複数の集積回路素
子を封入した半導体装置が使用されている。
However, recently, semiconductor devices in which a plurality of integrated circuit elements are sealed in a number of sealed containers have been used.

このようなマルチチップ・タイプの半導体装置では、使
用中にそのうちの1個の集積回路素子に故障が生じた場
合には、もしも簡単にカバーと基板が分離可能ならば該
故障素子だけを取替えた方が経済的であるにもかかわら
ず、その半導体装置全体を取替えなければならなかった
In such multi-chip type semiconductor devices, if one of the integrated circuit elements fails during use, only the failed element can be replaced if the cover and board can be easily separated. Although it was more economical, the entire semiconductor device had to be replaced.

また密封容器中に封入された半導体素子をある条件下で
使用したのち、該半導体素子がどのようになっているか
等を研究するために、カバーと基板とを簡単に分離する
ことが希望されている。
In addition, after using a semiconductor device sealed in a sealed container under certain conditions, it is desired to easily separate the cover and the substrate in order to study the condition of the semiconductor device. There is.

そして、このようなカバーと基板とを簡単に分離可能に
するための手段として、第1図に示す如く、カバーと基
板とを接着する場合、エポキシ樹脂層の間にハンダを介
在させる方法が提案されている。
As a means for easily separating the cover and the board, a method has been proposed in which, as shown in Figure 1, when bonding the cover and the board, a method is proposed in which solder is interposed between the epoxy resin layers. has been done.

図中、1は基板、2は集積回路素子、3は絶縁物製のカ
バー、4.4’はエポキシ樹脂系接着剤、5はハンダ、
6は金線である。
In the figure, 1 is a substrate, 2 is an integrated circuit element, 3 is an insulating cover, 4.4' is an epoxy resin adhesive, 5 is solder,
6 is a gold wire.

即ち絶縁物製基板1に集積回路素子2を適当な手段で固
着したあと、該集積回路素子2を上記基板1上に形成さ
れた導電パターン(図示省略)と、金線6,6により電
気的に接続する。
That is, after an integrated circuit element 2 is fixed to an insulating substrate 1 by appropriate means, the integrated circuit element 2 is electrically connected to a conductive pattern (not shown) formed on the substrate 1 and gold wires 6, 6. Connect to.

それから上記基板1に絶縁カバー3を固着して、この基
板1と絶縁カバー3とにより構成された密封容器内に上
記集積回路素子2を封入する。
Then, an insulating cover 3 is fixed to the substrate 1, and the integrated circuit element 2 is enclosed in a sealed container constituted by the substrate 1 and the insulating cover 3.

勿論、上記導電パターンには、外部に突出して設けられ
た導電ピン(図示省略)が接続される。
Of course, a conductive pin (not shown) provided to protrude outside is connected to the conductive pattern.

この絶縁カバー3と基板1とを固着するに際し、絶縁カ
バー3にあらかじめエポキシ樹脂系接着剤4によりハン
ダ5を固着する。
When bonding the insulating cover 3 and the substrate 1, solder 5 is bonded to the insulating cover 3 in advance using an epoxy resin adhesive 4.

それからエポキシ樹脂系接着剤4′により該ハンダ5と
基板1とを固着し、密封容器を完成させるものである。
Then, the solder 5 and the substrate 1 are fixed with an epoxy resin adhesive 4' to complete the sealed container.

その後、外部より適当な手段で上記ハンダ5の部分を加
熱すれば、該ハンダは融解し、基板1と絶縁カバー3を
容易に分離することが可能となる。
Thereafter, by heating the solder 5 from the outside by a suitable means, the solder melts and the substrate 1 and the insulating cover 3 can be easily separated.

しかしながら、このような第1図に示された如き密封手
段では、エポキシ樹脂系接着剤4,4′がハンダ5と直
接接着するように構成しなければならない。
However, such a sealing means as shown in FIG. 1 must be constructed so that the epoxy resin adhesives 4, 4' are directly bonded to the solder 5.

しかるにエポキシ樹脂系接着剤とハンダとはなじみが悪
く、良好な気密性を保持することが困難であり、上記の
如き構造の密封手段は実用的ではなかった。
However, the epoxy resin adhesive and solder are not compatible with each other, and it is difficult to maintain good airtightness, so the sealing means having the above structure has not been practical.

したがって、本考案はこのような欠点を改善した密封容
器を具備した半導体装置を提供することを目的とし、そ
のために、絶縁性基板と該絶縁性基板上に固着された半
導体素子と上記絶縁性基板と固着されて上記半導体素子
を密封する容器を構成するカバーとを有する半導体装置
において、上記絶縁性基板に熱硬化性樹脂接着剤層を介
して金属層を設け、該金属層に融解性物質層を設けるこ
とにより、上記絶縁性基板と上記カバーとを密封固着し
たあとで、上記融解性物質層を適当な手段で融解するこ
とにより、上記絶縁性基板とカバーとを取外し可能にし
たことを特徴とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide a semiconductor device equipped with a sealed container that improves such drawbacks, and for this purpose, an insulating substrate, a semiconductor element fixed on the insulating substrate, and the insulating substrate and a cover that is fixed to constitute a container for sealing the semiconductor element, wherein a metal layer is provided on the insulating substrate via a thermosetting resin adhesive layer, and a meltable substance layer is provided on the metal layer. By providing the insulating substrate and the cover, the insulating substrate and the cover can be removed by melting the meltable substance layer by an appropriate means after the insulating substrate and the cover are hermetically fixed. shall be.

本考案の一実施例を第2図について説明する。An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

図中、第1図と同一符号部分は同部分を示す。In the figure, the same reference numerals as in FIG. 1 indicate the same parts.

7,7′はエポキシ樹脂系接着剤、8,8′は金属板、
9はハンダである。
7, 7' are epoxy resin adhesive, 8, 8' are metal plates,
9 is solder.

金属板8,8′は、例えば銅板の如く、エポキシ樹脂系
接着剤とハンダとの両方に密着性の良い金属板の中から
選定される。
The metal plates 8 and 8' are selected from metal plates that have good adhesion to both epoxy resin adhesive and solder, such as copper plates.

本考案においては、先ず、カバー3の固着面と一致した
形状の金属板8,8′をハンダ9にて溶着したあとで、
エポキシ樹脂系接着剤7によりこれらの金属板8,8′
より構成される積層体を上記カバーに固着する。
In the present invention, first, after welding metal plates 8 and 8' with a shape that matches the fixing surface of the cover 3 with solder 9,
These metal plates 8, 8' are bonded with epoxy resin adhesive 7.
A laminate consisting of the above is fixed to the cover.

一方基板1には集積回路素子2を固着するとともに、金
線6,6により、該集積回路素子と上記基板上に形成さ
れた導電パターンとの間を配線する。
On the other hand, an integrated circuit element 2 is fixed to the substrate 1, and wiring is provided between the integrated circuit element and the conductive pattern formed on the substrate using gold wires 6, 6.

そして、エポキシ樹脂系接着剤7′により、上記の如く
すでに金属板8,8′が固着されているカバー3と基板
1とを固着する。
Then, the cover 3, to which the metal plates 8, 8' have already been fixed as described above, and the substrate 1 are fixed using an epoxy resin adhesive 7'.

このようにして集積回路素子2を基板1とカバー3によ
り構成される密封容器内に封入することが可能になる。
In this way, it becomes possible to encapsulate the integrated circuit element 2 in the sealed container constituted by the substrate 1 and the cover 3.

その後に外部よりハンダ9を加熱してこれを融解すれば
、金属板8,8′間は分離可能となるので、カバー3を
基板1より取外すことができ、例えば内部に封入されて
いた集積回路素子2を点検したり、取換えたりすること
が可能になる。
After that, by heating the solder 9 from the outside and melting it, the metal plates 8 and 8' can be separated, so the cover 3 can be removed from the board 1, and for example, the integrated circuit sealed inside can be removed. It becomes possible to inspect or replace the element 2.

そして、金属板8,8′間を新らしくハンダ9により固
着すれば、再び基板1とカバー3とにより密封容器を形
成することができる。
If the metal plates 8 and 8' are fixed again with solder 9, the sealed container can be formed again by the substrate 1 and the cover 3.

上記の説明では、ハンダ9により固着された金属板8,
8′をエポキシ樹脂系接着剤7によりあらかじめカバー
3に固着した場合について説明したが、金属板8,8′
をあらかじめエポキシ樹脂系接着剤7′により基板1と
固着しておき、これにカバー3をエポキシ樹脂系接着剤
7により接着してもよい。
In the above description, the metal plate 8 fixed by solder 9,
8' was previously fixed to the cover 3 with the epoxy resin adhesive 7, but the metal plates 8, 8'
may be fixed to the substrate 1 in advance using an epoxy resin adhesive 7', and then the cover 3 may be adhered to this using the epoxy resin adhesive 7.

また、金属板8,8′をそれぞれエポキシ樹脂系接着剤
7,7′によりカバー3または基板1に別々に固着した
あとで、ハンダ9により金属板8,8′を固着して基板
1とカバー3とにより密封容器を完成してもよい。
Further, after fixing the metal plates 8 and 8' separately to the cover 3 or the board 1 with epoxy resin adhesives 7 and 7', the metal plates 8 and 8' are fixed with solder 9 to the board 1 and the cover. 3 may complete the sealed container.

本考案の他の実施例を第3図について説明する。Another embodiment of the invention will be described with reference to FIG.

この実施例においては、カバー10は、例えばニッケル
板の如き、ハンダと密着性のよい金属板で構成されてい
る。
In this embodiment, the cover 10 is made of a metal plate, such as a nickel plate, which has good adhesion to solder.

したがって、カバー10は直接ハンダ付が可能であるの
で、エポキシ樹脂系接着剤により固着される金属板を介
在させることなくしてカバー10と金属板8′をハンダ
9により固着させることができる。
Therefore, since the cover 10 can be directly soldered, the cover 10 and the metal plate 8' can be fixed with the solder 9 without intervening a metal plate that is fixed with an epoxy resin adhesive.

勿論、第3図に示す実施例の場合は、金属板8′をハン
ダ9によりあらかじめカバー10に固着した後に、エポ
キシ樹脂系接着剤7′により基板1と上記金属板8′と
を固着して密封容器を完成してもよく、また、基板1に
対してエポキシ樹脂系接着剤7′により金属板8′を固
着した後に、ハンダ9によりカバー10と金属板8′と
を固着して密封容器を完成してもよい。
Of course, in the case of the embodiment shown in FIG. 3, the metal plate 8' is fixed to the cover 10 with solder 9 in advance, and then the substrate 1 and the metal plate 8' are fixed with an epoxy resin adhesive 7'. Alternatively, the sealed container may be completed by fixing the metal plate 8' to the substrate 1 with an epoxy resin adhesive 7' and then fixing the cover 10 and the metal plate 8' with solder 9. may be completed.

第2図及び第3図は、いずれも基板1が平面状の場合に
ついての説明であるが、更に他の実施例を第4図につい
て説明する。
Although FIGS. 2 and 3 both illustrate the case where the substrate 1 is planar, another embodiment will be described with reference to FIG. 4.

第4図イに示す半導体装置においては基板11が上板1
1′及び下板11″とによって積層されている。
In the semiconductor device shown in FIG. 4A, the substrate 11 is the upper plate 1.
1' and a lower plate 11''.

これらの上板11′及び下板11″は絶縁物製であって
、下板11″に形成された凹部に集積回路素子2が固着
され、金線6,6により、下板11″に形成されている
インナー・リード・パターンと上記集積回路素子2とが
配線されている。
These upper plate 11' and lower plate 11'' are made of an insulating material, and the integrated circuit element 2 is fixed in a recess formed in the lower plate 11'', and is formed on the lower plate 11'' with gold wires 6, 6. The inner lead pattern shown above and the integrated circuit element 2 are wired.

上記インナー・リード・パターンには導電ピン14.1
4が接続されている。
The above inner lead pattern has a conductive pin 14.1.
4 are connected.

カバーはセラミックの如き絶縁物製でもよいし、金属製
のものでもよい。
The cover may be made of an insulating material such as ceramic, or may be made of metal.

そしてこのカバーと基板11とを固着する固着部13.
13’を、第4図口及び第4図へについて拡大して図示
説明する。
A fixing portion 13 fixes the cover and the substrate 11.
13' will be illustrated and explained in an enlarged manner with reference to FIG. 4 and FIG.

第4図口は平板状の絶縁物製カバー12を使用した例で
あり第4図ハはハンダと密着し易い、平板状の金属製カ
バー12′を使用した例である。
Figure 4 shows an example in which a flat plate-shaped insulating cover 12 is used, and Figure 4C shows an example in which a flat plate-shaped metal cover 12' is used, which easily adheres to solder.

絶縁物カバー12と上板11′とを固着している固着部
13は、第2図に示す場合と同様に、エポキシ樹脂系接
着剤14.14’、金属板15.15’及びハンダ16
よりなり、第2図の場合と同様にして密封容器を形成す
る。
The fixing portion 13 fixing the insulator cover 12 and the upper plate 11' is made of an epoxy resin adhesive 14, 14', a metal plate 15, 15', and a solder 16, as in the case shown in FIG.
A sealed container is formed in the same manner as in FIG.

また、金属製カバー12′と上板11′とを固着してい
る固着部13′は、第3図の場合と同様に、エポキシ樹
脂系接着剤14′、金属板15′及びハンダ16よりな
り、第3図の場合と同様にして密封容器を形成する。
Furthermore, the fixing portion 13' that fixes the metal cover 12' and the upper plate 11' is made of an epoxy resin adhesive 14', a metal plate 15', and solder 16, as in the case of FIG. , a sealed container is formed in the same manner as in FIG.

勿論第4図町へに示したいずれの場合も、ハンダ16を
加熱して融解することによりカバー12.12’と上板
11′との固着を分離することができ、その後にまた再
びハンダによりカバー12.12’と上板11′とを固
着することができる。
Of course, in any of the cases shown in Figure 4, the adhesion between the cover 12.12' and the upper plate 11' can be separated by heating and melting the solder 16, and then soldering again. The cover 12.12' and the top plate 11' can be fastened together.

以上の各実施例においてはエポキシ樹脂系接着剤とハン
ダとを使用した場合について説明したが、本考案はこれ
らに限定されるものではなく、他の熱硬化性樹脂や融解
性物質を使用した場合でも実施可能である。
In each of the above embodiments, the case where an epoxy resin adhesive and solder were used was explained, but the present invention is not limited to these, and when other thermosetting resins or meltable substances are used. However, it is possible.

勿論、封入素子は集積回路素子に限定されるものではな
い。
Of course, encapsulated elements are not limited to integrated circuit elements.

以上説明した如く、本考案によれば、熱硬化性樹脂接着
剤層に金属板を介してハンダの如き融解性物質を介在さ
せたために、カバーと絶縁性基板との密着性を非常に高
めることができるとともに、必要に応じて何回でもカバ
ーと絶縁性基板とを分解することができる。
As explained above, according to the present invention, since a meltable substance such as solder is interposed in the thermosetting resin adhesive layer via the metal plate, the adhesion between the cover and the insulating substrate can be greatly improved. In addition, the cover and the insulating substrate can be disassembled as many times as necessary.

したがって、エポキシ樹脂系接着剤のような熱硬化性樹
脂で接着できるものであれば簡単に密封できるとともに
、複数の集積回路素子を密封容器に封入したような場合
に、該集積回路素子に事故が発生すれば、容易にその事
故発生集積回路素子を取替えることが可能になる。
Therefore, if it can be bonded with a thermosetting resin such as an epoxy resin adhesive, it can be easily sealed, and if multiple integrated circuit elements are sealed in a sealed container, there is no risk of damage to the integrated circuit elements. If a fault occurs, it becomes possible to easily replace the faulty integrated circuit element.

また、試験研究の際に密封容器に封入された半導体素子
片がどのように変化しているか点検するために、簡単に
その内部を調査することも、該半導体素子を破損するこ
となくきわめて容易にでき、しかも調査後は、再び簡単
に密封することができる。
In addition, during test research, it is extremely easy to inspect the inside of a semiconductor chip enclosed in a sealed container to check how it has changed, without damaging the semiconductor chip. And what's more, after the investigation, it can be easily sealed again.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は既提案の密封容器を説明するもの、第2図は絶
縁物製カバーを使用した密封容器を備えた本考案の半導
体装置を説明するもの、第3図は金属板カバーを使用し
た本考案の他の実施例、第4図は本考案の更に他の実施
例を説明するものである。 図中、1は基板、2は集積回路素子、3は絶縁物製のカ
バー、4.4’はエポキシ樹脂系接着剤、5はハンダ、
6は金線、7,7′はエポキシ樹脂系接着剤、8,8′
は金属板、9はハンダ、10はカバー、11は基板、1
1′は上板、11″は下板、12は絶縁物製カバー、1
2′は金属製カバー、13.13’は固着部、14.1
4’はエポキシ樹脂系接着剤、15.15’は金属板、
16はハンダをそれぞれ示す。
Figure 1 illustrates a previously proposed sealed container, Figure 2 illustrates a semiconductor device of the present invention equipped with a sealed container using an insulating cover, and Figure 3 illustrates a semiconductor device using a metal plate cover. Another Embodiment of the Present Invention FIG. 4 illustrates still another embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a substrate, 2 is an integrated circuit element, 3 is an insulating cover, 4.4' is an epoxy resin adhesive, 5 is solder,
6 is gold wire, 7, 7' is epoxy resin adhesive, 8, 8'
is a metal plate, 9 is solder, 10 is a cover, 11 is a board, 1
1' is the upper plate, 11'' is the lower plate, 12 is the insulating cover, 1
2' is a metal cover, 13.13' is a fixed part, 14.1
4' is epoxy resin adhesive, 15.15' is metal plate,
16 indicates solder, respectively.

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] (1)絶縁性基板と該絶縁性基板上に固着された半導体
素子と上記絶縁性基板と固着されて上記半導体素子を密
封する容器を構成するカバーとを有する半導体装置にお
いて、上記絶縁性基板に熱硬化性樹脂接着剤層を介して
金属層を設け、該金属層に融解性物質層を設けることに
より、上記絶縁性基板と上記カバーとを密封固着したあ
とで上記融解性物質層を適当な手段で融解することによ
り、上記絶縁性基板とカバーとを取外し可能にしたこと
を特徴とする半導体装置。
(1) In a semiconductor device having an insulating substrate, a semiconductor element fixed on the insulating substrate, and a cover fixed to the insulating substrate and forming a container for sealing the semiconductor element, the insulating substrate By providing a metal layer through a thermosetting resin adhesive layer and providing a fusible substance layer on the metal layer, after the insulating substrate and the cover are hermetically bonded, the fusible substance layer is applied in an appropriate manner. A semiconductor device characterized in that the insulating substrate and the cover can be removed by melting the same.
(2)上記カバーを絶縁物で構成するとともに、該カバ
ーと上記融解性物質層との間に、上記カバーに熱硬化性
樹脂接着剤層を介して金属層を設けたことを特徴とする
実用新案登録請求の範囲第(1)項記載の半導体装置。
(2) Practical use characterized in that the cover is made of an insulating material, and a metal layer is provided on the cover with a thermosetting resin adhesive layer interposed between the cover and the meltable substance layer. A semiconductor device according to claim (1) of patent registration.
JP1978156820U 1978-11-15 1978-11-15 semiconductor equipment Expired JPS5814610Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1978156820U JPS5814610Y2 (en) 1978-11-15 1978-11-15 semiconductor equipment

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JP1978156820U JPS5814610Y2 (en) 1978-11-15 1978-11-15 semiconductor equipment

Publications (2)

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