JPS58145961A - 光導電部材 - Google Patents

光導電部材

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JPS58145961A
JPS58145961A JP57029731A JP2973182A JPS58145961A JP S58145961 A JPS58145961 A JP S58145961A JP 57029731 A JP57029731 A JP 57029731A JP 2973182 A JP2973182 A JP 2973182A JP S58145961 A JPS58145961 A JP S58145961A
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JP
Japan
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layer
amorphous
atoms
gas
support
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JP57029731A
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English (en)
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Shigeru Shirai
茂 白井
Kyosuke Ogawa
小川 恭介
Junichiro Kanbe
純一郎 神辺
Keishi Saito
恵志 斉藤
Yoichi Osato
陽一 大里
Teruo Misumi
三角 輝男
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Priority to FR8301874A priority patent/FR2521316B1/fr
Priority to DE19833304198 priority patent/DE3304198A1/de
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    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08235Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/0825Silicon-based comprising five or six silicon-based layers

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、yt、(ここでは広銭の光で、紫外光*、o
Jajt縁、赤外lt線、XH,rH等を示T)の様な
電磁波に感受性のある光導電部材に関する。
向体熾イ歎装置、或いは11に形成分動における電イ与
鼻用廣形成部相や原稿読取装置における光導電層を形成
する光導電材料とじては、藺感度で、SN比〔充電流(
Ip) /耐電&(IdlJが高く、照射する電磁波の
スペクトル特性にマツチングした吸収スペクトル時性′
に有すること、光応答性が速く、所望の@抵抗値を有す
ること、使用時において人体KIして無公害であること
、jl!には固体撮11#e置においては、慢導It力
定時間内に容Julに処理することができること寺の特
性が要求される。殊に、事S機としてオフィスで使用さ
れる電子写真装置内に組込筐れる畦子写真用曽杉成部材
の場合Kに、上船の便用時における無公書性F′1ll
j賛な点である。
この様な点に立脚して最近注目さ11でいる光導電材料
にアモルファスシリコン(Jufa−8iと表配す)が
あり、例えば、b国公開第2746967号公報、同第
2855718号公報には電子写真用IJI形故形材部
材て、独幽公開弔2933411号公報には元電変換耽
堆装首への応用が記載されている。
面乍ら、従来のa−8iで惜敗された7L碑amに角す
る光導電部材は、Wk抵抵抗値1感感、光応答a等の電
気的、光学的9元導電的峙性、及01史用頃墳%性の点
、史には経時的安定性及び耐久性の点VCおいて、各々
、個々には特性の向−Fが酎られているが熱台的な特性
向上を計る上で史に巧技される余池が存するのが実情で
ある。
−元は、電子与真用潰形底部材として使用した揚台、I
t#部において、支持体−よりの電術の注入の+n I
)、が光分でないこと、耐圧性や繰返し連鯖1史用に対
する耐久性に問題がなくもないこと、蚊いは、転写紙に
転与された−1象に浴に1白ヌケ」と叶ばれる、筒所的
な故II[#1壊現象によると層、わf+るm+ 11
欠陥や、例えば、クリーニングvC,ブレードを用いる
とその摺l1llVCよると忠わ才する、俗に1白スン
」と云われている所自−溝欠陥が生じたりしていた。又
、多1i1is気中でl受用したり、或いは多tIjm
囲気中に長時間放置[7た負波に1史用すると怪に五つ
画I麹のボケが生゛rる場合が少なくなかった。
史VC1、増厚が十数μ以上になると層形成用の真空堆
積室より取り出した後、空気中での放a時間の経過と共
に、支持体表面からの鳩の浮きや剥離、或いFi層に電
装が生ずる等の現象全引起し勝ちであった。この埃!1
i!は、妹に文す守淳が通常、電子4真分野に於いて使
用きれているドラム状支持体の場合V(多く起る等、経
時的安定性の点に於いて解決される可き点がろる。
従ってa−8t材料そのものの鰐性改良が訂りれる一方
で光導電部材を設計する影に、上lIにした神な問題の
総てが解決される様に工夫さ7Lる必要がめる。
本発明は上記の諸点に鑑み成されたもので、a−8tに
就て電子写真用1形成部材や固捧撮1#装置、蚊取装置
等に使用される゛光導電部材としての通用性とその応用
性という観点かL−)認括的に鋭急研究検討【絖けた結
果、シリコン原子を母体とし、水素原子I又はノ・ロゲ
ンふ子((のいずれか一方を少なくとも含有するアモル
ファス材料、所絹水ネ化アモルファスシリコン、〕・ロ
ゲン化アモルファスシリコン、或いはノ蔦ロケン含壱水
素化アモルファスシリコン〔以後これ等の輸朴的表6己
としてl a−8i (H,X)J kW用する〕から
構成される元411L層を有する光導電hNのI*Jl
l成を以後に説明される様な特定化のトに6訂づれて作
成された光導電部材は実用上着しく盪tまた特性をかす
ばかりでなく、従来の九祷11i部制と軟べてみてもあ
らゆる点において凌駕していること、殊に電子与真相の
光導電部材として着しく優れ九等性t−有していること
t見出した白に基づいている。
本弁明は、繰返し便用に際しても劣化埃象を起さず耐久
性に優れ、父、耐圧性に4優れた光4一部桐を提供する
ことを主たる目的とする。
本弁明の他の目的は、支持体上に設けられる鳩と支持体
との間や積層される増のq!r層間に於ける重層性に優
れ、fs遣配列的に緻ぞで安定的であり、層品質の^い
光導電部材を提供する仁とである。
4)1明の他の目的は、電子写真用1形成部材として通
用させた場合、静電f象形成のための帯電処理の隙の電
#14PF訃力が光分あり、通常の電子耳翼法が憔めて
有効に適用され侍る凌れ之電子写真特性を有する光導電
部材を提供することである。
本発明の光導電部材は、光導電部材用の支持体と、シリ
コン原子を母体とし、構成原子として43 atomi
c−までのI!!1g原子を含有する非晶質材料で構成
された補助層と、シリコン原子を母体とし、周期111
表第V族に機する欅子會礪成原子として含有する非晶質
材料で榊成さ/′また電向注入防止層と、シリコン原子
を母体とする非晶質材料で構成され、光導電性t−不す
非晶實噛と、【有する事を特徴とする。
上記した様な層構成を取る様にして設置された本宛萌の
光導電部材は、[eL、た諸量−の総てを解決し得、慣
めて優れた耐久性、耐圧性及び使用婁墳特性を示す。
殊に、電子写真用1#形成部材として通用させた場合V
Cri、その電気的特性が安定しており針元疲労、繰返
し使用特性に長け、高品買のth1蒙r安定して繰返し
得ることができる。
又、本発明のyt!電部材は支持体上に形成される非晶
′IN層が、増自体が強靭であって、且つ支持体との密
着性に著しく優れており、萬速で長時間連続的に繰返し
使用することが出来る。
以−ト、図@に従って、本発明の光導電部材に髪て計画
に欧明する。
41図は、本発明の第1の実施′M様例の光導11LN
d5杓の層構成を説明するために模式的に示した横人的
構成図である。
41図に不す光導電部材100は、光導電部材用として
の支持体101の上に、シリコン原子を母体とし、構成
原子として窒素原子f 43 atomieチ未満含む
非晶質材料で構成された補助層102゜電荷注入防止I
ll 103 、光導電性を有する非晶質ノm 104
 r X−411L、非J1+1M1104 Fi自由
=&Ifi 106′5r南している。
補助1111102は、主に、支持体101と1[荀注
入防止盾103との間の密着性をiる目的の為に設けら
第1、−1z:、埒俸101と゛嵯侑注入防止膚103
0両り、!:親和性かある憶に、後述する材質で構成さ
れる。
電荷注入防止III 103は、支MK 101 vI
!I j リ非晶質111104中へ電荷が注入される
の會効米的1〔防止する機能を主に有する。
非晶質層104は、感受性の元の照射? ”、? ’t
Tて該層104中でフォトキャリアを発生し、子ンメ方
向vC核フォトキャリアを暢送するW1舵を有する。
本発明に於ける補助層は、シリコン原子を母体とし、構
成原子として電素原子會43 atomic−未満含有
する非晶質材料(以後ra 5iaN−aJと記す、但
しα57(alでllI成される。
a−8ilN、−@で構成される補助層の形成はスパン
ターリノブ法、イオンインプランアー7ヨノ法、イオン
グレーティング法、エレクトロンビーム法等によって成
される。これ等の製造法は、製造条件、設備質重投下の
負#T株皺、製造現礒、作成される光導電部材に所望さ
れる舟社寺の要□ 因によって適宜選択されて採用さhるが、所望する特性
t−有する光導電部材會製造する為の作製条件の1w1
I@が比較的谷嶋である、シリコン原子(S目とJk 
ICiji素原子(N) t−作製する補助層中eこ導
入するのが容易に打見る等の利点からスハンターリング
法或いはエレクトロンビーム法、イオンシレーティング
法が好適に採用される。
スパンターリノブ法によって補助層を形成するには、単
結晶又は多結晶のSiウエーノ・−又はS 1sNt 
 ウェー・・−又はSi、[が混合されて形成きハた8
iウェーハーゲタ−ゲットとして、これ*rt*々のガ
ス雰囲気中でスパッターリングすることによって打えば
良い。
19すえば%81ウェーノーー及びSt、N ウエーノ
・−の2つ奮ターゲットとして使用する場合VCri、
He t Ne * At  1!のスパッターリング
用のガスを、スパッター用の堆積室中に導入してガスブ
フスマ全形成し、前記Stウェーハー及びShNウェー
ハー全スパッターリングすわば良い。
父、別には、SlとSi、NIの混合して形成された一
枚のターゲットを使用することによって、スパッターリ
ング用のガス全装置系内に導入し、−仁のカス゛存曲気
中でスパッターリングすることによって成される。エレ
クトロ/ビームヌ倉用いる場合には2−の蒸着ボート内
に谷々、4結晶又は多結晶の^MIfシリコン及び藺糾
複窒化硅木を入れ、各々独立にエレクトロンビームlこ
よって同時蒸着するか、父は同−蒸虐ホート円に入れた
シリコン及び輩化硅素を率−のエレクトロンビームによ
って蒸着すればよい、中5成される補助層中の7リコ/
)駅子とMX腺子の−i、fL比は前者の場合、エレク
トロンビームのiノ0連電圧をシリコンと窒化硅素に対
して叢化芒せることにより−Ctltlj御し、後者の
場合は、ありかしめシリコンと窒化姓嵩の混合1Ii1
に定めることVCよって制御する。イオングレーティン
グ法を出いる場合はlk層槽内に111々のカスを導入
しあらかじめ槽の補Hに筐いたコイルに^周波電界を印
加してグローをおこした状自でエレクトロ/ビーム法を
利用してSi及び5isN、を#珊Ti」ばよい。
本発明の補助層を構成するa−8i6N、−@ tユ袖
助層の機能が、支持体と電荷注入防止増との瀾の密着を
9j固し、加えて、それ等の間に於ける電気的接触性會
均−にするものであるから、補助層Vcその賢求される
特性が所望通りに与えられる株にその作成条件の選択が
厳密に成されて注、帳深く作成される。
本発明の目的に適した特性1に有するa−8ial(−
か作成される為の作成条件の中の重要な要素として、作
成時の支持体+11ftl−挙げることができる。
即ち、支持体の表面にa−8tl凡−aから成る補助層
を形成する際、層形成中の支持体温WILFi、形成芒
れる鳩の構造及び特性全左右する][ll!な因子であ
って、本発明に於いては、目的とする特性音名するa−
8輸N−aが嘴望通′りに作成され優る梓に鳴作成時の
支持体温度が厳密に制御さ1+る。
本発明に於ける目的が効−的に達成される為の補助層を
形成する際の支持体温度としては、補助層の形成法に併
せて遥宜最遥範囲が選択されて、補助層の形成が実行さ
れる。この際の支持体温度としてr1通常の場合、20
〜200℃好jiKは20〜150℃とされるのがgl
ましいも)〕である、WA助層の形成には、16j−系
内で補助層から電荷江入防止層、非晶實層史には必蒙に
応じて非晶質層上に形成される第3の増1で連続的に形
成する拳が出来心、各層t−#I4成する原子の組成比
の微妙な制御や層厚の制御が他の方法に較べて比較的容
易である事等の為に、スパプターリング法やエレクトロ
ンと一五法の採用が有利であるが、これ等の層形成法で
補助層を形成する場合KFi、前記の支持体温度とl+
’1様に層形成の際の放電パワーがtF3成されるa−
8i@N−aの特性を左右する型費な内子の1つとして
◆げることが出来る。
本発明に於ける目的が達成される為の特性を有するa 
Si3凡−1が生産性良く効果的に作成される為の放電
バワニ条件としては、)1!l冨50W〜250Wで、
好11Aには80W−150Wとされるのが望ましいも
のである。
本発明の光導電部材に於ける補助層に官有される家系原
子(N)の目は、補助層の作製条件と同様本発明の目的
に4成する所望の特性が侍らねる補助1−が形成さねる
11!な因子である。
本発明に於ける補助層に含有されるfi!l素原子(N
)のI QN) u、atomic−表示テA N ニ
1k L九櫃の範囲とされるが、好適にはlXl0−”
≦C(N)(43、より対ましく ij I S C(
N) <43、最適にn 10 自C(N) < 43
とされるのが望ましい。
a−8iaN−mに於けるaI7)#示で不せば、aの
蝋は好適には0.57(a≦0.99999、より好ま
しくは、0.57<a≦0.99、最通には0.57 
< d 0.9とさtするのが望ましい。
4−発明に於ける補助層のノー厚の数値範囲は、本発明
の目的を効果的に達成するIIAに所望に従つ゛r−通
′目決足される。
本発明の目的を効果的に達成する為の補助層のj層厚と
しては、通常の場合、30^〜2μ、Of J vCM
ま、  40A−1,54、最適にri 50 A 〜
15μとされるのが望ましいものでめる。
本発明の光導電部材を横取する電信注入防止層は、シリ
コン原子(Si)  を母体とし、周期律表第V族V′
CjIIIする原子(第V族原子)と、対チしくは、水
素原子(H)又はノ・ロゲン原子(\)、或いはこの内
省とを構成原子とする丼晶責材桝(以後「亀−8i (
V、 H,X)Jと配す。)で慣成場れ、その層厚を及
び1甲の第V族腺子の含南1C(y)Fi、本発明の目
的が効果的に4成される憬[Fi望に従って適宜決めら
れる。
本発明に於ける電荷注入防止噛の層厚tとしは、好まし
くFiへ3〜5μ、より好ましくri05〜2μとされ
るのが′i11ましく、父、第V族摩子の含有量C(V
)としては、好壕しくは、lxlぴ〜lXl0’ at
omic ppm 、  より好ましくは、5刈♂〜I
XI□’ atomic ppm  とされるのがui
しい。
本発明において、電荷注入防止層中に含有される歳期体
表$V族に属する原子として1f用されるのは、P(燐
)、As (砒素)、Sb (アンチ七ン)、Bi(ビ
スマス) 等であり、珠に好4に用いられるのt′iP
、As である。
本発明において、必lI!に応じて電荷注入防止ノー中
に貧有されるハロゲン原子(X)としては、具体的vc
 Viフッ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙けら1[、珠p
cフッ木、塙木を好適なものとして挙&rることが出来
る。
a−8i(V、 H,X)  で構成される1[竹注入
防止増の層形成法としてはクロー放電法、スパッターリ
ング法、イオンイングランテーン田ン法。
イオングレーアイング法、エレクトロンビーム法等が埜
げられる。これ等の製造法は、製造条汗、設補耐本投下
の負pfI程腿、製造規模1作製いれる九24’lIL
部材に所望ざtする荷性等の要因によって迩貞適訳さh
て採用されるが、所望する特性ケ自rる元41[部材を
製造する為の作製条件の制御が比較的容易である、シリ
コン原子と共VC第III族原子、・g・蒙に応じて水
素原子(川やハロケン原子(X)を作製する電句注入防
止増中VC4人するのが6軸に行える1等のオリ点から
グロー故憲法或いはスパッターリング法がtH4に採用
される。
更に、本光明に於いては、グロー放電法とスパッターリ
ング法と會−1−装置系内で併用して電荷注入防止mt
杉形成ても艮い、ν11えぽ、クロー放電法によって、
’ Si(v* Ha X )  で構成される電#仕
入防止層ケ形成するKは、4本的にはシリコン原子(8
1)を供給し得る81供粕川の原料ガスと共に第V鉄原
子を供給し侍る弔V族原子導入用の#科ガス、必要に応
じて水素原子(H)4人用の又は/及びハロヶ/IjA
子(X)導入用のJ+[科ガスを、内部が減圧にし、得
る堆積室内に導入して、蚊堆槽室内にグロー放電ケ生起
させ、予めFfr足位置に設置され、aに補助層の設け
である所定の支持体の補助層上にa−8i(V。
H,X)からなる鳩を形成させれば良い。又、スパッタ
リング法で形成する場合には、例えばAr。
He4の不活性ガス又はこれ等のガスをペースとじ九混
合ガス雰−気中で81で#ll成されたターゲットをス
パッタリングする際、第V族隷子導入用の涼科ガス會、
必要に応じて水素原子(H)父は/及びハロゲン原子(
X)導入用のガスと共にスパッタリング用の堆積室に導
入してやtlは良い。
本発明において電荷注入防止増を形成するのに1!!柑
される原料ガスとなる出発物質としては、久のものが有
効なものとして挙げることが出来る。
先す%Sl供給用の凍糾ガスとなる出発物質としては、
5iHt、 st、ルe B’sFk+ 814に。等
のガス状態の又はガス化し得る水素化硅素(シラン類)
が有効VC1f!用されるものとして亭けられ、珠に、
増作tIy、トド業の扱い易さ、8%供給効率の風さ等
の点で5i)11.5ili が好ましいものとして挙
げらねる。 ゛ こ1(等の出8物實を使用すわば、層形成条件を適切[
適訳すること′によって形成される補助層中VC8iと
共(CHも尋人し得る。
81供給用の原料ガスとなる有効な出発物質としては、
上記の水素化硅素の他に、ハロゲン原子(X)を言む硅
素化合物、明鯖、ノ・ロゲン原子で宵侠されたシラン酌
導体、具体的には例えばS+F4 + sl、)Ia 
l 8tC4、SiBr4 %の/%Oゲン化硅素が好
ましい吃のとして挙げることが出来史には、5))(t
Fte S’)&It* 5i)kc4.5IHC4,
S++−%BrhS iHB r、  等のハロゲン置
換水素化硅素、寺々のガス状態の戚りはガス化し侍る、
水木原f會嘴成4I!素の1つとするハロゲン化物も有
()な電荷注入防止層形成の為の81供給用の出発物質
として挙ける拳、が出来る。
これ2等のハロゲン原子(X) を含む硅素化合物を使
用する場合に、もIIl]述した様に、層形成条件の適
切な、適訳によって形成される電衝庄人防止層中にSi
と共KXを導入することが出来る上記した出発物策の中
の水素原子を含むハ皐ゲン化硅素化合物は、禰助層形成
のltAに層中(ハロゲン原子(X)の導入と一時に電
気的戚い#2jt、電的特性の制御に極めて有効な水素
原子(H)も導入されるので、本発明においては好4な
ハロゲン原子(X)導入用の、出発物質として使用ざt
する。
本発明において補助層を形成する際に使用されるハロゲ
ン原子(X)導入用の原料ガスとなる有効な出発物質と
しては、上1″、L、、九ものの他に、例えtll フ
ッ木、塩素、臭素、ヨウ素のハロゲンガス、BrF 、
 CtF、 C1F、、 BrF5.  BrF5+ 
 IRmIF、 、  [C1,IBr等のハロゲン間
化合物、HF 。
k4cL 、 HBr、 HI等のハロゲン化水素を挙
げることか出来る。
電荷注入防止層中にWhv族原子を構造的に導入するに
Vま、層形成の際九第マ族腺子導入用の出発物質をガス
状態で堆積室中に、電荷注入防止層を形成する為の他の
出発物質と共に導入してやtlば良い。この様な第V族
原子導入用の出発物質と成り得るものとしては、常温常
圧でガス状の父tま、少なくとも層形成粂件下で容易に
カス化し得るものが採用されるのが望ましい。
その憎な第vi原子尋入用の出発物質として、具体的v
(Fi、燐原子導入用としては、P)&−R)L等の水
素化燐、 P)k I 、 PFm 、 PFs 、 
PC4、PC4、PBrm 。
pBy*、Pls号のハロゲン化燐を挙けられる。この
仙、Ali、 AIFII AlC4t AsBr1.
 AsFseSbHssSb)i’a、 SbF’s、
 8bC1m、 5bC4,B亀ル、B亀C4゜BiH
rl寺も第V&原子導入用の出発物質の有効本発明に於
いては電荷注入防止層柱を与える為Kt#注入防止層中
に含有される第V族ぷ子は、電荷注入防止層の増厚方向
に実質的Vc半行な面(支持体の表110rc平行なt
h+)内及び増厚方向K i イては、実買的VC均一
に分布さhるのが良いものである。父、スパッタリング
法で1[#壮大防止層を形成する場合には、例えはAr
、 He等の不活性ガス又はこれ等のガスiベースとし
た混合ガスの雰囲気中で81で構成されたターゲットを
スパッタリングする際、第亀族鳳子導入用の原料ガスに
、 y!、−費に応じて水素原子(H)導入用の又は/
及びハロケン原子(X) 4人用の原料ガスと共にスパ
ッタリングを行う^空堆横室内罠導入してやれば良い。
本発明に於いて、電荷注入防止層中に導入される第V族
庫子の含44jlは、堆積室中に流入される第V族庫子
導入用の出発物質のガスIJIL竜、ガス波量比、放電
パワー、支持体温区、堆積室内の圧力等kl!1ull
することによって任意に制御され得る。
本発明に於いて、電荷注入防止鳩ケグロー放’I[ff
i又はスパッターリング法で形成する鰍に使用される櫓
釈ガスとしては、雪鯖、希ガス、例えばlie 、 N
o 、 Ar 等が好適なものとして挙けることが出来
る。
本豐明において、a−8i (H,X)で構成される非
晶質層を形成するには例えばグロー放電法、スパッタリ
ング法、或いはイオンル−ティンダ汰寺の放[項象を利
用する真空堆積法によりて成される。ガえば、グロー放
電法によって、a −8i (H,X)で構成される非
晶質層を形成する−・こは、基本的VCはシリコン原子
(SS)を供給し得るSi供#@川用原料ガスと共に、
水素原子(H)尋人用の又は/及びハロケン原子(X)
4人用の原料カス會、内部が紙圧にし侍る堆積室内に導
入]、て、触lI!横室内にグロー放電を生起させ、予
め所1位l#lに設置されである所定の支持体表面トに
@ −Hi (H,X)から成る層管形成させれば良い
、〉′、スパッタリング法で形成する場合には、例えば
Ar、He等の不活性ガス又はこれ号のガスをベースと
した混合ガスの雰H気中で81で構成されたターゲット
會スパッタリンダする際、水素原子(H)又は/及び・
・ロゲン原子(X)4人用のガス會スパッタリング用の
堆積室に導入してやれば良い。
本発明において、必要に広じて非晶簀嚇中に含有される
ハロケン原子<X>とじて社、電荷注入防止層の場合に
挙けたのと1tlj祿のものを亭けることが出来る。
本発明において非晶質me形成するのに便用されるSi
供給用の欅科ガスとしては、電荷注入防止層に就て説明
する一Kal$げたS’ h * b 1@ル。
5isl(** SLBMs等のガス状態の又はガスイ
Lし侍る水素化&!素(シラン類)が有効に使用される
ものとして挙けられ、殊に、層作成作東の惚い易さ、S
i供給効率の良さ等の点で5i)4. Si、i−4が
好ましいものとして挙げられる。
本発明において非晶質層を形成する際に使用されるハロ
ケン橡子導入用の豚朽ガスとして自効なのは、(#注入
防止層の場合と同様に多くのハロゲン化合物が挙げられ
、例えばハロゲンガス、ハロケン化物、ハロゲン間化合
物、ハロケンで置換され几シラン誘導体等のガス状部の
又はガス化し得るハロゲン化合物が好ましく挙げられる
父、史には、シリコン原子(sBとハロゲン原子(X)
とを栖成景素とするガス状態の又はガス化し侍る、ハロ
ゲン原子含金む硅素化合物も有効なものとして本発明に
おいては挙げることが出来る。
本発明に於いては、非晶質*ICi’t、 蟇薯妄伝導
特性を制御する物質At有させることにより、1噛の伝
4%性′kF9′r望に従って任意に制御することが出
来る。
この様な物質としては、F9T開、半導体分野でムわね
る不純物を挙けることが出来、本発明に於いては、形成
される非晶質層t−構成するa −8i (H,X) 
IC対して、P型体4特性を与えるP1小糾物、具体的
vt−は、周期律表第璽族に属する原子(第■族原子)
、例えばB(硼素)、At(アルミニウム)、Ga(ガ
リウム)、In(イノジウム)、Tt(タリウム)等が
あり、殊に好適に用いられるのは、8% Gm  であ
る0本発明しこ於いて、非晶質層に含有される伝4%性
t′制御する物質の含有量は、し非晶質層に要求される
伝4%性、戒いFi骸層(1)に直に接触して設けられ
る他の鳩の特性や、該他の層との接触界th+に於ける
特性との関保等、有接的関連性にたいて、適宜選択する
ことが出来る。
本発明に於いて、非晶1f響中に含有きれる伝4特性を
制御する物質の含有量としては、通常の場合、O,0O
Iz 1000 atomic ppm 、好適にri
o05〜sOo atomic ppm 、最適には0
.4〜200 atomicppmとさhるのが望まし
いものでる。る。
非晶質層中に伝導特性を制御する1kJ*% タリえば
第1族原子を構造的に導入するKは、鳩形成の際に第璽
族原子樽入゛用の出発物質をガス状態で堆積室中に、非
晶質層を形成する為の他の出発物質と共に導入してやれ
ば良い、この様な第覆瓢原+導入用の出発物質と成り得
るものとしては、常温常圧でガス状の父は、少なくとも
層形bk条件丁で容易にガス化し得る賜のが採用される
のが望ましい。その様な第m族原子導入用の出発物質と
して具体的には硼糖原子導入用としては、Bt)4.8
1)(+6. &)Je、 &RI、&)it6.&t
%1.&)it4等の水素化硼素、BF# 、 lIC
4t BBrm 等の7% ロゲン化硼木等が章けられ
る。この他、AtC4。
GaC4、Ga (CH* )s + T nc4 、
 TtC1@等も挙けることか出来る。
本発明において、形成される尤碑電部材の電#I /L
人防1F層及び非晶質層中匠含セされる水素原子(H)
の菫又はハロゲン原子(X)の量又は水素原f (H)
とハロゲン原子(X)の童の和()(+X)は通常の場
合1〜40 atomic嘔、好適には5〜30 at
omic)とδれるのが望ましい。
電夕1仕人鳩防止層又は非晶實層°中に含有される水車
原子(H)又rj/及びハロゲン原子(X)の1111
に計岬するには、例えは支持体温度又は/及び水木原−
子(14) 、或いはハロゲン原子(X)を含有させる
為に使用される出発vIJ實のsk慣誇直系内へ導入す
る童、放電々力等を制御してやれば良い。
本発明において、非晶X噛をグロー故゛111法で形成
する際vc1史用される稀釈ガス、或いはスフζツタリ
ング法で形成さ1」る餘に便用されるス・〈ツタ−りン
グ用のガスとしては、pk!I11稀ガス、例えはHe
、No、Ar 今が好適なものとして挙けることが出来
る。
本発明に於いて、非晶質層の層厚としては、作成される
覚導電部材に要求される物性に応じて適宜法められるも
のであるが、通[ri、1〜100 it 、好ましく
は1〜80a、11遥Kr12〜50μとされるのが望
ましいものである。
本発明において使用される支持体としては、導電性でも
電気42!!縁性で6−)ても良い、尋電性支持体とし
ては、例えば、NiCr、スデンレス。
At 、  Cr  、  Mo、  Au、  Nb
、  Ta、  V、  Ti  、  Pt。
Pd  轡の金属又はこれ等の合貧が挙けらtする。
電気絶縁性支持体としては、ポリニスアル。
ポリエナレ/、ポリカーボネート、セルローズアセ−r
−ト、ボリグロビレン、ポリ塩化ビニル。
ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合
成樹脂のフィルム又はシート、ガラス。
セラミック、紙等が通常使用される。これ郷の電気絶縁
性支持体は、好適には少なくともその−Jの表面を導電
処理さね、該導電処理された次面也11に他のノ曽が設
けられるのが望ましい。
クリえげ、ガラスであれは、その表向に、NlCr。
Al、 Cr、 Mo 、 Au、  rr、 Nb、
 Ta、 V、 Tj。
pt 、 Pd 、 In、Q、 Snへ、 ITO(
In、Q+5nCk )等かI−1々yる薄膜f:設け
ることによって導電性が付与さね、或いはポリエステル
フィルム郷の合成樹脂フィルムであれば、NiCr 、
 kL 、 Ag 、 Pb 。
Zn、 Ni 、 Au、 Cr、 Mo、Ir、 N
b、 Ta、 V。
Ti、Pt等の金属の薄膜を真空蒸看、電子ビーム#屑
、スパッタリング等でその表rjIJに設け、又は削紀
金属でその表面をラミネート処理して、その衣(3)に
導電性が付与される。支持体の形状としては、円筒状、
ベルト状、板状等任意の形状とし得、所望によって、そ
の形状Fi決定さねるが、例えば、第1図の光導電部材
100を唯子写真用偉形成部材として使用するのであれ
ば連続高速複写の場合VCF′i、、無電ベルト状又は
白筒状とするのが望ましい、支持体の厚さしよ、114
通りの光導電部材が杉敗さねる&に適官決足されるが、
光導電部材として可撓性が蒙求される場合には、支持体
としてW1舵が充分発揮される範囲内であれげoTIf
flな限り薄くされる。面乍ら、この61な場合支持体
の製造上及び城扱い−F1機械的強髪轡の点から、通常
は、loμ以上とされる。
@2図には、本発明の光導電部材の他の好適な実施It
様例の層構成が示される。
第2図に示される光導電部材200が、第1図に示され
る光導電部材100と異なるところは、電荷注入防止I
II 203と育纒電性を示す非nb層205との間に
上部補助層204を有することである。
叶ち、ft、411部材200ハ、支持体201.lf
持捧201FK順に積層された、下部補助層202゜電
荷〆[人助止層203.上部補助層204及び非晶′に
噛205とをJ41I[iシ、非晶質層205は自由表
向206r七する。上部補助層204は、電荷注入防止
層203と非晶質層205との間の密着′に強固にし、
両層の接触界面に尻ける電気的接触を均一にしていると
同時に、電竹江人防止+111203の上r(’ 11
にf&けることによって、電荷注入゛防止層203の1
曽*會強靭なものとしている。
yI%2図に示される光導電部材200 を構成する1
部袖補助202及び上部補助層204F′i、第1図に
事したft4電部材1001−*成する補助層102の
場合と同様の非晶質材II+を使用して、同様の罰性が
与えられる様に同様な層作成手順と条件によって形成さ
れる。電荷注入防止層203及び非晶負In 205も
、夫々、第1−図に示す電荷注入防止1曽103及び非
晶質層104と同様の特性及び憎舵ケ自し、第1図の場
合と同様な層作成手順と+!トドVCよって形成される
次e(本発中1の光導電部材の製造方法の一例を図に従
って説明する。
第3図に光導電部材の製造装置の一例?Iバr7図中の
302〜306のガスボンベには、−$:弁1明の夫々
の/I11′ft形成するために使用されるカスが密封
されており、その1例として、たとえば、302 F′
iHeで稀釈さflrst)itガス(純[99,99
9転 以下SiH,/Heと略す、)ボンベ、303 
&iHe嘩)ボンベ、305はArガスホ/へ、306
F′i、Heで稀釈されたSiF、ガス(純1f99.
999911.以下SiF、/He と略す。)ボンベ
である。
これらのガスを反応室301 K fIt、入させる&
Cはガスボンベ302〜306のバルブ322〜326
、リークバルブ335が閉じられていることを確認し、
又、流入バルブ312〜316、流出バルブ317〜3
21、補助バルブ332が開かれていることを礒次に真
空1jt336の読みが約5×10″torr Vこな
っ九時点で、補助バルブ332、流入バルブ312〜3
16、流出バルブ317〜321を閉じる。
その後、反応室301内に導入すべきガスのボンベr(
接続されているガス配管のバルブt−所定通り操作して
、F9′T′J1するガスを反応室301内に導入する
次に第1図に示すIII成と同様の構成の光導電部材全
作成する場合の一例の畝略を述べる。
所定の支持体337上に、先ず補助層をスパッタリング
法によって形成するには、まずシャッター342會開く
。すべてのガス供給、バルブは−B、閉じられ、反応!
1301はメインバルブ334を全開することにより、
排気される。為圧電力が印加される1i[憔341上[
萬純度シリコンウェハ342−1 、及び高純jljs
ti凡342−2が所望の面積比率でターゲットとして
設置されている。ガスボンベ305よりArガスtガス
ボンベ304よす凡ガス會夫々、所定のパルプt−操作
して反応室:101内に導入し、室の内圧が0.05〜
1 torr となるよう、メインバルブ334til
ilJili’+する。高圧バッタリングすることによ
り、シリコン原子。
窒素原子よりなる非晶質材料で構成さ′h^補助層を支
持体337上に形成することができる。層形成中は、支
持体337は、加熱ヒータ338によって所望の温If
に加熱妊れる。
次に、前記の補助層上に電#注入防止盾を形成する。
補助層の形成終了後、電源340をOFF’にして放電
を中止し、一旦、荷置のガス導入用の配賃の全糸のバル
フ會閉じ、反応ii! 301内に残存するガス【反応
II 301外に排出して所定の真空廣にする。
その後、シャッター342を閉じ、ガスボンベ302よ
りS iH4/He  ガス、會ガスボンベ303より
PH,/Heガス會、夫々バルブ322 、323 t
Wイテ出ロ圧ゲージ327 、328の圧をlkF/−
に−幅し、流入バルブ312 、313 i徐々Kfi
ji4けて、マスフロコントローラ307 、308 
内に夫々流入すせる。引き続いて流出バルブ317.3
18、補助バルブ332全徐々に開いて夫々のガスを反
応室301内に流入させる。このときの3i)(I/)
(eガス#、槍、PH1,/HeガスtlIt蓋の夫々
の比が所望の櫃になるよう流出バルブ317 、318
を調整し、また、反応m 301内の圧力が所望の値に
なるように真? li 336の読みttながらメイン
バルブ334の開口をp4整する。
ナして支持体337の温度が加熱ヒーター338により
50〜400℃の範囲の温度に設定されていることが確
認され友後、電源340 t−ONにして所望の電力に
設定し、反応室301内にグロー放1mを生起させて支
持体337上に電荷注入防止層を形成する。
II荷注入防止層上に設けられる、′光導電性を75す
非晶91層の形成は、例えばボンベ302内に充填され
ている841−&/Heガス1に使用し、前記したII
I #1注大防大要止層合と同様の手順によりて付うこ
とが出来る。
非晶責鳩の形成のT#に使用される原料ガス種としては
、bs践ガスの他に、殊[34,ル ガスが層形成速度
の向上をする為Klj効である。
/ 7/ 7、′ / 実施例1 第3図にボした製造装置により、アルミニウム4&hに
以下の条件で層形成を打った。
こうして得られた電子写真用1象形成部材t−幀写装k
に設置し、(d51ffでα2 see間コロナ帯電t
hい、元111を照射した0元源はタングステンランプ
を用い、光量は1.01ux−secとした。
S慣1ま■侑電性の塩1曽剤(トナーとキャリヤを含む
)VCよって埃1jllされ、通常の紙に転写された転
与t!lI慣におけるmll大欠陥黒地部の白ヌケ等)
の有無をチェックしたが、それは全く關めらねす、1I
IIllIi&は極めて良好なものであった。転与され
ないで感光体上に残ったトナーは、ゴムフレードVCよ
ってクリーニングされ、次の複写上P4Vこ移る。この
ような工ie4rmり返しlO万回以上行っても1Ii
IIIIII欠陥、層の剥れが全く生じ)^6に唖b9
す2 スパッタリング用ターゲットでめるSi  ウェハと5
ish’Jtウエノ・の肉横比をかえることにより、補
助増におけるンリコン鳳子に対する窒雰原子の含壱亀1
kf化させる以外は冥施例1と全く同様な方法によって
亀子写真用1蒙形成部材を作製し、実施例1と同様にし
て計価した結果を次に第  2  表 実施I+113 補助層の層厚t−父える以外は、実施例1と全く同様な
方fJ、、によって電子写真用像形成部材を1峡し、実
施9111と同様にして評価した結果を次に小す。
第3表 実施例4 11荷注入−防止層の層厚と燐含有量を次のように変え
る以外は、実施例1と全く同様にして電子写真用像形成
部材を作製した。結果はいずれも良好であった。
第4表 実施1ケリ5 第3図にボした製造装置によりアルミニウム基板[に以
Fの条件で1−形成を行った。
こうして得られ九電子写真用償形成部材t−実施例1と
同様にして評価したところ極めて良好な結束が得られた
′#施世16 第3図にろクシた製造装置により、ドラム状アルミニウ
ム基板上に以下の条件にした以外は、実施例1と同僚に
して層形成を行った。
こうして侍られ几電子写真用葎形成部材【、実施例1と
1tlIj kにして評価したところ極めて良好なi、
I、米が得られた。
実施例7 実施例1.5.6に於いて、非晶貿層旬の形成會以上の
表の条件にした以外は、各実施例に於ける条件及び手順
に従って像形成部材を作成し、名東施例に於けるのと同
様の評価を行ったところ、艮好な結果が侍られた。
【図面の簡単な説明】
第1図及び!fJ2図は夫々、本発明の光導電部材の好
適な実施WJA様例の構成を示す模式的構成図、第3図
は本発明の光導電部材を製造する為の装置の−?11を
下す模式的説明図である。 100、200・・・光導電部材 101.201・・
◆支持体 102.202.204・・・補助層 10
3.203・・・暇向注入防止層 104.205・・
・非晶質層105、206・・・自由表向 QO 05− 〜   P 2O62°0 〜   l

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光導電部材用の支持体と、ンリコ7dA子を母体とし、
    #I4成慮子として43 atomic慢までの窒素原
    子ku有する非晶實材料で構成された補助増と、/リコ
    /庫子を母体とし、周期律表第V族に輌する原子t−構
    成原子としても有する非晶負材料で4%成された電荷注
    入防止層と、シリコン原子を母体とする非晶實材料で構
    成され、光411[性をボす非晶買増と、を有する拳を
    特徴とする光導電部材。
JP57029731A 1982-02-08 1982-02-25 光導電部材 Pending JPS58145961A (ja)

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US06/463,043 US4452874A (en) 1982-02-08 1983-02-01 Photoconductive member with multiple amorphous Si layers
CA000420977A CA1183380A (en) 1982-02-08 1983-02-04 Photoconductive member including amorphous si matrix in each of interface, rectifying and photoconductive layers
FR8301874A FR2521316B1 (fr) 1982-02-08 1983-02-07 Element photoconducteur
DE19833304198 DE3304198A1 (de) 1982-02-08 1983-02-08 Photoleitfaehiges bauelement

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